CN204736210U - 一种半导体检验自动标记装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种半导体检验自动标记装置,包括显微镜、检验平台、底座、移动板、直线电机、丝杠、标记组件,直线电机通过丝杠带动移动板做直线运动,设定直线电机转动角度,使得每操作一下第一按钮或第二按钮,移动板带动显微镜移动的距离等于两个晶圆体之间间距,当操作人员发现有焊线不合格的晶圆体时,按下第三按钮,直线电机带动标记组件移动至焊线不合格的晶圆体正上方,气缸带动标记笔向下移动对晶圆体进行标记,当标记笔触发行程开关后,气缸带动标记笔向上运动,同时直线电机带动移动板返回至初始位置。该装置结构简单,自动对焊线不合格的晶圆体进行标记,操作人员不会发生漏标记或重复标记,大大降低操作人员劳动强度。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种标记装置,尤其涉及一种半导体检验自动标记装置。
背景技术
目前,在半导体生产时,需要检验晶圆体焊线是否合格,并对检验不合格的晶圆体进行标记,传统标记方法为手动使用记号笔对检验不合格的晶圆体进行标记,当操作人员发现不合格品时,需要手动移动存放晶圆体的框架并标记,由于分布在框架上的晶圆体数量众多,长时间工作后,操作人员不仅容易出现漏标记或重复标记,而且生产效率低,劳动强度大。鉴于上述缺陷,实有必要设计一种半导体检验自动标记装置。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题在于:提供一种半导体检验自动标记装置,来解决手工标记时,操作人员容易漏标记或重复标记,劳动强度大的问题。
为解决上述技术问题,本实用新型的技术方案是:
一种半导体检验自动标记装置,包括显微镜、检验平台、底座、移动板、直线电机、丝杠、标记组件,所述的移动板位于底座上端,所述的移动板与底座滑动相连,所述的直线电机位于移动板下表面右侧,所述的直线电机与移动板螺纹相连,所述的丝杠贯穿直线电机,所述的丝杠与直线电机螺纹相连且与底座转动相连,所述的标记组件还包括支架、气缸、套管、导柱、标记笔、行程开关,所述的支架位于移动板上表面右侧上端,所述的支架与移动板螺纹相连,所述的气缸位于支架下端,所述的气缸与支架螺纹相连,所述的套管位于气缸下端,所述的套管与气缸螺纹相连,所述的导柱位于套管下端,所述的导柱与套管螺纹相连,所述的标记笔位于导柱外壁两侧,所述的标记笔与导柱焊接相连,所述的行程开关位于支架中部,所述的行程开关与支架螺纹相连,所述标记笔与套管采用螺纹连接,操作人员可以方便快捷的将标记笔取下。
本实用新型进一步的改进如下:
进一步的,所述的底座上表面上下两侧设有滑轨,所述的滑轨与底座螺纹相连。
进一步的,所述的移动板下表面上下两侧设有滑块,所述滑块与移动板螺纹相连。
进一步的,所述的移动板上表面还设有第一按钮、第二按钮、第三按钮,所述的第一按钮与移动板螺纹相连,所述的第二按钮与移动板螺纹相连,所述的第三按钮与移动板螺纹相连,所述第一按钮用于控制直线电机正转,所述第二按钮用于控制直线电机反转,所述的第三按钮用于控制标记组件动作。
进一步的,所述的标记笔顶部还设有塞头,所述的塞头与标记笔紧配相连,当标记笔内油墨用尽时,打开塞头可以向标记笔内添加油墨。
进一步的,所述的塞头还设有排气孔,所述的排气孔贯穿塞头主体,所述排气孔用于连通标记笔内腔与大气。
进一步的,所述的标记笔还设有笔芯,所述的笔芯位于标记笔内部,且所述的笔芯贯穿标记笔底部,所述的笔芯与标记笔紧配相连。
与现有技术相比,该半导体检验自动标记装置,工作时,直线电机通过丝杠带动移动板做直线运动,设定直线电机转动角度,使得每操作一下第一按钮或第二按钮,移动板带动显微镜移动的距离等于两个晶圆体之间的间距,当操作人员发现有焊线不合格的晶圆体时,按下第三按钮,直线电机带动标记组件移动至焊线不合格的晶圆体正上方,气缸带动标记笔向下移动对晶圆体进行标记,当标记笔触发行程开关后,气缸带动标记笔向上运动,同时直线电机带动移动板返回至初始位置。该装置结构简单,自动对焊线不合格的晶圆体进行标记,操作人员不会发生漏标记或重复标记情况,大大降低操作人员劳动强度,提高检验效率及正确率。
附图说明
图1示出本实用新型轴测图
图2示出本实用新型移动板仰视图
图3示出本实用新型标记笔剖视图
显微镜 1 检验平台 2
底座 3 移动板 4
直线电机 5 丝杠 6
标记组件 7 滑轨 301
滑块 401 第一旋钮 402
第二按钮 403 第三按钮 404
支架 701 气缸 702
套管 703 导柱 704
标记笔 705 行程开关 706
塞头 707 排气孔 708
笔芯 709
具体实施方式
