CN103900984A - 测量sf6分解气体中sof2浓度的方法 - Google Patents
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Abstract
测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,属于光电技术检测技术领域。本发明是为了解决在SF6分解气体测量时,测得的SF6分解气体中SOF2气体浓度的精度低的问题。本发明所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,首先获得大气的光谱和SF6分解气体的光谱,然后依据比尔定律最终获得待测SOF2气体浓度,该方法简化了数据处理过程,从而使SOF2气体浓度的精度提高了50%。本发明所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,适用于对SF6分解气体中的SOF2气体进行浓度测量。
Description
技术领域
本发明属于光电技术检测技术领域。
背景技术
六氟化硫(SF6)具有优良的绝缘灭弧性能和理化特性,作为绝缘介质既可以减小设备尺寸,又能提高绝缘强度,伴随着城市用地的日益紧张,广泛应用于组合绝缘电器(GIS)、断路器(GCB)、变压器(GIT)、电缆(GIC)、输电管道(GIL)等输配电设备中。
纯净的SF6是无色、无毒、无味、不燃的惰性气体,在温度为150℃及以下时不易与其它物质发生化学反应,正常运行时分解产物极少或不分解。当SF6设备中发生绝缘隐患或故障时,无论是局部、电晕、火花或是电弧放电,都必然会引起能量释放,这些能量会使SF6气体发生分解反应,生成H2S、SO2、HF、SOF2、SF4、等多种低氟硫化物。SF6分解组分会加速GIS内绝缘的老化和金属材料表面的腐蚀,加重局部放电程度,严重时还会导致GIS发生突发性绝缘故障。因此对SF6浓度的测量是必须的。
目前国内外均有大量商业化的SF6检测器,归纳起来主要有4种测量方法:
高压击穿法、色谱法、离子移动度计和红外光吸收谱法。
高压击穿法主要是根据待测SF6击穿电压的变化来进行定性测量,并不能定量给出SF6气体浓度,而且不能实时在线监测。
色谱法:色谱法被广泛应用于复杂组分的分离与鉴定。一般由真空系统、进样系统、离子源、检测器和计算机控制等部分组成。优点是测量精度和灵敏度较高。缺点是设备昂贵,且不能实时在线监测。
离子移动度计法:它是通过对设备中SF6气体总体杂质含量的测定,来范莹设备中SF6气体的优劣程度。优点:测量成分多,精度较高。缺点:易受实验环境条件影响,不能实时监测。
发明内容
本发明是为了解决在SF6分解气体测量时,测得的SF6分解气体中SOF2气体浓度的精度低的问题,现提供测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法。
测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,基于下述装置实现,所述装置包括:18.5μm激光器、第一聚光镜、样品池、第二聚光镜和光谱仪;
18.5μm激光器发出的激光经过第一聚光镜透射至样品池中,样品池将该激光输送至第二聚光镜上,第二聚光镜将该激光输送至光谱仪的入射狭缝中;
所述光谱仪的入射狭缝位于第二聚光镜的焦点处;
所述样品池用于填充待检测气体;
所述测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法包括以下步骤:
步骤一:在样品池中充入大气,打开18.5μm激光器,通过光谱仪获得大气的光谱I0(λ);
步骤二:在样品池中充入待检测的SF6分解气体,通过光谱仪获得SF6分解气体的光谱I(λ);
步骤三:依据比尔定律,利用步骤一获得的大气的光谱I0(λ)和步骤二获得的SF6分解气体的光谱I(λ),获得充入样品池中的待测SOF2气体的浓度N。
18.5μm激光器发出的激光经过第一聚光镜后,获得的输出光为平行光。
光谱仪为maya2kPRO型光谱仪。
上述第一聚光镜和第二聚光镜均为石英透镜。
样品池为两端密封的圆筒结构。
样品池的内径为30mm,长度为40mm。
步骤三中根据比尔定律获得待测SOF2气体浓度N的方法为:对公式
I(λ)=I0(λ)eσN
求解,获得SOF2气体浓度N,公式中,σ为待测气体SOF2在18.5μm激光下的吸收截面。
本发明所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,首先获得大气的光谱和SF6分解气体的光谱,然后依据比尔定律最终获得待测SOF2气体浓度,该方法简化了数据处理过程,从而使SOF2气体浓度的精度提高了50%。
本发明所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,适用于对SF6分解气体中的SOF2气体进行浓度测量。
附图说明
图1是测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法的流程图。
图2是测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法中所利用的装置结构图。
具体实施方式
具体实施方式一:参照图1和图2具体说明本实施方式,本实施方式所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,基于下述装置实现,所述装置包括:18.5μm激光器1、第一聚光镜2、样品池3、第二聚光镜4和光谱仪5;
18.5μm激光器1发出的激光经过第一聚光镜2透射至样品池3中,样品池3将该激光输送至第二聚光镜4上,第二聚光镜4将该激光输送至光谱仪5的入射狭缝中;
