CN205428496U - 用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力的测试箱 - Google Patents
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Abstract
本实用新型具体涉及一种用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力的测试箱，包括箱体、温度控制器、接口电路板、用于控制温度控制器工作的控制按键、用于运行存储芯片的系统主机以及用于显示运行结果的主显示屏；温度控制器安装在箱体内，控制按键安装在箱体表面，控制按键与温度控制器电性连接；接口电路板安装在箱体内，接口电路板设有多个用于连接存储芯片的电插口，接口电路板与系统主机电连接，系统主机与主显示屏电连接。在温度控制器作用下，使箱体内温度达到一恒定值，箱体内安装接口电路板，将待测试的存储芯片安插在接口电路板的电插口，由系统主机在特定温度下运行存储芯片，用于检测储存芯片在高温环境下的性能。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子产品领域，尤其涉及一种测试箱。
背景技术
硬盘、U盘等存储产品都是通过内部的存储颗粒对数据进行保存的，通常这类产品都是在正常温度环境下使用的，然而在某些特殊情况下，这些产品的不可避免的会处于高温环境中。
对于产品内部的存储颗粒，环境的温度不同，其工作状态存在一定的差异，因为存储颗粒是通过电子来存储数据的，高温下电子更加的活跃，因此，有必要测试存储颗粒在高温环境下对数据的保存能力，以判断产品的整体性能。当存储颗粒发生漏电，则无法继续保存数据。
而现有技术中，通常只是对硬盘等存储设备进行读写能力的测试，即老化测试。读写能力的测试过程为：在常温下，不断地对硬盘进行写入数据、读取数据等测试，以判断硬盘的性能。
然而，根据上问描述可知，仅仅是对硬盘进行这类测试，没有测试存储颗粒在高温环境下对数据的保存能力，无法整体地衡量硬盘的性能。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力测试箱。
为实现上述目的，本实用新型提供一种用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力的测试箱，包括设有开关门的箱体、用于控制箱体内温度的温度控制器、接口电路板、用于控制温度控制器工作的控制按键、用于运行存储芯片的系统主机以及用于显示运行结果的主显示屏；所述温度控制器安装在箱体内，所述控制按键安装在箱体表面，所述控制按键与温度控制器电性连接；所述接口电路板安装在箱体内，所述接口电路板设有多个用于连接存储芯片的电插口，所述接口电路板与系统主机电连接，所述系统主机与主显示屏电连接。
优选的，所述接口电路板上设有与电插口一一对应、用于指示存储芯片是否丢失数据的指示灯。
优选的，所述箱体上还设有用于显示温度、时间信息的副显示屏，所述副显示屏与温度控制器电性连接。
本实用新型的有益效果是：本实用新型提供的用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力的测试箱，在温度控制器作用下，使箱体内温度达到一恒定值，控制按键用于调整该恒定值的大小，例如，对于硬盘来，通常控制为70℃或85℃来进行测试；箱体内安装接口电路板，将待测试的存储芯片安插在接口电路板的电插口，由系统主机在特定温度下运行存储芯片，并对存储芯片进行数据写入操作，以写完一轮为一次，写入预设次数后，将存储芯片取出，看是否产生坏区，产生的坏区越小，则芯片的性能越好。接口电路板设有多个电插口，可以一次性测试多个存储芯片，工作效率较高。
附图说明
图1为本实用新型提供的测试箱的结构图。
主要元件符号说明如下：
11、箱体12、温度控制器
13、接口电路板14、控制按键
15、系统主机16、主显示屏
17、副显示屏18、存储芯片。
具体实施方式
为了更清楚地表述本实用新型，下面结合附图对本发明作进一步地描述。
参阅图1，本实用新型提供的用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力的测试箱，包括设有开关门的箱体11、用于控制箱体11内温度的温度控制器12、接口电路板13、用于控制温度控制器12工作的控制按键14、用于运行存储芯片18的系统主机15以及用于显示运行结果的主显示屏16；温度控制器12安装在箱体11内，控制按键14安装在箱体11表面，控制按键14与温度控制器12电性连接；接口电路板13安装在箱体11内，接口电路板13设有多个用于连接存储芯片18的电插口，接口电路板13与系统主机15电连接，系统主机15与主显示屏16电连接。
相较于现有技术，本实用新型提供的用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力的测试箱，在温度控制器12作用下，使箱体11内温度达到一恒定值，控制按键14用于调整该恒定值的大小，例如，对于硬盘来，通常控制为70℃或85℃来进行测试；箱体11内安装接口电路板13，将待测试的存储芯片18安插在接口电路板13的电插口，由系统主机15在特定温度下运行存储芯片18，并对存储芯片18进行数据写入操作，以写完一轮为一次，写入预设次数后，将存储芯片18取出，看是否产生坏区，产生的坏区越小，则芯片的性能越好。因此，能够更全面的评价储存芯片的性能。
接口电路板13设有多个电插口，可以一次性测试多个存储芯片18，工作效率较高。
在本实施例中，接口电路板13上设有与电插口一一对应、用于指示存储芯片18是否丢失数据的指示灯。
在系统主机15运行存储芯片18的过程中，如果检测到存储芯片18已丢失数据，则指示灯亮或改变颜色，表示该存储芯片18在高温测试时已丢失数据。
在本实施例中，箱体11上还设有用于显示温度、时间信息的副显示屏17，副显示屏17与温度控制器12电性连接，副显示屏17用于显示箱体11内的温度等参数信息，结果更加直观。
以上仅为本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (3)
1.一种用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力的测试箱，其特征在于，包括设有开关门的箱体、用于控制箱体内温度的温度控制器、接口电路板、用于控制温度控制器工作的控制按键、用于运行存储芯片的系统主机以及用于显示运行结果的主显示屏；所述温度控制器安装在箱体内，所述控制按键安装在箱体表面，所述控制按键与温度控制器电性连接；所述接口电路板安装在箱体内，所述接口电路板设有多个用于连接存储芯片的电插口，所述接口电路板与系统主机电连接，所述系统主机与主显示屏电连接。
2.根据权利要求1所述的用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力的测试箱，其特征在于，所述接口电路板上设有与电插口一一对应、用于指示存储芯片是否丢失数据的指示灯。
3.根据权利要求1所述的用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力的测试箱，其特征在于，所述箱体上还设有用于显示温度、时间信息的副显示屏，所述副显示屏与温度控制器电性连接。
Priority Applications (1)
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| CN201620194260.1U CN205428496U (zh) | 2016-03-14 | 2016-03-14 | 用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力的测试箱 |
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| CN201620194260.1U CN205428496U (zh) | 2016-03-14 | 2016-03-14 | 用于测试存储芯片在高温环境下的数据保存能力的测试箱 |
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| CN205428496U true CN205428496U (zh) | 2016-08-03 |
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|---|---|
| CN (1) | CN205428496U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108120918A (zh) * | 2017-08-07 | 2018-06-05 | 鸿秦（北京）科技有限公司 | 一种芯片物理销毁效果电路板上在线检测方法和装置 |
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2016
- 2016-03-14 CN CN201620194260.1U patent/CN205428496U/zh not_active Expired - Fee Related
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