CN206557302U - 一种测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种测试装置，测试模块包括微处理器、开关控制模块和四个端子，微处理器与开关控制模块中的电阻相连，微处理器还与参数类型切换模块、参数数值调节模块和晶振模块相连；四个端子中的第一端子与开关控制模块中继电器的常开触点相连，四个端子中的第三端子与开关控制模块中继电器的输出触点相连，四个端子中的第二端子和第三端子相连；电源控制模块与第一端子和第三端子相连。通过微处理器控制继电器的闭合来进行耐冲击测试，从而挑选能够承受冲击电流冲击的模块作为电池管理系统中的模块，从而提高了在该电池管理系统的耐冲击性能，降低产品返修率高，节约资源。

Description

一种测试装置

技术领域

本实用新型适用于测试领域，尤其涉及一种测试装置。

背景技术

冲击电流指设备在开启的瞬间产生的电流。在容性负载的电池管理系统中，上电瞬间产生的冲击电流相当于短路产生的电流，如果电池管理系统中的模块电源功率低或器件响应速度慢，冲击电流会会导致电池管理系统烧毁。

现有技术中，当选择电池管理系统的模块时，通常根据电池管理系统中模块的工作参数，如额定功率，额定电流，并由工作人员凭经验进行选择，这样会使得电池管理系统在上电过程中，因承受不了冲击电流而烧毁，从而增加了产品返修率，造成资源浪费。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题为提供一种测试装置，旨在解决凭经验选择电池管理系统中的模块，产生的产品返修率高，资源浪费的问题。

本实用新型提供一种测试装置，包括：测试模块、参数类型切换模块、参数数值调节模块、晶振模块和电源控制模块，测试模块1包括微处理器U1、开关控制模块和四个端子，微处理器与开关控制模块中的电阻相连，微处理器还与参数类型切换模块、参数数值调节模块和晶振模块相连；该四个端子中的第一端子与开关控制模块中继电器的常开触点相连，该四个端子中的第三端子与开关控制模块中继电器的输出触点相连，该四个端子中的第二端子和第三端子相连；电源控制模块与第一端子和第三端子相连。

本实用新型提供了一种测试装置，包括：测试模块、参数类型切换模块、参数数值调节模块、晶振模块和电源控制模块，测试模块1包括微处理器U1、开关控制模块和四个端子，微处理器与开关控制模块中的电阻相连，微处理器还与参数类型切换模块、参数数值调节模块和晶振模块相连；该四个端子中的第一端子与开关控制模块中继电器的常开触点相连，该四个端子中的第三端子与开关控制模块中继电器的输出触点相连，该四个端子中的第二端子和第三端子相连；电源控制模块与第一端子和第三端子相连。与现有技术相比，有益效果在于：本实用新型中，通过微处理器控制继电器的闭合来进行耐冲击测试，从而挑选能够承受冲击电流冲击的模块作为电池管理系统中的模块，从而提高了在该电池管理系统的耐冲击性能，降低产品返修率高，节约资源。

附图说明

图1是本实用新型第一实施例提供的一种测试装置的结构示意图；

图2是本实用新型第二实施例提供的一种测试装置的结构示意图；

图3是本实用新型第二实施例提供的一种测试装置的控制面板的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

作为本实用新型的第一个实施例，如图1所示，本实用新型提供的一种测试装置，该装置包括：测试模块1、参数类型切换模块2、参数数值调节模块3、晶振模块4和电源控制模块5，测试模块1包括微处理器U1、开关控制模块11 和四个端子，四个端子分别为第一端子12、第二端子13、第三端子14和第四端子15；

微处理器U1与开关控制模块11中的电阻相连，微处理器U1还与参数类型切换模块2、参数数值调节模块3和晶振模块4相连，微处理器U1的电源(Volt Current Condenser，Vcc)引脚与电源的正极相连，微处理器U1的接地(Ground， Gnd)引脚接地；第一端子12与开关控制模块11中继电器K1的常开触点相连，第三端子14与开关控制模块11中继电器K1的输出触点相连，第二端子13和第三端子14相连；电源控制模块5与第一端子12和第三端子14相连。

待测模块进行耐冲击测试之前，将第一端子12和第二端子13与直流电源的正极和负极进行连接，第三端子14和第四端子15与待测模块的正极接口和负极接口进行连接。在测试过程中，参数类型切换模块2将切换的参数类型发送至微处理器U1，参数数值调节模块3将调节的数值发送至微处理器U1，这样，微处理器U1根据该参数类型和参数数值发送闭合指令或断开指令至开关控制模块11，开关控制模块11中的继电器K1根据该该闭合指令或断开指令闭合或断开该直流电源与该待测模块的电连接，对该待测模块进行耐冲击测试。

