CN203720299U - 继电器线圈驱动的诊断装置 - Google Patents
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Abstract
本实用涉及一种继电器线圈驱动的诊断装置。本实用解决现有技术存在在故障检修时也需要对整个系统做故障排查才能确定故障点，不利于系统整改，并且对继电器控制造成风险的问题，其技术方案要点是：由电源供电，包括受测线圈，还包括电阻R1、电阻R2、第一开关、第二开关、电流测试装置和电压测试装置，所述的电源依次通过第一开关和电阻R1与受测线圈的第一端连接，所述受测线圈的第二端依次通过电阻R2和第二开关接地，所述电流测试装置的测试端与受测线圈的第二端连接，所述电压测试装置的测试端与所述受测线圈的第一端连接。本实用新型这样设置，不仅能正常驱动继电器断开与闭合，而且能有效诊断继电器驱动线圈的各种故障。
Description
技术领域
本实用新型涉及继电器检测装置，尤其涉及一种继电器线圈驱动的诊断装置。
背景技术
目前，公知的继电器线圈驱动方案中分为高边驱动与低边驱动，在两种驱动方式中大多没有诊断功能，只有部分驱动方案中有对继电器线圈的保护功能，例如过温保护、过流保护，在这种方案中，如果继电器线圈发生故障：包括对地短路，对电源短路，断线，控制方会失去对继电器的控制，只能被动等待保护功能发挥作用，在故障检修时也需要对整个系统做故障排查才能确定故障点，不利于系统整改，并且对继电器控制造成风险。
中国专利公告号：CN102818992A，公开日2012年8月7日，公开了一种继电器检测装置，其特征在于：包括微处理器、键盘模块、显示模块、电源模块、继电器驱动模块、与继电器驱动模块电连接的动作频率检测模块和电流检测模块、与继电器连接的温度检测模块；所述的微处理器分别与键盘模块、显示模块、继电器驱动模块、温度检测模块、动作频率检测模块、电流检测模块电连接；所述的电源模块分别与温度检测模块、微处理器、继电器驱动模块、电流检测模块、动作频率检测模块、键盘模块、显示模块电连接。但是此技术方案依然存在在故障检修时也需要对整个系统做故障排查才能确定故障点，不利于系统整改，并且对继电器控制造成风险的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是为解决目前的技术方案存在不利于系统整改，并且对继电器控制造成风险的问题，提供一种不仅能正常驱动继电器断开与闭合，而且能有效诊断继电器驱动线圈的各种故障的继电器线圈驱动的诊断装置。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种继电器线圈驱动的诊断装置，由电源供电，包括受测线圈，还包括电阻R1、电阻R2、第一开关、第二开关、电流测试装置和电压测试装置，所述的电源依次通过第一开关和电阻R1与受测线圈的第一端连接，所述受测线圈的第二端依次通过电阻R2和第二开关接地，所述电流测试装置的测试端与受测线圈的第二端连接，所述电压测试装置的测试端与所述受测线圈的第一端连接。本实用新型装置使用时，可根据表1进行故障判断，表1中HD与LD的“0、1”分别表示高边驱动与低边驱动的断开与闭合命令，表1中继电器高边驱动的正常电压为Vcc、继电器线圈额定驱动电流为Cr，短路电流为Cs。
| HD | LD | VHD | CLD | 故障状态 |
| 1 | 1 | Vcc | Cr | 正常 |
| 1 | 1 | 0 | Cs | 低边对地短路 |
| 1 | 1 | 0 | 0 | 高边对地短路 |
| 1 | 1 | Vcc | 0 | 断线 |
| 0 | 0 | Vcc | Cs | 对电源短路 |
表1
作为优选，所述电流测试装置为电流表，所述电压测试装置为电压表，所述电流表的正极端与受测线圈第二端连接，所述电流表的负极端与电阻R2连接，所述电压表的正极端与受测线圈的第一端连接，所述电压表的负极端与受测线圈的第二端连接。
