CN206515438U - 一种集成电路水、风冷散热共用测试装置 - Google Patents

一种集成电路水、风冷散热共用测试装置 Download PDF

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段超毅
陈家锋
陶杉
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Abstract

本实用新型公开了一种集成电路水、风冷散热共用测试装置,包括集成电路定位和紧锁下框、以及装置上压盖,其中,所述集成电路定位和锁紧下框内设置有用于接触待测集成电路的集成电路测试用针;所述装置上压盖的内侧面设置包括用于压紧待测集成电路的集成电路压板、用于传导测试集成电路时所产生热量的空心导热铜柱、以及用于使集成电路压板下压的旋钮下压结构;所述装置上压盖的外侧面设置用于散热的冷却部件,所述空心导热铜柱穿过装置上压盖内侧面并延伸至其外侧面,冷却部件安装固定在空心导热铜柱上。本实用新型的散热装置能够在不同的冷却部件中切换使用,散热效果好,操作方便且成本较低。

Description

一种集成电路水、风冷散热共用测试装置
技术领域
本实用新型涉及一种集成电路散热测试装置,特别是一种集成电路水、风冷散热共用测试装置。
背景技术
现有技术中,集成电路散热测试装置的散热部件为单独的水冷散热部件或者是风冷散热部件,而单独的水冷或者风冷散热不能满足大功率集成电路板的散热需求,水冷散热情况下还会发生漏液的风险,造成集成电路短路而损坏,同时现有装置的散热效果差,且操作不方便,不能适用于不同的情况。
因此,现有技术存在缺陷,需要改进。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是:提供一种能够在水冷散热和风冷散热中切换使用,且单独使用水冷散热时不会产生漏液的风险,散热效果好,操作简单的,以及成本低的集成电路水、风冷散热共用测试装置。
本实用新型的技术方案如下:一种集成电路水、风冷散热共用测试装置,包括集成电路定位和紧锁下框、以及装置上压盖导热散热部分,其中,所述集成电路定位和紧锁下框内设置有用于接触待测集成电路的集成电路测试用针;所述装置上压盖的内侧面设置包括用于压紧待测集成电路的集成电路压板、用于传导测试集成电路时所产生热量的空心导热铜柱、以及用于使集成电路压板下压的旋钮下压结构,所述装置上压盖的外侧面设置用于散热的冷却部件,所述空心导热铜柱穿过装置上压盖内侧面并延伸至其外侧面,冷却部件安装固定在空心导热铜柱上。
应用于上述技术方案,所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置中,所述旋钮下压结构设置有旋钮盖子、省力扳手、旋钮螺纹以及省力滚珠,其中省力扳手固定于旋钮盖子侧面,省力滚珠承接集成电路压板和旋钮下压结构。
应用于上述各个技术方案,所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置中,所述装置上压盖设置有用于开合装置上压盖与集成电路定位和紧锁下框的手扣。
应用于上述各个技术方案,所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置中,所述冷却部件设置有为水冷散热部件或风冷散热部件。
应用于上述各个技术方案,所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置中,所述水冷散热部件设置有一盖合在空心导热铜柱上方的水冷盖,水冷盖上固定设置有用于水循环进出空心导热铜柱的内腔的两水循环接头。
应用于上述各个技术方案,所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置中,所述空心导热铜柱的内腔内还设置有一防回流挡片。
应用于上述各个技术方案,所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置中,所述水冷盖边缘下方设置有用于防止水泄露的硅胶密封圈。
应用于上述各个技术方案,所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置中,所述风冷散热部件设置有用于传导热量的实心导热铜柱,实心导热铜柱嵌合在空心导热铜柱的内腔上。
