CN206270459U - 一种芯片测试用导电胶片 - Google Patents
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Abstract
一种芯片测试用导电胶片，包括导电胶片本体，其特征在于：还包括由多条开槽组成的真空吸槽，所述开槽贯穿所述导电胶片本体，能使待测芯片与测试假片之间接触紧密并防止灰尘等杂物的进入，提高了测试的准确性。
Description
技术领域
本实用新型涉及芯片测试领域，特别是涉及一种芯片测试用导电胶片。
背景技术
目前，在芯片设计制造后一般都需要进行测试工作，在封装前进行芯片测试，发现有不良品存在晶圆当中，即进行标记，直到后段封装制程前将这些标记的不良品舍弃，可省下不必要的封装成本。这种测试主要采用的是探针卡，首先将待测芯片放置于探针卡位于上吸真空装置上，利用该装置吸真空来定位，然后将探针卡上的探针直接与芯片上的焊垫或凸块直接接触，引出芯片讯号，再配合周边测试仪器与软件控制达到自动化量测的目的。而此过程中需要将待测试芯片放置于测试假片之上，再利用吸真空装置将假片及待测芯片一起吸附并定位，但是待测芯片与测试假片之间常常存在接触不良、吸附不紧密和容易进入灰尘等杂物的缺陷。
发明内容
本实用新型的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种芯片测试用导电胶片，能使待测芯片与测试假片之间接触紧密并防止灰尘等杂物的进入，提高了测试的准确性。
本实用新型的目的通过以下技术方案实现：
提供了一种芯片测试用导电胶片，包括导电胶片本体，其特征在于：还包括由多条开槽组成的真空吸槽，所述开槽贯穿所述导电胶片本体。
其中，真空吸槽至少有两组，相邻两组真空吸槽之间留有间隙。
其中，每组真空吸槽包括多条沿所述导电胶本体横向排列且相互平行的开槽。
进一步的，开槽数量为六条。
进一步的，相邻开槽之间的距离为15mm。
其中，导电胶片本体的长度为240mm，宽度为74mm。
优选的，导电胶片由环氧树脂或丙烯酸酯树脂制成。
本实用新型的有益效果：
本实用新型的一种芯片测试用导电胶片，包括导电胶片本体，还包括由多条开槽组成的真空吸槽，所述开槽贯穿所述导电胶片本体，将其用于芯片测试的时候，先将其固定于假片上，假片置于探针卡上方，最后利用吸真空装置定位假片；吸真空装置通过真空吸槽将导电胶片与假片之间吸成真空，使得二者紧密接触，同时也能防止灰尘等杂物进入，提高了测试的准确性。
附图说明
利用附图对实用新型作进一步说明，但附图中的实施例不构成对实用新型的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。
图1是本实用新型的一种芯片测试用导电胶片的主视图。
图2是本实用新型的一种芯片测试用探针台的示意图。
图3是本实用新型的一种芯片测试用假片的俯视图。
图中包括有：
导电胶片本体1；
真空吸槽2；
开槽3；
探针卡4；
假片5。
具体实施方式
结合以下实施例对本实用新型作进一步描述。
本实施例的一种芯片测试用导电胶片，如图1所示，包括导电胶片本体1，还包括由多条开槽3组成的真空吸槽2，开槽3贯穿导电胶片本体1，将导电胶片用于芯片测试时，将其粘贴到假片5的镂空处，然后一起放置到装有探针卡4的测试台上，测试台内设有吸真空装置，吸真空装置通过真空吸槽2将导电胶片与待测芯片之间吸成真空，从而能使二者紧密的贴合在一起，防止接触不良和灰尘等杂物进入，提高测试的准确性。
真空吸槽2有两组，相邻两组真空吸槽之间留有间隙，两组真空吸槽分别对称地位于导电胶片本体1两端这样受力更均匀，效果更好；中间留有间隙，防止两组真空吸槽相互影响而影响吸真空效果。
每一组真空吸槽2包括六条沿所述导电胶本体1横向排列且相互平行的开槽3，相邻开槽3之间的距离为15mm，导电胶片本体的长度为240mm，宽度为74mm，这是根据现有工艺作出的优选方案。
最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对本实用新型保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
Claims (7)
1.一种芯片测试用导电胶片，包括导电胶片本体，其特征在于：还包括由多条开槽组成的真空吸槽，所述开槽贯穿所述导电胶片本体。
2.如权利要求1所述的一种芯片测试用导电胶片，其特征在于：所述真空吸槽至少有两组，相邻两组真空吸槽之间留有间隙。
3.如权利要求1或2所述的一种芯片测试用导电胶片，其特征在于：所述每组真空吸槽包括多条沿所述导电胶本体横向排列且相互平行的开槽。
4.如权利要求3所述的一种芯片测试用导电胶片，其特征在于：所述开槽数量为六条。
5.如权利要求4所述的一种芯片测试用导电胶片，其特征在于：所述相邻开槽之间的距离为15mm。
6.如权利要求1所述的一种芯片测试用导电胶片，其特征在于：所述导电胶片本体的长度为240mm，宽度为74mm。
7.权利要求1所述的一种芯片测试用导电胶片，其特征在于：所述导电胶片由环氧树脂或丙烯酸酯树脂制成。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201621156624.3U CN206270459U (zh) | 2016-10-31 | 2016-10-31 | 一种芯片测试用导电胶片 |
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| CN201621156624.3U CN206270459U (zh) | 2016-10-31 | 2016-10-31 | 一种芯片测试用导电胶片 |
Publications (1)
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| CN206270459U true CN206270459U (zh) | 2017-06-20 |
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ID=59039239
Family Applications (1)
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| CN201621156624.3U Active CN206270459U (zh) | 2016-10-31 | 2016-10-31 | 一种芯片测试用导电胶片 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN206270459U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109374257A (zh) * | 2018-11-16 | 2019-02-22 | 苏州伊欧陆系统集成有限公司 | 一种边发射激光器测试高低温及恒温使用夹具系统 |
| CN110571179A (zh) * | 2018-06-05 | 2019-12-13 | 阿斯莫Ip控股公司 | 假片存储盒 |
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2016
- 2016-10-31 CN CN201621156624.3U patent/CN206270459U/zh active Active
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