CN204631081U - 一种长、短针治具共享的测试主机 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及PCB测试技术领域，公开了一种长、短针治具共享的测试主机，该测试主机包括主机壳体、上卡箱、下卡箱、下卡箱上限位开关、下卡箱下限位开关、上针床和下针床；所述上卡箱和下卡箱平行安装在主机壳体上，下卡箱能够上下滑动；上卡箱上安装有上针床，下卡箱上安装有下针床，上针床和下针床两者位置相对应；测试时，长针治具或短针治具通过长针治具支架或短针治具支架安装在上针床和下针床上。本实用新型结构简单、测试效率高且使用方便、可靠，并能满足多种治具类型的测试。
Description
技术领域
本实用新型涉及PCB测试技术领域，更具体的说，特别涉及一种长、短针治具共享的测试主机。
背景技术
在PCB测试领域的发展中，由于PCB板的种类非常多，包括单板、双面板、多层板、HDI板(中低阶、高阶)等，其对应的测试机就会出现不同密度的测试机，同一密度的测试机根据不同治具结构(长针治具和短针治具)，可以测试不同密度的板子，由于长针治具的斜率与短针治具的相比比较小，所以可以做更高密度的板。由于目前长针治具主机与短针治具主机的治具安装方式和下卡箱的上升行程不同，所以形成了两个不同类型的主机，这样就造成了很大的浪费。其一：由于对市场上长、短针治具测试机需求调研不明确，导致生产运营备货不能精准，会导致大量备货呆滞，造成库存压力；其二：由于PCB板密度不同而采用不同密度的测试机，造成测试机密度种类繁多，治具密度的种类相应繁多，增加运营成本。
发明内容
本实用新型的目的在于针对现有技术存在的技术问题，提供一种长、短针治具共享的测试主机，其结构简单、测试效率高且使用方便、可靠，并能同时满足多种治具类型的测试。
为了解决以上提出的问题，本实用新型采用的技术方案为：
一种长、短针治具共享的测试主机，该测试主机包括主机壳体、上卡箱、下卡箱、下卡箱上限位开关、下卡箱下限位开关、上针床和下针床；
所述上卡箱和下卡箱平行安装在主机壳体上，下卡箱能够上下滑动；上卡箱上安装有上针床，下卡箱上安装有下针床，上针床和下针床两者位 置相对应；测试时，长针治具或短针治具通过长针治具支架或短针治具支架安装在上针床和下针床上。
所述主机壳体还安装有下卡箱上限位开关和下卡箱下限位开关。
所述主机壳体上还安装有下卡箱零点位传感器。
所述长针治具支架或短针治具支架的结构完全相同；长针治具支架分为上模支架和下模支架，其中上模支架的上模支架底板和下模支架的下模支架底板中部都加工有开口，两者的上端面都安装有Y方向微调机构、XY方向合成微调机构和至少两组长针治具锁紧机构，两组长针治具锁紧机构位于所述开口相对的两侧，Y方向微调机构和XY方向合成微调机构也位于所述开口相对的两侧。
所述上模支架底板和下模支架底板上加工有导正销孔，两者开口的外沿上设置有长针治具导向销。
所述上模支架底板上端面的两端加工有台阶，台阶面上安装有耐磨件；下模支架底板的两端侧面上安装有下模支架搬运手柄。
所述Y方向微调机构和XY方向合成微调机构的顶部向外延伸形成卡台，两者卡台的位置相对应。
所述上模支架底板和下模支架底板两者沿开口长度方向相对的两侧分别设置有两组长针治具锁紧机构，Y方向微调机构和XY方向合成微调机构分别位于各自一侧的两组长针治具锁紧机构之间。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：
(1)本实用新型通过设置原点位，来确定机台是长针结构或者是短针结构，然后匹配对应的治具架构来进行测试，这样机台种类比较单一，根据需求设置不同的出货类型，降低生产运营在库存方面的呆滞风险；并可以配备长、短针两套或多套治具，也可以根据PCB板的密度来选择长针或短针治具类型以及治具的层数多少，这样可以节省板材应用成本，也能节约一定量的钻孔工时，即测试效率高且使用方便、可靠。
(2)本实用新型的长针治具支架通过在上模支架和下模支架的底板上开口，可以压、套固定治具，并在底板上加装治具锁紧构件，可以把治具与底板形成一个整体，便利于治具的嫁接，提高治具的操作便捷性；同时在底板上增加微调机构，一方面，避免再进行螺钉的拆、装，提高微调机构与治具浮动板的对接效率，另一方面可以对PCB板的Pad的实际偏位情况进行纠偏调节，提高治具在测试应用中的对位精度。
附图说明
图1为本实用新型长、短针治具共享的测试主机的结构示意图。
图2为本实用新型长针治具支架中上模支架的结构示意图。
图3为本实用新型长针治具支架中下模支架的结构示意图。
图4为本实用新型上模支架与长针治具配合的结构示意图。
图5为本实用新型上模支架与长针治具配合到位的结构示意图。
图6为本实用新型下模支架与长针治具配合的结构示意图。
