CN203225774U

CN203225774U - 射频测试的检测装置、设备和系统

Info

Publication number: CN203225774U
Application number: CN2013201914542U
Authority: CN
Inventors: 刘俊杰; 龚树强
Original assignee: Huawei Device Co Ltd
Current assignee: Honor Device Co Ltd
Priority date: 2013-04-16
Filing date: 2013-04-16
Publication date: 2013-10-02
Anticipated expiration: 2023-04-16

Abstract

本实用新型实施例提供一种射频测试的检测装置、设备和系统。本实用新型射频测试的检测装置，包括：一电感、一电阻、一检测信号输入端、一检测信号输出端；其中，所述电感的第一端与夹具上部的射频信号线连接，所述电感的第二端与所述检测信号输出端连接，所述电阻的第一端与所述电感的第二端连接，所述电阻的第二端与所述检测信号输入端连接；其中，所述检测信号输入端输入高电平直流信号时，若射频测试针与射频开关模块接触良好，则所述检测信号输出端输出低电平直流信号，若射频测试针与射频开关模块接触不良，则所述检测信号输出端输出高电平直流信号。本实用新型实施例解决了射频性能测试不准确的问题。

Description

射频测试的检测装置、设备和系统

技术领域

本实用新型实施例涉及测试技术，尤其涉及一种射频测试的检测装置、设备和系统。

背景技术

目前大部分终端产品都需要进行校准、综合测试后才能组装发货。

现有技术在对终端产品的射频性能进行校准、综合测试时，需要使用夹具固定待测单板。图1为现有技术中射频性能测试的结构示意图，如图1所示，夹具包括夹具上部1和夹具下部5，射频测试针2固定在夹具上部1面向夹具下部5的表面上并与夹具上部1的射频信号线6连通，夹具下部5面向夹具上部1的表面用于固定待测单板4，且待测单板4与夹具下部5共地，该待测单板4上设有射频开关（RF Switch）模块3，射频综测仪的射频信号接口与夹具上部1的射频信号线6连接，射频综测仪的地与夹具下部5的地连接。在进行射频测试时，该夹具上部1能够与夹具下部压合，从而使得射频测试针2与待测单板4上的射频开关模块3接触，然后，射频综测仪即可进行射频测试。

但是，上述过程时常出现射频性能测试不准确的问题。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种射频测试的检测装置、设备和系统，解决射频性能测试不准确的问题。

第一方面，本实用新型实施例提供一种射频测试的检测装置，包括：一电感、一电阻、一检测信号输入端、一检测信号输出端；其中，所述电感的第一端与夹具上部的射频信号线连接，所述电感的第二端与所述检测信号输出端连接，所述电阻的第一端与所述电感的第二端连接，所述电阻的第二端与所述检测信号输入端连接；其中，所述检测信号输入端输入高电平直流信号时，若射频测试针与射频开关模块接触良好，则所述检测信号输出端输出低电平直流信号，若射频测试针与射频开关模块接触不良，则所述检测信号输出端输出高电平直流信号。

第二方面，本实用新型实施例一种射频测试设备，包括：射频测试装置和射频测试的检测装置；

所述射频测试装置，包括：夹具上部、射频测试针以及夹具下部，所述射频测试针固定在所述夹具上部面向所述夹具下部的表面上并与所述夹具上部的射频信号线连通，所述夹具下部面向所述夹具上部的表面用于固定待测单板且所述待测单板与所述夹具下部共地，所述夹具上部能够与夹具下部压合以使所述射频测试针与所述待测单板上的射频开关模块接触；

所述射频测试的检测装置，包括：一电感、一电阻、一检测信号输入端、一检测信号输出端；

其中，所述电感的第一端与夹具上部的射频信号线连接，所述电感的第二端与所述检测信号输出端连接，所述电阻的第一端与所述电感的第二端连接，所述电阻的第二端与所述检测信号输入端连接；

其中，所述检测信号输入端输入高电平直流信号时，若所述射频测试针与所述射频开关模块接触良好，则所述检测信号输出端输出低电平直流信号，若所述射频测试针与所述射频开关模块接触不良，则所述检测信号输出端输出高电平直流信号。

第三方面，本实用新型实施例提供一种射频测试系统，包括：射频测试装置、射频测试的检测装置以及测试控制装置；

所述测试控制装置的检测信号输出接口与所述检测信号输入端连接，所述测试控制装置的检测信号输入接口与所述检测信号输出端连接；

其中，所述测试控制装置通过检测信号输出接口向所述检测信号输入端输入高电平直流信号时，若所述射频测试针与所述射频开关模块接触良好，则所述检测信号输出端通过所述检测信号输入接口向所述测试控制装置输入低电平直流信号，若所述射频测试针与所述射频开关模块接触不良，则所述检测信号输出端通过所述检测信号输入接口向所述测试控制装置输入高电平直流信号。

