CN206193037U - 一种电子元器件侧边针测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种电子元器件侧边针测试治具，其特征在于：包括底座、模具台、模具、滑动装置和测试托板，模具台和滑动装置对应安装在底座两端；模具台设置有和模具配合的模具槽，模具固定安装在模具台的模具槽内；滑动装置包括底板，底板上对应设有固定块和滑动块，固定块固定设置在底板一端，滑动块活动安装在底板另一端，固定块和滑动块之间均匀连接有2条以上的弹簧；测试托板固定在滑动块上，测试托板上设有测试板槽，测试探针一端外露设于测试板槽内，且与测试托板的测试点相对应，另一端穿过测试托板的侧边且能活动伸入至模具的探针槽内，模具上设有和产品相配合的产品槽和测试探针配合的探针槽。

Description

一种电子元器件侧边针测试治具

技术领域

本实用新型涉及电子元器件侧边针测试治具，特别是一种电子元器件侧边针测试治具。

背景技术

随着电子科技的发展，电子元器件越来越倾向于小体积、多功能、高精度的趋势发展，这些变化趋势对电子元器件测试技术也提出了更高的要求，特别是小体积的电子元器件的测试，测试探针能否准确的对上测试点，将会影响测试的效果和测试的速率。比如在作石英晶体振荡器的水晶特性的分析时，由于水晶封装在振荡器内部，且产品本身封装尺寸较小，仅在基座侧面预留两个微型测试点，如何准确对接测试点，并且完好的和测试分析仪器匹配完好，成为行内一大难题，大大阻碍了石英晶体振荡器水晶特性的研究分析，同时，如缺少对石英晶体振荡器内部水晶特性的分析，将会对产品的可靠性产生影响。

发明内容

针对现有技术的不足，本实用新型提一种电子元器件侧边针测试治具。

为实现上述目的，本实用新型通过下述技术方案予以实现：一种电子元器件侧边针测试治具，包括底座、模具台、模具、滑动装置和测试托板，模具台和滑动装置对应安装在底座两端；模具台设置有和模具配合的模具槽，模具固定安装在模具台的模具槽内；滑动装置包括底板，底板上对应设有固定块和滑动块，固定块固定设置在底板一端，滑动块活动安装在底板另一端，固定块和滑动块之间均匀连接有2条以上的弹簧；

测试托板固定在滑动块上，测试托板上设有测试板槽，测试探针一端外露设于测试板槽内，且与测试托板的测试点相对应，另一端穿过测试托板的侧边且能活动伸入至模具的探针槽内，模具上设有和产品相配合的产品槽和测试探针配合的探针槽，将产品放入产品槽中，产品的测试点正好落在探针槽的槽口内。

所述滑动装置的底板上设有螺杆和通过螺杆能上下升降的挡块，所述挡块的升降可以通过挡块上的齿条和螺杆内部的齿轮配合实现，所述挡块为梯形挡块，常态下，挡块突出底板表面，阻挡滑动块向模具台方向运动，此时弹簧处于压缩状态，调节螺杆，可使挡块逐渐向下运动至挡块上表面与底板表面相平，或者挡块上表面低于底板表面，此时，滑动块在弹簧力的作用下向模具台的方向运动。

所述滑动装置接近模具台的一端还设置有限位调节器，所述限位调节器为在挡板上垂直设置调节杆的结构，调节杆可以沿着滑动块运动的方向作横向运动，当测试托板随着滑动块在弹簧的作用下向模具台运动时，可以通过调节杆限制滑动块和测试托板的运动，达到微调的目的。

进一步地，所述模具台上设有定位针，模具上设置有和定位针配合的定位孔，通过定位孔和定位针的配合能够实现模具在模具台上的准确安装，从而保证测试针和产品测试点的精确定位。

进一步地，所述底座1上设置有限位凹槽，模具台和滑动装置的两侧边分别嵌入到

限位凹槽内，从而提高安装精度，所述滑动装置的底板设置有滑行轨道，滑动块底部形状与滑行轨道相互配合，使滑块活动安装在滑行轨道上。

更进一步地，所述模具在产品槽两侧设置有产品取放槽，可方便取放测试产品。

本实用新型的有益效果为：

1、通过弹簧的作用、挡块和螺杆的配合，能够方便地控制测试探针和产品的接触；

2、通过限位调节器的微调作用，不仅可以适应不同尺寸产品的测试，还能保证测试探针能以较好的力度接触产品的测试点，保证测试的准确度；

3、通过模具台和模具的定位针和定位孔的配合，滑动装置的滑行轨道和滑动块的配合，以及底座限位台阶的限位作用，使测试探针的位置精度控制在0.01mm范围内，实现了高精度的电子元器件的测试功能；

4、产品取放槽的设置，可方便取放测试产品。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图，

其中，1-底座，2-模具台，3-模具，4-滑动装置，5-测试托板，6-底板，7-固定块，8-滑动块，9-测试探针，10-限位调节器。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步说明：

