CN202886252U - 推力测试固定结构 - Google Patents

Abstract

一种推力测试固定结构，用以固定一发光二极管灯条，该推力测试固定结构包含：基板、第一固定件及第二固定件，基板具有本体及第一抵持部，本体用以置放发光二极管灯条，第一抵持部用以抵持发光二极管灯条的侧缘；第一固定件设置于该基板，第一固定件具有第一压持面及缺口，缺口设置于第一压持面的边缘；第二固定件设置于基板的该第一抵持部，第二固定件具有第二压持面及缺口，缺口设置于该第二压持面的边缘，当上述固定件结合于该基板时，所述缺口用以压持发光二极管灯条。本实用新型的推力测试固定结构能够利于测试发光二极管灯条的元件部分与电路板部分之间的接着强度。

Description

推力测试固定结构

技术领域

本实用新型涉及一种推力测试固定结构，特别涉及一种用于测试LED灯条的推力测试固定结构。

背景技术

发光二极管（LED）具有体积小、耗电量低、发光效率高且价格越趋低廉等优点，身为下一世代的主流照明技术，现今LED已广泛运用于各式装饰照明，特别是发光二极管灯条（LED light bar），除了一般装饰照明、LED路灯所使用外，亦使用于LED液晶屏幕或LED液晶电视的背光板作为光源。无论上述何种用途，发光二极管灯条的元件焊接接着力强度均有其规范及要求。

在现有技术中，业界通常采用推拉力试验机来模拟测试元件与电路板间接着力的强弱，借此，判断元件与电路板之间的接着是否良好。然而由于发光二极管灯条产品的外型特征较为细长，难以直接固定测试，在现有技术中，是将发光二极管灯条粘贴于背板上进行测试，或是裁切发光二极管灯条成一小段片得以符合现有测试设备的规格。

然粘贴发光二极管灯条于背板进行测试的现有技术，常因胶材与背板脱落造成测试误判，而裁切电路板进行测试的现有技术，亦因每次裁切长度不同而产生不同的测试结果，两者皆具有外在因素例如粘胶量的多寡、粘胶涂布位置、裁切长度、裁切角度等影响造成测试误差，进而影响测量结果。更重要的是，上述测试方式，皆非以发光二极管灯条于使用时的状态进行测试，自然无法测得确切的实验数据。综上所述，在现有技术中的发光二极管灯条的接着力测试，具有难以固定发光二极管灯条的问题。

发明内容

有鉴于此，本实用新型的目的是提出一种推力测试固定结构，以解决现有技术存在的问题。

为实现上述目的，本实用新型提出的推力测试固定结构用以固定具有多个发光二极管的一发光二极管灯条，该发光二极管灯条具有一第一面及相对该第一面的一第二面，所述多个发光二极管设置于该第二面，其特征在于，该推力测试固定结构包含：

一基板，具有一本体及邻接该本体的一第一抵持部，该本体用以供该第一面靠抵于其上，该第一抵持部沿一第一方向延伸至该基板的二侧，用以供该发光二极管灯条的长方向的侧缘抵持；

一第一固定件，设置于该本体上，该第一固定件具有一通道、一第一压持面及一第一缺口，该通道沿一第二方向延伸而连通于该第一固定件的二侧，该第二方向垂直于该第一方向，该第一缺口沿该第一方向延伸设置于该第一压持面的边缘，该第一缺口在该第一固定件结合于该基板时压持该第二面的一侧；及

一第二固定件，设置于该基板的该第一抵持部，该第二固定件具有一凹口、一第二压持面及一第二缺口，该凹口设置于该第二固定件的一侧并对应于该通道，该凹口的长方向平行于该第二方向，该第二缺口沿该第一方向延伸设置于该第二压持面的边缘，该第二缺口在该第二固定件结合于该基板时压持该发光二极管灯条的该第二面的另一侧。

在本实用新型一实施例中，该第一抵持部沿垂直于该基板表面的方向突出该本体一第一高度，该第一高度小于该发光二极管灯条的厚度。

在本实用新型一实施例中，该第一缺口沿垂直于该基板表面的方向的深度小于该发光二极管灯条的厚度。

在本实用新型一实施例中，该第一固定件还包含一长形穿孔及相应的一锁固件，该长形穿孔的长方向平行于该通道的长方向，该锁固件穿过该长形穿孔并锁固该第一固定件于该基板上。

