CN206095765U - 一种衰减全反射红外光谱测试用控温装置 - Google Patents

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马芳
赵子鹏
马德崇
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Abstract

本实用新型属于温度控制技术领域，具体来说，涉及到一种衰减全反射红外光谱测试用控温装置。所述控温装置包括玻璃罩、隔热密封垫圈、热电偶温度计、加热棒和温度控制系统；玻璃罩呈圆筒状，上部封闭，底部开口且在整个边缘设有隔热密封垫圈；热电偶温度计和加热棒均置于玻璃罩内，两者上端分别与带单片机的温度控制系统连接。与现有技术相比，本实用新型所述的衰减全反射红外光谱测试用控温装置可实现物质在连续升温及恒温环境下的红外分析，并可便于观察相态的变化，便于试验的有效进行，结构简单便于推广应用。

Description

一种衰减全反射红外光谱测试用控温装置
技术领域
本实用新型属于温度控制技术领域，具体来说，涉及到一种衰减全反射红外光谱测试用控温装置。
背景技术
红外光谱测试是一种鉴别化合物和确定物质分子结构的常用分析手段，不仅可对物质进行定性分析，还可对单一组分或混合物中各组分方便快捷地进行定量分析。衰减全反射技术属于一种无损检测方法，对于传统制样方法不好处理的样品而言是一种非常好的手段，现已成为分析物质结构的一种简便有力手段，并在不同领域得以广泛应用。但通常红外测试只在常温进行，仪器并未配备相关恒温设置，因此无法完成物质在不同温度下因相态变化、老化等环境下的分析研究。
发明内容
为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种衰减全反射红外光谱测试用控温装置，其可实现物质在连续升温及恒温环境下的红外分析，并可便于观察相态的变化。
本实用新型所述的一种衰减全反射红外光谱测试用控温装置，所述控温装置包括玻璃罩1、隔热密封垫圈2、热电偶温度计3、加热棒4和温度控制系统5；玻璃罩1呈圆筒状，上部封闭，底部开口且在整个边缘设有隔热密封垫圈2；热电偶温度计3和加热棒4均置于玻璃罩1内，两者上端分别与带单片机的温度控制系统5连接。
本实用新型所述的一种衰减全反射红外光谱测试用控温装置，所述热电偶温度计3上粗下细，并由此悬挂在玻璃罩1上部。由于热电偶温度计有时会控制不准，导致不停的加热，最终导致密闭系统爆炸。而此热电偶温度计的设置则使得其受到上推的力足够大时，突破重力向上运动，整个控温装置则变为非密闭系统，避免爆炸。
本实用新型所述的一种衰减全反射红外光谱测试用控温装置，所述玻璃罩1的材质为石英玻璃。石英玻璃采用现有材料即可。玻璃罩的形状尺寸可调节，为便于观察物质在不同温度下的变化，材质为无色透明耐高温材料。封闭的环境可避免空气中组分变化对测试的干扰。
本实用新型所述的一种衰减全反射红外光谱测试用控温装置，所述隔热密封垫圈2的材质为塑料橡胶、纤维、石棉、硅酮中的一种。上述材料采用现有材料即可。
在本实用新型，热电偶温度计用于测量装置内的实时温度，加热棒用于对装置内环境进行加热。温度控制系统用于保持装置内的温度达到目标温度。试验过程中于温度控制系统中设置好目标温度，热电偶温度计实时测量装置内的温度并将信号反馈到温度控制系统，实测温度低于目标温度后加热棒开始加热，当达到目标温度后，加热棒停止加热。整个装置可实现物质在连续升温及恒温条件下红外光谱测试的进行。
与现有技术相比，本实用新型所述的衰减全反射红外光谱测试用控温装置可实现物质在连续升温及恒温环境下的红外分析，并可便于观察相态的变化，便于试验的有效进行，结构简单便于推广应用。
附图说明
图1是衰减全反射红外光谱测试用控温装置示意图；玻璃罩-1、隔热密封垫圈-2、热电偶温度计-3、加热棒-4、温度控制系统-5。
具体实施方式
下面结合具体的实施例对本实用新型所述的衰减全反射红外光谱测试用控温装置做进一步说明，但是本实用新型的保护范围并不限于此。
实施例1
一种衰减全反射红外光谱测试用控温装置，所述控温装置包括玻璃罩1、隔热密封垫圈2、热电偶温度计3、加热棒4和温度控制系统5；玻璃罩1呈圆筒状，上部封闭，底部开口且在整个边缘设有隔热密封垫圈2；热电偶温度计3和加热棒4均置于玻璃罩1内，两者上端分别与带单片机的温度控制系统5连接。所述热电偶温度计3上粗下细，并由此悬挂在玻璃罩1上部。由于热电偶温度计有时会控制不准，导致不停的加热，最终导致密闭系统爆炸。而此热电偶温度计的设置则使得其受到上推的力足够大时，突破重力向上运动，整个控温装置则变为非密闭系统，避免爆炸。所述玻璃罩1的材质为石英玻璃。石英玻璃采用现有材料即可。玻璃罩的形状尺寸可调节，为便于观察物质在不同温度下的变化，材质为无色透明耐高温材料。封闭的环境可避免空气中组分变化对测试的干扰。所述隔热密封垫圈2的材质为塑料橡胶。上述材料采用现有材料即可。
实施例2
一种衰减全反射红外光谱测试用控温装置，所述控温装置包括玻璃罩1、隔热密封垫圈2、热电偶温度计3、加热棒4和温度控制系统5；玻璃罩1呈圆筒状，上部封闭，底部开口且在整个边缘设有隔热密封垫圈2；热电偶温度计3和加热棒4均置于玻璃罩1内，两者上端分别与带单片机的温度控制系统5连接。所述热电偶温度计3上粗下细，并由此悬挂在玻璃罩1上部。由于热电偶温度计有时会控制不准，导致不停的加热，最终导致密闭系统爆炸。而此热电偶温度计的设置则使得其受到上推的力足够大时，突破重力向上运动，整个控温装置则变为非密闭系统，避免爆炸。所述玻璃罩1的材质为石英玻璃。石英玻璃采用现有材料即可。玻璃罩的形状尺寸可调节，为便于观察物质在不同温度下的变化，材质为无色透明耐高温材料。封闭的环境可避免空气中组分变化对测试的干扰。所述隔热密封垫圈2的材质为石棉。上述材料采用现有材料即可。
在本实用新型，热电偶温度计用于测量装置内的实时温度，加热棒用于对装置内环境进行加热。温度控制系统用于保持装置内的温度达到目标温度。试验过程中于温度控制系统中设置好目标温度，热电偶温度计实时测量装置内的温度并将信号反馈到温度控制系统，实测温度低于目标温度后加热棒开始加热，当达到目标温度后，加热棒停止加热。整个装置可实现物质在连续升温及恒温条件下红外光谱测试的进行。
与现有技术相比，本实用新型所述的衰减全反射红外光谱测试用控温装置可实现物质在连续升温及恒温环境下的红外分析，并可便于观察相态的变化，便于试验的有效进行，结构简单便于推广应用。

