CN206330557U - 整体式拨叉综合检具 - Google Patents

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曾磊
周骞
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Zhejiang Saifang Transmission Parts Co ltd
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Abstract

本实用新型涉及一种综合检具,尤其涉及一种整体式拨叉综合检具。包括机架和拨叉,所述的拨叉的上部与机架通过上固定组件定位,所述的拨叉的底部与机架通过下固定组件定位,所述的拨叉的一叉脚通过侧固定组件定位,所述的机架中设有滑动轴,所述的滑动轴的上端与拨叉上端间、滑动轴的下端与拨叉的下端间分别通过测量组件基准定位,所述的拨叉的另一叉脚通过机架中的位置插销组件进行定位,所述的机架中设有基准组件。整体式拨叉综合检具结构简单,提高使用性能,提升操作效率。

Description

整体式拨叉综合检具
技术领域
本实用新型涉及一种综合检具,尤其涉及一种整体式拨叉综合检具。
背景技术
拨叉是一款三维结构的整体式拨叉,客户图纸要求的很多尺寸为空间尺寸,测量难度大,手工测量误差较大,无法提升产品质量和装配精度,无法满足现有需求。
实用新型内容
本实用新型主要是解决现有技术中存在的不足,提供一种结构简单,进一步提高操作性能,提升产品质量的整体式拨叉综合检具。
本实用新型的上述技术问题主要是通过下述技术方案得以解决的:
一种整体式拨叉综合检具,包括机架和拨叉,所述的拨叉的上部与机架通过上固定组件定位,所述的拨叉的底部与机架通过下固定组件定位,所述的拨叉的一叉脚通过侧固定组件定位,所述的机架中设有滑动轴,所述的滑动轴的上端与拨叉上端间、滑动轴的下端与拨叉的下端间分别通过测量组件基准定位,所述的拨叉的另一叉脚通过机架中的位置插销组件进行定位,所述的机架中设有基准组件;
所述的上固定组件包括设在机架中的上固定座,所述的上固定座中设有滑动定位座,所述的滑动定位座与上固定座间设有定位导套,所述的滑动定位座的上部套有连接套,所述的滑动定位座的底部设有与拨叉上端相活动定位的A基准定位套;
所述的下固定组件包括与机架相固定的下固定座,所述的下固定座的上部 设有与拨叉底端相活动定位的B基准定位套;
所述的侧固定组件包括与机架相固定的C基准支座,所述的C基准支座的上部设有与拨叉相活动定位的C基准定位销,所述的C基准支座上端的外壁设有支撑座,所述的支撑座中设有推紧活块,所述的推紧活块的内端面设有与拨叉相活动贴合的C基准,所述的推紧活块外套有与支撑座相弹性连接的复位弹簧,所述的推紧活块的外端设有手柄;
所述的测量组件包括与滑动轴相套接的滑套,所述的滑套外设有V槽测量杆,所述的V槽测量杆中设有测量轴,所述的测量轴的外端与V槽测量杆间设有测量弹簧,所述的测量轴外端的底部设有与拨叉相活动定位的测量定位杆;
所述的位置插销组件包括位置度插销,所述的位置度插销与机架间设有插销定位导套,所述的位置度插销的外端设有插销手柄,所述的位置度插销的内端与拨叉相活动定位;
所述的基准组件包括上端面校零基准、上V槽校零基准、下端面校零基准、下V槽校零基准和叉脚校零基准,所述的上端面校零基准、上V槽校零基准、下端面校零基准、下V槽校零基准和叉脚校零基准分别与拨叉相匹配分布,所述的上端面校零基准的上部设有上端面对零点,所述的上V槽校零基准的上部设有上V槽对零点,所述的下端面校零基准的上部设有下端面对零点,所述的下V槽校零基准的上部设有下V槽对零点,所述的叉脚校零基准的上部设有叉脚对零点。
作为优选,所述的下固定座通过下定位销与机架相固定;所述的位置度插销的外端与机架外壁间通过挡盖相定位,所述的位置度插销外套有与挡盖相弹性连接的插销弹簧。
检具结构:
1、检具采用耐磨材料,并热处理,保证长期使用不易出现磨损;
2,各配合轴孔通过数控磨削精加工,保证尺寸精度;
3,整体装配后通过三坐标校核确认。
检具特点:
1、尺寸测量重复性好;
2、测量快速,效率高;
3、可实现关键、重要尺寸100%测量;
4、测量方法简单、易学。
因此,本实用新型的整体式拨叉综合检具,结构简单,提高使用性能,提升操作效率。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是图1中的A-A剖视结构示意图;
图3是图1中的B-B剖视结构示意图;
图4是本实用新型的基准组件结构示意图;
图5是图1中X向的结构示意图;
图6是图5中C-C剖视结构示意图。
具体实施方式
下面通过实施例,并结合附图,对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。
实施例1:如图1、图2、图3、图4、图5和图6所示,一种整体式拨叉综合检具,包括机架1和拨叉2,所述的拨叉2的上部与机架1通过上固定组件定位,所述的拨叉2的底部与机架1通过下固定组件定位,所述的拨叉2的一叉脚通过侧固定组件定位,所述的机架1中设有滑动轴3,所述的滑动轴3的上端与拨叉2上端间、滑动轴3的下端与拨叉2的下端间分别通过测量组件基准定位,所述的拨叉2的另一叉脚通过机架1中的位置插销组件进行定位,所述的机架1中设有基准组件;
所述的上固定组件包括设在机架1中的上固定座4,所述的上固定座4中设有滑动定位座5,所述的滑动定位座5与上固定座4间设有定位导套6,所述的滑动定位座5的上部套有连接套7,所述的滑动定位座5的底部设有与拨叉2上端相活动定位的A基准定位套8;
所述的下固定组件包括与机架1相固定的下固定座9,所述的下固定座9的上部设有与拨叉2底端相活动定位的B基准定位套10;
所述的侧固定组件包括与机架1相固定的C基准支座11,所述的C基准支座11的上部设有与拨叉2相活动定位的C基准定位销12,所述的C基准支座11上端的外壁设有支撑座13,所述的支撑座13中设有推紧活块14,所述的推紧活块14的内端面设有与拨叉2相活动贴合的C基准15,所述的推紧活块14外套有与支撑座13相弹性连接的复位弹簧16,所述的推紧活块14的外端设有手柄17;
所述的测量组件包括与滑动轴3相套接的滑套18,所述的滑套18外设有V槽测量杆19,所述的V槽测量杆19中设有测量轴20,所述的测量轴20的外端与V槽测量杆19间设有测量弹簧21,所述的测量轴20外端的底部设有与拨叉2相活动定位的测量定位杆22;
所述的位置插销组件包括位置度插销23,所述的位置度插销23与机架1间设有插销定位导套24,所述的位置度插销23的外端设有插销手柄25,所述的位置度插销23的内端与拨叉2相活动定位;
所述的基准组件包括上端面校零基准26、上V槽校零基准27、下端面校零基准28、下V槽校零基准29和叉脚校零基准30,所述的上端面校零基准26、上V槽校零基准27、下端面校零基准28、下V槽校零基准29和叉脚校零基准30分别与拨叉2相匹配分布,所述的上端面校零基准26的上部设有上端面对零点31,所述的上V槽校零基准27的上部设有上V槽对零点32,所述的下端面校零基准28的上部设有下端面对零点33,所述的下V槽校零基准29的上部设有下V槽对零点34,所述的叉脚校零基准30的上部设有叉脚对零点35。
所述的下固定座9通过下定位销36与机架1相固定;所述的位置度插销23的外端与机架1外壁间通过挡盖37相定位,所述的位置度插销23外套有与挡盖37相弹性连接的插销弹簧38。

