CN204923353U - 用于通风设备杂质检测的测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及用于通风设备杂质检测的测试装置，包括检测口、检测盖，检测口外壁上设置有环形凸块Ⅰ，环形凸块Ⅰ向内凹陷形成有与密封圈配合的环形凹槽Ⅰ，环形凹槽Ⅰ底部均匀设置有多个环形凹槽Ⅲ，所述检测盖的侧壁上设置有与环形凸块Ⅰ配合的环形凸块Ⅱ，环形凸块Ⅱ向内凹陷形成环形凹槽Ⅱ，环形凹槽Ⅱ内均匀设置有与环形凹槽Ⅲ配合的环形凹槽Ⅳ，密封圈的一侧均匀设置有与环形凹槽Ⅲ配合的凸环Ⅰ，另一侧设置有与环形凹槽Ⅳ配合的凸环Ⅱ。本实用新型通过设置内部设有环形凹槽Ⅲ的环形凸块Ⅰ、内部设有环形凹槽Ⅳ的环形凸块Ⅱ，环形凹槽Ⅲ、环形凹槽Ⅳ与密封圈配合使用，提高了测试装置的密封性，克服了现有测试装置密封性不好的问题。

Description

用于通风设备杂质检测的测试装置

技术领域

本实用新型涉及通风设备领域，具体地，涉及一种用于通风设备杂质检测的测试装置。

背景技术

生物制药行业，在研发、制备、生产药物的过程中，很多的工艺段，药品的称量、溶液的配置、培养瓶的传送等等都需要用到通风厨，通风厨的设置，一方面是提供一个洁净的工作环境，另一方面有送风设置，将一些挥发性的物质所产生的挥发性气体带出通风厨，保持通风厨内环境的洁净，避免一些有挥发性的物质被到工作人员吸食；因此，必须确保通风设备的洁净，避免设备污染通风，污染到通风厨，进而污染试验用的用具或是药品。因此，在通风前必须对测试通风的洁净度。现有的测试是在通风设备上开设一个通孔，在通孔处设置一个测试装置，测试装置包括检测口以及检测盖，在检测时，可开启检测口，在通风时，可关闭检测口，检测口配设有配套的检测盖、密封圈以及卡箍，密封时将密封圈套设在检测盖内，将检测盖套设在检测口堵住检测口，再用卡箍将检测盖固定，由于卡箍只能在检测盖的径向上固定检测盖，不能在检测盖的轴向上施力挤压密封圈，故现有的检测口的密封结构的密封性能不好，易在密封的过程中导致检测口漏风的问题。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种用于通风设备杂质检测的测试装置，以克服现有测试装置密封性不好的问题。

本实用新型解决上述问题所采用的技术方案是：用于通风设备杂质检测的测试装置，包括检测口、与检测口配合的检测盖，检测盖的内壁设置有内牙螺纹，检测口的外壁设置有与内牙螺纹配合的外牙螺纹，与检测口外壁上外牙螺纹的下端设置有环形凸块Ⅰ，环形凸块Ⅰ向内凹陷形成有与密封圈配合的环形凹槽Ⅰ，环形凹槽Ⅰ底部均匀设置有多个环形凹槽Ⅲ，所述检测盖的侧壁上设置有与环形凸块Ⅰ配合的环形凸块Ⅱ，环形凸块Ⅱ向内凹陷形成环形凹槽Ⅱ，环形凹槽Ⅱ内均匀设置有与环形凹槽Ⅲ配合的环形凹槽Ⅳ，密封圈的一侧均匀设置有与环形凹槽Ⅲ配合的凸环Ⅰ，另一侧设置有与环形凹槽Ⅳ配合的凸环Ⅱ。当需要检测通风设备内的送风杂质含量时，取下检测盖，在测试装置的检测口测试即可；当设备用于通风时，需要确保测试装置的密封性完好，测试装置的密封：将密封圈的凸环Ⅱ分别嵌入环形凹槽Ⅱ内后，将检测盖扣在检测口上，使得内牙螺纹与外牙螺纹配合，慢慢旋动检测盖使检测盖逐渐向下移动，实现检测盖与检测口的闭合，检测盖向下移动使得密封圈上的凸环Ⅰ嵌入环形凹槽Ⅰ内，继续拧紧检测盖，检测盖开始挤压密封圈，密封圈受到挤压使得环形凸块Ⅰ与环形凸块Ⅱ之间密封完好，没有缝隙；如此，克本实用新型克服了现有测试装置密封性不好的问题。

