CN203148988U - 电子元件测试装置的偏心弹簧 - Google Patents

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CN203148988U CN 201320051064 CN201320051064U CN203148988U CN 203148988 U CN203148988 U CN 203148988U CN 201320051064 CN201320051064 CN 201320051064 CN 201320051064 U CN201320051064 U CN 201320051064U CN 203148988 U CN203148988 U CN 203148988U
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林信忠
陈威助
游辉哲
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Abstract

本实用新型是一种电子元件测试装置的偏心弹簧，其中该电子元件测试装置由一座体、一盖体、一承载平台、复数个弹性元件及复数个探针单元所组成，且该每一探针单元包括一外管、一偏心弹簧及一探针头，本实用新型的特色该偏心弹簧对应该外管设有一第一绕线部，该第一绕线部具有一第一中心轴，且于该偏心弹簧的其中一端设有一第二绕线部，该第二绕线部对应该第一中心轴而具有一第二中心轴，且该第一中心轴与该第二中心轴之间具有一第一设定间隔，使该第一绕线部及该第二绕线部的一侧边与该外管的内管壁常态保持抵靠接触，以降低检测时的阻抗，而减少检测时的误差。

Description

电子元件测试装置的偏心弹簧
技术领域
本实用新型涉及一种弹簧，特别是关于一种应用于电子元件测试装置内的偏心弹簧。
背景技术
一般半导体晶片（电子元件）的内部具有一集成电路，且该集成电路向外延伸设有复数个引脚或电极，通常会针对该复数个引脚或该复数个电极进行各项的电气特性测试。通常，厂商会依据最接近实际操作使用时的状态，制作出相对应的一电子元件测试装置，以便完整模拟真实操作使用时的环境而进行测试。
请参阅图1、图2，是一般电子元件测试装置的结构示意图及其操作时的状态示意图。如图中所示，用来检测四方扁平封装半导体（Quad Flat Package,QFP）的电子元件测试装置1，其中该QFP由一基材的四个侧面分别延伸设有复数个引脚而呈现海鸥翼(L)型。该种电子元件测试装置1包括一座体11、一盖体12、一承载台13、复数个弹性元件14及复数个探针单元15，其中该该座体11及该盖体12对合设置，且于中央部位对应形成一容置空间111，以供容置该承载台13及该复数个弹性元件14，该承载台13平均靠抵于该复数个弹性元件14上而活动设于该容置空间111内，该每一探针单元15分别活动设置于该座体11及该盖体12之间，而每一探针单元15又包含一外管151、一弹簧152及一探针头153，该探针头153连同该弹簧152而活动套设于该外管151内，使该探针头153的一接触端1531穿出该外管151。检测时，将该QFP2平均置于该承载台13上，通过适当压力下压该QFP2连同该承载台13，进而检测该复数个引脚21是否能够与该每一探针头153的该接触端1531相抵靠接触，进一步达到检测其电气导通状态的目的。
然而，该电子元件测试装置1进行检测时的准确性，由于该探针头153通过该弹簧152与该外管151作电性导通，故该探针头153及该弹簧152的设计方式，例如：该探针头153导电性不佳，或是该弹簧152无法提供有效的支撑效果及更高频宽的测试，均有可能影响其准确性。一般而言，该弹簧152多选用呈单一圆径的直线弹簧，或选用呈多段不同圆径的同心直线弹簧，当该探针头153受压，并压缩该弹簧152而造成弯曲形变，使该弹簧152无法与该外管151的内壁面保持有效的抵靠接触，也即抵靠接触面积及抵靠接触位置无法固定而导致阻抗的改变；但是，其阻抗越低则越不容易影响检测效果，但无法保持有效的抵靠接触，是传统的该弹簧152最大的缺点，故有必要加以改良。
发明内容
有鉴于此，本实用新型的一目的，旨在提供一种电子元件测试装置的偏心弹簧，俾于该偏心弹簧设有一第一绕线部，以及延伸自该第一绕线部外周缘的一第二绕线部，该第二绕线部偏心设置于该第一绕线部的一端，该偏心弹簧受压后，该第二绕线部变形量会大于该第一绕线部，使该第一绕线部及该第二绕线部朝同一侧弯曲变形，其表面能够加大与一外管的内壁面的抵靠接触面积，以降低阻抗而避免检测时的误差。