该参数为控制开关控制模块11中继电器K1的闭合和断开的参数。该参数类型包括连通时长、断开时长和通断次数。该参数数值为该参数的具体数值，如该连通时长为5秒，该通断次数为5次。闭合指令用于控制开关控制模块11 中继电器K1的闭合，该断开指令用于控制开关控制模块11中继电器K1的断开。该待测模块为待测试的电池管理系统中的模块。微处理器U1的型号为 AT89S5X。

本实用新型实施例中，该装置包括：测试模块1、参数类型切换模块2、参数数值调节模块3、晶振模块4和电源控制模块5，测试模块1包括微处理器 U1、开关控制模块11和四个端子，四个端子分别为第一端子12、第二端子13、第三端子14和第四端子15；微处理器U1与开关控制模块11中的电阻相连，微处理器U1还与参数类型切换模块2、参数数值调节模块3和晶振模块4相连；第一端子12与开关控制模块11中继电器K1的常开触点相连，第三端子14与开关控制模块11中继电器K1的输出触点相连，第二端子13和第三端子14相连；电源控制模块5与第一端子12和第三端子14相连。因此，通过微处理器控制继电器的闭合来进行耐冲击测试，从而挑选能够承受冲击电流冲击的模块作为电池管理系统中的模块，从而提高了在该电池管理系统的耐冲击性能，降低产品返修率高，节约资源。

作为本实用新型的第二个实施例，如图2和图3所示，本实用新型提供的一种测试装置，该装置包括：测试模块1、参数类型切换模块2、参数数值调节模块3、晶振模块4、电源控制模块5、测试控制模块6、显示模块7、复位模块8和壳体，壳体包括控制面板9，其中，测试模块1包括微处理器U1、开关控制模块11和四个端子，四个端子分别为第一端子12、第二端子13、第三端子14和第四端子15；

微处理器U1的P2.0引脚与开关控制模块11中的第一电阻R1的一端相连，微处理器U1的Vcc引脚与电源的正极相连，微处理器U1的Gnd引脚接地；第一端子12与开关控制模块11中继电器K1的常开触点相连，第三端子14与开关控制模块11中继电器K1的输出触点相连，第二端子13和第三端子14相连；电源控制模块5与第一端子12和第三端子14相连。

待测模块进行耐冲击测试之前，将第一端子12和第二端子13与直流电源的正极和负极进行连接，第三端子14和第四端子15与待测模块的正极接口和负极接口进行连接。在测试过程中，微处理器U1发送闭合指令或断开指令至开关控制模块11，开关控制模块11中的继电器根据该该闭合指令或断开指令闭合或断开该直流电源与该待测模块的电连接，对该待测模块进行耐冲击测试。

闭合指令用于控制开关控制模块11中继电器的闭合，该断开指令用于控制开关控制模块11中继电器的断开。该待测模块为待测试的电池管理系统中的模块。

进一步地，开关控制模块11包括：第一电阻R1、第二电阻R2、三极管 Q1和继电器K1，其中，第一电阻R1的一端与微处理器U1的P2.0引脚相连，第一电阻R1的另一端与三极管Q1的基极相连；三极管Q1的发射极与继电器 K1的线圈的一端相连，三极管Q1的集电极与第二电阻R2的一端相连；第二电阻R2的另一端与电源正极连接；继电器K1的线圈的另一端接地。

进一步地，参数类型切换模块2包括第三电阻R3和三档开关SW1。其中，第三电阻R3的一端与三档开关SW1的第一端相连，第三电阻R3的另一端与该电源相连，三档开关SW1的第二端与微处理器U1的P2.5引脚相连，三档开关SW1的第三端与微处理器U1的P2.6引脚相连，三档开关SW1的第四端与微处理器U1的P2.7引脚相连。

需要说明的是，三档开关SW1的第一端为切换控制端，可以通过控制三档开关SW1的第一端与三档开关SW1的第二端、第三端或第四端闭合来进行参数类型的切换。该参数为控制继电器K1断开或闭合的参数，该参数类型包括：连通时长、断开时长和通断次数。例如，三档开关SW1的第一端与三档开关 SW1的第二端闭合时，切换的参数类型为连通时长，三档开关SW1的第一端与三档开关SW1的第三端闭合时，切换的参数类型为断开时长，三档开关SW1 的第一端与三档开关SW1的第四端闭合时，切换的参数类型为通断次数。这样，参数类型切换模块3将切换的参数类型发送至微处理器U1，以按照该参数类型闭合或断开继电器K1。