如图1所示，一种电子元器件侧边针测试治具，包括底座1、模具台2、模具3、滑动装置4和测试托板5，模具台2和滑动装置4对应安装在底座1两端；模具台2设置有和模具3配合的模具槽，模具3固定安装在模具台2的模具槽内；滑动装置4包括底板6，底板6上对应设有固定块7和滑动块8，固定块7固定设置在底板6一端，滑动块8活动安装在底板6另一端，固定块7和滑动块8之间均匀连接有2条以上的弹簧；

测试托板5固定在滑动块8上，测试托板5上设有测试板槽，测试探针9一端外露设于测试板槽内，且与测试托板的测试点相对应，另一端穿过测试托板5的侧边且能活动伸入至模具3的探针槽内，模具3上设有和产品相配合的产品槽和测试探针9配合的探针槽，将产品放入产品槽中，产品的测试点正好落在探针槽的槽口内。

所述滑动装置4的底板6上设有螺杆和通过螺杆能上下升降的挡块，所述挡块的升降可以通过挡块上的齿条和螺杆内部的齿轮配合实现，所述挡块为梯形挡块，常态下，挡块突出底板6表面，阻挡滑动块向模具台2方向运动，此时弹簧处于压缩状态，调节螺杆，可使挡块逐渐向下运动至挡块上表面与底板6表面相平，或者挡块上表面低于底板6表面，此时，滑动块8在弹簧力的作用下向模具台2的方向运动。

所述滑动装置4接近模具台2的一端还设置有限位调节器10，所述限位调节器10为在挡板上垂直设置调节杆的结构，调节杆可以沿着滑动块8运动的方向作横向运动，当测试托板5随着滑动块8在弹簧的作用下向模具台2运动时，可以通过调节杆限制滑动块8和测试托板5的运动，达到微调的目的。

进一步地，所述模具台2上设有定位针，模具3上设置有和定位针配合的定位孔，通过定位孔和定位针的配合能够实现模具3在模具台2上的准确安装，从而保证测试针和产品测试点的精确定位。

进一步地，所述底座1上设置有限位凹槽，模具台2和滑动装置4的两侧边分别嵌入到

限位凹槽内，从而提高安装精度，所述滑动装置4的底板6设置有滑行轨道，滑动块8底部形状与滑行轨道相互配合，使滑块活动安装在滑行轨道上。

更进一步地，所述模具3在产品槽两侧设置有产品取放槽，可方便取放测试产品。

具体实施时，根据测试产品的规格型号，选定好对应的模具3和测试托板，将待测产品置于产品槽内，产品的测试点正好对准探针槽，将测试托板放置在测试板槽内，测试托板上的测试点与测试槽内相应的测试探针9接触，调节螺杆，使挡块下降，滑动块8载着测试托板5和测试托板在弹簧的作用下，沿着滑行轨道向模具台2方向运动，适当调节限位调节器10的调节杆，使滑动块8运动到限定的位置时停止运动，测试探针9接触产品对应的测试点，达到测试的效果。

本实用新型通过弹簧的作用、挡块和螺杆的配合，能够方便地控制测试探针9和产品的接触；通过限位调节器10的微调作用，不仅可以适应不同尺寸产品的测试，还能保证测试探针9能以较好的力度接触产品的测试点，保证测试的准确度；通过模具台2和模具3的定位针和定位孔的配合，滑动装置4的滑行轨道和滑动块8的配合，以及底座1上限位台阶的限位作用，使测试探针9的位置精度控制在0.01mm范围内，实现了高精度的电子元器件的测试功能。

上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理和最佳实施例，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。

Claims (6)

1.一种电子元器件侧边针测试治具，其特征在于：包括底座、模具台、模具、滑动装置和测试托板，模具台和滑动装置对应安装在底座两端；模具台设置有和模具配合的模具槽，模具固定安装在模具台的模具槽内；滑动装置包括底板，底板上对应设有固定块和滑动块，固定块固定设置在底板一端，滑动块活动安装在底板另一端，固定块和滑动块之间均匀连接有2条以上的弹簧；

测试托板固定在滑动块上，测试托板上设有测试板槽，测试探针一端外露设于测试板槽内，另一端穿过测试托板的侧边且能活动伸入至模具的探针槽内，模具上设有和产品相配合的产品槽和测试探针配合的探针槽。

2.根据权利要求1所述的电子元器件侧边针测试治具，其特征在于：所述滑动装置的底板上设有螺杆和通过螺杆能上下升降的挡块，所述挡块为梯形挡块。

3.根据权利要求1所述的电子元器件侧边针测试治具，其特征在于：所述滑动装置接近模具台的一端还设置有限位调节器，所述限位调节器为在挡板上垂直设置调节杆的结构。

4.根据权利要求1所述的电子元器件侧边针测试治具，其特征在于：所述模具台上设有定位针，模具上设置有和定位针配合的定位孔。

5.根据权利要求1所述的电子元器件侧边针测试治具，其特征在于：所述底座1上设置有限位凹槽，模具台和滑动装置的两侧边分别嵌入到限位凹槽内。

6.根据权利要求1所述的电子元器件侧边针测试治具，其特征在于：所述模具在产品槽两侧设置有产品取放槽。