Claims (4)

1.一种衰减全反射红外光谱测试用控温装置，其特征在于，所述控温装置包括玻璃罩(1)、隔热密封垫圈(2)、热电偶温度计(3)、加热棒(4)和温度控制系统(5)；玻璃罩(1)呈圆筒状，上部封闭，底部开口且在整个边缘设有隔热密封垫圈(2)；热电偶温度计(3)和加热棒(4)均置于玻璃罩(1)内，两者上端分别与带单片机的温度控制系统(5)连接。
2.根据权利要求1所述的衰减全反射红外光谱测试用控温装置，其特征在于，所述热电偶温度计(3)上粗下细，并由此悬挂在玻璃罩(1)上部。
3.根据权利要求1所述的衰减全反射红外光谱测试用控温装置，其特征在于，所述玻璃罩(1)的材质为石英玻璃。
4.根据权利要求1所述的衰减全反射红外光谱测试用控温装置，其特征在于，所述隔热密封垫圈(2)的材质为塑料橡胶、纤维、石棉、硅酮中的一种。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110726656A (zh) * 2018-07-16 2020-01-24 有研工程技术研究院有限公司 一种粉末喷涂涂层耐水性测试方法
CN111289438A (zh) * 2020-02-29 2020-06-16 天津大学 一种用于动态红外光谱技术的高温加载装置

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