在本实用新型一实施例中，该第二缺口的深度小于该发光二极管灯条的厚度。

在本实用新型一实施例中，该第二固定件还包含一长形穿孔及相应的一锁固件，该长形穿孔的长方向平行于该凹口的长方向，该锁固件穿过该长形穿孔并锁固该第二固定件于该基板上。

在本实用新型一实施例中，该基板还包含一第二抵持部，设置于该本体并相连于该第一抵持部，该第二抵持部用以抵持该第二固定件的侧缘。

在本实用新型一实施例中，还包含一底座，连接于该第二抵持部。

在本实用新型一实施例中，还包含一锁固件，该底座具有可供该锁固件穿过的一长形穿孔。

在本实用新型一实施例中，该第一固定件具有相对于该第一压持面的一第三压持面及一第三缺口，该第三缺口设置于该第三压持面的边缘，该第一缺口沿垂直于该基板表面的方向的深度大于该第三缺口沿垂直于该基板表面的方向的的深度，且该第三缺口的深度小于该发光二极管灯条的厚度，当该第一缺口的深度大于该发光二极管灯条的厚度时，改用该第三缺口以压持该发光二极管灯条的该第二面的一侧。

在本实用新型一实施例中，该第二固定件具有相对于该第二压持面的一第四压持面及一第四缺口，该第四缺口设置于该第四压持面的边缘，该第二缺口的深度大于第四缺口的深度，且该第四缺口的深度小于该发光二极管灯条的厚度，当该第二缺口的深度大于该发光二极管灯条的厚度时，改用第四缺口以压持该发光二极管灯条的该第二面的另一侧。

在本实用新型一实施例中，该推力测试固定结构还包含一供电端子，设置于该第一固定件的该通道上，用以电性连接于所述发光二极管以提供该发光二极管电力。

在本实用新型一实施例中，该推力测试固定结构还包含一供电端子，设置于该第二固定件的该凹口上，用以电性连接于所述多个发光二极管以提供该发光二极管电力。

本实用新型的推力测试固定结构，用以固定发光二极管灯条，发光二极管灯条具有第一面及相对第一面的第二面，推力测试固定结构包含：一基板、一第一固定件及一第二固定件。

基板具有本体及第一抵持部，本体用以置放发光二极管灯条的第一面，第一抵持部用以抵持发光二极管灯条的侧缘。

第一固定件设置于基板的本体，第一固定件具有通道、第一压持面及第一缺口，通道自第一固定件的一侧贯通至另一侧，且通道的长方向垂直于发光二极管灯条的长方向，第一缺口设置于第一压持面的边缘，当第一固定件结合于基板时，第一缺口用以压持发光二极管灯条的第二面的一侧。

第二固定件，设置于基板的第一抵持部，第二固定件具有凹口、第二压持面及第二缺口，凹口设置于第二固定件的一侧并相通于该通道，凹口的长方向垂直于发光二极管灯条的长方向，第二缺口设置于第二压持面的边缘，当第二固定件结合于基板时，第二缺口用以压持发光二极管灯条的第二面的另一侧。

本实用新型借由基板的抵持配合第一固定件的缺口及第二固定件的缺口的压持，固定长条型的发光二极管灯条，借此利于测试发光二极管灯条的元件与电路板之间的接着强度，因而解决现有技术中的发光二极管灯条的接着力测试，难以固定发光二极管灯条及非以发光二极管灯条于使用时的状态进行测试的问题。

附图说明

图1为本实用新型第一实施例结构的外观示意图。

图2为本实用新型第一实施例结构的分解示意图。

图3为本实用新型实施例结构的剖面示意图（一）。

图4为本实用新型实施例结构的剖面示意图（二）。

图5为本实用新型第二实施例结构的分解示意图。

图6为本实用新型第二实施例结构的剖面示意图。

图7为本实用新型实施例结构的剖面示意图（三）。

图8A为本实用新型实施例结构的局部放大示意图。

图8B为本实用新型实施例作动的局部放大示意图。

其中，附图标记说明如下：

基板    1

本体                11

第一抵持部    12

第二抵持部    13

第一固定件          2

通道    21

第一压持面    22

第一缺口    23

长形穿孔    24

锁固件    25

第三压持面    26

第三缺口    27

第二固定件    3

凹口    31

第二压持面    32

第二缺口    33

长形穿孔    34

锁固件    35

第四压持面    36

第四缺口    37

底座    4

锁固件    41、43

长形穿孔    42

供电端子    5

第一间距    7a

第二间距    7b

间距    7c、7d

发光二极管灯条    8

第一面    81

第二面    82

元件部分    83

电路板部分    84

推力测试头    9

具体实施方式

请参照图1、图2、图3、图8A及图8B所示，分别为本实用新型第一实施例结构的外观示意图、分解示意图、本实用新型实施例的剖面示意图（一）、局部放大示意图及作动的局部放大示意图。

