CN203964924U - 多工位mems陀螺仪测试插座 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种多工位MEMS陀螺仪测试插座，其包括一上压板和一底座，所述上压板压在所述底座上，其特征在于：所述底座上设有一浮动板放置槽，所述浮动板放置槽内设有一浮动板，所述浮动板的底部设有弹性件，所述浮动板内设有数个元件放置槽，所述上压板上设有数个与所述元件放置槽位置相对应的凸起，所述底座上设有数组探针，所述数组探针的上端可活动的穿过所述浮动板并分别位于所述元件放置槽内，所述数组探针的下端与转接PCB板连接。采用该测试插座可有效提高MEMS陀螺仪的测试精度和速度，提高工作效率。

Description

多工位MEMS陀螺仪测试插座

技术领域

本实用新型涉及一种陀螺仪测试插座，特别涉及一种可在多工位对MEMS陀螺仪进行测试的插座。

背景技术

微机电系统(MEMS，Micro-Electro-Mechanical System)是一种先进的制造技术平台。它是以半导体制造技术为基础发展起来的。MEMS技术采用了半导体技术中的光刻、腐蚀、薄膜等一系列的现有技术和材料，因此从制造技术本身来讲，MEMS中基本的制造技术是成熟的。但MEMS更侧重于超精密机械加工，并要涉及微电子、材料、力学、化学、机械学诸多学科领域。它的学科面也扩大到微尺度下的力、电、光、磁、声、表面等物理学的各分支。

人们利用陀螺的力学性质所制成的各种功能的陀螺装置称为陀螺仪(gyroscope)，它在科学、技术、军事等各个领域有着广泛的应用。比如：回转罗盘、定向指示仪、炮弹的翻转、陀螺的章动、地球在太阳(月球)引力矩作用下的旋进(岁差)等。陀螺仪被广泛用于航空、航天和航海领域。目前，部分的MEMS陀螺仪已逐渐采用BGA封装形式，引脚Pitch也越来越小。其产品测试过程即要保证测试环境达到无磁要求，又要求锡球点阵的接触稳定。目前市场上的测试插座会采用SEMI-CONTACTOR探针(POGO PIN)进行检测，但由于其固有的设计缺陷，导致在多工位测试过程中，经常出现产品取出困难，定位不准确，静电吸附，甚至短路等不良情况，测试效率始终不高。

实用新型内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本实用新型的目的在于提供一种定位准确、测试效率高的多工位MEMS陀螺仪测试插座。

为实现上述目的及其他相关目的，本实用新型提供一种多工位MEMS陀螺仪测试插座，其包括一上压板和一底座，所述上压板压在所述底座上，其特征在于：所述底座上设有一浮动板放置槽，所述浮动板放置槽内设有一浮动板，所述浮动板的底部设有弹性件，所述浮动板内设有数个元件放置槽，所述上压板上设有数个与所述元件放置槽位置相对应的凸起，所述底座上设有数组探针，所述数组探针的上端可活动的穿过所述浮动板并分别位于所述元件放置槽内，所述数组探针的下端与转接PCB板连接。

优选地，所述上压板与所述底座之间通过锁扣结构连接。

优选地，所述元件放置槽的上边缘开口处设有导向角。

优选地，所述上压板上设有吹风口，所述上压板压在所述底座上时，所述吹风口与所述元件放置槽连通。

优选地，所述浮动板底部的弹性件为弹簧。

如上所述，本实用新型的多工位MEMS陀螺仪测试插座具有以下有益效果：该测试插座将元件放置槽直接设置在浮动板上，在进行测试时，将数个MEMS陀螺仪分别放置在浮动板上的各个元件放置槽内，然后将上压板与底座压紧，此时浮动板可根据元件大小及浮动板所受到的弹力自动调节位置，从而可使探针与MEMS陀螺仪上的锡球充分接触，确保MEMS陀螺仪上的电路和转接PCB上的电路接通，同时确保锡球不破裂。采用该测试插座可有效提高MEMS陀螺仪的测试精度和速度，提高工作效率。

附图说明

图1为本实用新型实施例的正面剖视图。

图2为本实用新型实施例的俯视图(不包括上压板)

