CN206362714U - 磁芯光学检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种磁芯光学检测设备，包括上料导料机构、运动机构、影像检测机构和下料机构，上料导料机构和下料机构均设在运动机构的一侧，影像检测机构设在运动机构的另一侧，影像检测机构包括六个非接触式光学检测机构，对工件的六面进行检测。本实用新型设置六个非接触式光学检测机构，对工件的六面进行检测，能够提高生产效率和分类准确度。

Description

磁芯光学检测设备

技术领域

本实用新型涉及光学检测设备技术领域，特别是指一种磁芯光学检测设备。

背景技术

随着电子产品对磁芯需求量的扩大，原有靠人工检测、手工测量分类的方法越来越无法适应大批量生产的发展。因此提出基于自动化光学测量，自动按照约定方法实现磁芯分类的想法，目的在于提升生产效率和分类准确度。实际经验表明，传统的手工抽检测量和普通机械测量均无法实现快速准确的分类，因此基于图像识别发展起来的自动化光学测量技术，且借助于先进的计算机分析技术可以克服工件定位微小误差、角度偏移误差，是目前最理想的解决方案。

实用新型内容

本实用新型提出一种磁芯光学检测设备，能够提高生产效率和分类准确度。

本实用新型的技术方案是这样实现的：

一种磁芯光学检测设备，包括上料导料机构、运动机构、影像检测机构和下料机构，所述上料导料机构和所述下料机构均设在所述运动机构的一侧，所述影像检测机构设在所述运动机构的另一侧，所述影像检测机构包括六个非接触式光学检测机构，对工件的六面进行检测。

进一步的，所述上料导料机构包括上料机构和导料机构，所述上料机构包括振动盘和传输带，所述振动盘与所述传输带的一端连接，所述导料机构设在所述传输带的另一端。

进一步的，所述上料导料机构还包括工件感应机构，所述工件感应机构设在所述导料机构一侧。

进一步的，所述导料机构包括前后调节滑台、上下调节滑台、前导料板和后导料板，所述上下调节滑台设在所述前后调节滑台上，所述前导料板和后导料板设在所述前导料板的端部。

进一步的，所述运动机构包括转盘和驱动机构，所述上料导料机构将工件传送至所述转盘，所述驱动机构带动所述转盘进行转动。

进一步的，所述非接触式光学检测机构包括水平调节滑台、竖直调节滑台、磁芯驱动机构、工业相机、反光镜和工业光源，所述竖直调节滑台设在所述水平调节滑台上，所述磁芯驱动机构设在所述水平调节滑台上，所述工业相机设在所述竖直调节滑台上，所述反光镜和所述工业光源设在所述工业相机的下部。

本实用新型的有益效果在于：设置六个非接触式光学检测机构，对工件的六面进行检测，能够提高生产效率和分类准确度。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型磁芯光学检测设备一个实施例的结构示意图；

图2为导料机构的结构示意图；

图3为非接触式光学检测机构的一个实施例的结构示意图。

图中，1-上料机构；2-导料机构；3-转盘；4-下料机构；5-工件感应机构；6-影像检测机构；7-前后调节滑台；8-上下调节滑台；9-前导料板；10-后导料板；11-水平调节滑台；12-竖直调节滑台；13-磁芯驱动机构；14-工业相机；15-反光镜；16-工业光源。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1-图3所示，本实用新型提出了一种磁芯光学检测设备，包括上料导料机构2、运动机构、影像检测机构6和下料机构4，上料导料机构2和下料机构4均设在运动机构的一侧，影像检测机构6设在运动机构的另一侧，影像检测机构6包括六个非接触式光学检测机构，对工件的六面进行检测。六个非接触式光学检测机构分别对磁芯的上表面、右侧表面、下表面、前侧表面、后侧表面和左侧表面进行检测，检测项目主要有崩缺，擦伤，污点，裂痕，刮伤，漏铜，磨损，批峰等。并且不损伤磁芯，大大的提高了检测效率，做到了每分钟检测300～1500颗磁芯。针对不同的磁芯，只需要重新载入产品对应的检测配置文件就可以切换到完全不同的检测方法。经过工厂实际验证效果表明，该设备能够有效节省人工，提高检测效率，取得了明显的经济效益。