本实用新型提出一种推力测试固定结构，用以固定具有多个发光二极管的发光二极管灯条8，发光二极管灯条8具有第一面81及相对第一面81的第二面82，其中第二面82设置有发光二极管的元件部分83。推力测试固定结构包含：基板1、第一固定件2及第二固定件3。

在第一实施例中，基板1具有本体11及邻接本体11的第一抵持部12。本体11用以供发光二极管灯条8的第一面81靠抵于其上，第一抵持部12沿图示Y方向延伸至基板1的二侧，其沿垂直于基板1表面的方向（Z方向）突出本体11一第一高度，该第一高度小于发光二极管灯条8的厚度。本体11与第一抵持部12概成阶梯状，其中本体11抵持发光二极管灯条8的电路板部分84，而第一抵持部12则用以抵持发光二极管灯条8的侧缘。综合言之发光二极管灯条8的底面及侧面分别抵贴于本体11及第一抵持部12，第一抵持部12的长方向平行于发光二极管灯条8的长方向。

如图2所示，第一抵持部12自本体11的XY平面朝Z轴方向凸起，发光二极管灯条8的长方向沿Y轴方向置放于本体11并抵靠第一抵持部12，第一抵持部12的长方向亦沿Y轴方向延伸。

第一固定件2设置于基板1的本体11，相对于第一抵持部12的另一侧，第一固定件2具有通道21、第一压持面22及第一缺口23，如图1所示，通道自第一固定件2的一侧朝X轴方向贯通至第一固定件2的另一侧，即通道21的长方向垂直于发光二极管灯条8的长方向，其中第一固定件2可为单一板体开设通道21于其中，亦可为多个板体，板体之间的间隔形成通道21，亦即所述通道21可为封闭式或开放式，本实用新型不以此为限。第一压持面22为第一固定件2面对基板1本体11的面，借由第一压持面22与基板1的相互压持，用以固定发光二极管灯条8。而第一缺口23则设置于第一压持面22的边缘，邻近发光二极管灯条8，当第一固定件2结合于基板1时，第一缺口23用以压持发光二极管灯条8的第二面82的一侧，亦即第一缺口23压持发光二极管灯条8元件部分83的面的一侧边缘，第一缺口23的长方向平行于发光二极管灯条8的长方向，亦即Y轴，第一缺口23可为矩形凹槽，但本实用新型不以此为限。推拉力测试装置的推力测试头9经由通道伸入，施予X轴方向的力于发光二极管灯条8元件部分83，以测试发光二极管灯条8电路板部分84及元件部分83的接着强度。

第二固定件3设置于基板1的第一抵持部12，第二固定件3具有凹口31、第二压持面32及第二缺口33，如图1所示，凹口31设置于第二固定件3的一侧并相通于通道21于X轴方向，凹口31的长方向垂直于发光二极管灯条8的长方向，第一固定件2与第二固定件3之间用以容置发光二极管灯条8的空间与通道21及凹口31构成概为十字形的空槽。第二压持面32为第二固定件3面对基板1第一抵持部12的面，借由第二压持面32与基板1的相互压持，用以固定发光二极管灯条8。第二缺口33设置于第二压持面32的边缘，当第二固定件3结合于基板1时，第二缺口33用以压持发光二极管灯条8的第二面82的另一侧，亦即第二缺口33压持发光二极管灯条8元件部分83的面的另一侧边缘，第二缺口33的长方向平行于第一缺口23的长方向，亦即Y轴，第二缺口33可为矩形凹槽，但本实用新型不以此为限。推拉力测试装置的推力测试头9经由通道21伸入后，施予X轴方向的力于发光二极管灯条8元件部分83，当发光二极管灯条8元件部分83松脱时，凹口31为一缓冲空间，借此，推力测试头9伸入凹口31，不致直接撞击第二固定件3，避免推力测试头9及第二固定件3损坏。

请进一步参照图2及图3，在一实施态样中，如图2及图3所示，第一抵持部12自本体11的XY平面朝Z轴方向凸起于本体11，第一抵持部12的厚度小于发光二极管灯条8的厚度于Z轴方向，当发光二极管灯条8置放于基板1上时，发光二极管灯条8仍高于第一抵持部12，第二固定件3结合于基板1以压持突出的发光二极管灯条8。第一底持部12与本体1可一体成形成基板1，但本实用新型不以此为限。

