CN204330832U - 一种测试探针组件 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种测试探针组件，测试探针组件包括测试探针和金手指，金手指包括对端连接的插入部和固定部，固定部的截面尺寸大于插入部的截面尺寸，进而在插入部与固定部的连接处形成阶梯面，测试探针包括探针本体，探针本体的一端为中空设计，进而与插入部进行接插配合，探针本体的一端支撑于阶梯面上。通过以上公开内容，本实用新型可解决目前的探针组装比较困难，对通孔的加工要求较高，且上电不稳定的技术问题。

Description

一种测试探针组件

技术领域

本实用新型涉及电子测控技术领域，特别是涉及一种测试探针组件。

背景技术

在生产印刷电路板的过程中需要对印刷电路板进行电性测试，以判断印刷电路板各组件的电性参数(例如阻值、容值或感抗等)是否合乎标准。

常见的印刷电路板的测试方式是在印刷电路板上设置测试点，将锡膏印刷于测试点表面，通过自动化测试设备或在线测试设备，以探针直接接触测试点的锡膏部位以取得相关的电性参数。

目前的在线测试设备中的探针组装比较困难，对通孔的加工要求较高，且上电不稳定。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型实施例提供了一种测试探针组件，以解决上述技术问题。

本实用新型提供一种测试探针组件，测试探针组件包括测试探针和金手指，金手指包括对端连接的插入部和固定部，固定部的截面尺寸大于插入部的截面尺寸，进而在插入部与固定部的连接处形成阶梯面，测试探针包括探针本体，探针本体的一端为中空设计，进而与插入部进行接插配合，探针本体的一端支撑于阶梯面上。

其中，测试探针进一步包括弹性件和探针头，探针本体沿其轴向设置有通腔，探针本体的内壁设置有第一支撑部，第一支撑部将通腔分隔成分别与探针本体的两端连通的第一容置腔和第二容置腔，第一容置腔用于接收金手指，弹性件设置于第二容置腔内且弹性件的一端支撑于第一支撑部上，探针头部分设置于第二容置腔内，且支撑于弹性件的另一端上。

其中，第一容置腔内设置有向内挤压探针本体而形成的至少两个凸部，至少两个凸部用于夹持固定金手指。

其中，探针头在沿其轴向的推力作用下可使得弹性件收缩，从而令测试探针的长度缩短。

其中，第一支撑部为向内挤压探针本体而形成的第一凸缘或形成于探针本体的内壁上的阶梯结构。

其中，探针头包括针杆以及设置于针杆一端的针柄，其中针柄的截面尺寸大于针杆的截面尺寸，针柄设置于第二容置腔内，探针本体的内壁设置有第二支撑部，第二支撑部用于将针柄限定在第二容置腔内。

其中，第二支撑部为向内挤压探针本体而形成的第二凸缘。

其中，弹性件为金属弹簧。

其中，第一容置腔的轴向长度设置为小于金手指的插入长度，使得金手指的一端插入第二容置腔并与第二容置腔内的金属弹簧接触。

通过上述技术方案，本实用新型实施例提供了一种测试探针组件，通过将探针本体的一端设计为中空，进而与金手指进行接插配合，从而以解决目前的探针组装比较困难，对通孔的加工要求较高，且上电不稳定的技术问题。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型一种测试探针实施例的立体示意图；

图2是本实用新型一种测试探针实施例的剖视图；

图3是本实用新型一种测试探针组件实施例在组装完成前的立体示意图；

图4是本实用新型一种测试探针组件实施例在组装完成前的剖视图；

图5是本实用新型一种测试探针组件实施例在组装完成后的立体示意图；

图6是本实用新型一种测试探针组件实施例在组装完成后的剖视图；

图7是本实用新型一种测试探针组件实施例在探针头受力压缩后的立体示意图；

图8是本实用新型一种测试探针组件实施例在探针头受力压缩后的剖视图；

图9是本实用新型一种测试探针组件实施例的分解示意图；

图10是本实用新型一种测试平台第一实施例的结构示意图；以及

图11是本实用新型一种测试平台第二实施例的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型实施例提供一种测试探针，以下请一并参见图1和图2，其中图1是本实用新型一种测试探针实施例的立体示意图，图2是本实用新型一种测试探针实施例的剖视图。

如图1和图2所示，在本实用新型测试探针实施例中，测试探针30包括探针本体301、弹性件302和探针头303，其中探针本体301的一端为中空设计，进而与金手指40(于下文会详细介绍)进行接插配合。

具体可参见图2，探针本体301沿其轴向设置有通腔，探针本体301的内壁设置有第一支撑部304，第一支撑部304将通腔分隔成分别与探针本体301的两端连通的第一容置腔305和第二容置腔306，第一容置腔305用于接收金手指40，弹性件302设置于第二容置腔306内且弹性件302的一端支撑于第一支撑部304上，探针头303部分设置于第二容置腔306内，且支撑于弹性件302的另一端上。