作为优选，所述电阻R2为滑变电阻。这样设置，可以起到配合各种继电器线圈使用。
作为优选，所述继电器线圈驱动的诊断装置还包括防反接二极管D1和防反接二极管D2，所述防反接二极管D1的阳极与电阻R1连接，所述防反接二极管D1的阴极与受测线圈的第一端连接，所述防反接二极管D2的阴极通过第二开关接地，所述防反接二极管D2的阳极与电阻R2连接。
一种继电器线圈驱动的诊断装置，由电源供电，包括受测线圈，还包括电阻R1、电阻R2、第一开关、第二开关、高边驱动芯片、低边驱动芯片和单片机，所述的电源依次通过第一开关、电阻R1和高边驱动芯片与受测线圈的第一端连接，所述受测线圈的第二端依次通过电阻R2、低边驱动芯片和第二开关接地，所述单片机的电流测试端与受测线圈的第二端连接，所述单片机的电压测试端与所述受测线圈的第一端连接，所述高边驱动芯片和低边驱动芯片均与单片机连接。本实用新型这样设置，可以根据表1判断继电器受测线圈中各种故障，较为准确。
作为优选，所述的高边驱动芯片为高边驱动芯片BTS716G，所述低边驱动芯片为低边驱动芯片TLE8102SG。
作为优选，所述高边驱动芯片为三极管Q1，所述低边驱动芯片为三极管Q2，所述继电器线圈驱动的诊断装置还包括熔断器，所述的三极管Q1的集电极通过熔断器与所述电源连接，所述三极管Q1的发射极通过电阻与受测线圈的第一端连接，所述三极管Q1的基极与所述单片机连接，所述三极管Q2的发射极接地，所述三极管Q2的基极与单片机连接，所述三极管Q2的集电极通过电阻R2与受测线圈的第二端连接。这样设置，保证了驱动的准确性和本实用新型的安全性。
作为优选，所述第一开关与第二开关为联动开关。
本实用新型的实质性效果是：本实用新型这样设置，不仅能正常驱动继电器断开与闭合，而且能有效诊断继电器驱动线圈的各种故障。
附图说明
图1是本实用新型的一种结构示意图；
图2是本实用新型的另一种结构示意图；
图3是本实用新型的另一种结构示意图。
图中：1、高边驱动芯片，2、低边驱动芯片。
具体实施方式
下面通过具体实施例，并结合附图，对本实用新型的技术方案作进一步的具体说明。
实施例1：
一种继电器线圈驱动的诊断装置（参见附图1），由电源供电，包括受测线圈，其特征在于：还包括电阻R1、电阻R2、第一开关、第二开关、电流测试装置和电压测试装置，所述的电源依次通过第一开关和电阻R1与受测线圈的第一端连接，所述受测线圈的第二端依次通过电阻R2和第二开关接地，所述电流测试装置的测试端与受测线圈的第二端连接，所述电压测试装置的测试端与所述受测线圈的第一端连接。所述电阻R2为滑变电阻。所述电流测试装置为电流表，所述电压测试装置为电压表，所述电流表的正极端与受测线圈第二端连接，所述电流表的负极端与电阻R2连接，所述电压表的正极端与受测线圈的第一端连接，所述电压表的负极端与受测线圈的第二端连接。所述继电器线圈驱动的诊断装置还包括防反接二极管D1和防反接二极管D2，所述防反接二极管D1的阳极与电阻R1连接，所述防反接二极管D1的阴极与受测线圈的第一端连接，所述防反接二极管D2的阴极通过第二开关接地，所述防反接二极管D2的阳极与电阻R2连接。
实施例2：
一种继电器线圈驱动的诊断装置（参见附图3），由电源供电，包括受测线圈，还包括电阻R1、电阻R2、第一开关、第二开关、高边驱动芯片、低边驱动芯片和单片机，所述的电源依次通过第一开关、电阻R1和高边驱动芯片与受测线圈的第一端连接，所述受测线圈的第二端依次通过电阻R2、低边驱动芯片和第二开关接地，所述单片机的电流测试端与受测线圈的第二端连接，所述单片机的电压测试端与所述受测线圈的第一端连接，所述高边驱动芯片和低边驱动芯片均与单片机连接。所述继电器线圈驱动的诊断装置还包括防反接二极管D1和防反接二极管D2，所述防反接二极管D1的阳极与电阻R1连接，所述防反接二极管D1的阴极通过高边驱动芯片与受测线圈的第一端连接，所述防反接二极管D2的阴极通过第二开关接地，所述防反接二极管D2的阳极通过低边驱动芯片与电阻R2连接。所述的高边驱动芯片1为BTS716G高边驱动芯片，所述低边驱动芯片2为TLE8102SG低边驱动芯片。