图7为本实用新型下模支架与长针治具配合到位的结构示意图。
附图标记说明：10-主机壳体、11-主机上卡箱、12-主机下卡箱、130-下卡箱零点位传感器、141-下卡箱上限位开关、142-下卡箱下限位开关、21-上针床、22-下针床、410-上长针治具支架、420-下长针治具支架、500-长针治具、610-上短针治具支架、620-下短针治具支架、700-短针治具、100-上模支架底板、110-耐磨件、120-耐磨件固定螺钉、200-下模支架底板、210-下模支架搬运手柄、310-Y方向微调机构、320-XY方向合成微调机构、330-长针治具锁紧机构、340-长针治具导向销、350-导正销孔、400-长针治具
具体实施方式
为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳实施例。但是，本实用新型 可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。
参阅图1所示，本实用新型提供的一种长、短针治具共享的测试主机，该测试主机包括主机壳体10、上卡箱11、下卡箱12、下卡箱上限位开关141、下卡箱下限位开关142、上针床21和下针床22；
所述上卡箱11和下卡箱12平行安装在主机壳体10上，下卡箱12能够上下滑动。上卡箱11上安装有与之配合的上针床21，下卡箱12上安装有与之配合的下针床22，上针床21和下针床22两者位置相对应。主机壳体10还安装有下卡箱上限位开关141和下卡箱下限位开关142，用于对下卡箱12进行限位。主机壳体10上还安装有下卡箱零点位传感器130，用于调整长针治具或短针治具的原点位。
上述中，测试长针治具时，将长针治具支架安装在上针床21和下针床22上，长针治具支架上设置有匹配的长针治具。测试短针治具时，将短针治具支架安装在上针床21和下针床22上，短针治具支架上设置有匹配的短针治具。根据主机壳体100上的下卡箱零点位传感器130，再根据长针治具或短针治具间压合与离开时的可设定行程，也就是放、取被测试PCB时的操作空间，设定为长针治具或短针治具的原点位。
上述中，长针治具的原点位与短针治具的原点位相对于下卡箱零点位的相对距离是不一样的，因此需要进行调整。
上述中，由于测试主机的电子卡(即应用针床的弹簧针)密度是一定的，根据装配长针治具可以测试高密度的PCB板，长针治具的钢针斜率可 以做的更大，但长针治具的层数相应的比较多，对消层间距高容易造成钢针短路，其成本相对比较高。而装配短针治具可以测试密度相应低的PCB板，短针治具的钢针的斜率相对长针治具就比较小，但两者的外形结构是相同的，只是高度不相同。而测试主机上治具的安装机构也都是相同的，只是下卡箱的原点位不同，因此可以进行选定对应的原点位，进而确定相应的结构类型。
所述长针治具支架和短针治具支架两者的结构完全一致，均分为上模支架和下模支架两部分。下面以长针治具支架为例，如附图2和图3所示，上模支架的上模支架底板100和下模支架的下模支架底板200的中部都加工有方形开口，能够与长针治具400相匹配。两者的上端面都安装有Y方向微调机构310、XY方向合成微调机构320和至少两组长针治具锁紧机构330。
本实施例中，所述上模支架底板100和下模支架底板200两者沿开口长度方向相对的两侧分别设置有两组长针治具锁紧机构330，其中一侧还设置有Y方向微调机构310，另一侧设置有与Y方向微调机构310位置相对应的XY方向合成微调机构320，Y方向微调机构310和XY方向合成微调机构320分别位于各自一侧的两组长针治具锁紧机构330之间。
上述中，上模支架底板100和下模支架底板200上设置有长针治具导向销340，还加工有与针床浮动板对位的导正销孔350。本实施例中，采用六个长针治具导向销340对称设置于开口长边的外沿，导正销孔350采用四个对称设置，并位于长针治具锁紧机构330和底板边缘之间。
上述中，上模支架底板100上端面的两端加工有台阶，耐磨件110通过耐磨件固定螺钉120安装在上模支架底板100的台阶面上，有利于保证上模支架安装在外围主机上的稳定性。下模支架底板200的两端侧面上安装有下模支架搬运手柄，方便搬运下模支架。
上述中，Y方向微调机构310和XY方向合成微调机构320的顶部向外 延伸形成卡台，两者卡台的位置相对应。
本实用新型的安装操作过程如下：
如图4～图7所示，安装之前，先把上模支架和下模支架上长针治具锁紧机构330的锁紧件分别由两边向中间位推动，使其形成开启状态。再将上模支架底板100和下模支架底板200的开口向匹配的长针治具400由上向下方向套，在长针治具导向销340作用下将长针治具400套平之后。Y方向微调机构310和XY方向合成微调机构320两者顶部的卡台将长针治具400的顶部压紧。