探针头303具体包括针杆3031以及设置于针杆3031一端的针柄3032，其中针柄3032的截面尺寸大于针杆3031的截面尺寸，针柄3032设置于第二容置腔306内，探针本体301的内壁设置有第二支撑部308，第二支撑部308用于将针柄3032限定在第二容置腔306内。

因此，探针头303的针柄3032及弹性件302被限位于第二容置腔306内，在针杆3031的另一端受到沿探针本体301轴向且向探针头303的针柄3032方向的压力的作用时，弹性件302收缩，使得探针头303向第一支撑部304运动，从而令测试探针30的长度缩短，同时由于弹性件302具有弹性，因此针杆3031的另一端会与施加压力的物件紧密抵靠。

以下请进一步参见图3至图6，图3是本实用新型一种测试探针组件实施例在组装完成前的立体示意图，图4是本实用新型一种测试探针组件实施例在组装完成前的剖视图，图5是本实用新型一种测试探针组件实施例在组装完成后的立体示意图，图6是本实用新型一种测试探针组件实施例在组装完成后的剖视图。

如图3和图4所示，在测试探针组件实施例中，测试探针组件包括图1和图2所揭示的测试探针30和金手指40，金手指40包括对端连接的插入部401和固定部402，固定部402的截面尺寸大于插入部401的截面尺寸，进而在插入部401与固定部402的连接处形成阶梯面403，探针本体301的第一容置腔305可沿图3和图4中箭头所示方向与金手指40的插入部401进行插接，且在插接后，阶梯面403可与探针本体301的一端抵靠。

如图5和图6所示，测试探针30插接于金手指40的插入部401以完成组装后，探针本体301的一端支撑于阶梯面403上，由于金手指40的固定部402固定于电路板，因此，阶梯面403可顶抵探针本体301的一端，从而使得测试探针30在受到沿测试探针30轴向向金手指40的力的作用时，能够与金手指40保持相对固定。可选地，金手指40可设置为插入第一容置腔305，并与第二容置腔中的弹性件302接触，弹性件302可为导电体，从而可增加测试探针30的可导电面积。

请进一步参见图7和图8，图7是本实用新型一种测试探针组件实施例在探针头受力压缩后的立体示意图，图8是本实用新型一种测试探针组件实施例在探针头受力压缩后的剖视图。在完成组装后，当探针头303在沿探针头303轴向的推力(如图中箭头所示)的作用下可使得弹性件302收缩，从而令测试探针30的长度缩短，同时由于弹性件302收缩后会产生弹力并作用于探针头303，因此可使得探针头303的顶端可与与其接触的施力物体紧密抵靠。

在生产测试探针30时，可在探针本体301的相应位置上，通过向内挤压探针本体301形成的第一凸缘，从而获得第一支撑部304，同理，通过向内挤压探针本体301形成的第二凸缘，从而获得第二支撑部308。

可选地，也可在探针本体301的内壁上形成阶梯结构，从而获得第一支撑部304，其中阶梯结构可通过冲压等方式实现。

并请参见图9，图9是本实用新型一种测试探针组件实施例的分解示意图，如图9所示，探针本体301、弹性件302、探针头303组成测试探针30，测试探针30可插拔固定于金手指40，从而组成测试探针组件，在本实用新型实施例中，探针本体301、弹性件302、探针头303以及金手指40均为导电金属，且弹性件302优选为金属弹簧。

请再次参见图8，优选地，在本实用新型实施例中，第一容置腔305的轴向长度设置为小于金手指40的插入长度，使得金手指40的一端插入第二容置腔306并与第二容置腔306内的金属弹簧接触。此时，测试探针组件的导电路径具体可为：“探针头303-探针本体301-金手指40”以及“探针头303-金属弹簧-金手指40”，由于金手指40的一端与金属弹簧接触，因此本实施方式可以增加额外一条“探针头303-金属弹簧-金手指40”的导电路径，从而可以使得通过测试探针组件的电流增大，以提高测试精度。

进一步地，由于第一容置腔305需要容置金手指40的插入部401，因此探针本体301的截面尺寸要比金手指40的插入部401大，另外由于针柄3032和针杆3031容纳于探针本体301内的第二容置腔306，在探针本体301的截面尺寸增大时，针柄3032和针杆3031的截面尺寸也可相应做大，从而可以提高测试探针30的结构强度，并增大可流过针杆3031的电流量，从而可进一步提高测试精度。

并请继续参见图1至图10，第一容置腔305内设置有向内挤压探针本体301而形成的至少两个凸部，至少两个凸部用于夹持固定金手指40。其中该凸部可为环形凸部304和点状凸部307，其中环形凸部304即为第一支撑部304，第一支撑部304除起到支撑弹性件302的作用外还可以夹持固定金手指40的插入部401。

由于只需将探针本体301的第一容置腔306与金手指40进行插置，即可完成测试探针组件的组装，且组装完成后，由于阶梯面403及凸部的作用，可夹持固定测试探针，因此本实用新型提供的测试探针组件具有组装简单、牢固的优点。

