CN204359822U - 一种用于pcb板的测试夹具 - Google Patents

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陈雨君
王立
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Abstract

一种用于PCB板的测试夹具,包括固定组件、移动组件;固定组件由支架、测试载片、夹手固定座组成;支架的底板上设有测试载片,支架竖直板的内侧面上部设有夹手固定座,且支架竖直板的上部关于夹手固定座对称设有两导轨固定块;移动组件由夹手、上针模板、导轨、轴承组成;夹手竖直配合在夹手固定座上,夹手下端的夹手光轴水平连接有上针模板;上针模板内端的两拐角处均设有轴承,两轴承内均动配合有导轨;导轨的一端与导轨固定块固定,其另一端与支架底板固定;在上针模板的前端设有测试区孔,在测试区孔上配合设有射频探针;使用时,被测件放置在测试载片上,上针模板的测试区孔及射频探针根据被测件设置,通过夹手下压上针模板进行测试。

Description

一种用于PCB板的测试夹具
技术领域
本实用新型属于PCB测试领域,具体涉及一种用于PCB板的测试夹具。
背景技术
目前,市场上有许多通用的PCB板测试夹具,价格低廉但是可靠性低。主要存在以下的问题:(1)常用的PCB板测试夹具的射频探针是指同轴的尾部带法兰的、或者是具有固定尺寸的射频探针,很难满足被测试PCB板的要求;(2)在实际测试中,PCB板的焊盘形式有可能是矩形焊盘的形式或者只是一些点的形式,信号焊盘附近由于当初PCB板设计的问题没有GND的焊盘,相邻的两个射频的测试点之间的间距比较近,传统意义上的射频探针要么是无法使得探针的GND和PCB的GND接上导致测试不可靠,要么是射频探针的GND和测试的射频焊盘接触上导致短路无法测试甚至毁坏被测试印制板,要么就是射频探针的尾部由于相互之间间距太近而发生干涉出现无法安装射频探针的问题;(3)射频探针的技术一般是国外垄断,国外的射频探针寿命更加可靠,但是价格特别的昂贵,对于测试来讲,测试的通用性一般非常低;(4)市面上的测试夹具一般很难考虑到整个测试夹具和我们的被测件之间的接地问题,快速夹手也是货架产品的多,行程大都比较短或比较笨重,不太适合被测件的测试以及调试的过程。
实用新型内容
为解决现有PCB板测试夹具存在的问题,本实用新型设计了一种用于PCB板的测试夹具。
 一种用于PCB板的测试夹具,包括固定组件、移动组件;
所述固定组件由支架1、测试载片7、夹手固定座12组成;所述支架1为纵截面呈“L”状的板件,其底板上设有测试载片7,其支架竖直板11的内侧面上部设有呈矩形框状的夹手固定座12;所述支架竖直板11的内侧面上部还水平设有两导轨固定块13,且两导轨固定块13关于夹手固定座12对称设置;
所述移动组件由夹手2、上针模板6、导轨3、轴承4组成;所述夹手2竖直配合固定在夹手固定座12上;所述夹手2的上端部为夹手手把21,夹手手把21的下端通过销钉连接有夹手光轴22,且夹手光轴22的底端伸向支架1底板;所述夹手光轴22的底端连接有上针模板6,且上针模板6与测试载片7平行设置;所述上针模板6内端的两拐角处均竖直设有轴承4,且两轴承4内均动配合有导轨3;所述导轨3的一端与对应的导轨固定块13固定,导轨3的另一端与支架1底板固定;
所述上针模板6的前端设有与测试载片7对应的测试区孔61,在测试区孔61上配合设有一个以上的射频探针5;
使用时,被测件71放置在测试载片7上,上针模板6的测试区孔61及射频探针5根据被测件71设置,通过夹手2下压上针模板6进行测试。
所述射频探针5分为探头51、传输组件、测试组件;所述探头51呈圆柱体状,其型号为SMA-KFB2-CS-L,且在探头51的底端连接有传输组件;
所述传输组件由上热缩套管52、半柔线53、下热缩套管57和信号传输体56组成;所述上热缩套管52和下热缩套管57均呈“凸”字形的环体状,上热缩套管52的内端口插设有半柔线53,半柔线53的一端与探头51接触,半柔线53的另一端设在下热缩套管57的端口内;所述下热缩套管57的下端口内配合有呈圆柱状的信号传输体56,在信号传输体56的底端连接有测试组件;
所述测试组件由探针套54、探针55组成;所述探针套54配合连接在固定在信号传输体56的底端,且在探针套54的中部套孔内配合设有探针55,且探针55的一端向下伸出。
所述测试载片7无器件干涉上方的测试区孔61上还设有一个以上的固定探针8,固定探针8与射频探针5配合使用。
