CN203324995U - 一种低功耗射频卡检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种低功耗射频卡检测装置。它包括中央处理单元、电源、开关模块和检测电路,所述检测电路包括电感线圈L、电容C、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、三极管Q1和三极管Q2。本实用新型通过两个三极管和五个电阻组成的检测电路检测射频卡,成本低廉,功耗低,实现射频卡自动检测。
Description
技术领域
本实用新型涉及射频卡检测技术领域,尤其涉及一种低功耗射频卡检测装置。
背景技术
射频识别即RFID(Radio Frequency IDentification)技术,又称电子标签、无线射频识别,是一种通信技术,可通过无线电讯号识别特定目标并读写相关数据,而无需识别系统与特定目标之间建立机械或光学接触。RFID技术避免了因接触式IC卡的读写、油污、和芯片裸露等缺陷而造成的各种故障,具有免接触、高可靠和无磨损等优点。目前,在卡类仪表中,射频卡已经逐步成为取代条码卡、接触式IC卡的最佳选择,现有的低频射频卡识别技术存在成本较高或者功耗较高的问题。
中国专利公开号CN2901710,公开日2007年5月16日,实用新型的名称为射频卡判断电路,该申请案公开了一种射频卡判断电路,它包括脉冲信号发生装置,产生周期性的脉冲信号;检测天线,与脉冲信号发生装置电连接,当接收到脉冲信号发生装置的脉冲信号时,产生磁感应区;平衡参考天线,与所述脉冲信号发生装置电连接,当接收到脉冲信号发生装置的脉冲信号时,产生磁感应区;比较装置,分别与检测天线的平衡参考天线电连接,用于比较检测天线和平衡参考天线的信号。其不足之处是,该射频卡判断电路成本较高、功耗较高。
发明内容
本实用新型的目的是克服目前的射频卡检测装置成本较高或者功耗较高的技术问题,提供了一种低功耗射频卡检测装置,其通过两个三极管和五个电阻组成的检测电路检测射频卡,成本低廉,且功耗低。
为了解决上述问题,本实用新型采用以下技术方案予以实现:
本实用新型的一种低功耗射频卡检测装置,包括中央处理单元、电源、开关模块、电感线圈L、电容C、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、三极管Q1和三极管Q2,电阻R1一端与中央处理单元的第一输出端相连,电阻R1另一端与电感线圈L一端相连,电感线圈L另一端与电容C一端和电阻R2一端相连,电容C另一端接地,电阻R2另一端与三极管Q1的基极相连,三极管Q1的发射极与电阻R3一端和电阻R4一端相连,三极管Q1的集电极接地,电阻R3另一端与开关模块的输出端和电阻R5一端相连,电阻R4另一端与三极管Q2的基极相连,三极管Q2的集电极与电阻R5另一端和中央处理单元的输入端相连,三极管Q2的发射极接地,开关模块的输入端与电源的正极相连,开关模块的控制端与中央处理单元的第二输出端相连。
在本技术方案中,中央处理单元的第一输出端和第二输出端输出同步的PWM脉冲信号。当PWM脉冲信号处于高电平时,电感线圈L受到很短时间的激励(不超过10us),同时开关模块闭合,电源给检测电路供电。串联的电感线圈L和电容C产生LC共振,共振信号通过三极管Q1和三极管Q2组成的电路整形,最后在三极管Q2的集电极输出稳定的波形到中央处理单元,整个处理时间小于50us,整个功耗消耗少于100uA。
当低频射频卡靠近外接的电感线圈L时(两者之间的距离范围≤20mm),LC共振信号发生幅度衰减和相位偏移,在三极管Q2的集电极处形成的波形对应也发生幅度衰减和相位偏移,中央处理单元通过判断三极管Q2的集电极处输出信号的幅度衰减或相位偏移就可以检测到低频射频卡的靠近。
作为优选,所述三极管Q1为PNP型三极管,所述三极管Q2为NPN型三极管。
作为优选,所述开关模块为场效应管。
本实用新型的有益效果是:通过两个三极管和五个电阻组成的检测电路检测射频卡,成本低廉,功耗低,实现射频卡自动检测。
附图说明
图1是本实用新型的一种电路原理图;
图2是无射频卡靠近时三极管Q2集电极处的电压波形;
图3是射频卡靠近时三极管Q2集电极处的电压波形。
图中:1、中央处理单元,2、电源,3、开关模块。
具体实施方式
下面通过实施例,并结合附图,对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。
