CN204855728U - 快速切换半导体器件老化和测试状态装置 - Google Patents
快速切换半导体器件老化和测试状态装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN204855728U CN204855728U CN201520231750.XU CN201520231750U CN204855728U CN 204855728 U CN204855728 U CN 204855728U CN 201520231750 U CN201520231750 U CN 201520231750U CN 204855728 U CN204855728 U CN 204855728U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- aging
- power supply
- subgroup
- switch
- terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
快速切换半导体器件老化和测试状态装置，老化供电端子a在机箱内部与开关测试电路PCB板上两个老化供电端子组b相连。电源输入耦合器内置电源滤波；所述装置开关按键用以控制装置电路的开断。测试电流从测试模块的测试电流输出端子流出，流进外部老化电路中的半导体晶体管的基极，电流通过BE结流回测试模块的回路。此时，完成半导体器件从老化状态切换到测试状态。本实用新型采用电子控制方式断电，能够快速地保证被测器具在瞬间完成状态的切换，确保试验符合标准要求，操作简单、准确、重复性好，测试效率和准确性都得到大幅提高。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种采用电子电路控制能够快速关断半导体器件在老化过程中的工作电流的装置，属于半导体器件老化测试的专用设备技术领域。
背景技术
厂家通常需要对生产出来的半导体器件进行老化试验，以便得到半导体器件的老化参数。在厂家对生产出来的半导体器件进行抽样加速老化试验时，要得知半导体器件的老化工作条件。其中包含半导体器件在老化试验停止时，瞬间切换到测试状态下的PN结电压。为了尽可能地得知半导体器件在老化时的PN结工作状态，这就要求半导体器件从老化状态切换到测试状态的时间越短越好。因此，亟待开发出一种迅速、简便、合理的在半导体器件老化状态和测试状态之间切换的装置。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题是向国内各个半导体器件生产商以及研究单位和类似用途的实验室提供一种适用于快速切换半导体器件老化状态和测试状态的专用设备。
为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为快速切换半导体器件老化和测试状态装置，该装置包括机箱1、测量端子组a2、老化供电端子组a3、切换触发口4、装置供电输入耦合器5、装置开关按键6以及内部控制电路；所述内部控制电路设置在机箱1内的衬板上，内部控制电路包括输入耦合器接线端子7、50V直流电源8、15V直流电源9、开关测试电路PCB板10；开关测试电路PCB板包括开关模块11、测试模块12。
开关模块11包括MOS组13、老化供电端子组b14、测量端子组b15、50V供电端子16；测试模块12包括±15V供电端子17、测试电流输出端子18、电源滤波电容组19、OP07运放组20。
机箱1的前面板上为测量端子组2、老化供电端子组3两个区。
测量端子组a2包括测量端子C2.1、测量端子B2.2、测量端子E2.3，其分别对应连接老化电路中半导体晶体管集电极、基极、发射极，测量端子组2在机箱1内部与PCB板上的三个测量端子组b15相连。
老化供电端子组a3包括老化供电端子U3.1、老化供电端子I3.2，分别对应连接老化电路中半导体晶体管的基极和集电极，老化供电端子a3在机箱1内部与开关测试电路PCB板12上两个老化供电端子组b14相连。
机箱1的前面板上还设有切换触发口4。
机箱1的后面板设有一个电源输入耦合器5，一个装置开关按键6。
电源输入耦合器5内置电源滤波，在机箱1内部通过输入耦合器接线端子7与50V直流电源8、15V直流电源9连接，用以开关测试电路PCB板10上不同模块的供电。
所述装置开关按键6用以控制装置电路的开断。外部可设电源2400提供3.3V电压信号通过切换触发口4连接到开关模块11的switch输入端，控制MOS组13的沟道关断。此时断开半导体器件的老化电路。同时，测试电流从测试模块12的测试电流输出端子18流出，流进外部老化电路中的半导体晶体管的基极，电流通过BE结流回测试模块12的回路。此时，完成半导体器件从老化状态切换到测试状态。
