CN205582892U - 老化测试板 - Google Patents

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Abstract

本实用新型提供了一种老化测试板,包括:板体、夹板和布线板,所述板体上设置有接入端,所述夹板设置在所述板体上,所述夹板中设置有若干连接端,所述布线板设置在所述夹板上,所述连接端连接所述板体与所述布线板,所述夹板与所述布线板通过固定件固定在所述板体上。本实用新型提供的老化测试板中,通过连接端连接板体与布线板,所述夹板与所述布线板通过固定件固定在所述板体上,在此通过夹板整体运动来实现板体与布线板之间的连接,从而能便捷的实现板体与布线板之间的连接与分开;同时,整体运动也能减少碰撞与摩擦,从而减少操作中带来的损伤,进而可以增加使用次数,减少老化测试板的损失。

Description

老化测试板
技术领域
本实用新型涉及半导体制造领域,特别涉及一种老化测试板。
背景技术
在半导体制造流程中,芯片的制造对工艺要求非常高,整个工艺过程需要经过很多道测试,才能保证最终的产品的质量。其中,生产出来的芯片需要经过产品可靠性测试才能判断出芯片性能的好坏,而产品老化寿命实验是产品可靠性测试非常重要的一个环节。一般常见的老化寿命实验项目就包括老化测试。通常老化测试都包括模拟芯片在高温或高压环境下工作的状态,加速其老化过程,迫使故障在更短的时间内出现,然后测试芯片的故障率得到产品可靠性信息。
老化测试是将待测芯片设置在老化测试板上,并为老化测试板提供模拟待测芯片工作状态所需要的电源及测试信号,在高温或高压环境下运行设定的时间段,例如老化24小时、48小时、168小时、500小时的时候,然后测试待测芯片的故障率。
现有的老化测试板通常包括板体以及通过排针(Pin针)与所述板体连接的布线板,通过插拨排针方式可更换布线板,通过更换不同的布线板可以调整测试项目,或用来测试不同的待测芯片。然而现有的通过排针连接板体和布线板存在安装设置过程中容易损坏并且安装设置不方便等问题,降低了工作效率和带来了经济损失。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种老化测试板,以解决现有的老化测试板在安装设置过程中容易损坏和安装设置不方便的问题。
为解决上述技术问题,本实用新型提供一种老化测试板,包括:板体、夹板和布线板,所述板体上设置有接入端,所述夹板设置在所述板体上,所述夹板中设置有若干连接端,所述布线板设置在所述夹板上,所述连接端连接所述板体与所述布线板,所述夹板与所述布线板通过固定件固定在所述板体上。
优选的,在所述老化测试板中,所述连接端为金属柱。
优选的,所述金属柱为铜柱。
优选的,所述连接端两端为球面突起。
优选的,所述连接端在所述夹板上呈对称分布。
优选的,所述固定件为螺丝。
优选的,所述板体还包括设置在所述板体上的测座。
优选的,所述测座为DIP测座、SOP测座、DFN测座、QFN测座、BGA测座中的一种及其组合。
优选的,所述接入端为金手指。
优选的,所述夹板的材料为橡胶。
优选的,所述布线板上设置有元器件和电路。
优选的,所述元器件包括电阻和/或电容。
优选的,所述夹板设置有夹板方向标记,所述布线板设置有布线板方向标记。
本实用新型提供的老化测试板中,通过连接端连接板体与布线板,所述夹板与所述布线板通过固定件固定在所述板体上,在此通过夹板整体运动来实现板体与布线板之间的连接,从而能便捷的实现板体与布线板之间的连接与分开;同时,整体运动也能减少碰撞与摩擦,从而减少操作中带来的损伤,进而可以增加使用次数,减少老化测试板的损失。
附图说明
图1是本实用新型实施例的老化测试板的主视图;
图2是本实用新型实施例的老化测试版的部分结构剖面示意图;
图3是本实用新型实施例的夹板的主视图;
图4是本实用新型实施例的布线板的主视图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型提出的一种老化测试板作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书,本实用新型的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本实用新型实施例的目的。
如图1及图2所示,本实用新型提供的老化测试板,包括板体10、夹板30和布线板40,所述板体10上设置有接入端11,所述夹板30设置在所述板体10上(即指所述夹板30设置在所述板体10边/侧),所述夹板30中设置有若干连接端50,所述布线板40设置在所述夹板30上(即指所述布线板40设置在所述夹板30边/侧),所述连接端50连接所述板体10与所述布线板40,所述夹板30与所述布线板40通过固定件60固定在所述板体10上。
优选的,所述接入端11为金手指(Connecting Finger),金手指能实现快速的连接并具有较佳的连接稳定性,通过所述金手指接入老化测试所需的电源及测试信号。
进一步的,所述板体10上还设置有测座20,所述测座20用于放置所需测试的芯片,具体的,所述测座20可以为DIP(Double In-line Package)测座、SOP(Small Out-Line Package)测座、DFN(Dual Flat Package)测座、QFN(Quad Flat No-lead Package)测座、BGA(Ball Grid Array)测座中的一种或者多种组合,具体可根据芯片的封装形式选择需要的测座。此外,所述板体10上还可设置有老化测试所需的器件及电路。
优选的,所述连接端50为金属柱,更优选的,所述金属柱为铜柱,铜柱能达到较佳的电气特性。进一步的,所述金属柱两端为球面突起,球面突起的形状能达到较佳的电气连接,使所述连接端50更好的与板体10及布线板40接触。
在本申请实施例中,通过连接端50设置于夹板30中,从而将若干连接端50的位置固定并防止若干连接端50相互之间交叉、跨接等,由此能够减少布线的窜扰,从而提高测试的稳定性。
进一步的,所述固定件60可采用螺丝,通过螺丝将所述夹板30与所述布线板40固定在板体10上。从而可十分方便、牢固的实现所述板体10、夹板30和布线板40之间的固定连接。在本申请的其他实施例中,所述固定件60也可采用卡扣结构等器件。
在本实施例中,所述夹板30的材料为橡胶,所述布线板40为一PCB板。优选的,所述布线板40上设置有测试所需要的元器件和电路,具体的,所述元器件包括电阻和/或电容。
请继续参考图3,所述夹板30上具有连接端过孔,所述连接端50设置在所述夹板30上的连接端过孔内。所述夹板30上还设置有夹板螺丝过孔61,以便于固定件60将所述夹板30固定于所述板体10上。所述夹板30一端还设置有夹板方向标记70,所述夹板方向标记70可以采用一半圆形缺口。通过所述夹板方向标记70可使得所述夹板30易于被对准,从而防止安装错误。
在本申请实施例中,如图4所示,所述布线板40上设置有布线板金属触点90,所述布线板金属触点90与所述夹板30中的连接端50对应。所述布线板40上设置有所述夹板30上的夹板螺丝过孔61相对应的布线板螺丝过孔62,以便于固定件60将所述布线板40固定于所述板体10上。所述布线板40一端还设置有布线板方向标记80,所述布线板方向标记80可以采用一半圆形缺口。通过所述布线板方向标记80可使得所述布线板40易于被对准,从而防止安装错误。
此外,在所述板体10上设置有板体金属触点,所述板体金属触点与所述夹板30中的连接端50对应。通过所述连接端50将所述布线板金属触点90与板体金属触点连接起来,即所述连接端50相当于起连接作用的导线。
当进行老化测试,将板体的接入端连接测试所需要的电源及测试信号,所述电源及测试信号经过夹板与布线板传输到测座,其中老化测试中提供的高强度环境例如高温或高压使得这种贴合组装的方式更加牢固,提高了测试的稳定性。
综上可见,本实用新型实施例提供的老化测试板通过连接端连接板体与布线板,所述夹板与所述布线板通过固定件固定在所述板体上,在此通过夹板整体运动来实现板体与布线板之间的连接,从而能便捷的实现板体与布线板之间的连接与分开;同时,整体运动也能减少碰撞与摩擦,从而减少操作中带来的损伤,进而可以增加使用次数,减少老化测试板的损失。
此外,本实用新型提供的老化测试板中,板体、夹板与布线板的贴合组装,即各部件之间的间隙较小,从而能够减小整个老化测试板的体积。
上述描述仅是对本实用新型较佳实施例的描述,并非对本实用新型范围的任何限定,本实用新型领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰,均属于权利要求书的保护范围。

