CN206114512U - 热熔胶老化测试装置 - Google Patents

Abstract

一种热熔胶老化测试装置，包括：底板、硅胶板及外框。硅胶板的一侧面贴合于底板上，硅胶板上开设有多个容胶孔，且各容胶孔间隔设置，硅胶板的侧边边缘还设有限位槽。外框具有中空结构，外框设置于底板上，且外框的内侧壁与硅胶板的侧边边缘相贴合，外框的内侧壁还设有限位块，限位块嵌置于限位槽内。上述热熔胶老化测试装置通过设置底板、硅胶板及外框，且硅胶板上开设有多个用于容置热熔胶容胶孔，能够在具体一个时间点内同时观察到各时间点的热熔胶老化变色情况，其测试结果的观察效果较好。

Description

热熔胶老化测试装置

技术领域

本实用新型涉及实验用具，特别是涉及一种热熔胶老化测试装置。

背景技术

目前，在热熔胶品质测试过程中，需要进行老化测试这一工序，传统的做法是在一个平台上滴落一团热熔胶，然后观察该热熔胶团老化过程中，每一个时间点的颜色情况，以此来进行老化测试。

然而，采用平台上滴落一团热熔胶的测试方式，无法在具体一个时间点内同时观察到各时间点的热熔胶老化变色情况，即老化测试时观察测试结果的效果较差。

实用新型内容

基于此，有必要提供一种热熔胶老化测试时，其测试结果的观察效果较好的热熔胶老化测试装置。

一种热熔胶老化测试装置，包括：

底板，

硅胶板，所述硅胶板的一侧面贴合于所述底板上，所述硅胶板上开设有多个容胶孔，且各所述容胶孔间隔设置，所述硅胶板的侧边边缘还设有限位槽；及

外框，所述外框具有中空结构，所述外框设置于所述底板上，且所述外框的内侧壁与所述硅胶板的侧边边缘相贴合，所述外框的内侧壁还设有限位块，所述限位块嵌置于所述限位槽内。

在其中一个实施例中，所述硅胶板上开设有12个所述容胶孔。

在其中一个实施例中，所述底板具有长方体状结构。

在其中一个实施例中，所述外框与所述底板相粘接。

在其中一个实施例中，各所述容胶孔呈阵列分布。

在其中一个实施例中，所述容胶孔的直径为1cm。

在其中一个实施例中，所述外框具有方形环状结构。

在其中一个实施例中，所述外框的高度为1cm。

在其中一个实施例中，所述硅胶板具有长方体状结构。

在其中一个实施例中，所述硅胶板的长度为16cm，宽度为6cm，高度为1cm。

上述热熔胶老化测试装置通过设置底板、硅胶板及外框，且硅胶板上开设有多个用于容置热熔胶容胶孔，能够在具体一个时间点内同时观察到各时间点的热熔胶老化变色情况，其测试结果的观察效果较好。

附图说明

图1为本实用新型一实施方式的热熔胶老化测试装置的结构示意图；

图2为图1所示的热熔胶老化测试装置的另一视角的结构示意图；

图3为图2在A-A线的剖示图；

图4为本实用新型另一实施方式的热熔胶老化测试装置的结构示意图；

图5为本实用新型一实施方式的热熔胶测试样品制作模具的结构示意图；

图6为图5所示的热熔胶测试样品制作模具的局部结构示意图；

图7为图5所示的热熔胶测试样品制作模具的另一视角的结构示意图；

图8为图7在B-B线的剖示图；

图9本实用新型另一实施方式的热熔胶测试样品制作模具的结构示意图。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳实施方式。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本实用新型的公开内容理解的更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

例如，一种热熔胶老化测试装置，包括：底板，硅胶板，所述硅胶板的一侧面贴合于所述底板上，所述硅胶板上开设有多个容胶孔，且各所述容胶孔间隔设置，所述硅胶板的侧边边缘还设有限位槽；及外框，所述外框具有中空结构，所述外框设置于所述底板上，且所述外框的内侧壁与所述硅胶板的侧边边缘相贴合，所述外框的内侧壁还设有限位块，所述限位块嵌置于所述限位槽内。

又一个例子是，请参阅图1，热熔胶老化测试装置10包括：底板100、硅胶板200及外框300，外框300具有两端开口的中空结构，外框300设置于底板100上，外框300的内部空间与底板100围成一空腔，硅胶板200容置于所述空腔内。

请参阅图1，硅胶板200的一侧面贴合于底板100上。例如，所述硅胶板具有长方体状结构；又如，所述硅胶板的长度为16cm，宽度为6cm，高度为1cm；又如，所述底板具有长方体状结构。