进一步地，参数数值调节模块3包括：数字开关SW2和第四电阻R4。其中，数字开关SW2的第一子开关的一端、第二子开关的一端、第三子开关的一端和第四子开关的一端分别与微处理器U1的P2.4引脚、P2.3引脚、P2.2引脚和P2.1引脚相连，第一子开关、第二子开关、第三子开关和第四子开关的另一端均与第四电阻R4的一端相连；第四电阻R4的另一端与电源正极VCC相连。

需要说明的是，数字开关SW2包括四个数字旋钮，每个数字按钮包括“0-9”十个数字，通过对该四个数字旋钮上的数字按照“个、十、百和千”进行组合，得到参数调节的数值。该参数数值的单位可参照该参数类型来确定，例如，若该参数类型为连通时长，则该参数数值为秒，若该参数类型为通断次数，该参数数值为次。该参数数值调节模块4将设置的参数数值发送至微处理器U1，以按照该参数数值闭合或断开继电器K1。

进一步地，晶振模块4包括：第一电容器C1、第二电容器C2和石英晶体振荡器X1。其中，第一电容器C1的一端与微处理器U1的外接晶振(External Crystal Oscillator，XTAL)引脚的XTAL2引脚相连，第一电容器C1的另一端接地；石英晶体振荡器X1的第一端与微处理器U1的XTAL2引脚相连，石英晶体振荡器X1的第二端与微处理器U1的XTAL1引脚相连；第二电容器C2 的一端与石英晶体振荡器X1的第二端相连，第二电容器C2的另一端接地。

晶振模块4向微处理器U1发送石英晶体振荡器X1的震荡频率，以便向微处理器U1提供时钟源，计算连通时长和断开时长。

进一步地，电源控制模块5包括：电源模块DC1、稳压二极管ZD1、第五电阻R5、第三电容器C3和电源开关S0。其中，电源模块DC1的第一引脚与电源开关S3的一端相连，电源模块DC1的第二引脚与第二端子22相连，电源模块DC1的第三引脚接地，电源模块DC1的第四引脚与第五电阻R5的第一端相连；电源开关S0的另一端与第一端子21相连；第五电阻R5的第一端与电源正极VCC相连；稳压二极管的正极接地，稳压二极管ZD1的负极与第五电阻R5的第二端相连；第三电容器C3的一端与电源正极VCC相连，第三电容器C3的另一端接地。

电源控制模块5用于向该测试装置中的测试模块1、参数类型切换模块2、参数数值调节模块3、晶振模块4、电源控制模块5、测试控制模块6、显示模块7和复位模块8进行供电。当电源控制模块5处断电状态时，电源控制模块 5中的电源开关S0根据用户的按压操作进行闭合，以向该测试装置的各个模块进行供电，当电源控制模块5处供电状态时，电源开关S0根据用户的按压操作进行断开，以中断供电。

进一步地，该装置还包括测试控制模块6。

测试控制模块6包括：第一按键开关S1和第六电阻R6。其中，第一按键开关S1的一端与微处理器U1的P1.O/T引脚相连，第一按键开关S1的另一端与第六电阻R6的一端相连；第六电阻R6的另一端与电源正极VCC相连。

第一按键开关S1根据用户的按压发送该闭合指令或该断开指令至微处理器U1。在实际应用中，当该测试装置为测试状态时，第一按键开关发送断开指令至微处理器U1，当该测试装置为非测试状态时，第一按键开关发送闭合指令至未处理U1。

进一步地，该装置还包括显示模块7。

显示模块7包括：液晶显示屏LCD、滑动变阻器R0和排阻RESS。其中，液晶显示屏LCD的公共引脚VSS引脚和背光电源负极引脚BLK引脚接地，液晶显示屏LCD的VCC引脚和背光电源正极引脚BLA引脚与电源正极VCC相连，液晶显示屏LCD的VO引脚与滑动变阻器R0的第一端相连，液晶显示屏 LCD的REO引脚、RB1引脚、RB2引脚、RB3引脚、RB4引脚、RB5引脚、 RB6引脚和RB7引脚分别于与微处理器U1的P0.0引脚、P0.1引脚、P0.2引脚、 P0.3引脚、P0.4引脚、P0.5引脚、P0.6引脚和P0.7引脚相连；滑动变阻器R0 的第二端与电源正极VCC相连，滑动变阻器R0的第三端接地；排阻RESS的第一引脚与电源正极VCC相连，排阻RESS的第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚和第九引脚分别于微处理器U1的 P0.1引脚、P0.2引脚、P0.3引脚、P0.4引脚、P0.5引脚、P0.6引脚和P0.7引脚相连。

