CN105300241A - 弹性测量机构 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种测量机构,具体的说是一种弹性测量机构,属于测量技术领域。其包括测量体,测量体上表面设有多个测头连接孔,测量体下表面设有多个检具体连接孔,测量体中心横向设有测量仪器安装孔。测量体左右两端内部设有纵向弹性变形槽,测量体靠近检具体连接孔端内部设有横向弹性变形槽,横向弹性变形槽两端通过连接槽与纵向弹性变形槽连通。本发明结构简单、紧凑、合理,操作方便,工作稳定可靠;能够将测量精度最高提高到0.001mm,满足高精度工件的直径测量需求。
Description
技术领域
本发明涉及一种测量机构,具体的说是一种弹性测量机构,属于测量技术领域。
背景技术
在已有技术中,用检具测量工件直径时,使用的测量机构,其核心部件一般是由一个固定块、一个活动块组成。其中固定块与千分表(或位移传感器)安装块相连,活动块则与测头相连接,固定块与活动块之间靠两个直线轴承连接。测量时,活动块随着工件直径的变化而产生位移,千分表(或传感器)通过计量固定块的位移变化量,来得到工件直径的变化量。但是,受到直线轴承本身精度的影响,此结构的测量精度最高只能达到0.005mm左右。按照一般测量误差不超过公差的1/10来说,此结构无法满足工件公差在0.05mm以内的直径测量需求。
发明内容
本发明的目的在于克服上述不足之处,从而提供一种弹性测量机构,能够将测量精度最高提高到0.001mm,满足高精度工件的直径测量需求。
按照本发明提供的技术方案,弹性测量机构包括测量体,其特征是:测量体上表面设有多个测头连接孔,测量体下表面设有多个检具体连接孔,测量体中心横向设有测量仪器安装孔;测量体左右两端内部设有纵向弹性变形槽,测量体靠近检具体连接孔端内部设有横向弹性变形槽,横向弹性变形槽两端通过连接槽与纵向弹性变形槽连通。
进一步的,测头连接孔为三个。
进一步的,检具体连接孔为三个。
本发明与已有技术相比具有以下优点:
本发明结构简单、紧凑、合理,操作方便,工作稳定可靠;能够将测量精度最高提高到0.001mm,满足高精度工件的直径测量需求。
附图说明
图1为本发明主视图。
图2为本发明侧视图。
图3为本发明俯视图。
附图标记说明:1-测量体、2-测头连接孔、3-检具体连接孔、4-测量仪器安装孔、5-纵向弹性变形槽、6-横向弹性变形槽、7-连接槽。
具体实施方式
下面本发明将结合附图中的实施例作进一步描述:
如图1~3所示,本发明主要包括测量体1,测量体1上表面设有多个测头连接孔2,测头连接孔2用于连接测头。如图3所示的实施例中,所述连接孔2为三个。
测量体1下表面设有多个检具体连接孔3,检具体连接孔3用于连接检具体。如图1所示的实施例中,所述检具体连接孔3为三个。
测量体1中心横向设有测量仪器安装孔4,测量仪器安装孔4内安装测量仪器,测量仪器为千分表或传感器。
测量体1左右两端内部设有纵向弹性变形槽5,测量体1靠近检具体连接孔3端内部设有横向弹性变形槽6,横向弹性变形槽6两端通过连接槽7与纵向弹性变形槽5连通。
本发明的工作原理是:在使用时,本发明与检具体、测头、测量仪器安装在一起,组成一个完整的测量部件。测头通过测头连接孔安装在测量体上。测量体通过检具体连接孔安装在检具体上。测量仪器通过测量仪器安装孔安装在测量体上。工作时,检具体不动,测头随着工件直径变化而产生位移,测量体也随着测头产生弹性变形。测量体的纵向弹性变形槽,将整个零件近似变成了一个平行四边形机构(即四连杆机构)。测量体的变形量传递到测量仪器上,通过测量仪器(可以是千分表,也可以是传感器)可以读出工件直径的变化量。测量体的变形量与工件半径的变化量可以近似认为是1:1输出的。
Claims (3)
1.一种弹性测量机构,包括测量体(1),其特征是:测量体(1)上表面设有多个测头连接孔(2),测量体(1)下表面设有多个检具体连接孔(3),测量体(1)中心横向设有测量仪器安装孔(4);测量体(1)左右两端内部设有纵向弹性变形槽(5),测量体(1)靠近检具体连接孔(3)端内部设有横向弹性变形槽(6),横向弹性变形槽(6)两端通过连接槽(7)与纵向弹性变形槽(5)连通。
2.如权利要求1所述的弹性测量机构,其特征是:所述测头连接孔(2)为三个。
3.如权利要求1所述的弹性测量机构,其特征是:所述检具体连接孔(3)为三个。
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CN201510836173.1A CN105300241A (zh) | 2015-11-26 | 2015-11-26 | 弹性测量机构 |
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Publications (1)
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PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20160203 |
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