本实用新型与现有技术相比，具有以下明显的优势和有益效果：
本实用新型快速切换半导体器件老化和测试状态装置，采用电子控制方式断电，能够快速地保证被测器具在瞬间完成状态的切换，确保试验符合标准要求，操作简单、准确、重复性好，测试效率和准确性都得到大幅提高。
附图说明
图1是本实用新型设备前面板图。
图2是本实用新型设备后面板图。
图3是本实用新型设备机箱内部电路图。
图4是本实用新型设备控制电路结构图。
图5是MOS组的电路图。
图6是老化供电端子组b的电路图。
图7是测量端子组b的电路图。
图8是50V供电端子的电路图。
图9是±15V供电端子的电路图。
图10是测试电流输出端子的电路图。
图11是电源滤波电容组的电路图。
图12是OP07运放组的电路图。
图中，1、机箱，2、测量端子组a，2.1、测量端子C，2.2、测量端子B，2.3、测量端子E，3、老化供电端子组a，3.1、老化供电端子U，3.2、老化供电端子I，4、切换触发口，5、装置供电输入耦合器，6、装置开关按键，7、输入耦合器接线端子，8、50V直流电源，9、15V直流电源，10、开关测试电路PCB板；11、开关模块，12、测试模块，13、MOS组，14、老化供电端子组b，15、测量端子组b，16、50V供电端子，17、±15V供电端子，18、测试电流输出端子，19、电源滤波电容组，20、OP07运放组。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
如图1-3所示，所述快速切换半导体器件老化和测试状态装置包括机箱1、测量端子组a2、老化供电端子组a3、切换触发口4、装置供电输入耦合器5、装置开关按键6以及内部控制电路；所述内部控制电路设置在机箱1内的衬板上，内部控制电路包括输入耦合器接线端子7、50V直流电源8、15V直流电源9、开关测试电路PCB板10；开关测试电路PCB板包括开关模块11、测试模块12。
开关模块11包括MOS组13、老化供电端子组b14、测量端子组b15、50V供电端子16；测试模块12包括±15V供电端子17、测试电流输出端子18、电源滤波电容组19、OP07运放组20。
机箱1的前面板上为测量端子组2、老化供电端子组3两个区。
测量端子组a2包括测量端子C2.1、测量端子B2.2、测量端子E2.3，其分别对应连接老化电路中半导体晶体管集电极、基极、发射极，测量端子组2在机箱1内部与PCB板上的三个测量端子组b15相连。
老化供电端子组a3包括老化供电端子U3.1、老化供电端子I3.2，分别对应连接老化电路中半导体晶体管的基极和集电极，老化供电端子a3在机箱1内部与开关测试电路PCB板12上两个老化供电端子组b14相连。
机箱1的前面板上还设有切换触发口4。
机箱1的后面板设有一个电源输入耦合器5，一个装置开关按键6。
电源输入耦合器5内置电源滤波，在机箱1内部通过输入耦合器接线端子7与50V直流电源8、15V直流电源9连接，用以开关测试电路PCB板10上不同模块的供电。
15V直流电源9与±15V供电端子17相连，在经过源滤波电容组19滤波，输出稳定的电压；为OP07运放组20提供工作电压。OP07运放组20所在的电路模块向测试电流输出端子18输出稳定的测试电流。
所述装置开关按键6用以控制装置电路的开断。外部可设电源2400提供3.3V电压信号通过切换触发口4连接到开关模块11的switch输入端，控制MOS组13的沟道关断。此时断开半导体器件的老化电路。同时，测试电流从测试模块12的测试电流输出端子18流出，流进外部老化电路中的半导体晶体管的基极，电流通过BE结流回测试模块12的回路。此时，完成半导体器件从老化状态切换到测试状态。
设备的准备工作和运转操作如下：
检查设备外观是否完好，电源线连接是否牢固，各按键、选择开关和操作是否正常；将具有合适的待老化的半导体晶体管连接到测量端子组2。
运转操作：
a.接入被测晶体管：将被测半导体晶体管的集电极、基极、发射极分别接入该装置的测量端子。
b.接入老化供电电源：老化供电电源的电压、电流输出端连接到装置的老化供电端子。
c.接通电源：将该装置的插头接入供电电源，将老化供电电源开启，此时被测晶体管电源接通，按照被测设备标准要求设置工作状态。
d.状态切换：触发外部可设电源2400提供3.3V电压信号通过切换触发口4使得装置进入切换工作。
