CN205003660U - 一种基于ChipScope的测试平台 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种基于ChipScope的测试平台,包括计算机系统,及与计算机系统电连接的下载电缆,及与下载电缆通过JTAG端口连接的ML310板;所述ML310板上设置有测试板;所述测试板包括测试工具,及与测试工具电连接的存储器。本实用新型的基于ChipScope的测试平台,利用FPGA测试板中未使用的存储器中的空白内存,将想要观察的信,寄存器、网线实时地存到这些空白内存中,然后根据用户设定的触发条件生成特定的地址译码选择数据读出,送到JTAG端口,最后在计算机中根据这些数据动态地画出时序波形来。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种数据传输系统,具体涉及一种基于ChipScope的测试平台,属于计算机智能控制技术领域。
背景技术
B3G项目需要开发专用的调试工具将各模块计算产生的大量数据传输到计算机上,再通过仿真链路来验证模块的设计,B3G测试平台还提供了误码率测试的功能,H3G测试平台的硬件是基于内嵌PowerPCTM405硬核的FFGA进行开发,在PowerPCTM405的外围总线上开发了串口控制器、B3G测试工具、双倍数据流(DDR)内存控制器、中断控制器等外设;整个系统还需要时钟、辅助逻辑等模块;为了方便H3G测试平台的调试,将ChipScopeTM核也嵌入到了平台中。因此,基于以上理论,提出一种基于ChipScope的测试平台。
发明内容
(一)要解决的技术问题
为解决上述问题,本实用新型提出了一种基于ChipScope的测试平台,系统灵活性好,且可靠性高。
(二)技术方案
本实用新型的基于ChipScope的测试平台,包括计算机系统,及与计算机系统电连接的下载电缆,及与下载电缆通过JTAG端口连接的ML310板;所述ML310板上设置有测试板;所述测试板包括测试工具,及与测试工具电连接的存储器。
进一步地,所述测试工具与存储器之间电连接有总线。
进一步地,所述计算机系统中安装有ChipScope软件。
进一步地,所述测试板为FPGA测试板。
(三)有益效果
与现有技术相比,本实用新型的基于ChipScope的测试平台,利用FPGA测试板中未使用的存储器中的空白内存,将想要观察的信,寄存器、网线实时地存到这些空白内存中,然后根据用户设定的触发条件生成特定的地址译码选择数据读出,送到JTAG端口,最后在计算机中根据这些数据动态地画出时序波形来。
附图说明
图1是本实用新型的整体系统结构示意图。
具体实施方式
如图1和图2所示的一种基于ChipScope的测试平台,包括计算机系统1,及与计算机系统1电连接的下载电缆2,及与下载电缆2通过JTAG端口3连接的ML310板4;所述ML310板4上设置有测试板5;所述测试板5包括测试工具51,及与测试工具51电连接的存储器52。
所述测试工具51与存储器52之间电连接有总线53。
所述计算机系统1中安装有ChipScope软件。
所述测试板5为FPGA测试板。
本实用新型的基于ChipScope的测试平台的工作原理:利用FPGA测试板中未使用的存储器中的空白内存,将想要观察的信,寄存器、网线实时地存到这些空白内存中,然后根据用户设定的触发条件生成特定的地址译码选择数据读出,送到JTAG端口,最后在计算机中根据这些数据动态地画出时序波形来。
上面所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述,并非对本实用新型的构思和范围进行限定。在不脱离本实用新型设计构思的前提下,本领域普通人员对本实用新型的技术方案做出的各种变型和改进,均应落入到本实用新型的保护范围,本实用新型请求保护的技术内容,已经全部记载在权利要求书中。
Claims (4)
1.一种基于ChipScope的测试平台,其特征在于:包括计算机系统,及与计算机系统电连接的下载电缆,及与下载电缆通过JTAG端口连接的ML310板;所述ML310板上设置有测试板;所述测试板包括测试工具,及与测试工具电连接的存储器。
2.根据权利要求1所述的基于ChipScope的测试平台,其特征在于:所述测试工具与存储器之间电连接有总线。
3.根据权利要求1所述的基于ChipScope的测试平台,其特征在于:所述计算机系统中安装有ChipScope软件。
4.根据权利要求1所述的基于ChipScope的测试平台,其特征在于:所述测试板为FPGA测试板。
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CN201520694602.1U CN205003660U (zh) | 2015-09-09 | 2015-09-09 | 一种基于ChipScope的测试平台 |
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CN205003660U true CN205003660U (zh) | 2016-01-27 |
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CN201520694602.1U Expired - Fee Related CN205003660U (zh) | 2015-09-09 | 2015-09-09 | 一种基于ChipScope的测试平台 |
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GR01 | Patent grant | ||
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