如图1、图2、图3所示,一种半导体检验自动标记装置,包括显微镜1、检验平台2、底座3、移动板4、直线电机5、丝杠6、标记组件7,所述的移动板4位于底座3上端,所述的移动板4与底座3滑动相连,所述的直线电机5位于移动板4下表面右侧,所述的直线电机5与移动板4螺纹相连,所述的丝杠6贯穿直线电机5,所述的丝杠6与直线电机5螺纹相连且与底座转动相连,所述的标记组件7还包括支架701、气缸702、套管703、导柱704、标记笔705、行程开关706,所述的支架701位于移动板4上表面右侧上端,所述的支架701与移动板4螺纹相连,所述的气缸702位于支架701下端,所述的气缸702与支架701螺纹相连,所述的套管703位于气缸702下端,所述的套管703与气缸702螺纹相连,所述的导柱704位于套管703下端,所述的导柱704与套管703螺纹相连,所述的标记笔位705于导柱704外壁两侧,所述的标记笔705与导柱704焊接相连,所述的行程开关706位于支架701中部,所述的行程开关706与支架701螺纹相连,由于采用螺纹连接,操作人员可以方便快捷的将标记笔705取下,所述的底座3上表面上下两侧设有滑轨301,所述的滑轨301与底座3螺纹相连,所述的移动板4下表面上下两侧设有滑块401,所述滑块401与移动板4螺纹相连,所述的移动板4上表面还设有第一按钮402、第二按钮403、第三按钮404,所述的第一按钮402与移动板4螺纹相连,所述的第二按钮403与移动板4螺纹相连,所述的第三按钮403与移动板4螺纹相连,所述第一按钮402用于控制直线电机5正转,所述第二按钮403用于控制直线电机5反转,所述的第三按钮404用于控制标记组件7动作,所述的标记笔705顶部还设有塞头707,所述的塞头707与标记笔705紧配相连,当标记笔705内油墨用尽时,打开塞头707可以向标记笔内添加油墨,所述的塞头707还设有排气孔708,所述的排气孔708贯穿塞头707主体,所述排气孔708用于连通标记笔705内腔与大气,所述的标记笔705还设有笔芯709,所述的笔芯709位于标记笔705内部,且所述的笔芯709贯穿标记笔705底部,所述的笔芯709与标记笔705紧配相连,该半导体检验自动标记装置,工作时,直线电机5通过丝杠6带动移动板4做直线运动,设定直线电机5转动角度,使得每操作一下第一按钮402或第二按钮403,移动板5带动显微镜1移动的距离等于两个晶圆体之间的间距,当操作人员发现有焊线不合格的晶圆体时,按下第三按钮404,直线电机5带动标记组件7移动至焊线不合格的晶圆体正上方,气缸702带动标记笔705向下移动对晶圆体进行标记,当标记笔705触发行程开关706后,气缸702带动标记笔705向上运动,同时直线电机5带动移动板4返回至初始位置。该装置结构简单,自动对焊线不合格的晶圆体进行标记,操作人员不会发生漏标记或重复标记情况,大大降低操作人员劳动强度,提高检验效率及正确率。
本实用新型不局限于上述具体的实施方式,本领域的普通技术人员从上述构思出发,不经过创造性的劳动,所做出的种种变换,均落在本实用新型的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种半导体检验自动标记装置,包括显微镜、检验平台、底座,其特征在于还包括移动板、直线电机、丝杠、标记组件,所述的移动板位于底座上端,所述的移动板与底座滑动相连,所述的直线电机位于移动板下表面右侧,所述的直线电机与移动板螺纹相连,所述的丝杠贯穿直线电机,所述的丝杠与直线电机螺纹相连且与底座转动相连,所述的标记组件还包括支架、气缸、套管、导柱、标记笔、行程开关,所述的支架位于移动板上表面右侧上端,所述的支架与移动板螺纹相连,所述的气缸位于支架下端,所述的气缸与支架螺纹相连,所述的套管位于气缸下端,所述的套管与气缸螺纹相连,所述的导柱位于套管下端,所述的导柱与套管螺纹相连,所述的标记笔位于导柱外壁两侧,所述的标记笔与导柱焊接相连,所述的行程开关位于支架中部,所述的行程开关与支架螺纹相连。
2.如权利要求1所述的半导体检验自动标记装置,其特征在于所述的底座上表面上下两侧设有滑轨,所述的滑轨与底座螺纹相连。
3.如权利要求2所述的半导体检验自动标记装置,其特征在于所述的移动板下表面上下两侧设有滑块,所述滑块与移动板螺纹相连。
4.如权利要求3所述的半导体检验自动标记装置,其特征在于所述的移动板上表面还设有第一按钮、第二按钮、第三按钮,所述的第一按钮与移动板螺纹相连,所述的第二按钮与移动板螺纹相连,所述的第三按钮与移动板螺纹相连。
5.如权利要求4所述的半导体检验自动标记装置,其特征在于所述的标记笔顶部还设有塞头,所述的塞头与标记笔紧配相连。
6.如权利要求5所述的半导体检验自动标记装置,其特征在于所述的塞头还设有排气孔,所述的排气孔贯穿塞头主体。
7.如权利要求6所述的半导体检验自动标记装置,其特征在于所述的标记笔还设有笔芯,所述的笔芯位于标记笔内部,且所述的笔芯贯穿标记笔底部,所述的笔芯与标记笔紧配相连。
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