CN204461315U - 盲孔深度测量工具 - Google Patents

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徐金荣
李晓峰
崔洪坤
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Weifang Zhong Tai Alloy Material Co Ltd
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Weifang Zhong Tai Alloy Material Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种盲孔深度测量工具,包括指示表,所述指示表的下端设有轴套,所述轴套内套设有量杆,所述指示表的下部设有定位柱,所述定位柱沿轴向贯通设有定位孔,所述轴套的下端插入所述定位孔内,所述量杆的下端与所述定位柱的下端面平齐;所述定位柱的下端配合设有校对柱,所述校对柱沿轴向贯通设有插孔,所述插孔内设有检测杆,所述检测杆的上端与所述量杆螺纹连接,所述检测杆的下端伸出所述插孔;所述检测杆的下方设有用于对齐调零的基准平板。本实用新型采用相对测量法,经过一次调整后可进行相同产品的批量检测,测量快速准确,测量效率高。

Description

盲孔深度测量工具
技术领域
本实用新型涉及测量工具技术领域,尤其涉及一种盲孔深度测量工具。
背景技术
在盲孔的加工过程中,盲孔的深度是加工是否合格的重要指标。目前,公知的圆柱盲孔或锥孔深度测量工具是深度尺,使用常规的深度尺测量时,需要将深度尺从孔中拿出进行观察,读出测量尺寸,既测量不精确,也不适合大批量产品的深度测量,耗费大量的测量时间,测量效率较低,造成人力浪费,测量成本较高。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种能够快速且准确测量盲孔深度,特别适于批量检测的盲孔深度测量工具。
为解决上述技术问题,本实用新型的技术方案是:盲孔深度测量工具,包括指示表,所述指示表的下端设有轴套,所述轴套内套设有量杆,所述指示表的下部设有定位柱,所述定位柱沿轴向贯通设有定位孔,所述轴套的下端插入所述定位孔内,所述量杆的下端与所述定位柱的下端面平齐;所述定位柱的下端配合设有校对柱,所述校对柱沿轴向贯通设有插孔,所述插孔内设有检测杆,所述检测杆的上端与所述量杆螺纹连接,所述检测杆的下端伸出所述插孔;所述检测杆的下方设有用于对齐调零的基准平板。
作为优选的技术方案,所述定位柱与所述轴套之间设有锁紧螺钉。
作为对上述技术方案的改进,所述检测杆的下端伸出所述插孔1~2mm。
作为对上述技术方案的改进,所述指示表为百分表或千分表。
由于采用了上述技术方案,盲孔深度测量工具,包括指示表,所述指示表的下端设有轴套,所述轴套内套设有量杆,所述指示表的下部设有定位柱,所述定位柱沿轴向贯通设有定位孔,所述轴套的下端插入所述定位孔内,所述量杆的下端与所述定位柱的下端面平齐;所述定位柱的下端配合设有校对柱,所述校对柱沿轴向贯通设有插孔,所述插孔内设有检测杆,所述检测杆的上端与所述量杆螺纹连接,所述检测杆的下端伸出所述插孔;所述检测杆的下方设有用于对齐调零的基准平板;本实用新型具有以下有益效果:通过校对柱在基准平板的平面上将检测杆对零后,然后将校对柱移除,再通过检测杆进行盲孔的深度相对测量,通过指示表的读数检测得到被测盲孔的深度偏差,采用相对测量法使得测量快速准确,测量效率高,省时省力,特别适于相同产品的批量检测。
附图说明
以下附图仅旨在于对本实用新型做示意性说明和解释,并不限定本实用新型的范围。其中:
图1是本实用新型实施例的结构示意图;
图2是本实用新型实施例的立体示意图。
图中:100-指示表;110-轴套;120-量杆;200-定位柱;210-定位孔;220-下端面;300-校对柱;310-插孔;400-检测杆;500-基准平板;600-锁紧螺钉。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,进一步阐述本实用新型。在下面的详细描述中,只通过说明的方式描述了本实用新型的某些示范性实施例。毋庸置疑,本领域的普通技术人员可以认识到,在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下,可以用各种不同的方式对所描述的实施例进行修正。因此,附图和描述在本质上是说明性的,而不是用于限制权利要求的保护范围。
如图1和图2所示,盲孔深度测量工具,包括指示表100,所述指示表100的下端设有轴套110,所述轴套110内套设有量杆120,所述指示表100的下部设有定位柱200,所述定位柱200与所述轴套110之间设有锁紧螺钉600;所述定位柱200沿轴向贯通设有定位孔210,所述轴套110的下端插入所述定位孔210内,所述量杆120的下端与所述定位柱200的下端面220平齐;所述定位柱200的下端配合设有校对柱300,所述校对柱300沿轴向贯通设有插孔310,所述插孔310内设有检测杆400,所述检测杆400的上端与所述量杆120螺纹连接,所述检测杆400的下端伸出所述插孔310;所述检测杆400的下方设有用于对齐调零的基准平板500,所述基准平板500的上、下端面均为水平的基准平面。本实施例中,所述指示表100采用百分表,当然也可以采用千分表。
参考图1,本实用新型的使用方法如下:
(1)装配:先拧下百分表100测头,把百分表100的轴套110部分插入定位柱200的定位孔210内,通过锁紧螺钉600在轴套110的适当位置紧固,使量杆120的下端与定位柱的200的下端面220对齐,然后把检测杆400稳固的拧接在百分表100的量杆120上;
(2)测量:把装配好的检测杆400插入校对柱300的插孔310内,使检测杆400的下端露出插孔310的高度H为1~2mm,将检测杆400放在基准平板500上对零,然后把对零后的检侧杆400插入被测孔内进行读数,此读数即为被测孔深度与校对柱300长度的差值。例如:被测孔孔径为Ф4.0mm,深度要求为52±0.05mm,则校对柱的长度为52±0.005mm,用校对柱在基准平板上对零后再进行盲孔深度测量,检测杆上部的百分表读数即为被测盲孔的深度偏差。
本实用新型采用相对测量法,经过一次调整后可进行相同产品的批量检测,测量快速准确,测量效率高。
以上所述仅为本实用新型示意性的具体实施方式,并非用以限定本实用新型的范围。任何本领域的技术人员,在不脱离本实用新型的构思和原则的前提下所作出的等同变化与修改,均应属于本实用新型保护的范围。

Claims (4)

1.盲孔深度测量工具,包括指示表,所述指示表的下端设有轴套,所述轴套内套设有量杆,其特征在于:所述指示表的下部设有定位柱,所述定位柱沿轴向贯通设有定位孔,所述轴套的下端插入所述定位孔内,所述量杆的下端与所述定位柱的下端面平齐;所述定位柱的下端配合设有校对柱,所述校对柱沿轴向贯通设有插孔,所述插孔内设有检测杆,所述检测杆的上端与所述量杆螺纹连接,所述检测杆的下端伸出所述插孔;所述检测杆的下方设有用于对齐调零的基准平板。
2.如权利要求1所述的盲孔深度测量工具,其特征在于:所述定位柱与所述轴套之间设有锁紧螺钉。
3.如权利要求2所述的盲孔深度测量工具,其特征在于:所述检测杆的下端伸出所述插孔1~2mm。
4.如权利要求1、2或3所述的盲孔深度测量工具,其特征在于:所述指示表为百分表或千分表。
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