实施例3：
本实施例（参见附图2）与实施例2基本相同，不同之处在于：所述高边驱动芯片为三极管Q1，所述低边驱动芯片为三极管Q2，所述继电器线圈驱动的诊断装置还包括熔断器，所述的三极管Q1的集电极通过熔断器与所述电源连接，所述三极管Q1的发射极通过电阻与受测线圈的第一端连接，所述三极管Q1的基极与所述单片机连接，所述三极管Q2的发射极接地，所述三极管Q2的基极与单片机连接，所述三极管Q2的集电极通过电阻R2与受测线圈的第二端连接。所述第一开关与第二开关为联动开关。
本实施例使用时，可根据表1进行故障判断，表1中HD与LD的“0、1”分别表示高边驱动与低边驱动的断开与闭合命令，表1中继电器高边驱动的正常电压为Vcc、继电器线圈额定驱动电流为Cr，短路电流为Cs。
以上所述的实施例只是本实用新型的一种较佳的方案，并非对本实用新型作任何形式上的限制，在不超出权利要求所记载的技术方案的前提下还有其它的变体及改型。
Claims (8)
1.一种继电器线圈驱动的诊断装置，由电源供电，包括受测线圈，其特征在于：还包括电阻R1、电阻R2、第一开关、第二开关、电流测试装置和电压测试装置，所述的电源依次通过第一开关和电阻R1与受测线圈的第一端连接，所述受测线圈的第二端依次通过电阻R2和第二开关接地，所述电流测试装置的测试端与受测线圈的第二端连接，所述电压测试装置的测试端与所述受测线圈的第一端连接。
2.根据权利要求1所述的继电器线圈驱动的诊断装置，其特征在于：所述电流测试装置为电流表，所述电压测试装置为电压表，所述电流表的正极端与受测线圈第二端连接，所述电流表的负极端与电阻R2连接，所述电压表的正极端与受测线圈的第一端连接，所述电压表的负极端与受测线圈的第二端连接。
3.根据权利要求2所述的继电器线圈驱动的诊断装置，其特征在于：所述电阻R2为滑变电阻。
4.根据权利要求1或3所述的继电器线圈驱动的诊断装置，其特征在于：所述继电器线圈驱动的诊断装置还包括防反接二极管D1和防反接二极管D2，所述防反接二极管D1的阳极与电阻R1连接，所述防反接二极管D1的阴极与受测线圈的第一端连接，所述防反接二极管D2的阴极通过第二开关接地，所述防反接二极管D2的阳极与电阻R2连接。
5.一种继电器线圈驱动的诊断装置，由电源供电，包括受测线圈，其特征在于：还包括电阻R1、电阻R2、第一开关、第二开关、高边驱动芯片、低边驱动芯片和单片机，所述的电源依次通过第一开关、电阻R1和高边驱动芯片与受测线圈的第一端连接，所述受测线圈的第二端依次通过电阻R2、低边驱动芯片和第二开关接地，所述单片机的电流测试端与受测线圈的第二端连接，所述单片机的电压测试端与所述受测线圈的第一端连接，所述高边驱动芯片和低边驱动芯片均与单片机连接。
6.根据权利要求5所述的继电器线圈驱动的诊断装置，其特征在于：所述的高边驱动芯片为BTS716G高边驱动芯片，所述低边驱动芯片为TLE8102SG低边驱动芯片。
7.根据权利要求5所述的继电器线圈驱动的诊断装置，其特征在于：所述高边驱动芯片为三极管Q1，所述低边驱动芯片为三极管Q2，所述继电器线圈驱动的诊断装置还包括熔断器，所述的三极管Q1的集电极通过熔断器与所述电源连接，所述三极管Q1的发射极通过电阻与受测线圈的第一端连接，所述三极管Q1的基极与所述单片机连接，所述三极管Q2的发射极接地，所述三极管Q2的基极与单片机连接，所述三极管Q2的集电极通过电阻R2与受测线圈的第二端连接。
8.根据权利要求5所述的继电器线圈驱动的诊断装置，其特征在于：所述第一开关与第二开关为联动开关。
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