液晶显示屏LCD接收微处理器U1发送的参数类型和参数数值。可选地，液晶显示屏LCD还可以显示剩余的测试时间。液晶显示屏LCD型号为 LCD1602。

进一步地，装置还包括：复位模块8。

复位模块8包括：第二按键开关S2、二极管D1、第七电阻R7、第八电阻 R8和第四容器C4。其中，第二按键开关S2的一端与第七电阻R7的第一端相连，第二按键开关S2的另一端与微处理器U1的复位RST/备用VPD引脚相连；第七电阻R7的第二端与电源正极VCC相连；第八电阻R8的一端与微处理器 U1的RST/VPD引脚相连，第八电阻R8的另一端接地；二极管D1的正极接地，二极管D1的负极与微处理器U1的RST/VPD引脚相连；第四容器C4的一端与微处理器U1的RST/VPD引脚相连，第四容器C4的另一端与电源正极VCC 相连。

在实际应用中，第二按键开关S2根据用户的按压操作发送复位指令至微处理器U1，以控制微处理器U1的复位。

可选地，该装置还包括壳体，测试模块1、参数类型切换模块2、参数数值调节模块3、晶振模块4、电源控制模块5、测试控制模块6、显示模块7、复位模块8置于该壳体内。该壳体上有一控制面板9，如图3所示的，控制面板9 包括：三档开关SW1、数字开关SW2、液晶显示屏LCD、第一按键开关S1、第二按键开关S2和电源开关S0。这样，用户通过控制面板11上的三档开关 SW1直接切换参数类型，通过数字开关SW2调节参数数值，并通过液晶显示屏LCD显示该参数类型和参数数值，以及通过第一按键开关S1控制测试的启动或停止，通过第二按键开关S2控制该微处理器U1的复位，通过电源开关 S3控制该测试装置中各模块的上电和断电，从而提高了操作的便利性。