请一并参阅图1及图3，硅胶板200上开设有多个容胶孔210，且各容胶孔210间隔设置，例如，各容胶孔210依次间隔设置；容胶孔210用于容置热熔胶，例如，各容胶孔210的大小相同。例如，各所述容胶孔呈阵列分布，即，各所述容胶孔呈矩阵分布；又如，所述容胶孔的直径为1cm；又如，所述硅胶板上开设有12个所述容胶孔。

请参阅图1，在此以硅胶板200上开设有12个容胶孔210为例对上述热熔胶老化测试装置10的老化测试过程进行说明。首先，保持上述热熔胶老化测试装置10处于恒定温度的测试条件下，以确保测试结果的精确度，之后，每隔两个小时，将热熔胶依次倒入至各容胶孔210中，也就是说，加入热熔胶的过程持续24个小时，一共得到12个胶样，之后，观察12个胶样的老化过程颜色的变化，这样，能够在一个热熔胶老化测试装置10内观察胶样在24小时内的老化变色程度，即能够在具体一个时间点内同时观察到各时间点的热熔胶老化变色情况，其测试结果的观察效果较好；此外，由于各胶样的大小一致，还能够确保对比测试结果的准确性。

需要说明的是，所述硅胶板上开设的所述容胶孔的个数可以根据实际情况进行调整，如，所述硅胶板上开设有6个所述容胶孔，则每隔4小时向一个所述容胶孔内倒入热熔胶。

请参阅图4，硅胶板200的侧边边缘还设有限位槽220，外框300具有中空结构，外框300设置于所述底板上，且外框300的内侧壁与硅胶板200的侧边边缘相贴合，外框300的内侧壁还设有限位块310，限位块310嵌置于限位槽220内，可以理解，由于硅胶板200的材质为硅胶，其具有较柔软的特性，通过外框300能够对硅胶板200起到较好的限位作用，减少硅胶板200在受力时变形，起到较好的定型保护作用，进而确保各所述溶胶孔的大小一致，利于提高测试结果的精确度；此外，通过设置所述限位槽与所述限位块相配合，能够进一步提高两者连接时的结构稳定性。例如，所述外框与所述底板相粘接，例如，所述外框与所述底板相粘接或分离，优选的，所述外框与所述底板相分离，即所述外框的内侧壁与所述底板的外侧壁相抵持，这样，利于所述外框与所述底板的拆卸和安装。所述外框具有方形环状结构；又如，所述外框的高度为1cm。

上述热熔胶老化测试装置10通过设置底板100、硅胶板200及外框300，且硅胶板200上开设有多个用于容置热熔胶容胶孔210，能够在具体一个时间点内同时观察到各时间点的热熔胶老化变色情况，其测试结果的观察效果较好。

为了还能够检测热熔胶的熔融速度，以提高对热熔胶测试实验的多样性和丰富性，以更好地检测热熔胶的品质，又一个例子是，一种热熔胶测试样品制作模具，能够制作用于测试熔融速度实验的热熔胶的胶样。

请参阅图5，热熔胶测试样品制作模具20包括：硅胶底板400、硅胶筒体500及刮胶板600，硅胶筒体500具有中空结构，硅胶筒体500的两端分别与硅胶底板400及刮胶板600连接，硅胶底板400及刮胶板600连接用于封闭硅胶筒体500的内部空间。

请参阅图6，硅胶筒体500具有中空圆筒结构，如，硅胶筒体500具有两端开口的中空圆筒结构，硅胶筒体500内形成容胶腔体510，硅胶筒体500的第一端与硅胶底板400相固定。例如，所述硅胶底板与所述硅胶筒体为一体成型结构；又如，所述硅胶筒体的内径为2.5cm，外径为4.5cm，高度为1cm；又如，所述硅胶底板具有方形结构；又如，所述硅胶底板的边长为8cm；又如，所述硅胶底板的高度为2cm。

请一并参阅图7及图8，刮胶板600与硅胶筒体500的第二端抵持，即刮胶板600与硅胶筒体500远离硅胶底板400的端部抵持。

请参阅图8，硅胶底板400及刮胶板600用于封闭硅胶筒体500的容胶腔体510，这样，当热熔胶倒入至硅胶筒体500内时，刮胶板600能够挤去或刮去溢出至容胶腔体510外的热熔胶，即刮胶板600能够挤去或刮去溢出至硅胶筒体500外的热熔胶，进而确保使用热熔胶测试样品制作模具20进行热熔胶的胶样的制作时，各热熔胶的胶样大小一致。

