CN203287232U - 一种冷镶嵌金相试样装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种冷镶嵌金相试样装置,包括底座(1)、凹模(2)、压头(5)、测力计套筒(6)、测力计弹簧(7)、测力计垫片(8)、测力计指针(9)、丝杠(10)、悬臂梁(11);本实用新型采用悬臂梁结构,应用普通碳钢制造,结构简单,操作方便,经济耐用,不受场地限制,可重复使用,对环境无污染。本实用新型采用测力计弹簧结构,可根据试样的性能和尺寸特点,以及冷镶嵌材料的性能特点,方便的确定实际压力大小,保证冷镶嵌后金相试样的完整性。本实用新型冷镶嵌材料在给定压力下硬化,保证冷镶嵌材料与试样充分接触,防止镶嵌过程中产生开裂、气泡、试样脱落等缺陷。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种冷镶嵌金相试样装置。
背景技术
在现代工业生产及科学研究中,常常需要分析、研究一些脆性大材料和易破碎材料的组织与性能。在光学金相分析和电子显微分析过程中,经常要对一些不能加热的形状记忆合金和镁合金等材料进行金相组织分析,也需要对特薄试样、特小试样、金属微粉试样、不能氧化试样等进行金相检验,以评定这些材料的工艺、组织及性能特点。由于这些材料性能的特殊性,或几何尺寸的特殊性,在制备试样前需要对金相试样进行镶嵌,便于对试样进行磨制和抛光。热镶嵌金相试样法和机械加持金相试样法时,难于满足金相试样在性能和尺寸方面的特殊性要求。传统的冷镶嵌金相试样法应用简单的软性模具和硬性模具,容易产生开裂、气泡和试样脱落等缺陷,影响了制备合格试样的质量和效率。现有的立柱式金相试样冷镶嵌装置,一是由于双立柱占据了较大的空间,操作不便,不利于手工装夹试样,影响快速制备试样效率;二是由于装置中没有测力计,操作者只能凭经验进行操作,难于根据镶嵌材料性能特点合理选用冷镶嵌时的压紧力。因此,设计一种操作方便、制样效率大、能准确选用压紧力大小、能适应性能和尺寸比较特殊材料的冷镶嵌金相试样装置就有更大的实际意义。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是针对现有技术的不足提供一种冷镶嵌金相试样装置。
本实用新型技术方案如下:
一种冷镶嵌金相试样装置,包括底座(1)、凹模(2)、压头(5)、测力计套筒(6)、测力计弹簧(7)、测力计垫片(8)、测力计指针(9)、丝杠(10)、悬臂梁(11);试样(3)放在底座(1)的凸台上,凹模(2)与底座(1)的凸台配合,压头(5)与测力计套筒(6)以螺纹配合,测力计套筒(6)内有测力计弹簧(7),测力计弹簧(7)下端与压头(5)接触,测力弹簧(7)上端与测力计垫片(8)接触,压头(5)与凹模(2)配合,并与冷镶嵌材料(4)接触;测力计垫片(8)上固定有测力计指针(9),测力计套筒(6)上加工有上下导槽,导槽侧面标志有压力刻度线,测力计弹簧(7)带动测力计指针(9)在导槽中上下移动,丝杠(10)与悬臂梁(11)通过螺纹配合,悬臂梁(11)固定在底座上。
所述的冷镶嵌金相试样装置,还包括垫筒(14),垫筒(14)的内径大于凹模(2)的内径,且小于凹模(2)的外径。
本实用新型采用悬臂梁结构,应用普通碳钢制造,结构简单,操作方便,经济耐用,不受场地限制,可重复使用,对环境无污染。