具体的，磁芯的上表面、右侧表面、下表面、前侧表面、后侧表面和左侧表面检测机构按顺序设在运动机构四周。

上料导料机构2包括上料机构1和导料机构2，上料机构1包括振动盘和传输带，主要将磁芯有序的排列和均匀的分散在旋转的转盘3上。振动盘与传输带的一端连接，导料机构2设在传输带的另一端。

上料导料机构2还包括工件感应机构5，工件感应机构5设在导料机构2一侧。工件感应机构5用于感应工件的位置，并能够计数。具体的，工件感应机构5主要由红外传感器或超声波传感器以及用于装载传感器的支架构成。

导料机构2包括前后调节滑台7、上下调节滑台8、前导料板9和后导料板10，上下调节滑台8设在前后调节滑台7上，前导料板9和后导料板10设在前导料板9的端部。本设备的导料机构2比目前的检测设备的导料系统更加全面，达到了调节方便，导料效果基本一致的功能，不仅可以导正新料，也可以导正拆机料。导料系统主要通过两块导料板的限位作用和接触摩擦力，从而将磁芯导正、分散。

运动机构包括转盘3和驱动机构，上料导料机构2将工件传送至转盘3，驱动机构带动转盘3进行转动。驱动机构可采用伺服电机构成，主要负责玻璃盘的旋转，磁芯位置的捕获，工业相机14的触发，和下料部分的吹气动作。

非接触式光学检测机构包括水平调节滑台11、竖直调节滑台12、磁芯驱动机构13、工业相机14、反光镜15和工业光源16，竖直调节滑台12设在水平调节滑台11上，磁芯驱动机构13设在水平调节滑台11上，工业相机14设在竖直调节滑台12上，反光镜15和工业光源16设在工业相机14的下部。主要负责磁芯的各个项目的检测，以及将检测结果反馈给控制部分。而本设备运用了光路折射和镜面反射原理，从而到达检测效果。比目前检测设备的空间更加紧凑，成本更加便宜。在实施过程中，水平调节滑台11、竖直调节滑台12和磁芯驱动机构13根据要求，带动磁芯、工业相机14、反光镜15和工业光源16互相之间的位置，使得工业相机14能够获取磁芯相对应的面的图像。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种磁芯光学检测设备，包括上料导料机构、运动机构、影像检测机构和下料机构，所述上料导料机构和所述下料机构均设在所述运动机构的一侧，所述影像检测机构设在所述运动机构的另一侧，其特征在于：所述影像检测机构包括六个非接触式光学检测机构，对工件的六面进行检测。

2.根据权利要求1所述的磁芯光学检测设备，其特征在于：所述上料导料机构包括上料机构和导料机构，所述上料机构包括振动盘和传输带，所述振动盘与所述传输带的一端连接，所述导料机构设在所述传输带的另一端。

3.根据权利要求2所述的磁芯光学检测设备，其特征在于：所述上料导料机构还包括工件感应机构，所述工件感应机构设在所述导料机构一侧。

4.根据权利要求2所述的磁芯光学检测设备，其特征在于：所述导料机构包括前后调节滑台、上下调节滑台、前导料板和后导料板，所述上下调节滑台设在所述前后调节滑台上，所述前导料板和后导料板设在所述前导料板的端部。

5.根据权利要求1所述的磁芯光学检测设备，其特征在于：所述运动机构包括转盘和驱动机构，所述上料导料机构将工件传送至所述转盘，所述驱动机构带动所述转盘进行转动。

6.根据权利要求1所述的磁芯光学检测设备，其特征在于：所述非接触式光学检测机构包括水平调节滑台、竖直调节滑台、磁芯驱动机构、工业相机、反光镜和工业光源，所述竖直调节滑台设在所述水平调节滑台上，所述磁芯驱动机构设在所述水平调节滑台上，所述工业相机设在所述竖直调节滑台上，所述反光镜和所述工业光源设在所述工业相机的下部。