结合第三方面，在第一种可能的实现方式中，所述检测信号输出接口为所述测试控制装置的串口RTS；所述检测信号输入接口为所述测试控制装置的串口CTS。

结合第三方面或是第三方面的第一种可能的实现方式，在第二种可能的实现方式中的系统还包括：

射频综测仪，所述射频综测仪的射频信号接口与所述夹具上部的射频信号线连接，所述射频综测仪的地与所述夹具下部的地连接。

结合第三方面的第二种可能的实现方式，在第三种可能的实现方式中，所述射频综测仪的射频信号接口与所述夹具上部的射频信号线之间还连接有一电容。

结合第三方面的第二种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，所述测试控制装置还与所述射频综测仪连接；

其中，所述测试控制装置在通过所述检测信号输入接口接收到低电平直流信号时，向所述射频综测仪发送启动射频测试的控制信号。

本实用新型实施例射频测试的检测装置、设备和系统，通过将射频测试的检测装置与夹具上部的射频信号线相连接，当检测装置的检测信号输入端输入高电平直流信号时，若射频测试针与射频开关模块接触良好，则检测装置的检测信号输出端输出低电平直流信号，若射频测试针与射频开关模块接触不良，则检测装置的检测信号输出端输出高电平直流信号，因此，测试控制装置即可通过检测装置的检测信号输出端的高低电平直流信号，判断射频测试针与射频开关模块接触是否良好，从而能够保证射频测试是在射频测试针与射频开关模块接触良好的情况下进行的，进而可以解决射频性能测试不准确的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中射频性能测试的结构示意图；

图2为本实用新型射频测试的检测装置实施例的电路结构示意图；

图3为本实用新型射频测试设备实施例的结构示意图；

图4为本实用新型射频测试系统实施例一的结构示意图；

图5为本实用新型射频测试系统实施例二的电路结构示意图。

附图标记说明：

1：夹具上部；

2：射频测试针；

3：射频开关（RF Switch）模块、RF Switch模块；

4：待测单板；

5：夹具下部；

6：夹具上部1的射频信号线；

10：检测装置；

R1：电阻；

L1、L2：电感；

11：电感L1的第一端；

12：电感L1的第二端；

21：电阻R1的第一端；

22：电阻R1的第二端；

31：检测信号输入端；

32：检测信号输出端；

20：射频测试装置；

A、B、C：端口；

GND1、GND2：地线；

30：测试控制装置；

41：检测信号输入接口；

42：检测信号输出接口；

RTS、CTS：串口；

40：射频综测仪；

51：射频综测仪40的射频信号接口；

52：射频综测仪40的地；

C1：电容。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

图2为本实用新型射频测试的检测装置实施例的电路结构示意图，如图2所示，本实施例射频测试的检测装置10可以包括：电感L1、电阻R1、检测信号输入端31、检测信号输出端32，其中，电感L1的第一端11与夹具上部1的射频信号线6连接，电感L1的第二端12与检测信号输出端32连接，电阻R1的第一端21与电感L1的第二端12连接，电阻R1的第二端22与检测信号输入端31连接。

请参考图1，具体来说，现有的检测装置10的结构可以是夹具上部1的射频信号线6直接与射频综测仪射频信号线连接。在现有技术中时常出现由于射频测试针2与RF Switch模块3之间未接触良好，就开始射频测试，从而导致射频测试不准确的问题。

为此，本实施例可以引入一射频测试的检测装置10来检测射频测试针2与RF Switch模块3之间是否接触良好。请参考图2，在具体检测时，测试控制装置可以向检测装置10的检测信号输入端31输入高电平直流信号，若射频测试针2与RF Switch模块3接触良好时，则射频开关模块3的端口B、C连通，检测信号输出端32通过电感L1、RF Switch模块3、电感L2连接到地，则检测信号输出端32检测到低电平直流信号输出；若射频测试针2与RF Switch模块3接触不良时，RF Switch模块3的端口A、C连通，射频测试针处于悬空状态，与RF Switch模块3没有接触，检测信号输入端31与所述检测信号输出端32通过所述电阻R1连通，则检测信号输出端32检测到高电平直流信号输出。

因此，测试控制装置即可以在向检测信号输入端31输入高电平直流信号时，通过检测该检测信号输出端32输出的是高电平直流信号还是低电平直流信号来确定射频测试针2与RF Switch模块3是否接触良好，当检测信号输出端32输出高电平直流信号，则可以确定射频测试针2与RF Switch模块3接触不良，此时不能进行射频测试，当检测信号输出端32输出低电平直流信号，则可以确定射频测试针2与RF Switch模块3接触良好，可以进行射频测试。其中所述电感L1是为了隔离射频信号而设，使得检测装置10可以对检测信号输出端32输出的直流信号进行检测，对射频信号而言等于断路，不影响射频测试信号的正常工作。

