CN202649257U

CN202649257U - 双行程机构

Info

Publication number: CN202649257U
Application number: CN 201220257595
Authority: CN
Inventors: 陈艳飞
Original assignee: Kunshan Myzy Fixture Technology Co Ltd
Current assignee: Kunshan Myzy Fixture Technology Co Ltd
Priority date: 2012-06-04
Filing date: 2012-06-04
Publication date: 2013-01-02
Anticipated expiration: 2022-06-04

Abstract

本实用新型公开了一种双行程机构，包含垂直设置的上模块和下模块；上模块包括平面座和与平面座铰接可摆动的摆动块，摆动块另一端设置一滚轴，位于铰接轴两侧的摆动块与平面座之间分别设置一弹簧；下模块中包括固定座、安装于固定座上且平行的两个侧板，每个侧板上固定一定位块，两个定位块之间形成一可容纳摆动块的空间；定位块的周向包含三个依次相交的面，位于上面的上斜面和位于下面的凹弧面、下斜面，其中，凹弧面可以将沿上斜面滑进该凹弧面中的滚轴卡住。通过将上模块上的滚轴卡入定位块中的凹弧面中，可以精确的控制行程中途的停止位置，为ICT测试提供双行程，使同一块针板上长度不同的两种探针可以分别测试，不影响测试准确性。

Description

双行程机构

技术领域

本实用新型涉及一种双行程机构，属于机械技术领域。

背景技术

在线测试ICT（In-Circuit Test）是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段，具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。ICT测试时，需要对一块电路板中的众多器件、连接线路进行测试，通常需要多块单行程的针板。若在同一块针板上设置长度不同的探针，先由长探针与要测试的部分线路或器件接触并进行测试，然后由短探针与要测试的另一部分线路或器件接触进行测试，则不易控制针板的运动行程，若运动行程不精确，则在长探针测试时，短探针也可能与线路或器件接触，影响测试准确性。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种双行程机构，可以精确的控制行程中途的停止位置，为ICT测试提供双行程，使同一块针板上长度不同的两种探针可以分别测试，不影响测试准确性。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种双行程机构，其特征是，包含垂直设置的上模块和下模块，其中一个模块可以在垂直方向上相对另一个模块运动；

所述上模块包括一平面座和一端与所述平面座铰接可摆动的垂直的摆动块，所述摆动块另一端设置一垂直于所述摆动块平面的滚轴，位于所述铰接轴两侧的所述摆动块与所述平面座之间分别设置一弹簧；

所述下模块中包括一固定座、安装于固定座其中一面上且平行的两个侧板，两个侧板形成一夹持空间；夹持空间中，每个侧板上固定一定位块，两个定位块之间形成一可容纳上模块中垂直的摆动块的空间；

所述定位块的周向包含三个依次相交的面，位于上面的上斜面和位于下面的凹弧面、下斜面，其中，凹弧面可以将沿所述上斜面最高处运动至最低处并滑进该凹弧面中的所述上模块中的滚轴卡住。

还包含弹簧片，所述弹簧片一端抵靠在所述定位块的上斜面最高处与所述下斜面相交的棱上，所述弹簧片的另一端铰接在一所述夹持空间中的侧板上或设置于侧板上的一固定块上。

所述定位块与所述固定块之间有可容纳上模块上的滚轴通过的空间。

所述上斜面最高处的边与所述下斜面的一边相交，所述下斜面的另一边与所述凹弧面的一边相交，所述凹弧面的另一边与所述上斜面最低处的边相交。

所述两个侧板相对的其中一个面上设置有一凹槽，所述凹槽内设置一可转动的挡片，所述挡片转动时可停留在两个极限位置，第一极限位置为卡在该侧板上设置的所述定位块的凹弧面的另一边与所述上斜面最低处的边相交处；第二极限位置为完全进入该侧板的所述凹槽内。