在一实施态样中，如图3所示，第一缺口23于Z轴方向的深度小于发光二极管灯条8的厚度，亦即当第一固定件2结合于基板1时，由于第一缺口23的深度小于发光二极管灯条8的厚度，第一缺口23与本体11直接紧密夹持发光二极管灯条8且第一固定件2与本体11于Z轴方向仍具有第一间距7a。

在一实施态样中，如图2所示，第一固定件2更包含长形穿孔24及相应的锁固件25，长形穿孔24开设于第一固定件2的XY平面，且长形穿孔24的长方向平行于通道21的长方向，锁固件25沿Z轴方向穿过长形穿孔24并锁固第一固定件2于基板1上，其中长形穿孔24可为单一长形穿孔或是多个长形穿孔，相应的锁固件25亦可为单一锁固件或多个锁固件，锁固件25可为螺丝、卡扣或拴杆等机械固定方式，但本实用新型不以此为限。第一固定件2可依长形穿孔24的长方向调整位置，是沿X轴方向。

请再次参照图2、图3。在一实施态样中，如图3所示，第二缺口33于Z轴方向的深度小于发光二极管灯条8的厚度，亦即当第二固定件3结合于基板1时，由于第二缺口33的深度小于发光二极管灯条8的厚度，第二缺口33与本体11直接紧密夹持发光二极管灯条8且第二固定件3与第一底持部12于Z轴方向仍具有第二间距7b，亦即第二缺口33的深度加上第一抵持部12的厚度小于发光二极管灯条8的厚度。

在一实施态样中，如图2所示，第二固定件3更包含长形穿孔34及相应的锁固件35，长形穿孔34开设于第二固定件3的XY平面，且长形穿孔34的长方向平行于通道21的长方向，锁固件35沿Z轴方向穿过长形穿孔34并锁固第二固定件3于基板1上，其中长形穿孔34可为单一长形穿孔或是多个长形穿孔，相应的锁固件35亦可为单一锁固件或多个锁固件，锁固件35可为螺丝、卡扣或拴杆等机械固定方式，但本实用新型不以此为限。第二固定件3可依长形穿孔34的长方向调整位置，是沿X轴方向。

请参照图4所示，为本实用新型实施例结构的剖面示意图（二）。在一实施例中，基板1更包含第二抵持部13设置于本体11并凸起于本体11且相连于第一抵持部12的一侧，本体11、第一抵持部12及第二抵持部13概成阶梯状，第二抵持部13的一侧抵持第二固定件3的侧缘，第二固定件3的第二压持面32朝向第一抵持部12，第二固定件3的侧面抵靠第二抵持部13，第二抵持部13的长方向平行于第一抵持部12的长方向。第二抵持部13、第一抵持部12与本体11一体成形，然而本实用新型不以此为限。

如图4所示，第二抵持部13自本体11的XY平面朝Z轴方向凸起并于X轴方向相连于第一抵持部12的一侧，第二固定件3结合于本体11时，第二固定件3的长方向沿Y轴方向置放于第一抵持部12并抵靠第二抵持部13的一侧，第二抵持部13的长方向亦沿Y轴方向延伸。

请参照图5及图6所示，分别为本实用新型第二实施例结构的分解示意图及本实用新型第二实施例结构的剖面示意图。在第二实施例中，本实用新型所提出的推力测试固定结构除包含前文所述的各种结构及特征外，更包含底座4相连设置于第二抵持部13抵持第二固定件3的另一侧，且底座4与基板1构成一角度而概成倒T型，本实用新型的底座4与基板1结合的角度，端看适用于何种推拉力测试装置机型，以配合推力测试头9的前进方向，并不限定为平行、垂直或特定角度，一般而言，底座4与基板1所构成的角度在0°至90°的范围中。借由底座4设置于工作平台后，本实用新型可配合垂直于底座4的推拉力测试装置机型，亦即推力测试头9的前进方向垂直于底座4的推拉力测试装置机型。其中，底座4可为一板体经由锁固件41锁固于基板1的第二抵持部13，亦可基板1与底座4为一体成形，端看推拉力测试装置机型或工作平台的类型及限制，本实用新型不以此为限。

