CN204027531U - 一种玻璃零件平面度检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及玻璃零件领域，尤其涉及一种玻璃零件平面度检测设备，玻璃零件平面度检测设备包括用于放置待检测玻璃零件的支撑架、投光灯组、摄影机组及中央处理器；所述投光灯组位于所述支撑架上方，用于发射光源并将所发射的光源投射到待检测玻璃零件的外表面上；所述摄影机组位于所述支撑架斜上方处，用以对支撑架上的待检测玻璃零件表面撷取影像；所述中央处理器与所述摄影机组电连接，用以根据摄影机组对玻璃零件取像的数据资料加以分析；所述支撑架的下方设置有用于带动所述支撑架旋转的驱动系统。通过该平面度检测设备可以实测到回转体玻璃灯罩各个方位的数据，并且体积较小，结构紧凑，适用范围广。

Description

一种玻璃零件平面度检测设备

技术领域

本实用新型涉及玻璃零件领域，尤其涉及一种玻璃零件平面度检测设备。

背景技术

现有技术中所使用的玻璃零件，因制造过程中杂质残留、刮伤或生产工艺等情况，有些会出现表面平整度不佳的问题，特别是呈回转体状的玻璃零件，表面平整度不佳的情况更是时有发生，有可能对使用玻璃零件的产品产生不好的影响。故该行业对玻璃零件这类的基材品质要求甚高，故基材制造后，均会再利用一组检测设备进行检测，以确保基材的品质。

目前检测设备对玻璃零件进行检测，通常利用设备中的CCD摄影机配合投光灯组对玻璃零件进行取像；然后将影像资料传输至系统主机，经系统主机的分析判断，检测该玻璃零件表面平整度及是否有刮痕等现象，并提供玻璃零件生产作业的警示功能，于异常玻璃零件上标示记号，以利于品质管理人员对异常玻璃零件的处理，用以确保玻璃零件的品质及玻璃零件后续加工作业。

但是，现有技术中的检测设备主要以CCD摄影机配合投光灯组对玻璃零件表面进行取像，现有的玻璃零件检测设备的检测能力除CCD摄影机的解析能力外，对于CCD摄影机是否位于最佳取像位置及相对投光灯组的反光角度，均会影响其取像效果。因此，无法供使用者依不同表面类型的玻璃零件或取像清晰度作调整，以致使该检测设备的检测能力无法达到最佳化。

现有技术中的检测设备还有的CCD摄影机可以依不同表面类型的玻璃零件或取像清晰度作调整，以使该检测设备的检测能力达到最佳化。但是，这种设备通常体积都比较大，结构不紧凑，适用范围受限；并且不能检测待玻璃零件各个方位的数据。

针对以上问题，亟需要一种新的玻璃零件平面度检测设备，以解决现有技术中存在的不能检测玻璃零件各个方位的数据，并且体积较大，结构不紧凑，适用范围受限的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种玻璃零件平面度检测设备，该检测设备能检测玻璃零件各个方位的数据，并且体积较小，结构紧凑，适用范围广。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种玻璃零件平面度检测设备，包括用于放置待检测玻璃零件的支撑架、投光灯组、摄影机组及中央处理器；

所述投光灯组位于所述支撑架上方，用于发射光源并将所发射的光源投射到待检测玻璃零件的外表面上；

所述摄影机组位于所述支撑架斜上方处，用以对支撑架上的待检测玻璃零件表面撷取影像；

所述中央处理器与所述摄影机组电连接，用以根据摄影机组对玻璃零件取像的数据资料加以分析；

所述支撑架的下方设置有用于带动所述支撑架旋转的驱动系统。

作为优选，所述驱动系统为步进电机。

作为优选，所述摄影机组包括摄影机及定位架，所述摄影机安装在所述定位架上，所述摄影机的镜头可相对于所述定位架进行旋转。

作为优选，所述摄影机为CCD工业相机。

作为优选，所述投光灯组包括灯具及定位架，所述灯具包括至少一投光灯及套设于投光灯外侧用以限制其投光范围的灯罩，所述投光灯组通过所述定位架设于所述支撑架及回转体玻璃灯罩的上方。

