CN203310342U - 一种薄片样品的测量装置 - Google Patents

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Abstract

一种薄片样品的测量装置，涉及测量装置，尤其涉及一种粘有带孔支撑物的薄片样品厚度测量的装置。主要包括螺旋测微器、金属导电钢针和欧姆表。本装置可以实现精确测量粘带孔支撑物薄片样品以及类似样品的厚度，提高了测量的便利性以及准确性。本实用新型的有益效果是：通过上述方案，可以精准地测量粘带孔支撑物薄片样品厚度的特殊要求。

Description

一种薄片样品的测量装置
技术领域
本实用新型涉及测量装置，尤其涉及一种带孔支撑物的薄片样品厚度测量的装置。
背景技术
传统的厚度测量主要是测量者用螺旋测微器进行测量，但是对于一些一面或者两面粘有带孔支撑物的薄片样品的厚度的测量有一定的难度，特别是在做实验需要得知截面样品厚度的情况下，通常无法分别测量薄片与支撑物的厚度。因此，采用现有的螺旋测微器来测量薄片样的厚度无法实现。
实用新型内容
本实用新型提供了一种用于带孔支撑物薄片样品的测量方法，解决了螺旋测微器无法测量两层粘连物品等类似物品中的某一层厚度等问题。
薄片样品的测量装置包括螺旋测微器、金属导电钢针1、绝缘支架2和欧姆表4；金属导电钢针1与螺旋测微器自由端之间通过绝缘支架4相连；欧姆表4的两端分别与螺旋测微器固定端和金属导电钢针1相连接。
所述的金属导电钢针1与绝缘支架2的总长度小于螺旋测微器的最大量程。
样品通过胶与带也支撑物相连，普通螺旋测微器无法进行测量。为了解决这一问题，本实用新型提供了一种薄片样品厚度测量装置，包括螺旋测微器，金属导电钢针，绝缘支架以及一个欧姆表。将一个绝缘塑料支架一端与螺旋测微器的自由端相连，另一端与长度适宜的金属导电钢针相连，在螺旋测微器上固定一个欧姆表（如图所示）。打开欧姆表让改造后的螺旋测微器闭合，使针尖刚好碰到另一端此时欧姆表刚好显示有效电阻，记下此时的刻度。松开测微器，将样品没有粘支撑物的一面放在螺旋测微器上，使带孔支撑物的中心孔对准针尖，再次闭合螺旋测微器，当欧姆表再次出现有效数值时，如图5所示，同时记下此时的刻度。两者数值差即为样品厚度。
本实用新型的有益效果是：能通过上述方案，可以精准地测量带环薄片样品厚度的特殊要求。本实用新型结构简单，能够将测量的精确度提高。
附图说明
图1是待测样品正面示意图
图2是待测样品侧视图（5为样品表面粘的带孔支撑物，6为环与样品之间的胶，7为需要测量厚度的样品）
图3实用新型示意图（1为金属导电钢针，2为绝缘塑料支架，3为导线，4为欧姆表）
图4是实用新型关键部位放大示意图
图5是测量样品示意图
图6是测量时样品与实用新型放大图
具体实施方式
下面结合附图及具体实施方式对本实用新型进一步说明。如图2为待测样品侧视图，从图中可以看到红色部分为待测样品。首先打开欧姆表让改造后的螺旋测微器闭合，使针尖刚好碰到另一端此时欧姆表刚好显示有效电阻，记下此时的刻度T1。松开测微器，将样品没有粘支撑物的一面放在螺旋测微器上，粘带孔支撑物面朝向尖头，使带孔支撑物的中心孔对准针尖，再次闭合螺旋测微器，当欧姆表再次出现有效数值时，此时表明针尖刚好与样品表面刚接触，如图5所示，同时记下此时的刻度T2。薄片样品的厚度即为△H=T2-T1。

Claims (2)

1.一种薄片样品的测量装置，其特征在于：测量装置包括螺旋测微器、金属导电钢针（1）、绝缘支架（2）和欧姆表（4）；金属导电钢针（1）与螺旋测微器自由端之间通过绝缘支架（4）相连；欧姆表（4）的两端分别与螺旋测微器固定端和金属导电钢针（1）相连接。
2.如权利要求1所述的薄片样品的测量装置，其特征在于：所述的金属导电钢针（1）与绝缘支架（2）的总长度小于螺旋测微器的最大量程。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104677235A (zh) * 2013-12-03 2015-06-03 珠海格力电器股份有限公司 Smt钢网厚度的螺旋测微工装
CN112033253A (zh) * 2019-06-03 2020-12-04 株式会社世元电子 用于测量导电物体的尺寸的千分尺

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