CN202770349U - 一种形位公差测量装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种形位公差测量装置，该测量装置包括水平设置的基准轴，在基准轴上设有开口向下的V形块，在V形块的上端设置有可沿基准轴方向伸缩的测量臂和可绕V形块端部转动的测量臂，在测量臂上设置有测量表，测量表用于测量平行于基准轴的轴类件或直杆的形位公差、直线度和/或圆跳动。由于该形位公差测量装置是一种有机结合成一体的整体结构，因此具有结构简单，安装、使用方便测量准确等特点。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测量装置，具体涉及一种形位公差测量装置。
背景技术
在现有技术中形位公差的测量都是由千分表、直尺、角尺、V型块、塞规平面基座和支撑架等多个测量器件、测量工具配合在一起使用。虽然这些测量器件和测量工具配合在一起可以用于测量各种形位公差，但是由于器件较多，在具体测量工作中安装、调试和测量操作过程都比较复杂，测量过程中费时费力，工作效率低，而且容易造成测量误差，另外还会增加测量的成本。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的缺陷，提供一种结构简单，使用方便，测量准确的形位公差测量装置。
为实现上述目的，本实用新型的技术方案是设计一种形位公差测量装置，其特征在于，所述测量装置包括水平设置的基准轴，在所述基准轴上设有开口向下的V形块，在所述V形块的上端设置有可沿基准轴方向伸缩的测量臂和可绕V形块端部转动的测量臂，在所述测量臂上设置有测量表，所述测量表用于测量平行于基准轴的轴类件或直杆的形位公差、直线度和/或圆跳动。
其中优选的技术方案是，所述的V形块有两块，在两块V形块之间设有连杆。
进一步优选的技术方案是，在所述连杆上设有电磁线圈。
进一步优选的技术方案还有，所述可绕V形块端部转动的测量臂有两个且对称地设置在V形块的两侧，所述两个对称设置的测量臂位于垂直于轴线的同一平面上，所述测量臂包括水平段、向上倾斜段和垂直段，所述水平段的一端插接在V形块端部的侧面，所述向上倾斜段的两端分别与水平段的另一端和垂直段的一端铰接，所述测量表安装在垂直段的端部。
进一步优选的技术方案还有，所述可沿基准轴方向伸缩的测量臂包括水平固定段和伸缩段，所述伸缩段包括第一伸缩段与第二伸缩段，所述水平固定段、第一伸缩段和第二伸缩段通过铰链连接，所述测量表安装在第二伸缩段的端部。
进一步优选的技术方案还有，所述的测量表为千分表。
进一步优选的技术方案还有，所述的千分表为数显千分表。
进一步优选的技术方案还有，所述测量表通过套筒插装在测量臂的端部，在所述套筒的一侧设有与套筒的轴向相垂直的测量表安装孔，在所述套筒的侧壁上还设有螺孔，在所述螺孔内装有用于锁紧套筒的螺栓。
本实用新型的优点和有益效果在于：由于该形位公差测量装置是一种有机结合成一体的整体结构，因此具有结构简单，安装、使用方便测量准确等特点。
附图说明
图1是本实用新型形位公差测量装置的结构示意图；
图2是图1中的侧视示意图。
图中：1、基准轴；2、V形块； 3、可沿基准轴方向伸缩的测量臂；3-1、水平固定段；3-2、第一伸缩段；3-3、第二伸缩段；4、可绕V形块端部转动的测量臂；4-1、水平段；4-2、向上倾斜段；4-3、垂直段；5、测量表；6、连杆； 7、电磁线圈；8、套筒。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，而不能以此来限制本实用新型的保护范围。