e.试验结束：将该装置的装置开关按键关闭，插头从供电电源拔出，外部老化供电电源断电，然后将被测晶体管从该装置测量端子组2处断开，将被测晶体管取下。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本实用新型而并非限制本实用新型所描述的技术方案；因此，尽管本说明书参照上述的各个实施例对本实用新型已进行了详细的说明，但是，本领域的普通技术人员应当理解，仍然可以对本实用新型进行修改或等同替换；而一切不脱离实用新型的精神和范围的技术方案及其改进，其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
Claims (3)
1.快速切换半导体器件老化和测试状态装置，其特征在于：该装置包括机箱(1)、测量端子组a(2)、老化供电端子组a(3)、切换触发口(4)、装置供电输入耦合器(5)、装置开关按键(6)以及内部控制电路；所述内部控制电路设置在机箱(1)内的衬板上，内部控制电路包括输入耦合器接线端子(7)、50V直流电源(8)、15V直流电源(9)、开关测试电路PCB板(10)；开关测试电路PCB板包括开关模块(11)、测试模块(12)；
开关模块(11)包括MOS组(13)、老化供电端子组b(14)、测量端子组b(15)、50V供电端子(16)；测试模块(12)包括±15V供电端子(17)、测试电流输出端子(18)、电源滤波电容组(19)、OP07运放组(20)；
机箱(1)的前面板上为测量端子组(2)、老化供电端子组(3)两个区；
测量端子组a(2)包括测量端子C(2.1)、测量端子B(2.2)、测量端子E(2.3)，其分别对应连接老化电路中半导体晶体管集电极、基极、发射极，测量端子组(2)在机箱(1)内部与PCB板上的三个测量端子组b(15)相连；
老化供电端子组a(3)包括老化供电端子U(3.1)、老化供电端子I(3.2)，分别对应连接老化电路中半导体晶体管的基极和集电极，老化供电端子a(3)在机箱(1)内部与开关测试电路PCB板(12)上两个老化供电端子组b(14)相连；
机箱(1)的前面板上还设有切换触发口(4)；
机箱(1)的后面板设有一个电源输入耦合器(5)，一个装置开关按键(6)；
电源输入耦合器(5)内置电源滤波，在机箱(1)内部通过输入耦合器接线端子(7)与50V直流电源(8)、15V直流电源(9)连接，用以开关测试电路PCB板(10)上不同模块的供电。
2.根据权利要求1所述的快速切换半导体器件老化和测试状态装置，其特征在于：15V直流电源(9)与±15V供电端子(17)相连，在经过源滤波电容组(19)滤波，输出稳定的电压；为OP07运放组(20)提供工作电压；OP07运放组(20)所在的电路模块向测试电流输出端子(18)输出稳定的测试电流。
3.根据权利要求1所述的快速切换半导体器件老化和测试状态装置，其特征在于：所述装置开关按键(6)控制装置电路的开断；外部设电源2400提供3.3V电压信号通过切换触发口(4)连接到开关模块(11)的switch输入端，控制MOS组(13)的沟道关断。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201520231750.XU CN204855728U (zh) | 2015-04-16 | 2015-04-16 | 快速切换半导体器件老化和测试状态装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201520231750.XU CN204855728U (zh) | 2015-04-16 | 2015-04-16 | 快速切换半导体器件老化和测试状态装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN204855728U true CN204855728U (zh) | 2015-12-09 |
Family
ID=54746265
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201520231750.XU Expired - Fee Related CN204855728U (zh) | 2015-04-16 | 2015-04-16 | 快速切换半导体器件老化和测试状态装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN204855728U (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106940409A (zh) * | 2017-03-31 | 2017-07-11 | 深圳市芯思杰智慧传感技术有限公司 | 光接收器件加电老化系统 |