最后再把上模支架和下模支架上的长针治具锁紧机构330分别由中间位两边方向推动，使其呈锁紧状态。这样便形成一套完整的长针应用测试治具，可以装在长针结构的测试机上进行应用，即分别将上模支架和下模支架上下安装在测试机上，可以实现对长针治具400上端面和下端面进行测试，通过Y方向微调机构310和XY方向合成微调机构320微调长针治具400，保证长针治具400的Pad位与测试钢针位置相对应。
上述实施例为本实用新型较佳的实施方式，但本实用新型的实施方式并不受上述实施例的限制，其他的任何未背离本实用新型的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化，均应为等效的置换方式，都包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种长、短针治具共享的测试主机，其特征在于：该测试主机包括主机壳体(10)、上卡箱(11)、下卡箱(12)、下卡箱上限位开关(141)、下卡箱下限位开关(142)、上针床(21)和下针床(22)；
所述上卡箱(11)和下卡箱(12)平行安装在主机壳体(10)上，下卡箱(12)能够上下滑动；上卡箱(11)上安装有上针床(21)，下卡箱(12)上安装有下针床(22)，上针床(21)和下针床(22)两者位置相对应；测试时，长针治具或短针治具通过长针治具支架或短针治具支架安装在上针床(21)和下针床(22)上。
2.根据权利要求1所述的长、短针治具共享的测试主机，其特征在于：所述主机壳体(10)还安装有下卡箱上限位开关(141)和下卡箱下限位开关(142)。
3.根据权利要求1所述的长、短针治具共享的测试主机，其特征在于：所述主机壳体(10)上还安装有下卡箱零点位传感器(130)。
4.根据权利要求1所述的长、短针治具共享的测试主机，其特征在于：所述长针治具支架或短针治具支架的结构完全相同；长针治具支架分为上模支架和下模支架，其中上模支架的上模支架底板(100)和下模支架的下模支架底板(200)中部都加工有开口，两者的上端面都安装有Y方向微调机构(310)、XY方向合成微调机构(320)和至少两组长针治具锁紧机构(330)，两组长针治具锁紧机构(330)位于所述开口相对的两侧，Y方向微调机构(310)和XY方向合成微调机构(320)也位于所述开口相对的两侧。
5.根据权利要求4所述的长、短针治具共享的测试主机，其特征在于：所述上模支架底板(100)和下模支架底板(200)上加工有导正销孔(350)，两者开口的外沿上设置有长针治具导向销(340)。
6.根据权利要求4所述的长、短针治具共享的测试主机，其特征在于：所述上模支架底板(100)上端面的两端加工有台阶，台阶面上安装有耐磨件(110)；下模支架底板(200)的两端侧面上安装有下模支架搬运手柄。
7.根据权利要求4所述的长、短针治具共享的测试主机，其特征在于：所述Y方向微调机构(310)和XY方向合成微调机构(320)的顶部向外延伸形成卡台，两者卡台的位置相对应。
8.根据权利要求4所述的长、短针治具共享的测试主机，其特征在于：所述上模支架底板(100)和下模支架底板(200)两者沿开口长度方向相对的两侧分别设置有两组长针治具锁紧机构(330)，Y方向微调机构(310)和XY方向合成微调机构(320)分别位于各自一侧的两组长针治具锁紧机构(330)之间。
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| CN201520194778.0U CN204631081U (zh) | 2015-04-02 | 2015-04-02 | 一种长、短针治具共享的测试主机 |
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| CN204631081U true CN204631081U (zh) | 2015-09-09 |
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| CN (1) | CN204631081U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105424984A (zh) * | 2015-10-30 | 2016-03-23 | 大族激光科技产业集团股份有限公司 | 通用短针、微针夹具 |
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2015
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