CN204405045U - 试样厚度测量装置 - Google Patents

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王元明
陈宇
齐洪刚
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Labthink Instruments Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种试样厚度测量装置,包括驱动装置、传感器、导向套、测量杆、砝码、测量头、测量底面;所述的测量杆从上向下依次穿过传感器、导向套与测量头相连,测量头上方设有砝码;驱动装置驱动测量杆上、下移动。本实用新型结构简单,整体结构趋于一体化,易于加工、装配及调试,方便使用;解决了部分试样测厚时对压力或压强的需求;测量杆与测量头测量移动的重复性好,提高了测量精度。

Description

试样厚度测量装置
技术领域
[0001] 本实用新型涉及机械技术领域,尤其涉及一种试样厚度测量装置。
背景技术
[0002] 测量试样厚度的方式有:游标卡尺检测、千分尺检测、位移传感器检测等,这些测量方法或多或少的存在一定缺陷,如:用传统工具测量时,人工操作误差大;当测量装置为组合体时,装置的装配精度直接影响测量精度,增加调试装配的工作量,使用极为不便;且各种试样的厚度不一,性质不同。测量时,需根据试样性质,施加不同压力,而传统的测量装置往往忽略这点,无法改变施加压力,导致测量结果不准确。
实用新型内容
[0003] 为了解决现有技术存在的缺陷,本实用新型公开了一种试样厚度测量装置及测量方法。
[0004] 本实用新型采用的技术方案如下:
[0005] 一种试样厚度测量装置,包括测量杆;所述的测量杆从上向下依次穿过传感器、导向套后与测量头相连;且所述的测量杆由一个驱动装置驱动其上、下移动。
[0006] 所述的导向套镶嵌在传感器内。
[0007] 所述的传感器镶嵌在导向套内。
[0008] 所述测量杆置于传感器内,传感器可以检测测量杆的位移。
[0009] 所述测量杆与测量头为一体结构,测量杆与测量头是由一块材料加工得到。
[0010] 所述测量杆与测量头通过螺纹连接、粘接连接或者测量杆插到测量头的孔内,测量杆与测量头过盈配合连接。
[0011] 所述的驱动装置通过连接件带动测量杆向上、向下移动。
[0012] 所述试样厚度测量装置还包括为测量头增重的砝码。
[0013] 所述的传感器为差动变压式、电压式、电磁式或光电式位移传感器。
[0014] 本实用新型的测量方法如下:
[0015] 测量试样厚度时,测量头与测量底面接触,此时传感器检测到测量杆的初始位置,驱动装置带动测量杆向上移动,使测量头与测量底面产生一个位移,在测量头与测量底面之间放置试样,驱动装置带动测量杆向下移动,测量头压在试样上,驱动装置脱开测量杆,此时传感器检测到测量杆的终止位置,测量杆的终止位置与初始位置差的绝对值,即为试样的厚度。
[0016] 本实用新型的有益效果如下:
[0017] 1、结构简单,整体结构趋于一体化,易于加工、装配及调试,方便使用;
[0018] 2、解决部分试样测厚时对压力或压强的需求;
[0019] 3、测量杆与测量头测量移动的重复性好,提高了测量精度。
附图说明
[0020] 图1本实用新型的结构图;
[0021] 图中:1.驱动装置,2.连接件,3.传感器,4.导向套,5.测量杆,6.砝码,7.测量头,8.试样,9.测量底面。
具体实施方式
[0022] 实施例1
[0023] 一种试样厚度测量装置,包括驱动装置1、传感器3、导向套4、测量杆5、砝码6、测量头7、测量底面9 ;所述的测量杆5从上向下依次穿过传感器3、导向套4与测量头7相连,所述装置还包括为测量头7增重的砝码6 ;且驱动装置I通过连接件2驱动测量杆5上、下移动;所述的导向套4镶嵌在传感器3内;所述测量杆5与测量头7为一体结构,测量杆5与测量头7是由一块材料加工得到。
[0024] 实施例2
[0025] 将传感器3镶嵌在导向套4内,代替导向套4镶嵌在传感器内,其余结构与实施例1相同。
[0026] 实施例3
[0027] 测量杆5与测量头7通过螺纹连接,其余结构与实施例1或2相同。
[0028] 实施例4
[0029] 所述测量杆5与测量头7粘接连接;其余结构与实施例1或2相同。
[0030] 实施例5
[0031] 所述测量杆5插到测量头7的孔内,测量杆5与测量头7过盈配合连接,其余结构与实施例1或2相同。
[0032] 上述装置的使用方法如下:
[0033] 测量试样8厚度时,测量头7与测量底面9接触,此时传感器3检测到测量杆5的初始位置,驱动装置I带动测量杆5向上移动,使测量头7与测量底面9产生一个位移,在测量头7与测量底面9之间放置试样8,驱动装置I带动测量杆5向下移动,测量头7压在试样8上,驱动装置I脱开测量杆5,此时传感器3检测到测量杆5的终止位置,测量杆5的终止位置与初始位置差的绝对值即为试样8的厚度。
[0034] 上述虽然结合附图对本实用新型的具体实施方式进行了描述,但并非对本实用新型保护范围的限制,所属领域技术人员应该明白,在本实用新型的技术方案的基础上,本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本实用新型的保护范围以内。

Claims (9)

1.一种试样厚度测量装置,其特征在于:包括测量杆;所述的测量杆从上向下依次穿过传感器、导向套后与测量头相连;且所述的测量杆由一个驱动装置驱动其上、下移动。
2.如权利要求1所述的试样厚度测量装置,其特征在于:所述的导向套镶嵌在传感器内。
3.如权利要求1所述的试样厚度测量装置,其特征在于:所述的传感器镶嵌在导向套内。
4.如权利要求1所述的试样厚度测量装置,其特征在于:所述测量杆置于传感器内,传感器可以检测测量杆的位移。
5.如权利要求1所述的试样厚度测量装置,其特征在于:所述测量杆与测量头为一体结构,测量杆与测量头是由一块材料加工得到。
6.如权利要求1所述的试样厚度测量装置,其特征在于:所述测量杆与测量头通过螺纹连接、粘接连接或者测量杆插到测量头的孔内,测量杆与测量头过盈配合连接。
7.如权利要求1所述的试样厚度测量装置,其特征在于:所述的驱动装置通过连接件带动测量杆向上、向下移动。
8.如权利要求1所述的试样厚度测量装置,其特征在于:所述试样厚度测量装置还包括为测量头增重的砝码。
9.如权利要求1所述的试样厚度测量装置,其特征在于:所述的传感器为差动变压式、电阻式、电容式、电感式、电磁式或光电式位移传感器。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107167102A (zh) * 2017-05-26 2017-09-15 潍坊路加精工有限公司 低频振动环境下零件厚度测量方法
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