例如，刮胶板包括板体及四氟乙烯涂层，所述四氟乙烯涂层设置于所述板体上，例如，所述四氟乙烯涂层涂设或贴合于所述板体上，所述四氟乙烯涂层与所述硅胶筒体的第二端抵持，这样，利于所述四氟乙烯涂层的防粘效果，能够减少所述刮胶板在刮去多余热熔胶时粘附在所述刮胶板上的热熔胶。例如，所述刮胶板具有方形结构；又如，所述刮胶板的边长为8cm；又如，所述刮胶板的高度为2cm。

上述热熔胶测试样品制作模具20制作热熔胶的胶样的过程如下：

首先，将高温熔融好的热熔胶倒入至硅胶筒体500中，倒满后，将刮胶板600压到硅胶筒体500上，利用刮胶板600排出或刮去多余的胶，待硅胶筒体500内的热熔胶冷却后，取出热熔胶的胶样，裁剪掉边缘多余的胶，得到形状大小一致热熔胶的胶样，制作完成热熔胶的胶样用于测试不同热熔胶的胶样在相同温度下的熔融速度，这样，硅胶底板400和硅胶筒体500由于采用硅胶材质，两者具有很好的防粘性、柔软性和耐高温性，且胶样取出操作更加便捷；此外，上述热熔胶测试样品制作模具20还能够重复制作形状大小一样热熔胶的胶样，确保各热熔胶的胶样的大小一致性，进而提高了熔融速度对比测试的准确性。

上述热熔胶测试样品制作模具20通过设置硅胶底板400、硅胶筒体500及刮胶板600，能够重复制作形状大小一样热熔胶的胶样，确保各热熔胶的胶样的大小一致性，进而提高了熔融速度对比测试的准确性。

为了减少所述热熔胶测试样品制作模具在静置时，所述硅胶底板与刮胶板发生相对位移的情况发生，以提高制作得到的热熔胶的胶样的品质，例如，请参阅图9，所述热熔胶测试样品制作模具还包括定位柱700，定位柱700依次穿设刮胶板600及硅胶底板400，这样，能够减少所述热熔胶测试样品制作模具在静置时，所述硅胶底板与刮胶板发生相对位移的情况发生。例如，所述刮胶板开设有通孔，所述硅胶底板上开设有与所述通孔对齐的定位槽，所述定位柱的端部穿设所述通孔并容置于所述定位槽内。

又一个例子是，一种热熔胶测试设备，包括：工作台、热熔胶老化测试装置及热熔胶测试样品制作模具，所述热熔胶老化测试装置及所述热熔胶测试样品制作模具均设置于所述工作台上。例如，一实施方式的热熔胶测试设备中，包括上述任一实施例所述的热熔胶老化测试装置；又如，，一实施方式的热熔胶测试设备中，包括上述任一实施例所述的热熔胶测试样品制作模具。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施方式仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种热熔胶老化测试装置，其特征在于，包括：

底板，

硅胶板，所述硅胶板的一侧面贴合于所述底板上，所述硅胶板上开设有多个容胶孔，且各所述容胶孔间隔设置，所述硅胶板的侧边边缘还设有限位槽；及

外框，所述外框具有中空结构，所述外框设置于所述底板上，且所述外框的内侧壁与所述硅胶板的侧边边缘相贴合，所述外框的内侧壁还设有限位块，所述限位块嵌置于所述限位槽内。

2.根据权利要求1所述的热熔胶老化测试装置，其特征在于，所述硅胶板上开设有12个所述容胶孔。

3.根据权利要求1所述的热熔胶老化测试装置，其特征在于，所述底板具有长方体状结构。

4.根据权利要求1所述的热熔胶老化测试装置，其特征在于，所述外框与所述底板相粘接。

5.根据权利要求1所述的热熔胶老化测试装置，其特征在于，各所述容胶孔呈阵列分布。

6.根据权利要求1所述的热熔胶老化测试装置，其特征在于，所述容胶孔的直径为1cm。

7.根据权利要求1所述的热熔胶老化测试装置，其特征在于，所述外框具有方形环状结构。

8.根据权利要求7所述的热熔胶老化测试装置，其特征在于，所述外框的高度为1cm。

9.根据权利要求1所述的热熔胶老化测试装置，其特征在于，所述硅胶板具有长方体状结构。

10.根据权利要求9所述的热熔胶老化测试装置，其特征在于，所述硅胶板的长度为16cm，宽度为6cm，高度为1cm。