本实用新型实施例还提供测试平台的种实施方式，具体可参见图10，图10是本实用新型一种测试平台第一实施例的结构示意图，如图10所示，测试平台包括信号检测电路板50、测试探针30、金手指40、针板60、载板80以及待测电路板70，金手指40固定于信号检测电路板50上，信号检测电路板50固定设置在针板60上，针板60上设置有通孔601，测试探针30包括探针本体301和探针头303，探针本体301的一端为中空设计，进而与金手指40进行接插配合，测试探针30穿置并部分突出于通孔601，待测电路板70设置在载板80上相对测试探针30的一侧，探针头303设置在探针本体301的另一端，针板60相对于载板80运动，使得探针头303与待测电路板70上的测试点连接，从而在信号检测电路板50与待测电路板70之间建立电连接。

在本实施例中，具体可采用液压驱动装置驱动针板60相对于载板80运动，当然，在本领域技术人员所能理解的范围内，也可以采用如步进电机等其他的驱动方式，本实用新型对此不作具体限定。

优选地，在本实用新型实施例中，针杆3031与针柄3032方向相反的一端可设置成圆锥形状，以便于与待测电路板70上的测试点进行接触，值得注意的是，在本实用新型的备选实施方式中，针杆3031与针柄3032方向相反的一端也可设置成与待测电路板70上的测试点相匹配的其他形状。

进一步地，请参见图11，图11是本实用新型一种测试平台第二实施例的结构示意图，与测试平台第一实施例相比，本实施例的测试平台进一步包括设备仪器90，信号检测电路板50上设置有接口501，设备仪器90通过连接线902与信号检测电路板50连接，其中连接线902分别与设备仪器接口901和信号检测电路板50的接口502相连，以使得设备仪器90可对待测电路板70的测试点进行信号检测，举例而言，设备仪器90可为示波器、计算机终端等设备。

值得注意的是，本实用新型测试平台第一和第二实施例中所采用的测试探针30和金手指40具体可采用上文图1至图7及其对应描述所述的测试探针30和金手指40，于此不作赘述。

本实用新型实施例所揭示金手指40可通过焊接方式固定到信号检测电路板50上，具体如图10和图11所示，可将金手指40的固定部402插置于信号检测电路板50的插孔501上，并在信号检测电路板50上相对于测试探针30的表面上进行焊接固定，由于本实用新型实施例所揭示的金手指40包括对端连接的插入部401和固定部402，其为条状设置，因此在焊接时无需担心焊锡渗入金手指40内部从而造成插置于其上的测试探针30精度不足的问题发生。

因此，通过上述公开内容，本实用新型实施例提供了一种测试探针、测试探针组件及测试平台，通过将探针本体的一端为设计中空，进而与金手指进行接插配合，从而以解决目前的探针组装比较困难，对通孔的加工要求较高，且上电不稳定的技术问题。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种测试探针组件，其特征在于，所述测试探针组件包括测试探针和金手指，所述金手指包括对端连接的插入部和固定部，所述固定部的截面尺寸大于所述插入部的截面尺寸，进而在所述插入部与所述固定部的连接处形成阶梯面，所述测试探针包括探针本体，所述探针本体的一端为中空设计，进而与所述插入部进行接插配合，所述探针本体的一端支撑于所述阶梯面上。

2.根据权利要求1所述的测试探针组件，其特征在于，所述测试探针进一步包括弹性件和探针头，所述探针本体沿其轴向设置有通腔，所述探针本体的内壁设置有第一支撑部，所述第一支撑部将所述通腔分隔成分别与所述探针本体的两端连通的第一容置腔和第二容置腔，所述第一容置腔用于接收所述金手指，所述弹性件设置于所述第二容置腔内且所述弹性件的一端支撑于所述第一支撑部上，所述探针头部分设置于所述第二容置腔内，且支撑于所述弹性件的另一端上。

3.根据权利要求2所述的测试探针组件，其特征在于，所述第一容置腔内设置有向内挤压所述探针本体而形成的至少两个凸部，所述至少两个凸部用于夹持固定所述金手指。

4.根据权利要求2所述的测试探针组件，其特征在于，所述探针头在沿其轴向的推力作用下可使得所述弹性件收缩，从而令所述测试探针的长度缩短。

5.根据权利要求2所述的测试探针组件，其特征在于，所述第一支撑部为向内挤压所述探针本体而形成的第一凸缘或形成于所述探针本体的内壁上的阶梯结构。

6.根据权利要求2所述的测试探针组件，其特征在于，所述探针头包括针杆以及设置于所述针杆一端的针柄，其中所述针柄的截面尺寸大于所述针杆的截面尺寸，所述针柄设置于所述第二容置腔内，所述探针本体的内壁设置有第二支撑部，所述第二支撑部用于将所述针柄限定在所述第二容置腔内。

7.根据权利要求6所述的测试探针组件，其特征在于，所述第二支撑部为向内挤压所述探针本体而形成的第二凸缘。

8.根据权利要求6所述的测试探针组件，其特征在于，所述弹性件为金属弹簧。

9.根据权利要求8所述的测试探针组件，其特征在于，所述第一容置腔的轴向长度设置为小于所述金手指的插入长度，使得所述金手指的一端插入所述第二容置腔并与所述第二容置腔内的金属弹簧接触。