实施例:本实施例的一种低功耗射频卡检测装置,如图1所示,包括中央处理单元1、电源2、开关模块3、电感线圈L、电容C、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、三极管Q1和三极管Q2,电阻R1一端与中央处理单元1的第一输出端相连,电阻R1另一端与电感线圈L一端相连,电感线圈L另一端与电容C一端和电阻R2一端相连,电容C另一端接地,电阻R2另一端与三极管Q1的基极相连,三极管Q1的发射极与电阻R3一端和电阻R4一端相连,三极管Q1的集电极接地,电阻R3另一端与开关模块3的输出端和电阻R5一端相连,电阻R4另一端与三极管Q2的基极相连,三极管Q2的集电极与电阻R5另一端和中央处理单元1的输入端相连,三极管Q2的发射极接地,开关模块3的输入端与电源2的正极相连,开关模块3的控制端与中央处理单元1的第二输出端相连,三极管Q1为PNP型三极管,三极管Q2为NPN型三极管,开关模块3为场效应管。
中央处理单元1的第一输出端和第二输出端输出同步的PWM脉冲信号。当PWM脉冲信号处于高电平时,电感线圈L受到很短时间的激励(不超过10us),同时场效应管导通,电源2给检测电路供电。串联的电感线圈L和电容C产生LC共振,共振信号通过三极管Q1和三极管Q2组成的电路整形,最后在三极管Q2的集电极输出稳定的波形到中央处理单元1,整个处理时间小于50us,整个功耗消耗少于100uA。
当低频射频卡靠近外接的电感线圈L时(两者之间的距离范围≤20mm),LC共振信号发生幅度衰减和相位偏移,在三极管Q2的集电极处形成的波形对应也发生幅度衰减和相位偏移,中央处理单元1通过判断三极管Q2的集电极处输出信号的幅度衰减或相位偏移就可以检测到低频射频卡的靠近。
Claims (3)
1.一种低功耗射频卡检测装置,其特征在于:包括中央处理单元(1)、电源(2)、开关模块(3)、电感线圈L、电容C、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、三极管Q1和三极管Q2,电阻R1一端与中央处理单元(1)的第一输出端相连,电阻R1另一端与电感线圈L一端相连,电感线圈L另一端与电容C一端和电阻R2一端相连,电容C另一端接地,电阻R2另一端与三极管Q1的基极相连,三极管Q1的发射极与电阻R3一端和电阻R4一端相连,三极管Q1的集电极接地,电阻R3另一端与开关模块(3)的输出端和电阻R5一端相连,电阻R4另一端与三极管Q2的基极相连,三极管Q2的集电极与电阻R5另一端和中央处理单元的输入端相连,三极管Q2的发射极接地,开关模块(3)的输入端与电源(2)的正极相连,开关模块(3)的控制端与中央处理单元(1)的第二输出端相连。
2.根据权利要求1所述的一种低功耗射频卡检测装置,其特征在于:所述三极管Q1为PNP型三极管,所述三极管Q2为NPN型三极管。
3.根据权利要求1或2所述的一种低功耗射频卡检测装置,其特征在于:所述开关模块(3)为场效应管。
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CN2013203392602U CN203324995U (zh) | 2013-06-14 | 2013-06-14 | 一种低功耗射频卡检测装置 |
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CN103810451A (zh) * | 2013-12-20 | 2014-05-21 | 利尔达科技集团股份有限公司 | 射频卡检测装置及其射频卡检测方法 |
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2013
- 2013-06-14 CN CN2013203392602U patent/CN203324995U/zh not_active Expired - Lifetime
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CN103810451A (zh) * | 2013-12-20 | 2014-05-21 | 利尔达科技集团股份有限公司 | 射频卡检测装置及其射频卡检测方法 |
CN103810451B (zh) * | 2013-12-20 | 2017-01-04 | 利尔达科技集团股份有限公司 | 射频卡检测装置及其射频卡检测方法 |
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