本实用新型实施例中，该测试装置包括：测试模块1、参数类型切换模块2、参数数值调节模块3、晶振模块4、电源控制模块5、测试控制模块6、显示模块7、复位模块8和壳体，壳体包括控制面板9，其中，测试模块1包括微处理器U1、开关控制模块11和四个端子，四个端子分别为第一端子12、第二端子 13、第三端子14和第四端子15；微处理器U1的P2.0引脚与开关控制模块11 中的第一电阻R1的一端相连，微处理器U1的Vcc引脚与电源的正极相连，微处理器U1的接地引脚Gnd引脚接地；第一端子12与开关控制模块11中继电器K1的常开触点相连，第三端子14与开关控制模块11中继电器K1的输出触点相连，第二端子13和第三端子14相连；电源控制模块5与第一端子12和第三端子14相连；开关控制模块11中，第一电阻R1的一端与微处理器U1的 P2.0引脚相连，第一电阻R1的另一端与三极管Q1的基极相连；三极管Q1的发射极与继电器K1的线圈的一端相连，三极管Q1的集电极与第二电阻R2的一端相连；第二电阻R2的另一端与电源正极连接；继电器K1的线圈的另一端接地；参数类型切换模块2中，第三电阻R3的一端与三档开关SW1的第一端相连，第三电阻R3的另一端与该电源相连，三档开关SW1的第二端与微处理器U1的P2.5引脚相连，三档开关SW1的第三端与微处理器U1的P2.6引脚相连，三档开关SW1的第四端与微处理器U1的P2.57引脚相连。参数数值调节模块3中，数字开关SW2的第一引脚、第二引脚、第三引脚和第四引脚分别与微处理器Q1的P2.4引脚、P2.3引脚、P2.2引脚和P2.1引脚相连，数字开关 SW2的第五引脚、第六引脚、第七引脚和第八引脚均与第四电阻R4的一端相连；第四电阻R4的另一端与电源正极VCC相连。测试控制模块5中，第一按键开关S1的一端与微处理器U1的P1.O/T引脚相连，第一按键开关S1的另一端与第五电阻R5的一端相连；第五电阻R5的另一端与电源正极VCC相连。晶振模块4中，第一电容器C1的一端与微处理器U1的XTAL2引脚相连，第一电容器C1的另一端接地；石英晶体振荡器X1的第一端与微处理器U1的 XTAL2引脚相连，石英晶体振荡器X1的第二端与微处理器U1的XTAL1引脚相连；第二电容器C2的一端与石英晶体振荡器X1的第二端相连，第二电容器 C2的另一端接地。电源控制模块5中，电源模块DC1的第一引脚与电源开关 S3的一端相连，电源模块DC1的第二引脚与第二端子22相连，电源模块DC1 的第三引脚接地，电源模块DC1的第四引脚与第五电阻R5的第一端相连；电源开关S0的另一端与第一端子21相连；第五电阻R5的第一端与电源正极VCC 相连；稳压二极管的正极接地，稳压二极管ZD1的负极与第五电阻R5的第二端相连；第三电容器C3的一端与电源正极VCC相连，第三电容器C3的另一端接地。测试控制模块6中，第一按键开关S1的一端与微处理器U1的P1.O/T 引脚相连，第一按键开关S1的另一端与第六电阻R6的一端相连；第六电阻 R6的另一端与电源正极VCC相连。显示模块7中，液晶显示屏LCD的VSS 引脚和BLK引脚接地，液晶显示屏LCD的VCC引脚和BLA引脚与电源正极 VCC相连，液晶显示屏LCD的VO引脚与滑动变阻器R0的第一端相连，液晶显示屏LCD的REO引脚、RB1引脚、RB2引脚、RB3引脚、RB4引脚、RB5 引脚、RB6引脚和RB7引脚分别于与微处理器U1的P0.0引脚、P0.1引脚、P0.2 引脚、P0.3引脚、P0.4引脚、P0.5引脚、P0.6引脚和P0.7引脚相连；滑动变阻器R0的第二端与电源正极VCC相连，滑动变阻器R0的第三端接地；排阻RESS 的第一引脚与电源正极VCC相连，排阻RESS的第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚和第九引脚分别于微处理器U1 的P0.1引脚、P0.2引脚、P0.3引脚、P0.4引脚、P0.5引脚、P0.6引脚和P0.7 引脚相连。其中，排阻的型号为RES8。复位模块8中，第二按键开关S2的一端与第七电阻R7的第一端相连，第二按键开关S2的另一端与微处理器U1的 RST/VPD引脚相连；第七电阻R7的第二端与电源正极VCC相连；第八电阻 R8的一端与微处理器U1的RST/VPD引脚相连，第八电阻R8的另一端接地；二极管D1的正极接地，二极管D1的负极与微处理器U1的RST/VPD引脚相连；第四容器C4的一端与微处理器U1的RST/VPD引脚相连，第四容器C4 的另一端与电源正极VCC相连。因此，通过微处理器控制继电器的闭合来进行耐冲击测试，从而挑选能够承受冲击电流冲击的模块作为电池管理系统中的模块，从而提高了在该电池管理系统的耐冲击性能，降低产品返修率高，节约资源。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试装置，其特征在于，所述装置包括：测试模块、参数类型切换模块、参数数值调节模块、晶振模块和电源控制模块，所述测试模块包括微处理器、开关控制模块和四个端子；

所述微处理器与所述开关控制模块中的电阻相连，所述微处理器的电源Vcc引脚与电源的正极相连，所述微处理器的接地引脚接地，所述微处理器还分别与所述参数类型切换模块、所述参数数值调节模块和所述晶振模块相连；

所述四个端子中的第一端子与所述开关控制模块中继电器的常开触点相连，所述四个端子中的第三端子与所述开关控制模块中继电器的输出触点相连，所述四个端子中的第二端子和第三端子相连；

所述电源控制模块与所述第一端子和所述第三端子相连。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述开关控制模块包括：第一电阻、第二电阻、三极管和所述继电器；

所述第一电阻的一端与所述微处理器的P2.0引脚相连，所述第一电阻的另一端与所述三极管的基极相连，所述微处理器的型号为AT89S5X；

所述三极管的发射极与所述继电器的线圈的一端相连，所述三极管的集电极与所述第二电阻的一端相连；

所述第二电阻的另一端与所述电源正极连接；

所述继电器的线圈的另一端接地。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述参数类型切换模块包括第三电阻和三档开关；