应用于上述各个技术方案,所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置中,所述实心导热铜柱上部还设置有若干与其一体成型的散热片,并且,各散热片上还固定设置有一散热风扇。
采用上述方案,本实用新型通过设置集成电路定位和紧锁下框、以及装置上压盖的结构,在装置上压盖上设置手扣,使集成电路定位和紧锁下框、以及装置上压盖能够快速开合,同时在装置上压盖上设置穿过上压盖内侧面并延伸至其外侧面的空心导热铜柱,水冷散热部件和风冷散热部件可以共用空心导热铜柱,便于在测试不同的集成电路时,通过切换水冷散热部件和风冷散热部件使散热装置的散热效果达到最佳的状态,冷却部件可快速固定于空心导热铜柱之上,操作方便,冷却效果好,且成本较低。
附图说明
图1为本实用新型的水冷散热装置整体示意图;
图2为本实用新型的水冷散热装置侧视图;
图3为本实用新型的水冷散热装置俯视图;
图4为本实用新型的水冷散热装置剖视图;
图5为本实用新型的风冷散热装置整体示意图;
图6为本实用新型的风冷散热装置侧视图;
图7为本实用新型的风冷散热装置俯视图;
图8为本实用新型的风冷散热装置剖视图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例,对本实用新型进行详细说明。
本实施例提供了一种集成电路水、风冷散热共用测试装置,如图1,其为集成电路水冷散热测试装置示意图,包括集成电路定位和紧锁下框101、以及装置上压盖109。
如图2、3、4所示,其分别为集成电路水冷散热测试装置侧视图、俯视图和剖视图,集成电路定位和紧锁下框101内设置有用于接触被测试集成电路的集成电路测试用针403,待测集成电路401放置于集成电路测试用针403之上,通过集成电路测试用针403连接待测集成电路401和外部集成电路测试仪器。
装置上压盖109设置有旋钮下压结构和集成电路压板404,其中,集成电路压板404设置在装置上压盖109的内侧面,旋钮下压结构设置有旋钮盖子106、省力扳手108、省力滚珠405以及旋钮螺纹406,旋钮盖子106设置在装置上压盖109外侧面,省力扳手108固定于旋钮盖子106侧面,省力滚珠405设置在集成电路压板404的外侧上方,位于旋钮螺纹406的下方,通过省力滚珠承接旋钮下压结构和集成电路压板404,转动旋钮盖子106,使旋钮螺纹406向下的压力作用于省力滚珠405,省力滚珠再将作用力作用于集成电路压板404,使待测集成电路板401和集成电路测试用针403充分接触。
装置上压盖109还设置有手扣102,通过掰动手扣102使装置上压盖109和集成电路定位和紧锁下框101快速开合,以便于迅速放入或取出待测集成电路401。
装置上压盖109还设置有空心导热铜柱402和水冷散热部件,其中空心导热铜柱402穿过装置上压盖109内侧面并延伸至其外侧面,水冷散热部件安装固定在空心导热铜柱402上,水冷散热部件设置有水冷盖107、水循环接头105、水循环接头104、硅胶密封圈408以及用于防止水回流的防回流档片407,水冷盖107盖合在空心导热铜柱402上方,冷水通过水循环接头105流入空心导热铜柱402的内腔,空心导热铜柱402将测试装置内部的热量传递给冷水,冷水进入空心导热铜柱402内腔后将热量带走,最后通过水循环接头104流出,并将热量导出到测试装置的外部,防回流档片407设置在空心导热铜柱的内腔内,防回流档片407用于防止进入空心导热铜柱402内腔的冷水回流,水循环接头105、水循环接头104固定设置在水冷盖107上,水循环接头105、水循环接头104通过软管与外部的水循环装置相连接,硅胶密封圈408固定于水冷盖107边缘下方且放置于空心导热铜柱402顶端J型凹槽内。
在旋钮盖子106侧方设置沉头孔103,其大小根据螺钉409的尺寸大小设计加工,将螺钉409拧入沉头孔103,产生向空心导热铜柱402轴心的力,通过空心导热铜柱402顶端作用于水冷盖107,压紧水冷盖107,即以此方法固定水冷盖107于空心导热铜柱402之上。
如图5所示,其为集成电路风冷散热测试装置,包括集成电路定位和紧锁下框101、以及装置上压盖109。
如图6、7、8所示,其分别为集成电路风冷散热测试装置侧视图、俯视图和剖视图,其中集成电路定位和紧锁下框101、手扣102、沉头孔103、旋钮盖子106、省力扳手108、装置上压盖109、空心导热铜柱402、集成电路测试用针403、集成电路压板404、省力滚珠405、旋钮螺纹406、螺钉409为集成电路风冷散热测试装置和集成电路水冷散热测试装置的公用部分。
风冷散热部件设置有实心导热铜柱801、若干散热片501以及散热风扇502,其中实心导热铜柱801嵌合在空心导热铜柱402的内腔上,实心导热铜柱801上部设置若干与其一体成型的散热片501,散热片数量不做任何限制,同时在散热片之上固定设置一散热风扇502,将风冷散热部件放入空心导热铜柱402内腔上,固定好风冷散热部件,固定风冷扇热部件的方法和固定水冷散热部件的方法相同。
进行测试时,掰动手扣打开装置上压盖,放入待测集成电路于集成电路测试用针上,将集成电路定位和紧锁下框与装置上压盖闭合,根据测试集成电路时产生热量的不同选择不同的冷却部件,本实施例选择水冷散热部件进行说明。测试开始时,在冷热水进出口端插上软管,连通外部水循环装置,转动省力扳手使旋钮下压结构作用于集成电路压板,让待测集成电路和集成电路测试用针充分接触,启动外部水循环装置,冷水由外部水循环装置经冷水进水口的水循环接头进入空心导热铜柱内,将空心导热铜柱上的热量带走而转化为热水,从热水出水口的水循环接头流出,再进入外部水循环装置,使水流在外部水循环装置和空心导热铜柱之中循环,如此循环后使待测集成电路的温度降低,让集成电路板在正常的温度下进行测试,延长其使用寿命,降低了成本,能够适用于不同的大功率集成电路测试。
以上仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种集成电路水、风冷散热共用测试装置,其特征在于,包括集成电路定位和锁紧下框、以及装置上压盖,
其中,所述集成电路定位和锁紧下框内设置有用于接触待测集成电路的集成电路测试用针;
所述装置上压盖的内侧面设置包括用于压紧待测集成电路的集成电路压板、用于传导测试集成电路时所产生热量的空心导热铜柱、以及用于使集成电路压板下压的旋钮下压结构;
所述装置上压盖的外侧面设置用于散热的冷却部件,所述空心导热铜柱穿过装置上压盖内侧面并延伸至其外侧面,冷却部件安装固定在空心导热铜柱上。
2.根据权利要求1所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置,其特征在于,所述旋钮下压结构设置有旋钮盖子、省力扳手、旋钮螺纹、以及省力滚珠,其中省力扳手固定于旋钮盖子侧面,省力滚珠承接集成电路压板和旋钮下压结构。
3.根据权利要求1所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置,其特征在于,所述装置上压盖设置有用于开合装置上压盖与集成电路定位和紧锁下框的手扣。
4.根据权利要求1所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置,其特征在于,所述冷却部件设置有为水冷散热部件或风冷散热部件。
5.根据权利要求4所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置,其特征在于,所述水冷散热部件设置有一盖合在空心导热铜柱上方的水冷盖,水冷盖上固定设置有用于水循环进出空心导热铜柱的内腔的两水循环接头。
6.根据权利要求5所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置,其特征在于,所述空心导热铜柱的内腔内还设置有一防回流挡片。
7.根据权利要求5所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置,其特征在于,所述水冷盖边缘下方设置有用于防止水泄露的硅胶密封圈。
8.根据权利要求4所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置,其特征在于,所述风冷散热部件设置有用于传导热量的实心导热铜柱,实心导热铜柱嵌合在空心导热铜柱的内腔上。
9.根据权利要求8所述的集成电路水、风冷散热共用测试装置,其特征在于,所述实心导热铜柱上部还设置有若干与其一体成型的散热片,并且,各散热片上还固定设置有一散热风扇。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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TWI760040B (zh) * 2020-12-31 2022-04-01 致茂電子股份有限公司 低熱阻之測試座壓測裝置

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