CN204302386U - 探针寿命测试仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种探针寿命测试仪，属于电子设备技术领域。该结构的探针寿命测试仪包括曲柄机构、测试针固定机构和千分表，能够利用千分表精确测量每次弹簧探针的压缩量，进而能够测量出每根探针电阻，从而快速确定其使用寿命，且本实用新型的探针寿命测试仪结构简单，成本低廉，应用也相当方便。
Description
技术领域
本发明涉及电子设备技术领域，特别涉及芯片测试探测检测设备技术领域，具体是指一种探针寿命测试仪。
背景技术
在芯片测试之前，一般要先验证弹簧测试针的使用寿命和电阻。一般的测试设备多是接触针1000或5000次，再去单根测试针的电阻，一次只能测量一个针的电阻。这样就浪费很多时间去测量针的电阻，验证针性能的时间就相应的变长，而开发出能快速测量每根针的电阻就变得很有必要。
发明内容
本发明的目的是克服了上述现有技术中的缺点，提供一种能快速测量每根探针电阻，从而确定其使用寿命，且结构简单，成本低廉，应用方便的探针寿命测试仪。
为了实现上述的目的，本发明的探针寿命测试仪具有如下构成：
该探针寿命测试仪包括曲柄机构、测试针固定机构和千分表。其中所述的曲柄机构包括：减速器、偏心调整座和基座，所述的减速器连接于该偏心调整座，所述的偏心调整座可在基座凹槽内滑动，使该偏心调整座与所述基座中心不在一条轴线上，所述的偏心调整座与所述基座中心最大相距距离为d，且所述的偏心调整座顺序通过连杆、上连接杆和上滑座连接银块，该银块可在所述的偏心调整座的驱动下随所述的上滑座沿导轨上下移动，且上下移动的距离为2d，且所述的银块通过电阻仪测试线连接电阻仪。所述的测试针固定机构包括：下滑座、测试头基板和测试头，所述的测试头基板固定于所述的下滑座上，所述的测试头设置于所述的测试头基板上，所述的下滑座可沿所述的导轨上下移动，并通过锁紧装置固定所述的下滑座与导轨之间的位置。所述的千分表通过千分表导杆接触所述的上连接杆。
该探针寿命测试仪还包括光电传感器，所述的光电传感器设置于靠近所述偏心调整座的位置。
该探针寿命测试仪还包括弹簧，所述的千分表通过所述的千分表导杆接触所述的上连接杆的一端，该上连接杆的另一端通过上导杆连接于上底座，所述的弹簧套设于所述的上导杆外并位于所述的上连接杆与所述的上底座之间。
采用了该发明的探针寿命测试仪包括曲柄机构、测试针固定机构和千分表，能够利用千分表精确测量每次弹簧探针的压缩量，进而能够测量出每根探针电阻，从而快速确定其使用寿命，且本实用新型的探针寿命测试仪结构简单，成本低廉，应用也相当方便。
附图说明
图1为本发明的探针寿命测试仪的结构示意图。
图2为图1中H-H截面的截面图。
图3为图2中A部分的局部放大示意图。
标号及名称对照表：
1安装平板、2偏心调整座、3基座、4连杆、5上滑座、6下滑座、7测试头基板、8银块、9导轨、10上连接杆、11上底座、12千分表底座、13下连接杆、14下底座、15调整螺杆、16上导杆、17导向块、18千分表导杆、19第一轴用挡圈、20第二轴用挡圈、21光电传感器、22减速器固定座、23轴盖、24第三轴用挡圈、25第四轴用挡圈、26连接轴、27减速器、28锁紧装置、29下滑块、30上滑块、31千分表、32弹簧、33轴盖、34测试头、35电阻仪测试线、36调整螺栓、37固定环。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本发明的技术内容，特举以下实施例详细说明。
在一种实施方式中，如图1、2、3所示，该探针寿命测试仪包括曲柄机构、测试针固定机构和千分表31。其中，所述的曲柄机构包括：减速器27、偏心调整座2和基座3，所述的减速器27连接于该偏心调整座2，所述的偏心调整座2可在基座3的凹槽内滑动，使该偏心调整座2与所述基座3中心不在一条轴线上，所述的偏心调整座2与所述基座3中心最大相距距离为d，且所述的偏心调整座2顺序通过连杆4、上连接杆10和上滑座5连接银块8，该银块8可在所述的偏心调整座2的驱动下随所述的上滑座5沿导轨9上下移动，且银块8上下移动的距离为2d，且所述的银块8通过电阻仪测试线35连接电阻仪。所述的测试针固定机构包括：下滑座6、测试头基板7和测试头34，所述的测试头基板7固定于所述的下滑座6上，所述的测试头34设置于所述的测试头基板7上，所述的下滑座6可沿所述的导轨9上下移动，并通过锁紧装置28固定所述的下滑座6与导轨9之间的位置。所述的千分表31通过千分表导杆18接触所述的上连接杆10。