本实用新型采用测力计弹簧结构,可根据试样的性能和尺寸特点,以及冷镶嵌材料的性能特点,方便的确定实际压力大小,保证冷镶嵌后金相试样的完整性。
本实用新型冷镶嵌材料在给定压力下硬化,保证冷镶嵌材料与试样充分接触,防止镶嵌过程中产生开裂、气泡、试样脱落等缺陷。
附图说明
图1为冷镶嵌金相试样装置结构图;
图2为冷镶嵌金相试样装置A向图;
图3为冷镶嵌金相试样的压出示意图;
1-底座;2-凹模;3-试样;4-冷镶嵌材料;5-压头;6-测力计套筒;7-测力计弹簧;8-测力计垫片;9-测力计指针;10-丝杠;11-悬臂梁;12-手轮;13-螺栓;14-垫筒;
具体实施方式
以下结合具体实施例,对本实用新型进行详细说明。
图1是冷镶嵌金相试样装置的结构图。试样3放在底座1的凸台上,底座1的凸台表面涂有脱模剂。凹模2内表面涂有脱模剂,凹模2与底座1的凸台配合。将配好的冷镶嵌材料4沿着凹模2的模腔均匀浇入,浇入的高度便于握持冷镶嵌金相试样的磨制和抛光。
压头5与测力计套筒6以螺纹配合,压头5端面涂有脱模剂,测力计套筒6内有测力弹簧7,测力弹簧7下端与压头5接触,测力计弹簧7上端与测力计垫片8接触,压头5与凹模2配合,并与冷镶嵌材料4接触。
图2是冷镶嵌金相试样装置A向图,测力计垫片8上固定有测力计指针9,测力计套筒6上加工有上下导槽,导槽侧面标志有压力刻度线,测力计弹簧7带动测力计指针9在导槽中上下移动,所传递压力大小通过所指压力刻度线方便的读出。
丝杠10与悬臂梁11通过螺纹配合,悬臂梁11通过螺栓13固定在底座上。转动手轮12使得丝杠10向下移动,下压测力计垫片8,测力计弹簧7收缩,测力计指针9向下移动,将测力计套筒6上压力刻度线指示的力传递给压头5,冷镶嵌材料4在弹簧压力作用下与试样3紧密接触,室温下充分硬化。待冷镶嵌材料4充分硬化后,试样3被冷镶嵌在冷镶嵌材料4中。
图3是冷镶嵌后金相试样的压出示意图。取下带有冷镶嵌试样3的凹模2,将垫筒14放在底座1上,将凹模2放在垫筒14上面,垫筒14的内径大于凹模2的内径,但小于凹模2的外径。下压压头5,将冷镶嵌后的金相试样3压出,清理毛刺,完成冷镶嵌金相试样过程。然后进行磨制、抛光等制备金相试样工序。
应当理解的是,对本领域普通技术人员来说,可以根据上述说明加以改进或变换,而所有这些改进和变换都应属于本实用新型所附权利要求的保护范围。
Claims (2)
1.一种冷镶嵌金相试样装置,其特征在于,包括底座(1)、凹模(2)、压头(5)、测力计套筒(6)、测力计弹簧(7)、测力计垫片(8)、测力计指针(9)、丝杠(10)、悬臂梁(11);试样(3)放在底座(1)的凸台上,凹模(2)与底座(1)的凸台配合,压头(5)与测力计套筒(6)以螺纹配合,测力计套筒(6)内有测力计弹簧(7),测力计弹簧(7)下端与压头(5)接触,测力计弹簧(7)上端与测力计垫片(8)接触,压头(5)与凹模(2)配合,并与冷镶嵌材料(4)接触;测力计垫片(8)上固定有测力计指针(9),测力计套筒(6)上加工有上下导槽,导槽侧面标志有压力刻度线,测力计弹簧(7)带动测力计指针(9)在导槽中上下移动,丝杠(10)与悬臂梁(11)通过螺纹配合,悬臂梁(11)固定在底座上。
2.根据权利要求1所述的冷镶嵌金相试样装置,其特征在于,还包括垫筒(14),垫筒(14)的内径大于凹模(2)的内径,且小于凹模(2)的外径。
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