CN205404083U - 键盘装键不良自动检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了键盘装键不良自动检测装置，主要包括工作台、压板、顶针板、激光发生器、采集器、控制器及显示器；是利用键盘自身结构中存在从铝板底部向上到键帽下表面四个角位置的贯通空间，采用顶针自下而上从每一颗待测键帽下表面两个角位置的贯通空间贯穿后顶触到待测键帽的两角，通过施加固定顶力使得键帽受力，然后根据键帽受力后所呈现的受力状态来判断键帽是否不良。有益效果：应用于键盘生产过程中的检测环节，可改善按键组装异常的检出率与检测效率，自动化程度高，检出率高、误判率低，对良品不会造成损伤，而且检测成本低，安全可靠、实用性强。

Description

键盘装键不良自动检测装置

技术领域

本实用新型涉及一种检测设备，特别是涉及一种键盘装键不良自动检测装置，属于键盘生产过程中的检测技术领域。

背景技术

键盘一般是由铝板、线路板、剪刀脚和键帽组装而成的，目前已知的造成键盘键帽组装不良的主要原因有：1、来料不良，例如铝板卡勾变形、剪刀脚中轴断裂或内外剪刀配装键帽结构处缺料和崩塌、键帽的卡勾与内外剪刀配装处（即书面名为水滴孔和滑槽结构）存在不良；2、装配不良，例如在组装的过程中由于人为或组装的机械设备不良损坏了键盘或键帽结构。

以上两点是造成键盘键帽组装不良的主要原因，将直接导致键盘做成成品后会严重影响键盘的使用寿命和使用的机械手感。所以在键盘生产过程中，为了确保后续使用的可靠性，需要对键盘键帽组装进行检测。

目前，常规检测装键不良的方法是：借助工具刷或手指逐个刷键、撬键或抠键，由于手法、力度及作业强度的问题，易造成不良漏检或者良品损坏，并且这种人工检测方法效率底下，成本高，无法满足自动化生产要求。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于，克服现有技术中的不足，提供一种新型结构的键盘装键不良自动检测装置，自动化程度高，检出率高、误判率低，对良品不会造成损伤，而且检测成本低，安全可靠、实用性强，具有产业上的利用价值。

为了达到上述目的，本实用新型所采用的技术方案是：

本实用新型提供一种键盘装键不良自动检测装置，包括工作台、压板、顶针板、激光发生器、采集器、控制器及显示器，所述采集器和显示器均与控制器相连。

其中，所述工作台，水平分布，用于放置键盘、并通过工作台开孔使得键盘中待测键帽底面所对区域裸露可供顶触；所述键盘中位于每一颗待测键帽底面的铝板均具有通孔，通孔的正上方对应待测键帽的两角，待测键帽的两角为键盘置于使用状态时、待测键帽沿键盘轴长方向分布并靠近使用者的侧边两角底面；所述压板，位于工作台上方，用于自上而下固定键盘、并通过压板开孔使得键盘中待测键帽裸露；所述顶针板，位于工作台下方，用于自下而上顶起键盘中待测键帽；所述激光发生器，位于工作台上方，用于对键盘中被顶起的待测键帽提供照射用激光束；所述采集器，位于工作台上方，用于捕获待测键帽上的激光束图像并将激光束图像传输给控制器；所述控制器，用于接收采集器捕获的激光束图像、对激光束图像进行图像处理后判断出键帽是否不良的检测结果、并将检测结果显示于显示器。

本实用新型进一步设置为：所述工作台包括台面和开设于台面的若干个顶针穿孔，所述顶针穿孔与键盘整版键帽的排列位置分布相同；在键盘放置于工作台后，每一待测键帽的底面均对应有顶针穿孔，所述顶针穿孔至少与通孔保持贯通。

本实用新型进一步设置为：所述压板包括板体和开设于板体的若干个避让孔，所述避让孔与键盘整版键帽的排列位置分布相同；在压板固定键盘后，键盘中的键帽从避让孔穿出，相邻键帽的空隙均压制于压板下。

本实用新型进一步设置为：所述顶针板包括顶针底座和布设于顶针底座上的顶针组，所述顶针组包括同一高程排列的若干支顶针，所述顶针依次穿过顶针穿孔和通孔后顶触到待测键帽下表面，待测键帽的两角均顶触有顶针。

本实用新型进一步设置为：所述顶针为可伸缩两段式结构，包括安装座、针筒和针头；所述安装座用于与顶针底座相连，所述针筒的底端垂直于安装座安装、针筒的顶端供针头的底端穿入，所述针头的底端通过弹簧与针筒内腔相连、针头的顶端为圆头。

本实用新型进一步设置为：所述工作台的四角底部设置有支撑立柱，所述顶针板位于工作台的正下方，四根支撑立柱套穿过顶针板的四角，所述顶针板通过顶触驱动器驱动沿支撑立柱进行垂直方向往复移动来顶起或离开待测键帽。