Claims (2)

1.一种整体式拨叉综合检具,其特征在于:包括机架(1)和拨叉(2),所述的拨叉(2)的上部与机架(1)通过上固定组件定位,所述的拨叉(2)的底部与机架(1)通过下固定组件定位,所述的拨叉(2)的一叉脚通过侧固定组件定位,所述的机架(1)中设有滑动轴(3),所述的滑动轴(3)的上端与拨叉(2)上端间、滑动轴(3)的下端与拨叉(2)的下端间分别通过测量组件基准定位,所述的拨叉(2)的另一叉脚通过机架(1)中的位置插销组件进行定位,所述的机架(1)中设有基准组件;
所述的上固定组件包括设在机架(1)中的上固定座(4),所述的上固定座(4)中设有滑动定位座(5),所述的滑动定位座(5)与上固定座(4)间设有定位导套(6),所述的滑动定位座(5)的上部套有连接套(7),所述的滑动定位座(5)的底部设有与拨叉(2)上端相活动定位的A基准定位套(8);
所述的下固定组件包括与机架(1)相固定的下固定座(9),所述的下固定座(9)的上部设有与拨叉(2)底端相活动定位的B基准定位套(10);
所述的侧固定组件包括与机架(1)相固定的C基准支座(11),所述的C基准支座(11)的上部设有与拨叉(2)相活动定位的C基准定位销(12),所述的C基准支座(11)上端的外壁设有支撑座(13),所述的支撑座(13)中设有推紧活块(14),所述的推紧活块(14)的内端面设有与拨叉(2)相活动贴合的C基准(15),所述的推紧活块(14)外套有与支撑座(13)相弹性连接的复位弹簧(16),所述的推紧活块(14)的外端设有手柄(17);
所述的测量组件包括与滑动轴(3)相套接的滑套(18),所述的滑套(18)外设有V槽测量杆(19),所述的V槽测量杆(19)中设有测量轴(20),所述的测量轴(20)的外端与V槽测量杆(19)间设有测量弹簧(21),所述的测量轴(20)外端的 底部设有与拨叉(2)相活动定位的测量定位杆(22);
所述的位置插销组件包括位置度插销(23),所述的位置度插销(23)与机架(1)间设有插销定位导套(24),所述的位置度插销(23)的外端设有插销手柄(25),所述的位置度插销(23)的内端与拨叉(2)相活动定位;
所述的基准组件包括上端面校零基准(26)、上V槽校零基准(27)、下端面校零基准(28)、下V槽校零基准(29)和叉脚校零基准(30),所述的上端面校零基准(26)、上V槽校零基准(27)、下端面校零基准(28)、下V槽校零基准(29)和叉脚校零基准(30)分别与拨叉(2)相匹配分布,所述的上端面校零基准(26)的上部设有上端面对零点(31),所述的上V槽校零基准(27)的上部设有上V槽对零点(32),所述的下端面校零基准(28)的上部设有下端面对零点(33),所述的下V槽校零基准(29)的上部设有下V槽对零点(34),所述的叉脚校零基准(30)的上部设有叉脚对零点(35)。
2.根据权利要求1所述的整体式拨叉综合检具,其特征在于:所述的下固定座(9)通过下定位销(36)与机架(1)相固定;所述的位置度插销(23)的外端与机架(1)外壁间通过挡盖(37)相定位,所述的位置度插销(23)外套有与挡盖(37)相弹性连接的插销弹簧(38)。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN110108178A (zh) * 2019-04-12 2019-08-09 重庆蓝黛动力传动机械股份有限公司 一种检测换档拨叉组件的检具

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