在一种优选的实施方式中，该探针寿命测试仪还包括光电传感器21，所述的光电传感器21设置于靠近所述偏心调整座2的位置。
在更优选的实施方式中，该探针寿命测试仪还包括弹簧32，所述的千分表31通过所述的千分表导杆18接触所述的上连接杆10的一端，该上连接杆10的另一端通过上导杆16连接于上底座11，所述的弹簧32套设于所述的上导杆16外并位于所述的上连接杆10与所述的上底座11之间。
在实际应用中，本发明是基于曲柄滑块机构演变而来，主要由偏心调整座2、基座3、减速器固定座22、上滑座5、下滑座6和导轨9等组成。银块8的下压距离主要靠偏心调整座2控制，通过旋动调整螺栓36，让其偏心调整座2在基座3凹槽内自由滑动，使其偏心调整座2与基座3中心不在一条轴线上，中心相距距离为d，则银块8上下移动的距离为2d。当调整好偏心距离之后，手动旋动基座3寻找银块8的最低点，本发明中测试片30水平向右即是银块的最低位置。此时，装上数显千分表31，其千分表的测试导杆18接触上连接杆10，上连接杆10固定在上滑座5上，将千分表31归零，然后旋动基座3后，让其转过一定的角度，千分表显示旋动基座3转过一定角度后银块8向下移动的距离。然后旋动调整螺杆15，使其下滑座6在导轨9上向上滑动，当装有弹簧针的测试头34，弹簧针尖刚刚接触到银块8时，停止旋动调整螺杆15，利用锁紧装置28将其固定在导轨9上，保证测试时下滑座6不能随意滑动。此时千分表显示的值即是弹簧针的每次下压压缩距离。其次，此发明中使用光电传感器21来记录旋转的圈数。采用高精度的电阻仪来测量弹簧针的电阻，并能一次读取弹簧针的电阻值。为了减小上滑座5在导轨上摆动，使用弹簧32来平衡，有效地减少了滑座的晃动。
相较于现有的探针寿命测试设备，本发明的有益之处在于：结构简单，使用方便，测试时间短，测量精度较高，且能满足绝大多数弹簧针的压缩量。
采用了该发明的探针寿命测试仪包括曲柄机构、测试针固定机构和千分表，能够利用千分表精确测量每次弹簧探针的压缩量，进而能够测量出每根探针电阻，从而快速确定其使用寿命，且本实用新型的探针寿命测试仪结构简单，成本低廉，应用也相当方便。
在此说明书中，本发明已参照其特定的实施例作了描述。但是，很显然仍可以作出各种修改和变换而不背离本发明的精神和范围。因此，说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的。
Claims (3)
1.一种探针寿命测试仪，其特征在于，包括曲柄机构、测试针固定机构和千分表；其中，
所述的曲柄机构包括：减速器、偏心调整座和基座，所述的减速器连接于该偏心调整座，所述的偏心调整座可在基座凹槽内滑动，使该偏心调整座与所述基座中心不在一条轴线上，所述的偏心调整座与所述基座中心最大相距距离为d，且所述的偏心调整座顺序通过连杆、上连接杆和上滑座连接银块，该银块可在所述的偏心调整座的驱动下随所述的上滑座沿导轨上下移动，且上下移动的距离为2d，且所述的银块通过电阻仪测试线连接电阻仪；
所述的测试针固定机构包括：下滑座、测试头基板和测试头，所述的测试头基板固定于所述的下滑座上，所述的测试头设置于所述的测试头基板上，所述的下滑座可沿所述的导轨上下移动，并通过锁紧装置固定所述的下滑座与导轨之间的位置；
所述的千分表通过千分表导杆接触所述的上连接杆。
2.根据权利要求1所述的探针寿命测试仪，其特征在于，还包括光电传感器，所述的光电传感器设置于靠近所述偏心调整座的位置。
3.根据权利要求1或2所述的探针寿命测试仪，其特征在于，还包括弹簧，所述的千分表通过所述的千分表导杆接触所述的上连接杆的一端，该上连接杆的另一端通过上导杆连接于上底座，所述的弹簧套设于所述的上导杆外并位于所述的上连接杆与所述的上底座之间。
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|---|---|---|---|---|
| CN111504765A (zh) * | 2020-05-08 | 2020-08-07 | 强一半导体（苏州）有限公司 | 一种mems钯合金探针测试装置及其关键结构和方法 |
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2014
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