在一实施态样中，底座更包含长形穿孔42及相应的锁固件43，长形穿孔42开设于底座4的平面，长形穿孔42的长方向平行于发光二极管灯条8的长方向，锁固件43穿过长形穿孔42并锁固底座4于工作平台上，借此，可经调整长形穿孔42及锁固件43的锁固位置，配合推拉力测试装置机型，以改变本实用新型的推力测试固定结构的设置位置，其中长形穿孔42可为单一长形穿孔或是多个长形穿孔，相应的锁固件43亦可为单一锁固件或多个锁固件，锁固件43可为螺丝、卡扣或拴杆等机械固定方式，但本实用新型不以此为限。底座4可依长形穿孔42的长方向调整位置，是沿Z轴方向。

请参照图7所示，为本实用新型实施例结构的剖面示意图（三）。在上述的实施例中，具有另一实施态样，第一固定件2具有相对于第一压持面22的第三压持面26及第三缺口27，亦即相对于第一压持面22的另一面为第三压持面26，而第三缺口27设置于第三压持面26的边缘，其中第一缺口23的深度大于第三缺口27的深度，且第三缺口27的深度小于发光二极管灯条8的厚度，当第一缺口23的深度大于发光二极管灯条8的厚度时，改用第三缺口27以压持发光二极管灯条8的第二面82的一侧，亦即第三缺口27压持发光二极管灯条8元件部分83的面的一侧边缘，第三缺口27的长方向平行于发光二极管灯条8的长方向，亦即Y轴，第三缺口27可为矩形凹槽，但本实用新型不以此为限。本实用新型的第一固定件2的两面皆可用以压持发光二极管灯条8，其选用条件在于当其中一面的缺口深度大于发光二极管灯条8的厚度时，改用另一面的缺口压持于发光二极管灯条8。

如图7所示，第三缺口27于Z轴方向的深度小于发光二极管灯条8的厚度，亦即当第一固定件2结合于基板1时，由于第三缺口27的深度小于发光二极管灯条8的厚度，第三缺口27与本体1直接紧密夹持发光二极管灯条8且第一固定件2与本体1于Z轴方向仍具有一间距7c。

请再次参照图7。在上述的实施例中，具有另一实施态样，第二固定件3具有相对于第二压持面32的第四压持面36及第四缺口37，亦即相对于第二压持面32的另一面为第四压持面36，而第四缺口37设置于第四压持面36的边缘，其中第二缺口33的深度大于第四缺口37的深度，且第四缺口37的深度小于发光二极管灯条8的厚度，当第二缺口33的深度大于发光二极管灯条8的厚度时，改用第四缺口37以压持发光二极管灯条8的第二面的一侧，亦即第四缺口37压持发光二极管灯条8元件部分83的面的一侧边缘，第四缺口37的长方向平行于发光二极管灯条8的长方向，亦即Y轴，第四缺口37可为矩形凹槽，但本实用新型不以此为限。本实用新型的第二固定件3的两面皆可用以压持发光二极管灯条，其选用条件在于当其中一面的缺口深度大于发光二极管灯条8的厚度时，改用另一面的缺口压持于发光二极管灯条8。

如图7所示，第四缺口37于Z轴方向的深度小于发光二极管灯条8的厚度，亦即当第二固定件3结合于基板时，由于第四缺口37的深度小于发光二极管灯条8的厚度，第四缺口37与本体11直接紧密夹持发光二极管灯条8且第二固定件3与第一抵持部12于Z轴方向仍具有一间距7d，亦即第四缺口37的深度加上第一抵持部12的厚度小于发光二极管灯条8的厚度。

请参照图8A及图8B。在另一实施例中，推力测试固定结构更包含供电端子5用以电性连接发光二极管灯条8，使待测试的发光二极管发光，借此，本实用新型可于发光二极管灯条8发光的动态测试下配合推拉力测试装置，进行发光二极管灯条8的元件部分83与电路板部分84之间的接着强度试验。

在一实施态样中，供电端子5设置于第一固定件2的通道21上，亦即供电端子5系横跨通道21而固定于第一固定件2上。

在另一实施态样中，供电端子5设置于第二固定件3的凹口31上，亦即供电端子5横跨凹口31而固定于第二固定件3上。

由上述实施例及实施态样可知，本实用新型借由基板1的抵持配合第一固定件2的缺口及第二固定件3的缺口的压持，固定长条型的发光二极管灯条8，借此利于测试发光二极管灯条8的元件部分83与电路板部分84之间的接着强度。因而解决现有技术中的发光二极管灯条8的接着力测试，难以固定发光二极管灯条8及非以发光二极管灯条8于使用时的状态进行测试的问题。