所述光谱仪5的入射狭缝位于第二聚光镜4的焦点处;
所述样品池3用于填充待检测气体;
所述测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法包括以下步骤:
步骤一:在样品池3中充入大气,打开18.5μm激光器1,通过光谱仪5获得大气的光谱I0(λ);
步骤二:在样品池3中充入待检测的SF6分解气体,通过光谱仪5获得SF6分解气体的光谱I(λ);
步骤三:依据比尔定律,利用步骤一获得的大气的光谱I0(λ)和步骤二获得的SF6分解气体的光谱I(λ),获得充入样品池3中的待测SOF2气体的浓度N。
所述光谱仪5的入光狭缝位于第二聚光镜4的焦点位置,这样就能够保证最强光入射至光谱仪5。
具体实施方式二:本实施方式是对具体实施方式一所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法作进一步说明,本实施方式中,18.5μm激光器1发出的激光经过第一聚光镜2后,获得的输出光为平行光。
由于18.5μm激光器1发出的激光经过第一聚光镜2后,获得的输出光为平行光,因此,第一聚光镜2和样品池3之间的距离能够适当调节,而对检测结果无影响。
具体实施方式三:本实施方式是对具体实施方式一所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法作进一步说明,本实施方式中,光谱仪5为maya2kPRO型光谱仪。
具体实施方式四:本实施方式是对具体实施方式一所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法作进一步说明,本实施方式中,所述第一聚光镜2和第二聚光镜4均为石英透镜。
具体实施方式五:本实施方式是对具体实施方式一、二、三或四所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法作进一步说明,本实施方式中,样品池3为两端密封的圆筒结构。
所述样品池3两端采用透光材料实现密封。
具体实施方式六:本实施方式是对具体实施方式五所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法作进一步说明,本实施方式中,样品池3的内径为30mm,长度为40mm。
具体实施方式七:本实施方式是对具体实施方式一所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法作进一步说明,本实施方式中,步骤三中根据比尔定律获得待测SOF2气体浓度N的方法为:
对公式
I(λ)=I0(λ)eσN
求解,获得SOF2气体浓度N,公式中,σ为待测气体SOF2在18.5μm激光下的吸收截面。
Claims (7)
1.测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,其特征在于,该方法是基于下述装置实现的,所述装置包括:18.5μm激光器(1)、第一聚光镜(2)、样品池(3)、第二聚光镜(4)和光谱仪(5);
18.5μm激光器(1)发出的激光经过第一聚光镜(2)透射至样品池(3)中,样品池(3)将该激光输送至第二聚光镜(4)上,第二聚光镜(4)将该激光输送至光谱仪(5)的入射狭缝中;
所述光谱仪(5)的入射狭缝位于第二聚光镜(4)的焦点处;
所述样品池(3)用于填充待检测气体;
所述测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法包括以下步骤:
步骤一:在样品池(3)中充入大气,打开18.5μm激光器1,通过光谱仪(5)获得大气的光谱I0(λ);
步骤二:在样品池(3)中充入待检测的SF6分解气体,通过光谱仪(5)获得SF6分解气体的光谱I(λ);
步骤三:依据比尔定律,利用步骤一获得的大气的光谱I0(λ)和步骤二获得的SF6分解气体的光谱I(λ),获得充入样品池(3)中的待测SOF2气体的浓度N。
2.根据权利要求1所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,其特征在于,18.5μm激光器(1)发出的激光经过第一石英聚光镜(2)后,获得的输出光为平行光。
3.根据权利要求1所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,其特征在于,光谱仪(5)为maya2kPRO型光谱仪。
4.根据权利要求1所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,其特征在于,所述第一聚光镜(2)和第二聚光镜(4)均为石英透镜。
5.根据权利要求1、2、3或4所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,其特征在于,样品池(3)为两端密封的圆筒结构。
6.根据权利要求5所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,其特征在于,样品池(3)的内径为30mm,长度为40mm。
7.根据权利要求1所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,其特征在于,步骤三中根据比尔定律获得待测SOF2气体浓度N的方法为:对公式I(λ)=I0(λ)eσN求解,获得SOF2气体浓度N,公式中,σ为待测气体SOF2在18.5μm激光下的吸收截面。
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