为达上述目的，本实用新型的电子元件测试装置的偏心弹簧，其中该电子元件测试装置由一座体、一盖体、一承载平台、复数个弹性元件及复数个探针单元所组成，该每一探针单元至少包括一外管、该偏心弹簧及一探针头，利用该复数个探针单元接触该电子元件的各针脚时，以检测该每一针脚的电气导通状态，其特征在于：该偏心弹簧对应该外管设有一第一绕线部，该第一绕线部具有一第一中心轴，且于该偏心弹簧的其中一端设有一第二绕线部，该第二绕线部对应该第一中心轴而具有一第二中心轴，且该第一中心轴与该第二中心轴之间具有一第一设定间隔，使该第一绕线部及该第二绕线部的一侧边与该外管的内管壁相抵靠接触。
其中，该第一绕线部具有一第一圆径
Figure BDA00002790778100021
且该第二绕线部具有一第二圆径
Figure BDA00002790778100022
且该第一圆径
Figure BDA00002790778100023
与该第二圆径
Figure BDA00002790778100024
的比值介于1.5～3。再者，该第一绕线部及该第二绕线部的表面设有一导电金属层，故能有效提升其导电性。
于一实施例中，本实用新型的该电子元件测试装置的偏心弹簧，除原有的该第一绕线部及该第二绕线部外，还具有一第三绕线部，而设于该第一绕线部的另一端，且该第三绕线部具有一第三中心轴，该第一中心轴与该第三中心轴之间具有一第二设定间隔。再者，该第一绕线部具有一第一圆径
Figure BDA00002790778100025
且该第三绕线部具有一第三圆径
Figure BDA00002790778100031
且该第一圆径
Figure BDA00002790778100032
与该第三圆径
Figure BDA00002790778100033
的比值介于1.5～3。并且，在该第一绕线部及该第三绕线部的表面设有一导电金属层，也能有效提升其导电性。
与现有技术相比较，本发明具有的有益效果是：使用时，该探针头受到该引脚的压迫而压缩该偏心弹簧，进一步造成该偏心弹簧的弯曲形变，由于该偏心弹簧的该第二绕线部及该第三绕线部的圆径小于该第一绕线部，受压时会比较容易产生弯曲形变，且其弯曲形变时的方向也能被控制，故能与该外管的内壁面保持有效的抵靠接触，避免阻抗升高。
附图说明
图1是一般电子元件测试装置的结构示意图；
图2是一般电子元件测试装操作时的状态示意图；
图3是本实用新型较佳实施例的安装示意图；
图4是本实用新型较佳实施例的结构示意图；
图5是本实用新型较佳实施例使用时的状态示意图。
附图标记说明：1-电子元件测试装置；11-座体；111-容置空间；12-盖体；13-承载台；14-弹性元件；15-探针单元；151-外管；152-弹簧；153-探针头；1531-接触端；2-四方扁平封装半导体；21-引脚；3-电子元件测试装置；31-座体；311-容置空间；312-第一穿孔；32-盖体；321-第二穿孔；33-承载台；34-弹性元件；35-探针单元；351-外管；352-偏心弹簧；3521-第一绕线部；35211-第一中心轴；
Figure BDA00002790778100034
-第一圆径；3522-第二绕线部；35221-第二中心轴；
Figure BDA00002790778100035
-第二圆径；3523-第三绕线部；35231-第三中心轴；-第三圆径；3524-导电金属层；353-探针头；T1-第一设定间隔；T2-第二设定间隔；4-四方扁平封装半导体；41-引脚。
具体实施方式
为使贵审查委员能清楚了解本实用新型的内容，仅以下列说明搭配图式，敬请参阅。
请参阅图3、图4、图5，是本实用新型较佳实施例的安装示意图、结构示意图及其使用时的状态示意图。如图中所示，本实用新型的具体实施例同样通过安装于一电子元件测试装置3中，该电子元件测试装置3的结构与现有的电子元件测试装置1相同，其同样包括一座体31、一盖体32、一承载平台33、复数个弹性元件34及复数个探针单元35所组成，且该每一探针单元35至少包括一外管351、该偏心弹簧352及一探针头353，并可利用该复数个探针单元35接触一四方扁平封装半导体（Quad Flat Package,QFP）4的各引脚41时，利用该每一探针头353抵靠接触于该每一引脚41上，以检测该每一引脚41的电气导通状态。
本实用新型的该偏心弹簧352对应该外管351而分成三段，分别为一第一绕线部3521、一第二绕线部3522及一第三绕线部3523，该第二绕线部3522及该第三绕线部3523分别设于该第一绕线部3521的二端，该第一绕线部3521、该第二绕线部3522及该第三绕线部3523由同一金属线材绕制而成，且该第二绕线部3522及该第三绕线部3523的外部沿着该第一绕线部3521的外围进行绕制，因此，该第一绕线部3521、该第二绕线部3522及该第三绕线部3523的一侧边呈现一直线，而可与该外管351的内管壁相抵靠接触。
并且，该第一绕线部3521具有一第一中心轴35211，该第二绕线部3522对应该第一中心轴35211而具有一第二中心轴35221，且该第一中心轴35211与该第二中心轴35221之间具有一第一设定间隔T1；同样地，该第三绕线部3523对应该第一中心轴35211而具有一第三中心轴35231，且该第一中心轴35211与该第三中心轴35231之间具有一第二设定间隔T2。应注意的是，该第一设定间隔T1与该第二设定间隔T2的尺寸可为相同或不相同，可依据客户需求而制订，故不以此为限，此实施例中，该第一设定间隔T1等于该第二设定间隔T2。
