CN203224350U - 荧光粉测试系统 - Google Patents

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Abstract

一种荧光粉测试系统,包括XY平面坐标定位机构、被测LED夹具、电学性能检测组件、积分球组件和光分析判断模块;所述XY平面坐标定位机构将被测LED夹具上的被检测LED送到积分球组件下方,由电学性能检测组件给被检测LED通电,使被检测LED发光,所述积分球组件将被检测LED所发出的光采集后,输送给光分析判断模块进行分析判断。本实用新型具有可事先对少量的LED在封光前进行检测,以确定所配荧光粉是否是合符LED发光要求的荧光粉,从而使盲目生产LED成为过去的优点。

Description

荧光粉测试系统
技术领域    
     本实用新型涉及一种用于在LED芯片表面涂上荧光粉后,测试和判断荧光粉是否全符要求的荧光粉测试系统。
背景技术    
     目前,有些LED的发光最终形成的颜色是由LED芯片及涂覆在LED芯片上的荧光粉共同决定的,这种LED的生产,一般是根据客户所要求的LED发光颜色,如黄色,白色或蓝色,就由LED生产厂家或客户在选定LED芯片后,再根据经验配制出荧光粉,涂覆在LDE芯片表面上,封光后,进行全检或抽检,这时,如果LED所发出的光偏离客户所需要的光太远,就只能留下,重新制作,直到完全合符要求,对于留下的产品只有找机会再卖给所需要的另外客户或降价卖给其它客户,这种在LED封光后再作检测的方法,是事后检测,即使是发现有问题,产品也成为了即成事实,大大地影响了工厂的生产效能和降低了出厂良品率。
发明内容   
     为了克服上述问题,本发明向社会提供一种荧光粉测试系统,依靠该系统能事先对少量的LED在封光前进行检测,以确定所配荧光粉是否是合符LED发光要求的荧光粉,从而使盲目生产LED成为过去。
本实用新型的技术方案是:提供一种荧光粉测试系统,包括XY平面坐标定位机构、被测LED夹具、电学性能检测组件、积分球组件和光分析判断模块;所述XY平面坐标定位机构将被测LED夹具上的被检测LED送到积分球组件下方,由电学性能检测组件给被检测LED通电,使被检测LED发光,所述积分球组件将被检测LED所发出的光采集后,输送给光分析判断模块进行分析判断。
作为对本实用新型的改进,所述电学性能检测组件包括底座、电机、凸轮、滑块座、直线导轨副及带探针的探针座,所述电机设置在底座上,电机的输出轴与所述凸轮连接;在所述底座上设直线导轨副,直线导轨副的滑块与所述滑块座连接,所述滑块座与带探针的探针座固定连接,所述凸轮驱动所述滑块座沿所述直线导轨副往复运动。
作为对本实用新型的改进,所述凸轮是通过凸轮传动轮驱动所述滑块座沿所述直线导轨副往复运动的。
作为对本实用新型的改进,所述电机是伺服电子或步进电机。
作为对本实用新型的改进,还包括用于给凸轮复位的复位弹簧,所述复位弹簧的一端通过弹簧拉杆与所述底座固定连接,所述复位弹簧的另一端与凸轮连接。
作为对本实用新型的改进,还包括凸轮固定座,所述凸轮固定座设置在所述底座上,并与所述电机的输出轴固定连接,所述凸轮固定在所述凸轮固定座上,在所述凸轮固定座还设有感应片,在所述底座设有光电开关,所述感应片通过感应片上的豁口控制光电开关的工作状态。
作为对本实用新型的改进,所述XY平面坐标定位机构包括Y向运动机构和X向运动机构,所述X向运动机构通过XY连接板固定在所述Y向运动机构上,所述被测LED夹具固定在所述X向运动机构上。
作为对本实用新型的改进,所述Y向运动机构包括Y向底座,在所述Y向底座设有Y向直线导轨辐,所述Y向直线导轨辐上的Y向滑块与由Y向电机转动的第一丝杆连接,在所述Y向滑块上设有XY连接板。
作为对本实用新型的改进,所述X向运动机构包括X向底座,在所述X向底座设有X向直线导轨辐,所述X向直线导轨辐上的X向滑块与由X向电机转动的第二丝杆连接,在所述X向滑块上设有被测LED夹具。
作为对本实用新型的改进,所述被测LED夹具包括夹具安装板和支架夹具,所述支架夹具固定在所述夹具安装板上,在所述支架夹具设有夹具盖板。
本实用新型具有可事先对少量的LED在封光前进行检测,以确定所配荧光粉是否是合符LED发光要求的荧光粉,从而使盲目生产LED成为过去的优点。
附图说明
图1是本实用新型的一种实施例的立体分解结构示意图。
图2是图1组合后的立体结构示意图。
图3是图1中的电学性能检测组件的立体分解结构示意图。
图4是图1中的Y向运动机构的立体分解结构示意图。
图5是图1中的X向运动机构的立体分解结构示意图。