如图1至2所示，本实用新型是一种形位公差测量装置，该测量装置包括水平设置的基准轴1，在基准轴1上设有开口向下的V形块2，在V形块2的上端设置有可沿基准轴方向伸缩的测量臂3和可绕V形块端部转动的测量臂4，在所述测量臂3、4上设置有测量表5，所述测量表5用于测量平行于基准轴1的轴类件或直杆的形位公差、直线度和/或圆跳动。
在本实用新型中优选的实施方案是，所述的V形块2有两块，在两块V形块之间设有连杆6。
在本实用新型中进一步优选的实施方案是，在连杆6上设有电磁线圈7，当电磁线圈7通电后，在电磁力的作用下将V形块2吸合固定在基准轴1上，当电磁线圈7断电后，V形块2可沿基准轴1滑动。
在本实用新型中进一步优选的实施方案还有，可绕V形块端部转动的测量臂4有两个且对称地设置在V形块2的两侧，两个对称设置的测量臂位于垂直于轴线的同一平面上，测量臂包括水平段4-1、向上倾斜段4-2和垂直段4-3，水平段4-1的一端插接在V形块2端部的侧面，向上倾斜段4-2的两端分别与水平段4-1的另一端和垂直段4-3的一端铰接，测量表5安装在垂直段4-3的端部。
在本实用新型中进一步优选的实施方案还有，可沿基准轴方向伸缩的测量臂3包括水平固定段3-1和伸缩段，伸缩段包括第一伸缩段3-2与第二伸缩段3-3，水平固定段3-1、第一伸缩段3-2和第二伸缩段3-3通过铰链连接，测量表5安装在第二伸缩段3-3的端部。
在本实用新型中进一步优选的实施方案还有，测量表5为千分表。
在本实用新型中进一步优选的实施方案还有，千分表为数显千分表。
在本实用新型中进一步优选的实施方案还有，测量表5通过套筒8插装在测量臂3、4的端部，在套筒8的一侧设有与套筒8的轴向相垂直的测量表安装孔，在套筒8的侧壁上还设有螺孔，在螺孔内装有用于锁紧套筒的螺栓。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (8)
1.一种形位公差测量装置，其特征在于，所述测量装置包括水平设置的基准轴，在所述基准轴上设有开口向下的V形块，在所述V形块的上端设置有可沿基准轴方向伸缩的测量臂和可绕V形块端部转动的测量臂，在所述测量臂上设置有测量表，所述测量表用于测量平行于基准轴的轴类件或直杆的形位公差、直线度和/或圆跳动。
2.如权利要求l所述的形位公差测量装置，其特征在于，所述的V形块有两块，在两块V形块之间设有连杆。
3.如权利要求2所述的形位公差测量装置，其特征在于，在所述连杆上设有电磁线圈。
4.如权利要求3所述的形位公差测量装置，其特征在于，所述可绕V形块端部转动的测量臂有两个且对称地设置在V形块的两侧，所述两个对称设置的测量臂位于垂直于轴线的同一平面上，所述测量臂包括水平段、向上倾斜段和垂直段，所述水平段的一端插接在V形块端部的侧面，所述向上倾斜段的两端分别与水平段的另一端和垂直段的一端铰接，所述测量表安装在垂直段的端部。
5.如权利要求3所述的形位公差测量装置，其特征在于，所述可沿基准轴方向伸缩的测量臂包括水平固定段和伸缩段，所述伸缩段包括第一伸缩段与第二伸缩段，所述水平固定段、第一伸缩段和第二伸缩段通过铰链连接，所述测量表安装在第二伸缩段的端部。
6.如权利要求1至5任意一项所述的形位公差测量装置，其特征在于，所述的测量表为千分表。
7.如权利要求6所述的形位公差测量装置，其特征在于，所述的千分表为数显千分表。
8.如权利要求6所述的形位公差测量装置，其特征在于，所述测量表通过套筒插装在测量臂的端部，在所述套筒的一侧设有与套筒的轴向相垂直的测量表安装孔，在所述套筒的侧壁上还设有螺孔，在所述螺孔内装有用于锁紧套筒的螺栓。
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