Claims (13)

1.一种老化测试板,其特征在于,包括:
板体,所述板体上设置有接入端;
夹板,所述夹板设置在所述板体上,所述夹板中设置有若干连接端;
布线板,所述布线板设置在所述夹板上;
所述连接端连接所述板体与所述布线板,所述夹板与所述布线板通过固定件固定在所述板体上。
2.如权利要求1所述的老化测试板,其特征在于,所述连接端为金属柱。
3.如权利要求2所述的老化测试板,其特征在于,所述金属柱为铜柱。
4.如权利要求1所述的老化测试板,其特征在于,所述连接端两端为球面突起。
5.如权利要求1所述的老化测试板,其特征在于,所述连接端在所述夹板上呈对称分布。
6.如权利要求1所述的老化测试板,其特征在于,所述固定件为螺丝。
7.如权利要求1所述的老化测试板,其特征在于,所述板体还包括设置在所述板体上的测座。
8.如权利要求7所述的老化测试板,其特征在于,所述测座为DIP测座、SOP测座、DFN测座、QFN测座、BGA测座中的一种或多种。
9.如权利要求1所述的老化测试板,其特征在于,所述接入端为金手指。
10.如权利要求1所述的老化测试板,其特征在于,所述夹板的材料为橡胶。
11.如权利要求1所述的老化测试板,其特征在于,所述布线板上设置有元器件和电路。
12.如权利要求11所述的老化测试板,其特征在于,所述元器件包括电阻和/或电容。
13.如权利要求1所述的老化测试板,其特征在于,所述夹板设置有夹板方向标记,所述布线板设置有布线板方向标记。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN106604022A (zh) * 2016-10-31 2017-04-26 芜湖赋兴光电有限公司 一种摄像模组的工作寿命检测方法
CN113219314A (zh) * 2021-04-23 2021-08-06 深圳市时代速信科技有限公司 一种半导体批量测试系统

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