图6是图1中的积分球组件的立体分解结构示意图。
具体实施方式
 请参见图1和图2,图1和图2所揭示的是一种荧光粉测试系统,包括XY平面坐标定位机构1、被测LED夹具2、电学性能检测组件3、积分球组件4和光分析判断模块(未画出);所述XY平面坐标定位机构1将被测LED夹具2上的被检测LED送到积分球组件4下方,由电学性能检测组件3给被检测LED通电,使被检测LED发光,所述积分球组件4将被检测LED所发出的光采集后,输送给光分析判断模块进行分析判断,输出结果。本实施例中,所述XY平面坐标定位机构1、被测LED夹具2、电学性能检测组件3、积分球组件4均固定在底板1上;本实施例中,所述XY平面坐标定位机构1包括Y向运动机构11和X向运动机构12,所述X向运动机构12通过XY连接板116固定在所述Y向运动机构11上,所述被测LED夹具2固定在所述X向运动机构12上,通过程序控制Y向运动机构11和X向运动机构12移动,可以准确地将被测LED定位于与电学性能检测组件3和积分球组件4相对应的位置;本实用新型中,所述积分球组件4及光分析判断模块是现有技术,在这里不再赘述。
请参见图3,图3是图1中的电学性能检测组件的立体分解结构示意图。所述电学性能检测组件3包括底座31、电机32、凸轮33、滑块座34、直线导轨副35及带探针37的探针座36,所述电机32设置在底座31上,电机32的输出轴321与所述凸轮33连接;在所述底座31上设直线导轨副35,直线导轨副35的滑块351与所述滑块座34连接,所述滑块座34与带探针37的探针座36固定连接,所述凸轮33驱动所述滑块座34沿所述直线导轨副35往复运动;所述凸轮33是通过凸轮传动轮331驱动所述滑块座34沿所述直线导轨副35往复运动的;所述电机31是伺服电子或步进电机;本实施例中,还包括用于给凸轮33复位的复位弹簧38,所述复位弹簧38的一端通过弹簧拉杆381与所述底座31固定连接,所述复位弹簧38的另一端与凸轮33连接;还包括凸轮固定座39,所述凸轮固定座39设置在所述底座31上,并与所述电机32的输出轴321固定连接,所述凸轮33固定在所述凸轮固定座39上,在所述凸轮固定座39还设有感应片391,在所述底座31设有光电开关392,所述感应片391通过感应片391上的豁口393控制光电开关392的工作状态;所述探针座36是通过连接板394与所述滑块座34连接的。
请参见图4,图4是图1中的Y向运动机构的立体分解结构示意图。所述Y向运动机构11包括Y向底座111,在所述Y向底座111设有Y向直线导轨辐112,所述Y向直线导轨辐112上的Y向滑块113与由Y向电机114转动的第一丝杆115连接,在所述Y向滑块113上设有XY连接板116。具体地说,所述第一丝杆115的两端设有Y向轴承座117和Y向轴承118,第一丝杆115通过Y向联轴器119与所述Y向电机114连接,所述Y向电机114固定在Y向电机座120内,本实施例中的滑块113是第一丝母座。
图5是图1中的X向运动机构的立体分解结构示意图。所述X向运动机构12包括X向底座121,在所述X向底座121设有X向直线导轨辐122,所述X向直线导轨辐122上的X向滑块123与由X向电机124转动的第二丝杆125连接,在所述X向滑块113上设有被测LED夹具2。具体地说,所述第二丝杆125的两端设有X向轴承座127和X向轴承128,第二丝杆125通过X向联轴器129与所述X向电机124连接,所述X向电机124固定在X向电机座130内,本实施例中的第二滑块123是第二丝母座。本实施例中,所述被测LED夹具2包括夹具安装板21和支架夹具22,所述支架夹具22固定在所述夹具安装板21上,在所述支架夹具22设有夹具盖板23,在所述支架夹具22设有定位销24及磁铁25,用于定位和吸住夹具盖板23。
图6是图1中的积分球组件的立体分解结构示意图。所述积分球组件4包括底座41,立柱42及限位板43,所述立柱42的下端设在所述底座41上,所述限位板43设在立柱42的上端,积分球安装板44通过轴承46可旋转地设在限位板43之上的立柱42上端,积分球45设在所述积分球安装板44上,在所述积分球安装板44还设有第二磁铁47及限位柱48。
本实用新型采用LED夹具2固定被检LED板26,整个LED夹具2固定在XY平面坐标定位机构1上,XY平面坐标定位机构1是由两个马达来驱动,通过XY平面坐标定位机构1的移动,可将被检LED板26上LED移动至测试组件处,并通过测试组件来对LED进行电学和光学的检测。本实用新型同时支持整个被检LED板26按顺序批量测试分析,也可以针对被检LED板26中某一个LED进行抽检分析。