本实用新型进一步设置为：所述压板位于工作台的正上方，压板的四角垂直套设有支撑导柱；所述压板通过压合驱动器驱动沿支撑导柱进行垂直方向往复移动来压合或远离键盘。

本实用新型进一步设置为：所述顶触驱动器和压合驱动器均为气缸；所述支撑立柱和支撑导柱的底端均固定于底座上，所述支撑导柱的顶端支撑有顶板；所述激光发生器设置在顶板的底面，所述采集器、控制器及显示器均设置在顶板上，所述采集器的采集探头朝向压板顶面分布。

本实用新型进一步设置为：所述激光发生器通过伺服电机驱动进行照射角度的调整，所述采集器为CCD镜头。

与现有技术相比，本实用新型具有的有益效果是：

1、本实用新型提供的键盘装键不良自动检测装置，整体结构紧凑、拆装方便、制作容易，应用于键盘生产过程中的检测环节，可改善按键组装异常的检出率与检测效率，高效安全，检测成本低，可满足自动化生产要求。

2、本实用新型提供的键盘装键不良自动检测装置，是利用键盘自身结构中存在从铝板底部向上到键帽下表面四个角位置的贯通空间，采用顶针自下而上从每一颗待测键帽下表面两个角位置的贯通空间贯穿后顶触到待测键帽的两角，通过施加固定顶力使得键帽受力，然后根据键帽受力后所呈现的受力状态来判断键帽是否不良；操作简便、自动化程度高，具有检出率高、误判率低、不损伤良品、检测成本低、安全可靠等诸多优点。

上述内容仅是本实用新型技术方案的概述，为了更清楚的了解本实用新型的技术手段，下面结合附图对本实用新型作进一步的描述。

附图说明

图1为本实用新型键盘装键不良自动检测装置的检测前的结构示意图；

图2为图1中压板的结构示意图；

图3为本实用新型键盘装键不良自动检测装置的检测状态结构示意图；

图4为本实用新型实施例的键盘中按键的结构示意图；

图5为本实用新型实施例的顶针顶触的结构示意图；

图6为本实用新型实施例的顶针的结构示意图。

具体实施方式

下面结合说明书附图，对本实用新型作进一步的说明。

如图1、图2及图3所示，一种键盘装键不良自动检测装置，包括工作台1、压板2、顶针板3、激光发生器4、采集器5、控制器6及显示器7，所述采集器5和显示器7均与控制器6相连。

所述工作台1，水平分布，用于放置键盘10、并通过工作台1开孔使得键盘10中待测键帽底面所对区域裸露可供顶触；如图4和图5所示，所述键盘10中位于每一颗待测键帽11底面的铝板12均具有通孔13，通孔13的正上方对应待测键帽11的两角，待测键帽11的两角为键盘10置于使用状态时、待测键帽11沿键盘10轴长方向分布并靠近使用者的侧边两角底面，即每一颗单独待测键帽位于使用状态下靠近键盘操作者的左下角和右下角这两角的底面；其实质是利用键盘10自身结构中存在从铝板12底部向上到键帽11下表面四个角位置的贯通空间，此贯通空间正避开键帽11和铝板12之间的剪刀脚14这个部件。

所述压板2，位于工作台1上方，用于自上而下固定键盘10、并通过压板2开孔使得键盘10中待测键帽裸露；所述顶针板3，位于工作台1下方，用于自下而上顶起键盘10中待测键帽。

所述激光发生器4，位于工作台1上方，用于对键盘10中被顶起的待测键帽提供照射用激光束40；所述采集器5，位于工作台1上方，用于捕获待测键帽上的激光束图像并将激光束图像传输给控制器6；所述控制器6，用于接收采集器5捕获的激光束图像、对激光束图像进行图像处理后判断出键帽是否不良的检测结果、并将检测结果显示于显示器7。

所述激光发生器4通过伺服电机8驱动进行照射角度的调整，所述采集器5优选为CCD镜头。

所述工作台1包括台面和开设于台面的若干个顶针穿孔，所述顶针穿孔与键盘10整版键帽的排列位置分布相同；在键盘10放置于工作台1后，每一待测键帽的底面均对应有顶针穿孔，所述顶针穿孔至少与通孔13保持贯通。

如图2所示，所述压板2包括板体21和开设于板体21的若干个避让孔22，所述避让孔22与键盘10整版键帽的排列位置分布相同；在压板2固定键盘10后，键盘10中的键帽11从避让孔22穿出，相邻键帽11的空隙均压制于压板2下，如图3所示。

所述顶针板3包括顶针底座31和布设于顶针底座31上的顶针组32，所述顶针组32包括同一高程排列的若干支顶针33，所述顶针33依次穿过顶针穿孔和通孔13后顶触到待测键帽11下表面，如图5所示，待测键帽11的两角均顶触有顶针33。

如图6所示，所述顶针33为可伸缩两段式结构，包括安装座331、针筒332和针头333；所述安装座331用于与顶针底座31相连，所述针筒332的底端垂直于安装座331安装、针筒331的顶端供针头333的底端穿入，所述针头333的底端通过弹簧（图中未示出）与针筒332内腔相连、针头333的顶端为圆头。圆头使的针头尖顶触到待测键帽的下表面，受力更准确到位，不损坏良品键帽。