进一步地，环形凹槽Ⅰ的内侧壁的顶部开设有与密封环Ⅰ配合的凹槽Ⅰ，环形凹槽Ⅰ的外侧壁的顶部开设有与密封环Ⅱ配合的凹槽Ⅱ，环形凹槽Ⅱ的内侧壁的顶部开设有与凹槽Ⅰ配合凹槽Ⅲ，环形凹槽Ⅱ的外侧壁的顶部开设有与凹槽Ⅱ配合的凹槽Ⅳ。凹槽Ⅰ、凹槽Ⅱ、凹槽Ⅲ、凹槽Ⅳ均为环形结构，通过凹槽Ⅰ、凹槽Ⅲ与密封环Ⅰ的配合；凹槽Ⅱ、凹槽Ⅳ与密封环Ⅱ的配合，一方面能够避免环形凹槽Ⅰ的内侧壁的顶部与环形凹槽Ⅱ的内侧壁的顶部的产生缝隙，进一步的提高了测试装置的密封性；另一方面起到缓冲作用，避免密封圈因被过度压缩而失去密封性能。

进一步地，凹槽Ⅰ、凹槽Ⅱ、凹槽Ⅲ、凹槽Ⅳ的深度均为5mm。既密封环Ⅰ、密封环Ⅱ的厚度约为5mm，5mm的密封环Ⅰ、密封环Ⅱ能确保缓冲作用，避免密封圈因被过度压缩而失去密封性能，同时能够满足密封性。

进一步地，环形凹槽Ⅲ设置有3个。数量设置为3个，既能满足密封圈的压缩强度，实现密封性，结构也简单，加工较容易。

进一步地，检测盖的内壁设置有内牙螺纹的宽度为30mm～50mm。内牙螺纹的宽度的宽度太窄就不能使密封圈压缩的最佳效果，降低密封性，太宽就浪费原材料，30mm～50mm的宽度既能满足密封效果，又能避免材料的浪费。

综上，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型通过设置内部设有环形凹槽Ⅲ的环形凸块Ⅰ、内部设有环形凹槽Ⅳ的环形凸块Ⅱ，环形凹槽Ⅲ、环形凹槽Ⅳ与密封圈配合使用，提高了测试装置的密封性，克服了现有测试装置密封性不好的问题。

2、本实用新型通过凹槽Ⅰ、凹槽Ⅲ与密封环Ⅰ的配合；凹槽Ⅱ、凹槽Ⅳ与密封环Ⅱ的配合，避免了密封圈因被过度压缩而失去密封性能，进一步的提高了测试装置的密封性。

3、本实用新型不仅提高了密封性能，同时避免了材料的浪费，节约了成本。

附图说明

图1是测试装置的结构示意图；

图2是环形凸块Ⅰ与环形凸块Ⅱ配合示意图。

附图中标记及相应的零部件名称：

1—检测口；2—检测盖；3—密封圈；4—通风设备；5—密封环Ⅰ；6—密封环Ⅱ；11—环形凸块Ⅰ；12—环形凹槽Ⅰ；13—环形凹槽Ⅲ；14—凹槽Ⅰ；15—凹槽Ⅱ；21—环形凸块Ⅱ；22—环形凹槽Ⅱ；23—环形凹槽Ⅳ；24—凹槽Ⅲ；25—凹槽Ⅳ；31—凸环Ⅰ；32—凸环Ⅱ。

具体实施方式

下面结合实施例及附图，对本实用新型作进一步地的详细说明，但本实用新型的实施方式不限于此。

实施例1：

如图1、图2所示，用于通风设备杂质检测的测试装置，包括设置在通风设备4上的检测口1、与检测口1配合的检测盖2，检测盖2的内壁设置有内牙螺纹，内牙螺纹的宽度为30mm～50mm，检测口1的外壁设置有与内牙螺纹配合的外牙螺纹，与检测口1外壁上外牙螺纹的下端设置有环形凸块Ⅰ11，环形凸块Ⅰ11向内凹陷形成有与密封圈3配合的环形凹槽Ⅰ12，环形凹槽Ⅰ12底部均匀设置有3个环形凹槽Ⅲ13，检测盖2的侧壁上设置有与环形凸块Ⅰ11配合的环形凸块Ⅱ21，环形凸块Ⅱ21向内凹陷形成环形凹槽Ⅱ22，环形凹槽Ⅱ22内均匀设置有与环形凹槽Ⅲ13配合的环形凹槽Ⅳ23，密封圈3的一侧均匀设置有与环形凹槽Ⅲ13配合的凸环Ⅰ31，另一侧设置有与环形凹槽Ⅳ23配合的凸环Ⅱ32。

