CN207301268U - 旋转式测试模组 - Google Patents

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杨志法
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Abstract

本实用新型公开了一种旋转式测试模组,旨在提供一种设计合理、提高测试和避免产品被损坏的旋转式测试模组。本实用新型包括测试台,所述测试台内镶嵌有载板,所述载板内设置有Pogo pin旋转模组,所述Pogo pin旋转模组通过等高螺丝固定于所述载板内,且所述Pogo pin旋转模组的旋转中心为所述等高螺丝的中心,所述测试台内设置有信号转接结构,所述Pogo pin旋转模组在旋转范围内与所述信号转接结构相连接。本实用新型应用于有折弯角度的电路柔性板测试的技术领域。

Description

旋转式测试模组
技术领域
本实用新型涉及一种有折弯角度的电路柔性板测试模组,特别涉及一种旋转式测试模组。
背景技术
目前,有折弯角度的电路柔性板测试模组,是把产品放在Holder(一种独立可随时装载取出的载板模组,为的是产品在机台外固定,避免在机台上装配占用机台的测试时间)上固定好,然后将整个Holder放进测试平台进行测试,利用Holder上的探针模组结构,对产品的金手指部分进行导电通信测试,通过对产品的综合测试来判断整个产品的电子元器件功能是否处于正常工作状态;但由于柔性板主要用于需要弯折的场合,而折弯角度根据工艺而异,目前,市场上的柔性板折弯角度一般为±5°;现有的柔性板测试夹具的定位方式基本上都是使用根据柔性板的外形进行定位,由于柔性板金手指宽度一般小于0.3mm,如果折弯长度是10mm,那么折弯角度公差只能是1.5°,才能使探针接触到金手指上面,如果折弯角度公差为5°,那么折弯长度只能为3mm才能使探针接触到金手指进行信号导通测试,但这样明显不能够满足柔性板的设计理念。
虽然柔性板具有一点的柔性,可以强制将折弯角摆正放入定位槽中,但是这样明显会对产品造成一定的损伤或者弄坏产品,同时这样的操作会造成整体的测试效率低。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供了一种设计合理、提高测试和避免产品被损坏的旋转式测试模组。
本实用新型所采用的技术方案是:本实用新型包括测试台,所述测试台内镶嵌有载板,所述载板内设置有Pogo pin旋转模组,所述Pogo pin旋转模组通过等高螺丝固定于所述载板内,且所述Pogo pin旋转模组的旋转中心为所述等高螺丝的中心,所述测试台内设置有信号转接结构,所述Pogo pin旋转模组在旋转范围内与所述信号转接结构相连接。
进一步的,所述Pogo pin旋转模组包括探针PCB转接板、下针块、上针块、弹簧、针载板、基座和压块,所述探针PCB转接板、所述下针块、所述上针块和所述针载板从下至上依次叠放,所述针载板套设于所述基座的下端,所述压块与所述基座相铰接,所述探针PCB转接板与所述针载板之间设置有若干个所述弹簧,且所述弹簧穿过所述下针块和所述上针块。
进一步的,所述信号转接结构包括弹性针、PCB弧形金属盘和外接PCB转接板,所述外接PCB转接板设置于所述测试台内,且所述外接PCB转接板的一端位于所述Pogo pin旋转模组的旋转范围内,所述弹性针设置于所述外接PCB转接板的一端上,所述PCB弧形金属盘以所述等高螺丝为中心设置于所述Pogo pin旋转模组的旋转范围内,且所述PCB弧形金属盘位于所述探针PCB转接板和所述弹性针之间。
进一步的,所述Pogo pin旋转模组还包括推块和扭簧,所述压块与所述基座通过所述扭簧相铰接,所述推块的一端伸入所述基座内与所述扭簧相接触。
本实用新型的有益效果是:由于本实用新型包括测试台,所述测试台内镶嵌有载板,所述载板内设置有Pogo pin旋转模组,所述Pogo pin旋转模组通过等高螺丝固定于所述载板内,且所述Pogo pin旋转模组的旋转中心为所述等高螺丝的中心,所述测试台内设置有所述信号转接结构,所述Pogo pin旋转模组在旋转范围内与所述信号转接结构相连接,所以本实用新型利用可旋转的所述Pogo pin旋转模组来解决柔性板折弯角度公差偏大而导致产品压坏或接触不良的问题,通过该合理的设计也提高了测试的效率。
附图说明
图1是本实用新型的示意图;
图2是载板上的安装示意图;
图3是Pogo pin旋转模组的爆炸图;
图4是Pogo pin旋转模组与信号转接结构的导通结构示意图。
具体实施方式
如图1至图4所示,在本实施例中,本实用新型包括测试台1,所述测试台1内镶嵌有载板2,所述载板2内设置有Pogo pin旋转模组3,所述Pogo pin旋转模组3中的所述Pogopin是一种应用于手机等电子产品中的精密连接器,广泛应用于半导体设备中,起连接作用,所述Pogo pin旋转模组3通过等高螺丝4固定于所述载板2内,且所述Pogo pin旋转模组3可沿所述等高螺丝4的中心为旋转中心在所述载板2内旋转一定角度,所述测试台1内设置有信号转接结构5,所述Pogo pin旋转模组3在旋转范围内与所述信号转接结构5相连接,所述等高螺丝4的中心位置的设计是通过柔性板最大的折弯偏差角与最小的折弯偏差角找出折弯角的中心,然后再利用该中心来确定所述等高螺丝4的中心P即为所述Pogo pin旋转模组3的旋转中心,该整体设计结构通过将所述Pogo pin旋转模组3设计成一个可以自由旋转一定角度的活动模组,通过所述Pogo pin旋转模组3的旋转角度来匹配柔性板的不同折弯角度公差,再通过所述信号转接结构5的二次转接进行测试信号的传输,大大的避免了由于折弯角度公差偏大而导致产品与金手指接触不良或有被压伤或压坏的风险,可旋转的所述Pogo pin旋转模组3满足了折弯柔性板的快速定位及保证产品放置的精度和减少产品的损伤。
在本实施例中,所述Pogo pin旋转模组3包括探针PCB转接板31、下针块32、上针块33、弹簧34、针载板35、基座36、压块37、推块38和扭簧39,所述探针PCB转接板31、所述下针块32、所述上针块33和所述针载板35从下至上依次叠放,所述针载板35套设于所述基座36的下端,所述压块37与所述基座36相铰接,所述探针PCB转接板31与所述针载板35之间设置有若干个所述弹簧34,且所述弹簧34穿过所述下针块32和所述上针块33,所述压块37与所述基座36通过所述扭簧39相铰接,所述推块38的一端伸入所述基座36内与所述扭簧39相接触。
在本实施例中,所述信号转接结构5包括弹性针51、PCB弧形金属盘和外接PCB转接板53,所述外接PCB转接板53设置于所述测试台1内,且所述外接PCB转接板53的一端位于所述Pogo pin旋转模组3的旋转范围内,所述弹性针51设置于所述外接PCB转接板53的一端上,所述PCB弧形金属盘以所述等高螺丝4为中心设置于所述Pogo pin旋转模组3的旋转范围内,且所述PCB弧形金属盘位于所述探针PCB转接板31和所述弹性针51之间,此设计通过所述弹性针51接触所述PCB弧形金属盘,可以将信号给到所述探针PCB转接板31,从而给产品供电以及传输产品的回馈信号给到测试数据分析仪器上面;另外所述PCB弧形金属盘根据所述探针PCB转接板31的旋转中心设计弧度及大小,这样就避免了所述Pogo pin旋转模组3旋转时所述弹性针51不能接触到所述PCB弧形金属盘的问题。
综上所述,本实用新型能够直接对柔性板的折弯角度偏差公差进行校准测试,避免了产品接触不良和减少压伤或压坏产品的风险,同时还提高了生产效率。
本实用新型应用于有折弯角度的电路柔性板测试的技术领域。
虽然本实用新型的实施例是以实际方案来描述的,但是并不构成对本实用新型含义的限制,对于本领域的技术人员,根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。