如图1和图3所示，所述工作台1的四角底部设置有支撑立柱9，所述顶针板3位于工作台1的正下方，四根支撑立柱9套穿过顶针板3的四角，所述顶针板3通过顶触驱动器30驱动沿支撑立柱9进行垂直方向往复移动来顶起或离开待测键帽11。

所述压板2位于工作台1的正上方，压板2的四角垂直套设有支撑导柱90；所述压板2通过压合驱动器20驱动沿支撑导柱90进行垂直方向往复移动来压合或远离键盘10。

所述顶触驱动器30和压合驱动器20均为气缸；所述支撑立柱9和支撑导柱90的底端均固定于底座91上，所述支撑导柱90的顶端支撑有顶板92；所述激光发生器4设置在顶板92的底面，所述采集器5、控制器6及显示器7均设置在顶板92上，所述采集器5的采集探头朝向压板2顶面分布。

其中，给顶针33施加的固定顶力可通过对键帽11两角的拉拔破坏测试获得作用力正常范围，优选为在待测键帽11的两角均顶触有顶针33。需确保：顶针33的直径尺寸小于铝板12所具通孔13的孔径，并且所有顶针33的针头顶端高度一致，以及顶针33中弹簧的压缩量所产生的推力需小于测试的键帽角落拉拔破坏力。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容做出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何的简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。

Claims (9)

1.一种键盘装键不良自动检测装置，其特征在于：包括工作台、压板、顶针板、激光发生器、采集器、控制器及显示器，所述采集器和显示器均与控制器相连；

所述工作台，水平分布，用于放置键盘、并通过工作台开孔使得键盘中待测键帽底面所对区域裸露可供顶触；所述键盘中位于每一颗待测键帽底面的铝板均具有通孔，通孔的正上方对应待测键帽的两角，待测键帽的两角为键盘置于使用状态时、待测键帽沿键盘轴长方向分布并靠近使用者的侧边两角底面；

所述压板，位于工作台上方，用于自上而下固定键盘、并通过压板开孔使得键盘中待测键帽裸露；

所述顶针板，位于工作台下方，用于自下而上顶起键盘中待测键帽；

所述激光发生器，位于工作台上方，用于对键盘中被顶起的待测键帽提供照射用激光束；

所述采集器，位于工作台上方，用于捕获待测键帽上的激光束图像并将激光束图像传输给控制器；

所述控制器，用于接收采集器捕获的激光束图像、对激光束图像进行图像处理后判断出键帽是否不良的检测结果、并将检测结果显示于显示器。

2.根据权利要求1所述的键盘装键不良自动检测装置，其特征在于：所述工作台包括台面和开设于台面的若干个顶针穿孔，所述顶针穿孔与键盘整版键帽的排列位置分布相同；在键盘放置于工作台后，每一待测键帽的底面均对应有顶针穿孔，所述顶针穿孔至少与通孔保持贯通。

3.根据权利要求1所述的键盘装键不良自动检测装置，其特征在于：所述压板包括板体和开设于板体的若干个避让孔，所述避让孔与键盘整版键帽的排列位置分布相同；在压板固定键盘后，键盘中的键帽从避让孔穿出，相邻键帽的空隙均压制于压板下。

4.根据权利要求2所述的键盘装键不良自动检测装置，其特征在于：所述顶针板包括顶针底座和布设于顶针底座上的顶针组，所述顶针组包括同一高程排列的若干支顶针，所述顶针依次穿过顶针穿孔和通孔后顶触到待测键帽下表面，待测键帽的两角均顶触有顶针。

5.根据权利要求4所述的键盘装键不良自动检测装置，其特征在于：所述顶针为可伸缩两段式结构，包括安装座、针筒和针头；所述安装座用于与顶针底座相连，所述针筒的底端垂直于安装座安装、针筒的顶端供针头的底端穿入，所述针头的底端通过弹簧与针筒内腔相连、针头的顶端为圆头。

6.根据权利要求1所述的键盘装键不良自动检测装置，其特征在于：所述工作台的四角底部设置有支撑立柱，所述顶针板位于工作台的正下方，四根支撑立柱套穿过顶针板的四角，所述顶针板通过顶触驱动器驱动沿支撑立柱进行垂直方向往复移动来顶起或离开待测键帽。

7.根据权利要求6所述的键盘装键不良自动检测装置，其特征在于：所述压板位于工作台的正上方，压板的四角垂直套设有支撑导柱；所述压板通过压合驱动器驱动沿支撑导柱进行垂直方向往复移动来压合或远离键盘。

8.根据权利要求7所述的键盘装键不良自动检测装置，其特征在于：所述顶触驱动器和压合驱动器均为气缸；所述支撑立柱和支撑导柱的底端均固定于底座上，所述支撑导柱的顶端支撑有顶板；所述激光发生器设置在顶板的底面，所述采集器、控制器及显示器均设置在顶板上，所述采集器的采集探头朝向压板顶面分布。

9.根据权利要求1所述的键盘装键不良自动检测装置，其特征在于：所述激光发生器通过伺服电机驱动进行照射角度的调整，所述采集器为CCD镜头。