CN106771914A - 一种测试方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种测试方法和装置，微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器，该继电器接收该闭合指令或该断开指令，并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接，以测试该待测模块的耐冲击性能。与现有技术相比，有益效果在于：本发明中，通过微处理器控制继电器的闭合来对待测模块进行耐冲击电流测试，从而挑选能够承受冲击电流冲击的待测模块作为电池管理系统中的模块，从而提高了在该电池管理系统的耐冲击性能，降低产品返修率高，节约资源。
Description
技术领域
本发明适用于测试领域，尤其涉及一种测试方法和装置。
背景技术
冲击电流指设备在开启的瞬间产生的电流。在容性负载的电池管理系统中，上电瞬间产生的冲击电流相当于短路产生的电流，如果电池管理系统中的模块电源功率低或器件响应速度慢，冲击电流会对电池管理系统造成很大的伤害。
通常，在选择电池管理系统的模块时，现有技术中通常根据电池管理系统中模块的工作参数，如额定功率，额定电流，由工作人员凭经验进行选择，这样会使得电池管理系统在上电过程中，因承受不了冲击电流而烧毁，进而使得产品返修率高，造成资源浪费。
发明内容
本发明所要解决的技术问题为提供一种测试方法和装置，旨在解决凭经验选择电池管理系统中的模块，产生的产品返修率高，资源浪费的问题。
本发明提供一种测试方法，包括：微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器，该继电器接收该闭合指令或该断开指令，并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接，以测试该待测模块的耐冲击性能。
本发明提供一种测试装置，包括：微处理器和继电器；
微处理器用于发送闭合指令或断开指令至继电器，继电器用于接收所述闭合指令或所述断开指令，并根据所述闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据所述断开指令断开所述电源与所述待测模块之间的电连接，以测试所述待测模块的耐冲击性能。
本发明提供了一种测试方法和装置，包括：微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器，该继电器接收该闭合指令或该断开指令，并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接，以测试该待测模块的耐冲击性能。与现有技术相比，有益效果在于：本发明中，通过微处理器控制继电器的闭合来对待测模块进行耐冲击电流测试，从而挑选能够承受冲击电流冲击的待测模块作为电池管理系统中的模块，从而提高了在该电池管理系统的耐冲击性能，降低产品返修率高，节约资源。
附图说明
图1是本发明第一实施例提供的一种测试方法的实现流程示意图；
图2是本发明第二实施例提供的一种测试方法的实现流程示意图；
图3是本发明第三实施例提供的一种测试装置的结构示意图；
图4是本发明第四实施例提供的一种测试装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
作为本发明的第一个实施例，如图1所示，本发明提供的一种测试方法，图1示出的该测试方法主要包括：
S101、微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器。
该闭合指令用于控制该继电器进行闭合，该断开指令用于控制该继电器进行断开。
S102、该继电器接收该闭合指令或该断开指令，并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接，以测试该待测模块的耐冲击性能。
该待测模块为待检测耐冲击性能的模块，该待测模块为电流管理系统中的模块，如主控模块、从控模块或绝缘模块等。耐冲击性能为该待检测模块耐冲击电流冲击的性能。
本发明实施例中，微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器，该继电器接收该闭合指令或该断开指令，并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接，以测试该待测模块的耐冲击性能。因此，通过微处理器控制继电器的闭合来对待测模块进行耐冲击电流测试，从而挑选能够承受冲击电流冲击的待测模块作为电池管理系统中的模块，从而提高了在该电池管理系统的耐冲击性能，降低产品返修率高，节约资源。
作为本发明的第二个实施例，如图2所示，本发明提供的一种测试方法，图2示出的该测试方法实现流程主要包括：
S201、档位开关按照用户的切换操作切换档位，并将该档位所表示的控制参数的类型发送至微处理器。
该控制参数为控制继电器闭合和断开的参数，该控制参数的类型包括连通时长、断开时长和通断次数，其中，连通时长为继电器闭合的时长，该断开时长为继电器断开的时长，该通断次数为继电器闭合或断开的次数，其中，继电器闭合一次且断开一次，该通断次数为一次。在耐冲击电流测试中，通过设置通断次数，进行多次耐冲击电流测试，可以进一步了解该待测模块的耐冲击性能的稳定性，选择耐冲击性能稳定性更好的待测模块。
优选的，档位开关包括三个档位，可以通过闭合其中一个档位来切换该控制参数的类型。即，当闭合其中一个档位时，另外两个档位为断开状态，此时，闭合的档位所表示的控制参数的类型为当前切换的控制参数的类型。
例如，三个档位分别表示“连通时长”、“断开时长”或“通断次数”，将表示“断开时长”的档位闭合，则选择的控制参数的类型为“断开时长”。然后，将表示“通断次数”的档位闭合，此时，表示“断开时长”的档位断开，这时该控制参数的类型由“断开时长”切换到“通断次数”。
S202、数字开关按照该用户的调节操作，调节该控制参数的数值，并将已调节的该控制参数的数值发送至该微处理器。
优选地，数字开关为四个，每一个数字开关都可以显示“0-9”十个数字。当切换到“通断次数”的档位时，四个数字开关分别表示“个”、“十”、“百”和“千”。此时，四个数字开关显示的数值按照“个”、“十”、“百”和“千”组合后的数值即为通断次数的数值。例如，将表示“个”、“十”、“百”和“千”的数字开关上的设置分别设置为0、2、3和1，则表示通断次数为1320次。
优选地，当档位切换到“连通时长”时，两个数字开关可以用来设置连通时长的数值，即，两个数字开关中的一个表示“十”，另外一个表示“个”，则该两个数字开关显示的数字按照“个”和“十”组合后的数值即为该连通时长的数值。例如，将表示“个”和“十”的数字开关上的设置分别设置为1和2，则表示连通时长为21秒。
需要说明的是，通过数字开关所设置的连通时长和断开时长的单位可以按照实际情况进行设置。在本实施例中，该连通时长和断开时长的单位为秒。
S203、该微处理器将接收的该控制参数的类型和该控制参数的数值发送至显示屏；
S204、该显示屏显示该控制参数的类型和该控制参数的数值。
显示屏通过显示该控制参数的类型和该控制参数的数值，可以使得该用户进一步确认设置的参数，防止出现测试误差。需要说明的是，显示屏显示的控制参数的类型为档位开关切换后的控制参数的类型，显示屏显示的控制参数的数值为数字开关调节的该控制参数的数值。
可选地，该显示屏还可以在测试过程中将待测模块测试的剩余时间、剩余次数或测试状态发送至显示屏进行显示，便于用户了解测试进度。该测试状态可以为该待测模块与电源的连通状态或断开状态。
S205、控制按钮根据用户的操作发送闭合指令或断开指令至微处理器。
该闭合指令用于控制该继电器进行闭合，该断开指令用于控制该继电器进行断开。该控制按钮通过该用户的按压操作来发送该闭合指令或该断开指令。在实际应用中，当测试装置处于测试状态时，按压该控制按钮可以发送断开指令，当该测试装置处于关闭状态时，按压该控制按钮可以发送闭合指令。
S206、该微处理器接收该闭合指令或该断开指令。
S207、该微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器。
进一步地，该微处理器发送闭合指令或断开指令至该继电器，具体包括：
该微处理器发送该闭合指令至该继电器，并判断发送该闭合指令后的等待时长是否与该连通时长相等；
若相等，则该微处理器发送该断开指令至该继电器；
该微处理器判断发送该断开指令后的等待时长是否与该断开时长相等；
若相等，则该微处理器发送该闭合指令至该继电器，直到该微处理器发送该闭合指令或该断开指令的次数等于该通断次数。
假设连通时长为5秒，断开时长为2秒，通断次数为2次。对待测模块进行耐冲击测试，当微处理器发送闭合指令后的等待时间为5秒时，此时，微处理器发送断开指令至继电器，当发送该断开指令后的时间为2秒时，发送闭合指令，依次类推，直至发送2次闭合指令和2次断开指令为止。
这样，当对同一类型的待测模块进行耐冲击测试时，微处理器根据相同的控制参数来控制继电器的连通和断开，保证同一类型的待测模块均能按照相同的控制参数进行耐冲击测试，一方面可以简化测试过程，另一方面，由于是在相同的控制参数下测试的，将通过该耐冲击电流测试选取的模块作为该电池管理系统中的模块，该电池管理系统的耐冲击性能会更加稳定。