Claims (4)

1.一种旋转式测试模组,其特征在于:它包括测试台(1),所述测试台(1)内镶嵌有载板(2),所述载板(2)内设置有Pogo pin旋转模组(3),所述Pogo pin旋转模组(3)通过等高螺丝(4)固定于所述载板(2)内,且所述Pogo pin旋转模组(3)的旋转中心为所述等高螺丝(4)的中心,所述测试台(1)内设置有信号转接结构(5),所述Pogo pin旋转模组(3)在旋转范围内与所述信号转接结构(5)相连接。
2.根据权利要求1所述的旋转式测试模组,其特征在于:所述Pogo pin旋转模组(3)包括探针PCB转接板(31)、下针块(32)、上针块(33)、弹簧(34)、针载板(35)、基座(36)和压块(37),所述探针PCB转接板(31)、所述下针块(32)、所述上针块(33)和所述针载板(35)从下至上依次叠放,所述针载板(35)套设于所述基座(36)的下端,所述压块(37)与所述基座(36)相铰接,所述探针PCB转接板(31)与所述针载板(35)之间设置有若干个所述弹簧(34),且所述弹簧(34)穿过所述下针块(32)和所述上针块(33)。
3.根据权利要求2所述的旋转式测试模组,其特征在于:所述信号转接结构(5)包括弹性针(51)、PCB弧形金属盘和外接PCB转接板(53),所述外接PCB转接板(53)设置于所述测试台(1)内,且所述外接PCB转接板(53)的一端位于所述Pogo pin旋转模组(3)的旋转范围内,所述弹性针(51)设置于所述外接PCB转接板(53)的一端上,所述PCB弧形金属盘以所述等高螺丝(4)为中心设置于所述Pogo pin旋转模组(3)的旋转范围内,且所述PCB弧形金属盘位于所述探针PCB转接板(31)和所述弹性针(51)之间。
4.根据权利要求2所述的旋转式测试模组,其特征在于:所述Pogo pin旋转模组(3)还包括推块(38)和扭簧(39),所述压块(37)与所述基座(36)通过所述扭簧(39)相铰接,所述推块(38)的一端伸入所述基座(36)内与所述扭簧(39)相接触。
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CN109212283A (zh) * 2018-09-26 2019-01-15 昆山鑫润利自动化科技有限公司 Vswr测试用探针模组定位结构
CN109283365A (zh) * 2018-09-30 2019-01-29 珠海博杰电子股份有限公司 导电胶测试模组

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