元件标号说明

1                   转接PCB板

2                   底座

3                   锁扣

4                   上压板

5                   浮动板

6                   探针

7                   元件放置槽

具体实施方式

以下由特定的具体实施例说明本实用新型的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本实用新型的其他优点及功效。

请参阅图1、2。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本实用新型可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本实用新型所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本实用新型所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本实用新型可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更技术内容下，当亦视为本实用新型可实施的范畴。

如图1、2所示，本实用新型提供一种多工位MEMS陀螺仪测试插座，包括一上压板4和一底座2，上压板4压在底座2上，MEMS陀螺仪夹在两者之间进行测试。在底座2上设有一浮动板放置槽，浮动板放置槽内设有一浮动板5，浮动板5的底部设有弹性件，浮动板5可在浮动板放置槽内自由的上下移动，浮动板5底部的弹性件为弹簧。在浮动板5内设有数个元件放置槽7，上压板4上设有数个与元件放置槽7位置相对应的凸起，底座2上设有数组探针6，数组探针6的上端可活动的穿过浮动板5并分别位于元件放置槽7内，数组探针6的下端与转接PCB板1连接，转接PCB板1位于底座2的下表面。

在进行测试时将数个MEMS陀螺仪分别放置在浮动板5上的各个元件放置槽7内，然后将上压板4与底座2压紧，为了便于夹紧，可在上压板4或底座2上设置锁扣3，使上压板4与底座2之间通过锁扣结构连接。锁扣锁紧后，浮动板5可根据元件大小及浮动板5所受到的弹力自动调节位置，从而可使探针与MEMS陀螺仪上的锡球充分接触，确保MEMS陀螺仪上的电路和转接PCB上的电路接通，同时确保锡球不破裂。

为了便于上压板4与底座2压紧时，上压板4上的凸起可顺利压入到元件放置槽7内，可在元件放置槽7的上边缘开口处设有导向角。为了解决上压板4打开时MEMS陀螺仪易被上压板带出的问题，可上压板4上设有吹风口，且上压板4压在底座2上时，吹风口与元件放置槽7连通，这样每次打开上压板4时，只需通过吹风口向元件放置槽7内进行吹风就可防止MEMS陀螺仪被带出。

该测试插座满足MEMS陀螺仪产品测试的基本要求：开短路测试要求误判率低于3％；测试电流、电压、电阻满足产品设计，信号传输衰减率低于3‰；产品锡球损伤面积小于锡球直径的1/4；满足产品的小型、集成：锡球间距0.4mm；测试防静电：高于14个数量级OHM.CM(该测试插座主要采用陶瓷PEEK和铜作为原材料)；通过和测试机台的配合，满足产品测试达到产能要求：小时测试量达到1KPCS；由此可见采用该测试插座可有效提高MEMS陀螺仪的测试精度和速度，提高工作效率。所以，本实用新型有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。

上述实施例仅例示性说明本实用新型的原理及其功效，而非用于限制本实用新型。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本实用新型的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本实用新型所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本实用新型的权利要求所涵盖。

Claims (5)

1.一种多工位MEMS陀螺仪测试插座，其包括一上压板和一底座，所述上压板压在所述底座上，其特征在于：所述底座上设有一浮动板放置槽，所述浮动板放置槽内设有一浮动板，所述浮动板的底部设有弹性件，所述浮动板内设有数个元件放置槽，所述上压板上设有数个与所述元件放置槽位置相对应的凸起，所述底座上设有数组探针，所述数组探针的上端可活动的穿过所述浮动板并分别位于所述元件放置槽内，所述数组探针的下端与转接PCB板连接。

2.根据权利要求1所述的多工位MEMS陀螺仪测试插座，其特征在于：所述上压板与所述底座之间通过锁扣结构连接。

3.根据权利要求1所述的多工位MEMS陀螺仪测试插座，其特征在于：所述元件放置槽的上边缘开口处设有导向角。

4.根据权利要求1所述的多工位MEMS陀螺仪测试插座，其特征在于：所述上压板上设有吹风口，所述上压板压在所述底座上时，所述吹风口与所述元件放置槽连通。

5.根据权利要求1所述的多工位MEMS陀螺仪测试插座，其特征在于：所述浮动板底部的弹性件为弹簧。