本实施例中，电感L1、电感L2、电阻R1的大小例如可以是82nH、82nH、560ohm。

本实施例，通过将射频测试的检测装置与夹具上部的射频信号线相连接，当检测装置的检测信号输入端输入高电平直流信号时，若射频测试针与射频开关模块接触良好，则检测装置的检测信号输出端输出低电平直流信号，若射频测试针与射频开关模块接触不良，则检测装置的检测信号输出端输出高电平直流信号，因此，测试控制装置即可通过检测装置的检测信号输出端的高低电平直流信号，判断射频测试针与射频开关模块接触是否良好，从而能够保证射频测试是在射频测试针与射频开关模块接触良好的情况下进行的，进而可以解决射频性能测试不准确的问题。

图3为本实用新型射频测试设备实施例的结构示意图，如图3所示，本实施例射频测试的设备可以包括：射频测试装置20和射频测试的检测装置10，射频测试装置，包括：夹具上部1、射频测试针2以及夹具下部5，所述射频测试针2固定在所述夹具上部1面向所述夹具下部5的表面上并与所述夹具上部1的射频信号线6连通，所述夹具下部5面向所述夹具上部1的表面用于固定待测单板4且所述待测单板4与所述夹具下部5共地，所述夹具上部1能够与夹具下部5压合以使所述射频测试针2与所述待测单板4上的RF Switch模块3接触；所述射频测试的检测装置10如图2所示实施例中所述，此处不再赘述。所述射频测试装置20和射频测试的检测装置10通过所述夹具上部1的射频信号线6连接。

需要说明的是，本实施例中，射频测试装置20的等效电路结构与图2所示实施例中的左侧框图内的结构相同。

本实施例的实现原理与图2所示实施例的实现原理和技术效果类似，此处不再赘述。

图4为本实用新型射频测试系统实施例一的结构示意图，如图4所示，本实施例射频测试系统包括：射频测试装置20、射频测试的检测装置10以及测试控制装置30，其中所述射频测试装置20的结构如图3所示，其等效电路结构可以如图2左侧框图中所示，所述射频测试的检测装置10如图2所示实施例中所述，此处不再赘述。

测试控制装置30的检测信号输出接口42与检测信号输入端31连接，测试控制装置30的检测信号输入接口41与检测信号输出端32连接。

在具体实现时，测试控制装置30例如可以是PC机，检测信号输出接口42例如可以是测试控制装置30的串口RTS；检测信号输入接口41例如可以是测试控制装置30的串口CTS。

测试控制装置30通过检测信号输出接口42向检测信号输入端31输入高电平直流信号时，若射频测试针2与RF Switch模块3接触良好，则检测信号输出端32通过检测信号输入接口41向测试控制装置30输入低电平直流信号；若射频测试针2与RF Switch模块3接触不良，则检测信号输出端32通过检测信号输入接口41向测试控制装置30输入高电平直流信号。

图5为本实用新型射频测试系统实施例二的电路结构示意图，如图5所示，本实施例的系统，在图4所示系统的基础上，进一步还包括：射频综测仪40，射频综测仪40的射频信号接口51与夹具上部1的射频信号线6连接，射频综测仪40的地52与夹具下部5的地连接，其中图5左侧框图中所示电路结构为图4所示射频测试装置20的等效电路结构，此等效电路结构如图2左侧框图中所示。

本实施例的射频综测仪可以采用现有技术中任一种射频综测仪来对射频测试装置20进行测试。

在具体实现时，由于大部分射频综测仪如CMU200射频接口内部和地间的直流阻抗为0，因此，本实施例中，射频综测仪40的射频信号接口51与所述夹具上部1的射频信号线6之间还连接有电容C1，该电容C1用于增加射频接口内部和地间的直流阻抗，使得所述待测单板4的射频信号能够通过夹具上部1与所述射频综测仪40连通，对所述待测单板4进行射频测试。本实施例中电容C1的大小例如可以是33pF。

进一步地，本实施例中，测试控制装置30还可以与射频综测仪40连接。若所述测试控制装置30在通过所述检测信号输入接口41接收到低电平直流信号时，向所述射频综测仪40发送启动射频测试的控制信号；若所述测试控制装置30在通过所述检测信号输入接口41接收到高电平直流信号时，提示夹具未合上，射频测试不启动。因此，所述测试控制装置可以自动控制射频综测仪是否启动射频测试，减少了人工操作。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。

Claims

1.一种射频测试的检测装置，其特征在于，包括：

一电感、一电阻、一检测信号输入端、一检测信号输出端；

其中，所述检测信号输入端输入高电平直流信号时，若射频测试针与射频开关模块接触良好，则所述检测信号输出端输出低电平直流信号，若射频测试针与射频开关模块接触不良，则所述检测信号输出端输出高电平直流信号。

2.一种射频测试设备，其特征在于，包括：射频测试装置和射频测试的检测装置；

3.一种射频测试系统，其特征在于，包括：射频测试装置、射频测试的检测装置以及测试控制装置；

4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述检测信号输出接口为所述测试控制装置的串口RTS；所述检测信号输入接口为所述测试控制装置的串口CTS。

5.根据权利要求3或4所述的系统，其特征在于，还包括：

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述射频综测仪的射频信号接口与所述夹具上部的射频信号线之间还连接有一电容。

7.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述测试控制装置还与所述射频综测仪连接；