再者，该第一绕线部3521具有一第一圆径
Figure BDA00002790778100041
该第二绕线部3522具有一第二圆径
Figure BDA00002790778100042
以及该第三绕线部3523具有一第三圆径
Figure BDA00002790778100043
且该第一圆径
Figure BDA00002790778100044
与该第二圆径
Figure BDA00002790778100045
的比值介于1.5～3，该第一圆径
Figure BDA00002790778100046
与该第三圆径
Figure BDA00002790778100047
的比值介于1.5～3。应注意的是，该第二圆径
Figure BDA00002790778100048
及该第三圆径
Figure BDA00002790778100049
也可为相同的圆径或为不相同的圆径，而能够用来调整该第一绕线部3521、该第二绕线部3522及该第三绕线部3523受压时的偏移效果，例如：该第一绕线部3521与该第二绕线部3522及该第三绕线部3523的比值越大时，表示其圆径差异越大，故受压时该第二绕线部3522及该第三绕线部3523越容易产生弯曲形变，反之，当比值越小时，该第二绕线部3522及该第三绕线部3523越不容易因为受压而弯曲形变。
另外，在该第一绕线部3521、该第二绕线部3522及该第三绕线部3523的表面设有一导电金属层3524，用以增加其导电性。
使用时，该探针头353受到该引脚41的压迫而压缩该偏心弹簧352，进一步造成该偏心弹簧352的弯曲形变，由于该偏心弹簧352的该第二绕线部3522及该第三绕线部3523的圆径小于该第一绕线部3521，受压时会比较容易产生弯曲形变，且其弯曲形变时的方向也能被控制，故能与该外管351的内壁面保持有效的抵靠接触，避免阻抗升高。
以上说明对本发明而言只是说明性的，而非限制性的，本领域普通技术人员理解，在不脱离权利要求所限定的精神和范围的情况下，可作出许多修改、变化或等效，但都将落入本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种电子元件测试装置的偏心弹簧，该电子元件测试装置由一座体、一盖体、一承载平台、复数个弹性元件及复数个探针单元所组成，该每一探针单元至少包括一外管、该偏心弹簧及一探针头，利用该复数个探针单元接触该电子元件的各针脚时，以检测该每一针脚的电气导通状态，其特征在于：
该偏心弹簧对应该外管设有一第一绕线部，该第一绕线部具有一第一中心轴，且在该偏心弹簧的其中一端设有一第二绕线部，该第二绕线部对应该第一中心轴而具有一第二中心轴，且该第一中心轴与该第二中心轴之间具有一第一设定间隔，使该第一绕线部及该第二绕线部的一侧边与该外管的内管壁相抵靠接触。
2.根据权利要求1所述的电子元件测试装置的偏心弹簧，其特征在于：该第一绕线部具有一第一圆径
Figure FDA00002790778000011
且该第二绕线部具有一第二圆径
Figure FDA00002790778000012
且该第一圆径
Figure FDA00002790778000013
与该第二圆径
Figure FDA00002790778000014
的比值介于1.5～3。
3.根据权利要求1或2所述的电子元件测试装置的偏心弹簧，其特征在于：该第一绕线部及该第二绕线部的表面设有一导电金属层。
4.根据权利要求1或2所述的电子元件测试装置的偏心弹簧，其特征在于：还具有一第三绕线部，设于该第一绕线部的另一端，且该第三绕线部具有一第三中心轴，该第一中心轴与该第三中心轴之间具有一第二设定间隔。
5.根据权利要求4所述的电子元件测试装置的偏心弹簧，其特征在于：该第一绕线部具有一第一圆径
Figure FDA00002790778000015
且该第三绕线部具有一第三圆径
Figure FDA00002790778000016
且该第一圆径
Figure FDA00002790778000017
与该第三圆径的比值介于1.5～3。
6.根据权利要求5所述的电子元件测试装置的偏心弹簧，其特征在于：该第一绕线部及该第三绕线部的表面设有一导电金属层。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021172061A1 (ja) * 2020-02-26 2021-09-02 日本電産リード株式会社 筒状体、接触端子、検査治具、および検査装置

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