虽然本实用新型的技术内容已经以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何本领域普通技术人员，在不脱离本实用新型的精神所作些许的更动与润饰，皆应涵盖于本实用新型的范畴内，因此本实用新型的保护范围当视所附的权利要求所界定的范围为准。

Claims (13)

1.一种推力测试固定结构，用以固定具有多个发光二极管的一发光二极管灯条，该发光二极管灯条具有一第一面及相对该第一面的一第二面，所述多个发光二极管设置于该第二面，其特征在于，该推力测试固定结构包含：

一基板，具有一本体及邻接该本体的一第一抵持部，该本体用以供该第一面靠抵于其上，该第一抵持部沿一第一方向延伸至该基板的二侧，用以供该发光二极管灯条的长方向的侧缘抵持；

一第一固定件，设置于该本体上，该第一固定件具有一通道、一第一压持面及一第一缺口，该通道沿一第二方向延伸而连通于该第一固定件的二侧，该第二方向垂直于该第一方向，该第一缺口沿该第一方向延伸设置于该第一压持面的边缘，该第一缺口在该第一固定件结合于该基板时压持该第二面的一侧；及

一第二固定件，设置于该基板的该第一抵持部，该第二固定件具有一凹口、一第二压持面及一第二缺口，该凹口设置于该第二固定件的一侧并对应于该通道，该凹口的长方向平行于该第二方向，该第二缺口沿该第一方向延伸设置于该第二压持面的边缘，该第二缺口在该第二固定件结合于该基板时压持该发光二极管灯条的该第二面的另一侧。

2.如权利要求1所述的推力测试固定结构，其特征在于，该第一抵持部沿垂直于该基板表面的方向突出该本体一第一高度，该第一高度小于该发光二极管灯条的厚度。

3.如权利要求2所述的推力测试固定结构，其特征在于，该第一缺口沿垂直于该基板表面的方向的深度小于该发光二极管灯条的厚度。

4.如权利要求3所述的推力测试固定结构，其特征在于，该第一固定件还包含一长形穿孔及相应的一锁固件，该长形穿孔的长方向平行于该通道的长方向，该锁固件穿过该长形穿孔并锁固该第一固定件于该基板上。

5.如权利要求2所述的推力测试固定结构，其特征在于，该第二缺口的深度小于该发光二极管灯条的厚度。

6.如权利要求5所述的推力测试固定结构，其特征在于，该第二固定件还包含一长形穿孔及相应的一锁固件，该长形穿孔的长方向平行于该凹口的长方向，该锁固件穿过该长形穿孔并锁固该第二固定件于该基板上。

7.如权利要求1所述的推力测试固定结构，其特征在于，该基板还包含一第二抵持部，设置于该本体并相连于该第一抵持部，该第二抵持部用以抵持该第二固定件的侧缘。

8.如权利要求7所述的推力测试固定结构，其特征在于，还包含一底座，连接于该第二抵持部。

9.如权利要求8所述的推力测试固定结构，其特征在于，还包含一锁固件，该底座具有可供该锁固件穿过的一长形穿孔。

10.如权利要求1所述的推力测试固定结构，其特征在于，该第一固定件具有相对于该第一压持面的一第三压持面及一第三缺口，该第三缺口设置于该第三压持面的边缘，该第一缺口沿垂直于该基板表面的方向的深度大于该第三缺口沿垂直于该基板表面的方向的的深度，且该第三缺口的深度小于该发光二极管灯条的厚度，当该第一缺口的深度大于该发光二极管灯条的厚度时，改用该第三缺口以压持该发光二极管灯条的该第二面的一侧。

11.如权利要求1所述的推力测试固定结构，其特征在于，该第二固定件具有相对于该第二压持面的一第四压持面及一第四缺口，该第四缺口设置于该第四压持面的边缘，该第二缺口的深度大于第四缺口的深度，且该第四缺口的深度小于该发光二极管灯条的厚度，当该第二缺口的深度大于该发光二极管灯条的厚度时，改用第四缺口以压持该发光二极管灯条的该第二面的另一侧。

12.如权利要求1所述的推力测试固定结构，其特征在于，该推力测试固定结构还包含一供电端子，设置于该第一固定件的该通道上，用以电性连接于所述发光二极管以提供该发光二极管电力。

13.如权利要求1所述的推力测试固定结构，其特征在于，该推力测试固定结构还包含一供电端子，设置于该第二固定件的该凹口上，用以电性连接于所述多个发光二极管以提供该发光二极管电力。

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