作为优选，所述投光灯为LED灯。

作为优选，所述支撑架与所述投光灯组之间设置有用于屏蔽数据信号的隔离板。

作为优选，所述中央处理器与摄影机组之间电连接。

作为优选，所述玻璃零件平面度检测设备设置在架体上，所述架体由若干个纵向架杆及若干个横向架杆纵横相接组设而成，所述架体上设有用以提供玻璃零件平整导入的导轨。

本实用新型的有益效果为：本实用新型提供一种玻璃零件平面度检测设备，由于其包括用于放置待检测玻璃零件的支撑架、投光灯组、摄影机组及中央处理器；所述投光灯组位于所述支撑架上方，用于发射光源并将所发射的光源投射到待检测玻璃零件的外表面上；所述摄影机组位于所述支撑架斜上方处，用以对支撑架上的待检测玻璃零件表面撷取影像；所述中央处理器与所述摄影机组电连接，用以根据摄影机组对玻璃零件取像的数据资料加以分析；所述支撑架的下方设置有用于带动所述支撑架旋转的驱动系统。所以通过该平面度检测检测设备可以实测到回转体玻璃灯罩各个方位的数据，并且体积较小，结构紧凑，适用范围广。

附图说明

图1是本实用新型提供的玻璃零件平面度检测设备的结构示意图；

图2是本实用新型提供的玻璃零件平面度检测设备的一种优选方式的结构示意图；

图3是本实用新型提供的设置在架体上的玻璃零件平面度检测设备的结构示意图。

其中：

10、支撑架；20、驱动系统；30、投光灯组；40、摄影机组；50、中央处理器；60、隔离板；70、架体；80、导轨；

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

如图1所示，本实用新型提供的玻璃零件平面度检测设备包括支撑架10、驱动系统20、投光灯组30、摄影机组40及中央处理器50。

本实用新型提供的玻璃零件平面度检测设备既可以对回转体玻璃零件进行检测，判断回转体玻璃零件的平面度，也可以对平面玻璃零件或其它形状的玻璃零件进行检测，判断玻璃零件的平面度。本申请以检测回转体玻璃灯罩为例对该检测设备进行介绍。

所述支撑架10用于放置待检测的玻璃零件。所述支撑架10的上表面优选为平面状。

所述摄影机组40定位于支撑架10斜上方处，用以对支撑架10上的回转体玻璃灯罩表面撷取影像。

于本实施例中，作为优选，所述摄影机组40包括摄影机及定位架。摄影机安装在定位架上，并且摄影机的镜头朝向支撑架10上的回转体玻璃灯罩。所述摄影机的镜头可相对于所述定位架进行旋转调整，进而改变其相对回转体玻璃灯罩的取像角度，用以对回转体玻璃灯罩表面撷取影像。

于本实施例中，作为进一步的优选方案，所述摄影机为CCD工业相机，该相机完全可读到回转体玻璃灯罩边界线的数据。但所述摄影机并不局限于此，还可以为其它类型的相机。

所述投光灯组30位于支撑架10上方，投光灯组30发出的光源可投射到回转体玻璃灯罩外平面上，形成可捕捉的一个区域。

于本实施例中，作为优选方案，所述投光灯组30包括灯具及定位架。灯具包括至少一投光灯及套设于投光灯外侧用以限制其投光范围的灯罩。投光灯组30通过定位架设于支撑架10及回转体玻璃灯罩的上方，用以由上而下对回转体玻璃灯罩特定范围投光照明，以利摄影机组40对回转体玻璃灯罩的取像。

于本实施例中，作为优选方案，所述投光灯为LED灯。但所述投光灯并不局限于此，还可以为其它类型的投光灯。

所述驱动系统20位于所述支撑架10的下方，用于带动所述支撑架10旋转，进而带动所述支撑架10上的待检测回转体玻璃灯罩旋转。通过该方案，可以实测到回转体玻璃灯罩各个方位的数据。

于本实施例中，所述驱动系统20可以带动所述支撑架10进行分度旋转或者等份旋转。

于本实施例中，作为优选方案，所述驱动系统为步进电机。但所述驱动系统并不局限于此，还可以为其它类型的驱动系统。

所述中央处理器50与摄影机组40构成电性连接，用以根据摄影机组40对回转体玻璃灯罩取像的数据资料加以分析判断，求出回转体玻璃灯罩的平面度，进而判断回转体玻璃灯罩是否有瑕疵。