Claims (10)

1.一种荧光粉测试系统,其特征在于:包括XY平面坐标定位机构(1)、被测LED夹具(2)、电学性能检测组件(3)、积分球组件(4)和光分析判断模块;所述XY平面坐标定位机构(1)将被测LED夹具(2)上的被检测LED送到积分球组件(4)下方,由电学性能检测组件(3)给被检测LED通电,使被检测LED发光,所述积分球组件(4)将被检测LED所发出的光采集后,输送给光分析判断模块进行分析判断。
2.根据权利要求1所述的荧光粉测试系统,其特征在于:所述电学性能检测组件(3)包括底座(31)、电机(32)、凸轮(33)、滑块座(34)、直线导轨副(35)及带探针(37)的探针座(36),所述电机(32)设置在底座(31)上,电机(32)的输出轴(321)与所述凸轮(33)连接;在所述底座(31)上设直线导轨副(35),直线导轨副(35)的滑块(351)与所述滑块座(34)连接,所述滑块座(34)与带探针(37)的探针座(36)固定连接,所述凸轮(33)驱动所述滑块座(34)沿所述直线导轨副(35)往复运动。
3.根据权利要求2所述的荧光粉测试系统,其特征在于:所述凸轮(33)是通过凸轮传动轮(331)驱动所述滑块座(34)沿所述直线导轨副(35)往复运动的。
4.根据权利要求2所述的荧光粉测试系统,其特征在于:所述电机(31)是伺服电子或步进电机。
5.根据权利要求2所述的荧光粉测试系统,其特征在于:还包括用于给凸轮(33)复位的复位弹簧(38),所述复位弹簧(38)的一端通过弹簧拉杆(381)与所述底座(31)固定连接,所述复位弹簧(38)的另一端与凸轮(33)连接。
6.根据权利要求2所述的荧光粉测试系统,其特征在于:还包括凸轮固定座(39),所述凸轮固定座(39)设置在所述底座(31)上,并与所述电机(32)的输出轴(321)固定连接,所述凸轮(33)固定在所述凸轮固定座(39)上,在所述凸轮固定座(39)还设有感应片(391),在所述底座(31)设有光电开关(392),所述感应片(391)通过感应片(391)上的豁口(393)控制光电开关(392)的工作状态。
7.根据权利要求1至6中任何一项权利要求所述的荧光粉测试系统,其特征在于:所述XY平面坐标定位机构(1)包括Y向运动机构(11)和X向运动机构(12),所述X向运动机构(12)通过XY连接板(116)固定在所述Y向运动机构(11)上,所述被测LED夹具(2)固定在所述X向运动机构(12)上。
8.根据权利要求7所述的荧光粉测试系统,其特征在于:所述Y向运动机构(11)包括Y向底座(111),在所述Y向底座(111)设有Y向直线导轨辐(112),所述Y向直线导轨辐(112)上的Y向滑块(113)与由Y向电机(114)转动的第一丝杆(115)连接,在所述Y向滑块(113)上设有XY连接板(116)。
9.根据权利要求7所述的荧光粉测试系统,其特征在于:所述X向运动机构(12)包括X向底座(121),在所述X向底座(121)设有X向直线导轨辐(122),所述X向直线导轨辐(122)上的X向滑块(123)与由X向电机(124)转动的第二丝杆(125)连接,在所述X向滑块(113)上设有被测LED夹具(2)。
10.根据权利要求1至6中任何一项权利要求所述的荧光粉测试系统,其特征在于:所述被测LED夹具(2)包括夹具安装板(21)和支架夹具(22),所述支架夹具(22)固定在所述夹具安装板(21)上,在所述支架夹具(22)设有夹具盖板(23)。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106353073A (zh) * 2016-09-20 2017-01-25 山东华光光电子股份有限公司 一种激光器封装过程中波长筛选装置及其筛选方法
CN109596320A (zh) * 2018-11-29 2019-04-09 江西省晶瑞光电有限公司 荧光膜片性能测试方法及荧光膜片中原料配比确定方法
CN110161004A (zh) * 2019-05-23 2019-08-23 广东祥新光电科技有限公司 荧光膜片检测装置及方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106353073A (zh) * 2016-09-20 2017-01-25 山东华光光电子股份有限公司 一种激光器封装过程中波长筛选装置及其筛选方法
CN109596320A (zh) * 2018-11-29 2019-04-09 江西省晶瑞光电有限公司 荧光膜片性能测试方法及荧光膜片中原料配比确定方法
CN109596320B (zh) * 2018-11-29 2021-06-29 江西省晶能半导体有限公司 荧光膜片性能测试方法及荧光膜片中原料配比确定方法
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