| CN113589132A (zh) * | 2021-08-30 | 2021-11-02 | 中国振华集团永光电子有限公司（国营第八七三厂） | 一种适用于晶体管及场效应管的高温老化反偏试验装置 |
| CN114325345A (zh) * | 2022-01-04 | 2022-04-12 | 上海季丰电子股份有限公司 | 老化机和老化机的接口板 |
-
2015
- 2015-04-16 CN CN201520231750.XU patent/CN204855728U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106940409A (zh) * | 2017-03-31 | 2017-07-11 | 深圳市芯思杰智慧传感技术有限公司 | 光接收器件加电老化系统 |
| CN113589132A (zh) * | 2021-08-30 | 2021-11-02 | 中国振华集团永光电子有限公司（国营第八七三厂） | 一种适用于晶体管及场效应管的高温老化反偏试验装置 |
| CN113589132B (zh) * | 2021-08-30 | 2024-05-14 | 中国振华集团永光电子有限公司（国营第八七三厂） | 一种适用于晶体管及场效应管的高温老化反偏试验装置 |
| CN114325345A (zh) * | 2022-01-04 | 2022-04-12 | 上海季丰电子股份有限公司 | 老化机和老化机的接口板 |
| CN114325345B (zh) * | 2022-01-04 | 2023-12-15 | 上海季丰电子股份有限公司 | 老化机和老化机的接口板 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103683348B (zh) | 具有耗电量侦测功能的电子装置 | |
| CN203537358U (zh) | 一种一键开关机电路 | |
| CN204855728U (zh) | 快速切换半导体器件老化和测试状态装置 | |
| CN203859558U (zh) | 电子设备及其对外充电电路 | |
| CN108595299B (zh) | 终端设备的测试系统 | |
| CN205450144U (zh) | 放电测试辅助电路 | |
| CN203396869U (zh) | 综合测试设备 | |
| CN110008069A (zh) | 电源切换控制电路及控制方法 | |
| CN110109501A (zh) | 负载跳变快速响应电路及快速响应方法 | |
| CN203387480U (zh) | 一种自动复位装置 | |
| US11874323B2 (en) | JTAG-based burning device | |
| CN205584163U (zh) | 一种洗衣机的开关机电路及洗衣机 | |
| CN207396592U (zh) | 一种电流测试仪 | |
| CN216904694U (zh) | 一种大功率模拟电池 | |
| CN206557302U (zh) | 一种测试装置 | |
| CN115420942A (zh) | 一种电能测量装置以及供电系统 | |
| CN105911485A (zh) | 一种电源板输入电压自动切换老化装置 | |
| CN204118852U (zh) | 电源切换装置 | |
| CN203929914U (zh) | 测试继电保护装置动作时间的辅助装置 | |
| CN209674262U (zh) | 负载跳变快速响应电路 | |
| CN202886881U (zh) | 一种全硬件开关机电路 | |
| CN208797919U (zh) | 一种具有多状态检测功能的电路 | |
| CN100367157C (zh) | 电源切换及补偿的装置和方法 | |
| CN205941856U (zh) | 一种电源板输入电压自动切换老化装置 | |
| CN216052064U (zh) | 一种带有远程互联功能的三相测控表 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20151209 Termination date: 20180416 |
|
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |