CN204839112U - 一种测温准确的蒸烤箱 - Google Patents

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关建国
闫旺
吴泉
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Abstract

本实用新型公开了一种测温准确的蒸烤箱,包括有蒸烤箱本体,所述蒸烤箱本体设有蒸烤控制模块、按键模块、显示屏模块、以及设置在所述蒸烤箱本体顶部用于向下检测所述蒸烤箱本体腔内温度的红外测温模块,所述按键模块、显示屏模块、红外测温模块分别与所述蒸烤控制模块电连接,所述红外测温模块包括有红外探测器、设置在所述红外探测器前端的光学透镜、以及电连接在所述红外探测器与所述蒸烤控制模块之间的信号处理模块。本案结构简单易实现,其红外测温范围广和响应速度快,以便于蒸烤控制模块更准确的蒸烤控制。

Description

一种测温准确的蒸烤箱
[技术领域]
本实用新型涉及一种测温准确的蒸烤箱。
[背景技术]
现有的蒸烤箱都是依靠温度探头来检测蒸烤箱腔体内的温度,温度探头一般安装在蒸烤箱的内腔侧壁,在蒸烤食物时,探测的有效温度为温度探头所处位置的温度,而由于腔体空间较大,腔体内部各点温度不一致,使得温度探头所处位置的温度与腔体中央的温度会有偏差,在蒸烤食物时,控制加热的算法都是以温度探头所探测到的温度作为依据,而这样的温度探测方式不便于蒸烤箱控制模块精确的控制腔体中央的温度。
因此,有必要解决如上问题。
[实用新型内容]
本实用新型克服了上述技术的不足,提供了一种测温准确的蒸烤箱,其结构简单易实现,测温准确。
为实现上述目的,本实用新型采用了下列技术方案:
一种测温准确的蒸烤箱,包括有蒸烤箱本体100,所述蒸烤箱本体100设有蒸烤控制模块1、按键模块2、显示屏模块3、以及设置在所述蒸烤箱本体100顶部用于向下检测所述蒸烤箱本体100腔内温度的红外测温模块4,所述按键模块2、显示屏模块3、红外测温模块4分别与所述蒸烤控制模块1电连接,所述红外测温模块4包括有红外探测器41、设置在所述红外探测器41前端的光学透镜42、以及电连接在所述红外探测器41与所述蒸烤控制模块1之间的信号处理模块43。
如上所述的一种测温准确的蒸烤箱,所述红外测温模块4设置在所述蒸烤箱本体100顶部的中央。
如上所述的一种测温准确的蒸烤箱,所述光学透镜42为凸透镜。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
1、本案结构简单易实现,蒸烤控制模块通过设置在蒸烤箱本体顶部的红外测温模块来向下检测蒸烤箱本体腔内温度,其红外测温范围广和响应速度快,以便于蒸烤控制模块更准确的蒸烤控制。
2、红外测温模块设置在所述蒸烤箱本体顶部的中央,便于更准确的检测到蒸烤箱本体内被蒸烤食物及其周边的温度,以便于蒸烤控制模块更准确的蒸烤控制。
[附图说明]
图1是本实用新型的实物示意图。
图2是本实用新型的测温原理示意图。
[具体实施方式]
以下结合附图通过实施例对本实用新型特征及其它相关特征作进一步详细说明,以便于同行业技术人员的理解:
如图1-2所示,一种测温准确的蒸烤箱,包括有蒸烤箱本体100,所述蒸烤箱本体100设有蒸烤控制模块1、按键模块2、显示屏模块3、以及设置在所述蒸烤箱本体100顶部用于向下检测所述蒸烤箱本体100腔内温度的红外测温模块4,所述按键模块2、显示屏模块3、红外测温模块4分别与所述蒸烤控制模块1电连接,所述红外测温模块4包括有红外探测器41、设置在所述红外探测器41前端的光学透镜42、以及电连接在所述红外探测器41与所述蒸烤控制模块1之间的信号处理模块43。
如上所述,在本实施例中,所述红外测温模块4设置在所述蒸烤箱本体100顶部的中央。
如上所述,在本实施例中,所述光学透镜42为凸透镜,用于将蒸烤箱本体100腔内红外辐射能量汇聚到所述红外探测器41中,转换成电信号,然后通过信号处理模块43进行信号处理后得出蒸烤箱本体100内被蒸烤食物及其周边的温度,其检测准确。
如上所述,本案保护的是一种测温准确的蒸烤箱,一切与本案结构相同或相近的技术方案都应示为落入本案的保护范围内。

Claims (3)

1.一种测温准确的蒸烤箱,其特征在于包括有蒸烤箱本体(100),所述蒸烤箱本体(100)设有蒸烤控制模块(1)、按键模块(2)、显示屏模块(3)、以及设置在所述蒸烤箱本体(100)顶部用于向下检测所述蒸烤箱本体(100)腔内温度的红外测温模块(4),所述按键模块(2)、显示屏模块(3)、红外测温模块(4)分别与所述蒸烤控制模块(1)电连接,所述红外测温模块(4)包括有红外探测器(41)、设置在所述红外探测器(41)前端的光学透镜(42)、以及电连接在所述红外探测器(41)与所述蒸烤控制模块(1)之间的信号处理模块(43)。
2.根据权利要求1所述的一种测温准确的蒸烤箱,其特征在于所述红外测温模块(4)设置在所述蒸烤箱本体(100)顶部的中央。
3.根据权利要求1或2所述的一种测温准确的蒸烤箱,其特征在于所述光学透镜(42)为凸透镜。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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