S208、该继电器接收该闭合指令或该断开指令，并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接，以测试该待测模块的耐冲击性能。
该待测模块为待检测耐冲击性能的模块，该待测模块为电流管理系统中的模块，如主控模块、从控模块或绝缘模块等。耐冲击性能为该待检测模块耐冲击电流冲击的性能。在实际应用中，实际功率过低或者质量不合格的待测模块耐冲击性能较差，通过对该待测模块进行耐冲击电流测试，可以选择耐冲击性能好的模块作为电池管理系统中的模块，从而避免了在该电池管理系统中使用耐冲击性能差的模块而导致冲击电流损坏该电池管理系统，进而造成产品返修率高，资源浪费的问题。
本发明实施例中，档位开关按照用户的切换操作切换档位，并将该档位所表示的控制参数的类型发送至微处理器数字开关按照该用户的调节操作，调节该控制参数的数值，并将已调节的该控制参数的数值发送至该微处理器，该微处理器将接收的该控制参数的类型和该控制参数的数值发送至显示屏；该显示屏显示该控制参数的类型和该控制参数的数值。控制按钮根据用户的操作发送闭合指令或断开指令至该微处理器，该微处理器接收该闭合指令或该断开指令，该微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器，该继电器接收该闭合指令或该断开指令，并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接，以测试该待测模块的耐冲击性能。因此，通过该微处理器控制该继电器的闭合来对待测模块进行耐冲击电流测试，从而挑选能够承受冲击电流冲击的待测模块作为电池管理系统中的模块，从而提高了在该电池管理系统的耐冲击性能，降低产品返修率高，节约资源。
作为本发明的第三个实施例，如图3所示，本发明提供的一种测试装置，图3所描述的测试装置为前述图1和图2示出的第一实施例和第二实施例的执行主体。图2示出的该测试装置主要包括：微处理器301和继电器302，各模块的具体功能如下所述。
微处理器301，用于发送闭合指令或断开指令至继电器302。
该闭合指令用于控制继电器302进行闭合，该断开指令用于控制继电器302进行断开。
继电器302，用于接收该闭合指令或该断开指令，并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接，以测试该待测模块的耐冲击性能。
该待测模块为待检测耐冲击性能的模块，该待测模块为电流管理系统中的模块，如主控模块、从控模块或绝缘模块等。耐冲击性能为该待检测模块耐冲击电流冲击的性能。
本实施例中的未尽细节，请参照图1和图2所示的第一实施例和第二实施例，在此不再赘述。
本发明实施例中，微处理器301发送闭合指令或断开指令至继电器302，继电器302接收该闭合指令或该断开指令，并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接，以测试该待测模块的耐冲击性能。因此，通过微处理器301控制继电器302的闭合来对待测模块进行耐冲击电流测试，从而挑选能够承受冲击电流冲击的待测模块作为电池管理系统中的模块，从而提高了在该电池管理系统的耐冲击性能，降低产品返修率高，节约资源。
作为本发明的第四个实施例，如图4所示，本发明提供的一种测试装置，图4所描述的测试装置为前述图1和图2示出的第一实施例和第二实施例的执行主体。图4示出的该测试装置主要包括：微处理器401、继电器402、控制按钮403、档位开关404、数字开关405和显示屏406，各模块的具体功能如下所述：
微处理器401，用于发送闭合指令或断开指令至继电器402。
该闭合指令用于控制该继电器进行闭合，该断开指令用于控制该继电器进行断开。
继电器402，用于接收该闭合指令或该断开指令，并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接，以测试该待测模块的耐冲击性能。
该待测模块为待检测耐冲击性能的模块，该待测模块为电流管理系统中的模块，如主控模块、从控模块或绝缘模块等。耐冲击性能为该待检测模块耐冲击电流冲击的性能。
进一步地，该装置还包括：
控制按钮403，用于根据用户的操作发送该闭合指令或该断开指令至该微处理器401。
微处理器401，还用于接收该闭合指令或该断开指令。
进一步地，该装置还包括：
档位开关404，用于按照该用户的切换操作切换档位，并将该档位所表示的控制参数的类型发送至微处理器401。
该控制参数为控制继电器闭合和断开的参数，该控制参数的类型包括连通时长、断开时长和通断次数，其中，连通时长为继电器402闭合的时长，该断开时长为继电器402断开的时长，该通断次数为继电器402闭合或断开的次数，其中，继电器402闭合一次且断开一次，该通断次数为一次。