于本实施例中，作为优选方案，如图2所示，所述中央处理器50与摄影机组40及投光灯组30均构成电性连接，用以控制投光灯组30以及根据摄影机组40对回转体玻璃灯罩取像的数据资料加以分析。本摄影机组40完全可读到回转体玻璃灯罩边界线的变化，经过中央处理器50数据处理，可以计算出回转体玻璃灯罩的平面度，判断回转体玻璃灯罩是否有瑕疵。

使用该检测装置对平面玻璃零件或其它形状的玻璃零件进行检测时，其过程与对回转体玻璃灯罩进行检测时相同，在此不进行详细介绍。

于本实施例中，作为一种优选方案，所述支撑架10与所述投光灯组30之间设置有隔离板60，所述隔离板60可起到屏蔽数据信号干扰的作用。

于本实施例中，作为进一步的优选方案，如图3所示，所述玻璃零件平面度检测设备设置在架体70上，所述架体70由若干个纵向架杆及若干个横向架杆纵横相接组设而成，其中纵向架杆的中间部分设有用以提供玻璃零件平整导入的导轨80。所述导轨80的一端与支撑架10的一端相连接，可将所述玻璃零件输送到支撑架10上或将支撑架10上的玻璃零件输送回去。

使用时，先根据玻璃零件的表面类型调整摄影机组40相对玻璃零件的取像角度，并调整投光灯组30相对玻璃零件的位置及高度；然后，令玻璃零件自架体一侧经导轨80平整导入到支撑架10上，之后利用斜上方的摄影机组40对玻璃零件被投光的区段撷取影像；撷取的影像资料传送至中央处理器50，并由中央处理器50根据摄影机组40取像的数据资料加以分析，计算出玻璃零件的平面度，从而判断玻璃零件是否有瑕疵。

综上所述，本方案的特点在于所述平面度检测检测设备包括驱动系统20，所述驱动系统20位于所述支撑架10的下方，用于带动所述支撑架10旋转，进而带动所述支撑架10上的待检测回转体玻璃灯罩旋转。通过该方案，可以实测到回转体玻璃灯罩各个方位的数据，并且体积较小，结构紧凑，适用范围广。

以上结合具体实施例描述了本实用新型的技术原理。这些描述只是为了解释本实用新型的原理，而不能以任何方式解释为对本实用新型保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本实用新型的其它具体实施方式，这些方式都将落入本实用新型的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种玻璃零件平面度检测设备，包括用于放置待检测玻璃零件的支撑架、投光灯组、摄影机组及中央处理器；

其特征在于，

所述投光灯组位于所述支撑架上方，用于发射光源并将所发射的光源投射到待检测玻璃零件的外表面上；

所述摄影机组位于所述支撑架斜上方处，用以对支撑架上的待检测玻璃零件表面撷取影像；

所述中央处理器与所述摄影机组电连接，用以根据摄影机组对玻璃零件取像的数据资料加以分析；

所述支撑架的下方设置有用于带动所述支撑架旋转的驱动系统。

2.根据权利要求1所述的玻璃零件平面度检测设备，其特征在于，所述驱动系统为步进电机。

3.根据权利要求1所述的玻璃零件平面度检测设备，其特征在于，所述摄影机组包括摄影机及定位架，所述摄影机安装在所述定位架上，所述摄影机的镜头可相对于所述定位架进行旋转。

4.根据权利要求3所述的玻璃零件平面度检测设备，其特征在于，所述摄影机为CCD工业相机。

5.根据权利要求1所述的玻璃零件平面度检测设备，其特征在于，所述投光灯组包括灯具及定位架，所述灯具包括至少一投光灯及套设于投光灯外侧用以限制其投光范围的灯罩，所述投光灯组通过所述定位架设于所述支撑架及回转体玻璃灯罩的上方。

6.根据权利要求5所述的玻璃零件平面度检测设备，其特征在于，所述投光灯为LED灯。

7.根据权利要求1所述的玻璃零件平面度检测设备，其特征在于，所述支撑架与所述投光灯组之间设置有用于屏蔽数据信号的隔离板。

8.根据权利要求1所述的玻璃零件平面度检测设备，其特征在于，所述中央处理器与摄影机组之间电连接。

9.根据权利要求1至8任一项所述的玻璃零件平面度检测设备，其特征在于，其设置在架体上，所述架体由若干个纵向架杆及若干个横向架杆纵横相接组设而成，所述架体上设有用以提供玻璃零件平整导入的导轨。