所述第三电阻的一端与所述三档开关的第一端相连，所述第三电阻的另一端与所述电源正极相连；

所述三档开关的第二端与所述微处理器的P2.5引脚相连，所述三档开关的第三端与所述微处理器的P2.6引脚相连，所述三档开关的第四端与所述微处理器的P2.7引脚相连，所述微处理器的型号为AT89S5X。

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述参数数值调节模块包括数字开关和第四电阻；

所述数字开关的第一子开关的一端、第二子开关的一端、第三子开关的一端和第四子开关的一端分别与所述微处理器的P2.4引脚、P2.3引脚、P2.2引脚和P2.1引脚相连，所述第一子开关、第二子开关、第三子开关和第四子开关的另一端均与所述第四电阻的一端相连，所述微处理器的型号为AT89S5X；

所述第四电阻的另一端与所述电源正极相连。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述晶振模块包括第一电容器、第二电容器和石英晶体振荡器；

所述第一电容器的一端与所述微处理器的晶振XTAL2引脚相连，所述第一电容器的另一端接地，所述微处理器的型号为AT89S5X；

所述石英晶体振荡器的第一端与所述微处理器的XTAL2引脚相连，所述石英晶体振荡器的第二端与所述微处理器的XTAL1引脚相连；

所述第二电容器的一端与所述石英晶体振荡器的第二端相连，所述第二电容器的另一端接地。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述电源控制模块包括电源模块、稳压二极管、第五电阻、第三电容器和电源开关；

所述电源模块的第一引脚与所述电源开关的一端相连，所述电源模块的第二引脚与所述第二端子相连，所述电源模块的第三引脚接地，所述电源模块的第四引脚与所述第五电阻的第一端相连；

所述电源开关的另一端与所述第一端子相连；

所述第五电阻的第一端与所述电源正极相连；

所述稳压二极管的正极接地，所述稳压二极管的负极与所述第五电阻的第二端相连；

所述第三电容器的一端与所述电源正极相连，所述第三电容器的另一端接地。

7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：测试控制模块，所述测试控制模块包括第一按键开关、第六电阻；

所述第一按键开关的一端与所述微处理器的P1.O/T引脚相连，所述第一按键开关的另一端与第六电阻的一端相连，所述微处理器的型号为AT89S5X；

所述第六电阻的另一端与所述电源正极相连。

8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：显示模块，所述显示模块包括液晶显示屏、滑动变阻器和排阻，其中，液晶显示屏型号为LCD1602，所述排阻的型号为RES8，所述微处理器的型号为AT89S5X；

所述液晶显示屏的VSS引脚和BLK引脚接地，所述液晶显示屏的VCC引脚和BLA引脚与所述电源正极相连，所述液晶显示屏的VO引脚与滑动变阻器的第一端相连，所述液晶显示屏的REO引脚、RB1引脚、RB2引脚、RB3引脚、RB4引脚、RB5引脚、RB6引脚和RB7引脚分别于与所述微处理器的P0.0引脚、P0.1引脚、P0.2引脚、P0.3引脚、P0.4引脚、P0.5引脚、P0.6引脚和P0.7引脚相连；

所述滑动变阻器的第二端与所述电源正极相连，所述滑动变阻器的第三端接地；

所述排阻的第一引脚与所述电源正极相连，所述排阻的第二引脚、第三引脚、第四引脚、第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚和第九引脚分别于所述微处理器的P0.1引脚、P0.2引脚、P0.3引脚、P0.4引脚、P0.5引脚、P0.6引脚和P0.7引脚相连。

9.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：复位模块，所述复位模块包括第二按键开关、二极管、第七电阻、第八电阻和第四电容器；

所述第二按键开关的一端与所述第七电阻的第一端相连，所述第二按键开关的另一端与所述微处理器的复位RST/备用VPD引脚相连；

所述第七电阻的第二端与所述电源正极相连；

所述第八电阻的一端与所述微处理器RST/VPD引脚相连，所述第八电阻的另一端接地；

所述二极管的正极接地，所述二极管的负极与所述微处理器RST/VPD引脚相连；

所述第四电容器的一端与所述微处理器RST/VPD引脚相连，所述第四电容器的另一端与所述电源正极相连。

10.根据权利要求1-8任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括壳体，所述壳体上有一控制面板，所述测试模块、所述参数类型切换模块、所述参数数值调节模块、所述晶振模块和所述电源控制模块置于所述壳体中。