优选的，档位开关包括三个档位，可以通过闭合其中一个档位来切换该控制参数的类型。即，当闭合其中一个档位时，另外两个档位为断开状态，此时，闭合的档位所表示的参数类型为当前选择的控制参数的类型。
例如，三个档位分别表示“连通时长”、“断开时长”或“通断次数”，将表示“断开时长”的档位闭合，则选择的控制参数的类型为“断开时长”。然后，将表示“通断次数”的档位闭合，此时，表示“断开时长”的档位断开，这时该控制参数的类型由“断开时长”切换到“通断次数”。
数字开关405，用于按照该用户的调节操作，调节该控制参数的数值，并将已调节的该控制参数的数值发送至该微处理器。
优选地，数字开关405为四个，每一个数字开关405都可以显示“0-9”十个数字。当切换到“通断次数”的档位开关时，四个数字开关405分别表示“个”、“十”、“百”和“千”。此时，四个数字开关405显示的数值按照“个”、“十”、“百”和“千”组合后的数值即为通断次数的数值。例如，将表示“个”、“十”、“百”和“千”的数字开关上的设置分别设置为0、2、3和1，则表示通断次数为1320次。
优选地，当档位切换到“连通时长”时，两个数字开关405可以用来设置连通时长的数值，即，两个数字开关405中的一个表示“十”，另外一个表示“个”，则该两个数字开关405显示的数字按照“个”和“十”组合后的数值即为该连通时长的数值。例如，将表示“个”和“十”的数字开关405上的设置分别设置为1和2，则表示连通时长为21秒。
进一步地，微处理器401，还用于发送该闭合指令至继电器402，并判断发送该闭合指令后的等待时长是否与该连通时长相等。
微处理器401，还用于若相等，则发送该断开指令至继电器402。
微处理器401，还用于判断发送该断开指令后的等待时长是否与该断开时长相等。
微处理器401，还用于若相等，则发送该闭合指令至继电器402，直到继电器402发送该闭合指令或该断开指令的次数等于该通断次数。
进一步地，微处理器401，还用于将接收的该控制参数的类型和该控制参数的数值发送至显示屏。
显示屏406，用于显示该控制参数的类型和该控制参数的数值。
本实施例中的未尽细节，请参照图1和图2所示的第一实施例和第二实施例，在此不再赘述。
本实施例中，档位开关404用于按照用户的切换操作切换档位，并将该档位所表示的控制参数的类型发送至微处理器401，数字开关405按照该用户的调节操作，调节该控制参数的数值，并将已调节的该控制参数的数值发送至该微处理器401，微处理器401将接收的该控制参数的类型和该控制参数的数值发送至显示屏406，显示屏406显示该控制参数的类型和该控制参数的数值。控制按钮403根据用户的操作发送闭合指令或断开指令至微处理器401，微处理器401接收该闭合指令或该断开指令，微处理器401发送闭合指令或断开指令至继电器402，继电器402接收该闭合指令或该断开指令，并根据该闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据该断开指令断开该电源与该待测模块之间的电连接，以测试该待测模块的耐冲击性能。因此，通过微处理器401控制继电器402的闭合来对待测模块进行耐冲击电流测试，从而挑选能够承受冲击电流冲击的待测模块作为电池管理系统中的模块，从而提高了在该电池管理系统的耐冲击性能，降低产品返修率高，节约资源。
在本申请所提供的多个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个模块或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信链接可以是通过一些接口，装置或模块的间接耦合或通信链接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的模块可以是或者也可以不是物理上分开的，作为模块显示的部件可以是或者也可以不是物理模块，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络模块上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一个处理模块中，也可以是各个模块单独物理存在，也可以两个或两个以上模块集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。
所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简便描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其它顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定都是本发明所必须的。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