所述传输组件的总长度L为100mm-500mm,其信号传输体56的长度L1为17mm;所述探针套54的材质为聚四氟乙烯,探针套54的长度为10.5mm、直径为2.4mm;所述探针55的直径为0.48mm-0.68mm。
所述射频探针5匹配至50Ω阻抗。
本实用新型的有益技术效果:
(1)本实用新型采用快速夹手的结构,把手和光轴之间采用销钉连接,行程可通过设计避免了过去采用货架产品的快速夹手行程小、下压力小以及无法调整的缺陷;
(2)本实用新型设计了50Ω阻抗匹配的射频探针,良好保证了传输性能与测试器件和仪表测试系统阻抗达到良好的匹配,能够最大限度的反应被测试载片的实际使用状况;同时实现了小间距焊盘的PCB板的测试,为大批量的PCB板的可靠连续得测试提供了有力保障;
(3)本实用新型的测试射频探针也为同轴,但是不带法兰,尺寸亦可以根据测试探针来定制,灵活性很强,使得测试更加可靠;下端探针的直径可更换,一般能够满足大多数PCB板信号点的间距,且接地也可以就近灵活布置;
(4)本实用新型的成本低,且通用性较高,测试效果良好,延长了测试寿命并且更换比较方便;
(5)本实用新型由金属制作而成,接地可靠,行程高低可调节,能够满足各种测试的情况。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为图1中I的局部放大图。
图3为本实用新型的射频探针示意图。
图4为本实用新型上拉时的结构示意图。
图5为本实用新型未安装射频探针和固定探针的结构示意图。
上图中序号:支架1、支架竖直板11、夹手固定座12、导轨固定块13、夹手2、夹手手把21、夹手光轴22、导轨3、轴承4、射频探针5、探头51、上热缩套管52、半柔线53、探针套54、探针55、信号传输体56、下热缩套管57、上针模板6、测试区孔61、测试载片7、被测件71、固定探针8、连接器安装板9。
具体实施方式
参见图1,一种用于PCB板的测试夹具,包括固定组件、移动组件;
所述固定组件由支架1、测试载片7、夹手固定座12组成;所述支架1为纵截面呈“L”状的板件,其底板上设有测试载片7,其支架竖直板11的内侧面上部设有呈矩形框状的夹手固定座12;所述支架竖直板11的内侧面上部还水平设有两导轨固定块13,且两导轨固定块13关于夹手固定座12对称设置;
所述移动组件由夹手2、上针模板6、导轨3、轴承4、组成;所述夹手2竖直配合固定在夹手固定座12上;所述夹手2的上端部为夹手手把21,夹手手把21的下端通过销钉连接有夹手光轴22,且夹手光轴22的底端伸向支架1底板;所述夹手光轴22的底端连接有上针模板6,且上针模板6与测试载片7平行设置;所述上针模板6内端的两拐角处均竖直设有轴承4,且两轴承4内均动配合有导轨3;所述导轨3的一端与对应的导轨固定块13固定,导轨3的另一端与支架1底板固定;
参见图2、图5,所述上针模板6的前端两侧面上竖直设有两对应的连接器安装板9,在两连接器安装板9之间的上针模板6上设有与测试载片7对应的测试区孔61,且在测试区孔61上配合设有一个以上的射频探针5;
参见图4,使用时,被测件71放置在测试载片7上,上针模板6的测试区孔61及射频探针5根据被测件71设置,通过夹手2下压上针模板6进行测试。
参见图3,所述射频探针5分为探头51、传输组件、测试组件;所述探头51呈圆柱体状,其型号为SMA-KFB2-CS-L,探头51的上端设有导线并与测试系统连接, 探头51的底端连接有传输组件;
所述传输组件由上热缩套管52、半柔线53、下热缩套管57和信号传输体56组成;所述上热缩套管52和下热缩套管57均呈“凸”字形的环体状,上热缩套管52的内端口插设有半柔线53,半柔线53的一端与探头51接触,半柔线53的另一端设在下热缩套管57的端口内;所述下热缩套管57的下端口内配合有呈圆柱状的信号传输体56,在信号传输体56的底端连接有测试组件;
所述测试组件由探针套54、探针55组成;所述探针套54配合连接在固定在信号传输体56的底端,且在探针套54的中部套孔内配合设有探针55,且探针55的一端向下伸出。
所述测试载片7无器件干涉上方的测试区孔61上还设有一个以上的固定探针8,固定探针8与射频探针5配合使用。
所述传输组件的总长度L为100mm-500mm,其信号传输体56的长度L1为17mm;所述探针套54的材质为聚四氟乙烯,探针套54的长度为10.5mm、直径为2.4mm;所述探针55的直径为0.48mm-0.68mm。
所述射频探针5匹配至50Ω阻抗。