所述挡片与一穿过所述固定座的转动轴一端连接，由所述转动轴的转动带动所述挡片转动。

所述轴动轴另一端与一手柄连接，所述手柄设置在所述固定座的与所述侧板相异的另一面。

在设置所述手柄的所述固定座的面上还设置有两个限位块，所述限位块用于限制所述手柄的转动范围。

所述弹簧为压缩弹簧。

所述滚轴的长度不大于所述两个侧板间的距离，可容纳于所述夹持空间中，且所述滚轴的长度不小于所述两个定位块间的距离。

本实用新型所达到的有益效果：

本实用新型的双行程机构，通过将上模块上的滚轴卡入下模块定位块中的凹弧面中，可以精确的控制行程中途的停止位置，为ICT测试提供双行程，使同一块针板上长度不同的两种探针可以分别测试，不影响测试准确性。

附图说明

图1是本实用新型的双行程机构中下模块示意图；

图2是图1的分解图；

图3是本实用新型的双行程机构中上模块示意图；

图4是图3的分解图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本实用新型的技术方案，而不能以此来限制本实用新型的保护范围。

如图1-图4所示，本实用新型的双行程机构中包括下模块1和上模块2，工作时，下模块1与上模块2垂直设置，一个位于下方，一个倒置后位于上方。针板上包含长探针和短探针，针板与用于支撑待测的电路板的平台分别与上模块2、下模块1连接。

本实用新型的双行程机构可以在单行程和双行程之间切换，当选择双行程运行时，运行过程中提供一个中途停止位，使行程分为第一段行程和第二段行程，在中途停止位停止运行时，由长探针与要测试的部分线路或器件接触并进行测试，测试结束后继续第二段行程，在第二段行程结束时使短探针与要测试的另一部分线路或器件接触，进行测试。本实施例为便于说明均以两个模块正置时的示意图进行结构描述。

如图3、图4所示，上模块2中包括一平面座21和一与平面座21垂直的摆动块22，摆动块22的两端分别设置一凸耳221，凸耳221上设置一通孔222。其中一个凸耳221a置于平面座21上的凹槽211内，并由一穿过该凸耳221a的销轴23连接至摆动块22上，另一个凸耳221b中设置一垂直穿过摆动块22的滚轴24，滚轴24穿过该凸耳221b后，位于摆动块22两侧的滚轴24长度相等。以连接两个凸耳221上的通孔222中心的直线为对称轴，在摆动块22上还对称的设置有两个垂直于平面座21的长孔224，长孔224内设置一抵靠于平面座21上压缩的弹簧25。该长孔224可以为盲孔，也可以为通孔，本实施例中通孔，若为通孔，则在通孔上部设置一防止弹簧25弹出的挡轴26，如与通孔上部螺纹连接的螺钉。

如图1、图2所示，下模块1中包括一固定座11、安装于固定座11上面且平行的两个侧板12，两个侧板12形成一夹持空间13；夹持空间13中，每个侧板12上固定一定位块14，两个定位块14之间形成一可容纳上模块2中垂直的摆动块22的空间。定位块14的周向包含三个面，位于上面的上斜面141和位于下面的凹弧面142、下斜面143，形成一近似三角形的块，上斜面141最高处的边与下斜面143的一边相交，下斜面143的另一边与凹弧面142的一边相交，凹弧面142的另一边与上斜面141最低处的边相交；其中，凹弧面142可以将进入其中的上模块2中的滚轴24卡住，上模块2中的滚轴24卡在凹弧面142时，为中途停止位。弹簧片15的一端151抵靠在定位块14的上斜面141最高处与下斜面143相交的棱上，弹簧片15的另一端152铰接在一固定块16上，无外力作用下，弹簧片15紧密贴合在定位块14上，外力推开弹簧片15再撤掉外力后，弹簧片15自动复位。固定块16固定于固定座11上或固定于侧板12上。定位块14与固定块16之间有可容纳上模块2上的滚轴24通过的空间。一手柄17设置在固定座11的下面，手柄17与转动轴18一端连接，轴动轴18穿过固定座11后，其另一端与一挡片19连接，挡片19位于其中一个侧板12上所设置的凹槽121中。通过扳动手柄17，可以使挡片19随之转动，挡片19转动时可停留在两个极限位置，第一位置为卡在该侧板12上设置的定位块14的凹弧面142靠近上斜面141处，挡住上模块2中的滚轴24，使其无法进入凹弧面142中被卡住，即挡片19处于第一位置时，本实用新型的机构此时单行程模式运行，只提供一段行程；第二位置为完全转入侧板12的凹槽121内，挡片19对滚轴24运动无影响，本实用新型的机构此时双行程模式运行，可提供两段行程，中途包含一中途停止位。固定座11的下面还设置有限制手柄17转动范围的两个限位块，使手柄17扳动时挡片19在两个极限位置之间旋转。