以上为对本发明所提供的测试方法和装置的描述，对于本领域的技术人员，依据本发明实施例的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (10)
1.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：
微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器；
所述继电器接收所述闭合指令或所述断开指令，并根据所述闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据所述断开指令断开所述电源与所述待测模块之间的电连接，以测试所述待测模块的耐冲击性能。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器之前，还包括：
控制按钮根据用户的操作发送所述闭合指令或所述断开指令至所述微处理器；
所述微处理器接收所述闭合指令或所述断开指令。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述控制按钮根据用户的操作发送所述闭合指令或所述断开指令至所述微处理器之前，还包括：
档位开关按照所述用户的切换操作切换档位，并将所述档位表示的控制参数的类型发送至微处理器，所述控制参数的类型包括连通时长、断开时长和通断次数；
数字开关按照所述用户的调节操作，调节所述控制参数的数值，并将已调节的所述控制参数的数值发送至所述微处理器。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述微处理器发送闭合指令或断开指令至继电器，具体包括：所述微处理器发送所述闭合指令至所述继电器，并判断发送所述闭合指令后的等待时长是否与所述连通时长相等；
若相等，则所述微处理器发送所述断开指令至所述继电器；
所述微处理器判断发送所述断开指令后的等待时长是否与所述断开时长时长相等；
若相等，则所述微处理器发送所述闭合指令至所述继电器，直到所述微处理器发送所述闭合指令或所述断开指令的次数为所述通断次数。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述数字开关按照所述用户的调节操作，调节所述控制参数的数值，并将已调节的所述控制参数的数值发送至所述微处理器之后，还包括：
所述微处理器将接收的所述控制参数的类型和所述控制参数的数值发送至显示屏；
所述显示屏显示所述控制参数的类型和所述控制参数的数值。
6.一种测试装置，其特征在于，所述装置包括：
微处理器，用于发送闭合指令或断开指令至继电器；
所述继电器，用于接收所述闭合指令或所述断开指令，并根据所述闭合指令连通电源与待测模块之间的电连接，或根据所述断开指令断开所述电源与所述待测模块之间的电连接，以测试所述待测模块的耐冲击性能。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
控制按钮，用于根据用户的操作发送所述闭合指令或所述断开指令至所述微处理器；
所述微处理器，还用于接收所述闭合指令或所述断开指令。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
档位开关，用于按照所述用户的切换操作切换档位，并将所述档位所表示的控制参数的类型发送至微处理器，所述控制参数的类型包括连通时长、断开时长和通断次数；
数字开关，用于按照所述用户的调节操作，调节所述控制参数的数值，并将已调节的所述控制参数的数值发送至所述微处理器。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，
所述微处理器，还用于发送所述闭合指令至所述继电器，并判断发送所述闭合指令后的等待时长是否与所述连通时长相等；
所述微处理器，还用于若相等，则发送所述断开指令至所述继电器；
所述微处理器，还用于判断发送所述断开指令后的等待时长是否与所述断开时长相等；
所述微处理器，还用于若相等，则发送所述闭合指令至所述继电器，直到所述微处理器发送所述闭合指令或所述断开指令的次数所述通断次数。
10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，
所述微处理器，还用于将接收的所述控制参数的类型和所述控制参数的数值发送至显示屏；
所述显示屏，用于显示所述控制参数的类型和所述控制参数的数值。
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