当通风设4备用于通风时，需要确保测试装置的密封性完好，测试装置的密封：将密封圈的凸环Ⅱ32分别嵌入环形凹槽Ⅱ22内后，将检测盖2扣在检测口1上，使得内牙螺纹与外牙螺纹配合，慢慢旋动检测盖2使检测盖2逐渐向下移动，实现检测盖2与检测口1的闭合，检测盖2向下移动使得密封圈3上的凸环Ⅰ31嵌入环形凹槽Ⅰ内12，继续拧紧检测盖2，检测盖2开始挤压密封圈3，密封圈3受到挤压使得环形凸块Ⅰ11与环形凸块Ⅱ21之间密封完好，没有缝隙，实现密封。

实施例2：

本实施例在实施例1的基础上，如图1、图2所示，环形凹槽Ⅰ12的内侧壁的顶部开设有与密封环Ⅰ5配合的凹槽Ⅰ14，环形凹槽Ⅰ12的外侧壁的顶部开设有与密封环Ⅱ6配合的凹槽Ⅱ15，环形凹槽Ⅱ22的内侧壁的顶部开设有与凹槽Ⅰ14配合凹槽Ⅲ24，环形凹槽Ⅱ22的外侧壁的顶部开设有与凹槽Ⅱ15配合的凹槽Ⅳ25，凹槽Ⅰ（14）、凹槽Ⅱ15、凹槽Ⅲ24、凹槽Ⅳ25的深度均为5mm。

本实施例一方面进一步地提高了测试装置的密封性；另一方面起到缓冲作用，避免密封圈3因被过度压缩而失去密封性能。

如上所述，可较好的实现本实用新型。

Claims (5)

1.用于通风设备杂质检测的测试装置，包括检测口（1）、与检测口（1）配合的检测盖（2），检测盖（2）的内壁设置有内牙螺纹，检测口（1）的外壁设置有与内牙螺纹配合的外牙螺纹，其特征在于，所述与检测口（1）外壁上外牙螺纹的下端设置有环形凸块Ⅰ（11），环形凸块Ⅰ（11）向内凹陷形成有与密封圈（3）配合的环形凹槽Ⅰ（12），环形凹槽Ⅰ（12）底部均匀设置有多个环形凹槽Ⅲ（13），所述检测盖（2）的侧壁上设置有与环形凸块Ⅰ（11）配合的环形凸块Ⅱ（21），环形凸块Ⅱ（21）向内凹陷形成环形凹槽Ⅱ（22），环形凹槽Ⅱ（22）内均匀设置有与环形凹槽Ⅲ（13）配合的环形凹槽Ⅳ（23），密封圈（3）的一侧均匀设置有与环形凹槽Ⅲ（13）配合的凸环Ⅰ（31），另一侧设置有与环形凹槽Ⅳ（23）配合的凸环Ⅱ（32）。

2.根据权利要求1所述的用于通风设备杂质检测的测试装置，其特征在于，所述环形凹槽Ⅰ（12）的内侧壁的顶部开设有与密封环Ⅰ（5）配合的凹槽Ⅰ（14），环形凹槽Ⅰ（12）的外侧壁的顶部开设有与密封环Ⅱ（6）配合的凹槽Ⅱ（15），环形凹槽Ⅱ（22）的内侧壁的顶部开设有与凹槽Ⅰ（14）配合凹槽Ⅲ（24），环形凹槽Ⅱ（22）的外侧壁的顶部开设有与凹槽Ⅱ（15）配合的凹槽Ⅳ（25）。

3.根据权利要求2所述的用于通风设备杂质检测的测试装置，其特征在于，所述凹槽Ⅰ（14）、凹槽Ⅱ（15）、凹槽Ⅲ（24）、凹槽Ⅳ（25）的深度均为5mm。

4.根据权利要求1所述的用于通风设备杂质检测的测试装置，其特征在于，所述环形凹槽Ⅲ（13）设置有3个。

5.根据权利要求1至4任一所述的用于通风设备杂质检测的测试装置，其特征在于，所述检测盖（2）的内壁设置有内牙螺纹的宽度为30mm～50mm。