Claims (5)

1.一种用于PCB板的测试夹具,其特征在于:包括固定组件、移动组件;
所述固定组件由支架(1)、测试载片(7)、夹手固定座(12)组成;所述支架(1)为纵截面呈“L”状的板件,其底板上设有测试载片(7),其支架竖直板(11)的内侧面上部设有呈矩形框状的夹手固定座(12);所述支架竖直板(11)的内侧面上部还水平设有两导轨固定块(13),且两导轨固定块(13)关于夹手固定座(12)对称设置;
所述移动组件由夹手(2)、上针模板(6)、导轨(3)、轴承(4)组成;所述夹手(2)竖直配合固定在夹手固定座(12)上;所述夹手(2)的上端部为夹手手把(21),夹手手把(21)的下端通过销钉连接有夹手光轴(22),且夹手光轴(22)的底端伸向支架(1)底板;所述夹手光轴(22)的底端连接有上针模板(6),且上针模板(6)与测试载片(7)平行设置;所述上针模板(6)内端的两拐角处均竖直设有轴承(4),且两轴承(4)内均动配合有导轨(3);所述导轨(3)的一端与对应的导轨固定块(13)固定,导轨(3)的另一端与支架(1)底板固定;
所述上针模板(6)的前端设有与测试载片(7)对应的测试区孔(61),在测试区孔(61)上配合设有一个以上的射频探针(5);
使用时,被测件(71)放置在测试载片(7)上,上针模板(6)的测试区孔(61)及射频探针(5)根据被测件(71)设置,通过夹手(2)下压上针模板(6)进行测试。
2.根据权利要求1所述的一种用于PCB板的测试夹具,其特征在于:所述射频探针(5)分为探头(51)、传输组件、测试组件;所述探头(51)呈圆柱体状,其型号为SMA-KFB2-CS-L,且在探头(51)的底端连接有传输组件;
所述传输组件由上热缩套管(52)、半柔线(53)、下热缩套管(57)和信号传输体(56)组成;所述上热缩套管(52)和下热缩套管(57)均呈“凸”字形的环体状,上热缩套管(52)的内端口插设有半柔线(53),半柔线(53)的一端与探头(51)接触,半柔线(53)的另一端设在下热缩套管(57)的端口内;所述下热缩套管(57)的下端口内配合有呈圆柱状的信号传输体(56),在信号传输体(56)的底端连接有测试组件;
所述测试组件由探针套(54)、探针(55)组成;所述探针套(54)配合连接固定在信号传输体(56)的底端,且在探针套(54)的中部套孔内配合设有探针(55),且探针(55)的一端向下伸出。
3.根据权利要求1或2所述的一种用于PCB板的测试夹具,其特征在于:所述测试载片(7)无器件干涉上方的测试区孔(61)上还设有一个以上的固定探针(8),固定探针(8)与射频探针(5)配合使用。
4.根据权利要求2所述的一种用于PCB板的测试夹具,其特征在于:所述传输组件的总长度L为100mm-500mm,其信号传输体(56)的长度L1为17mm;所述探针套(54)的材质为聚四氟乙烯,探针套(54)的长度为10.5mm、直径为2.4mm;所述探针(55)的直径为0.48mm-0.68mm。
5.根据权利要求1或2所述的一种用于PCB板的测试夹具,其特征在于:所述射频探针(5)匹配至50Ω阻抗。
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