由销轴23的作用，摆动块22始终与平面座21连接，并在两个弹簧25作用下，摆动块22可以以销轴23为中心进行摆动。当摆动块22上的滚轴24受力时，由两个弹簧25的作用，也可以使摆动块22绕销轴23进行摆动。

工作时，将下模块1或上模块2中的其中之一倒置地设置于上方，本实施例中仅以上模块2设置于下模块1上方为例，上模块2与下模块1垂直设置，且使滚轴24位于定位块14上斜面141的最高处的垂直方向上，上模块2仅在垂直方向运动，水平方向无运动。本实用新型的双行程机构以双行程模式运行，此时，扳动手柄17，使挡片19位于第二位置，即完全转入侧板12的凹槽121内。当上模块2向下模块1方向即向下方逐渐运动时，首先，上模块2中摆动块22上的滚轴24两端分别与下模块1两个定位块14的上斜面141接触，上模块2继续向下运动，受上斜面141的阻碍，滚轴24将沿上斜面141从最高处向最低处移动，上模块2中两个弹簧25一个受压力，另一个受拉力，摆动块22摆动。上模块2继续向下运动，滚轴24无挡片19的阻挡，将从上斜面141的最低处绕到定位块14的凹弧面142，由凹弧面142将进入其中的滚轴24卡住，此时为中途停止位，用于测试的较长的探针与一部分待测线路或器件接触进行测试。测试结束后，上模块2继续向下运动，直至第二行程结束停止运行，此时，由较短的探针与另一部分待测线路或器件接触进行测试。这个过程中，摆动块22受弹簧25的作用，使滚轴24有回复原位的趋势，因此，当受拉的弹簧25克服滚轴24与凹弧面142间的摩擦力，将拉动摆动块22回复原位，滚轴24将从凹弧面142中脱离，沿下斜面143运动并碰触弹簧片15，推开弹簧片15后回复到上斜面141的最高处位置，弹簧片15随即自动复位，继续卡在定位块14上。第二行程结束后，上模块2回复到初始位置，重复上述过程，进行下一轮测试。

以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本实用新型的保护范围。

Claims

1.一种双行程机构，其特征是，包含垂直设置的上模块和下模块，其中一个模块可以在垂直方向上相对另一个模块运动；

2.根据权利要求1所述的双行程机构，其特征是，还包含弹簧片，所述弹簧片一端抵靠在所述定位块的上斜面最高处与所述下斜面相交的棱上，所述弹簧片的另一端铰接在一所述夹持空间中的侧板上或设置于侧板上的一固定块上。

3.根据权利要求2所述的双行程机构，其特征是，所述定位块与所述固定块之间有可容纳上模块上的滚轴通过的空间。

4.根据权利要求1所述的双行程机构，其特征是，所述上斜面最高处的边与所述下斜面的一边相交，所述下斜面的另一边与所述凹弧面的一边相交，所述凹弧面的另一边与所述上斜面最低处的边相交。

5.根据权利要求4所述的双行程机构，其特征是，所述两个侧板相对的其中一个面上设置有一凹槽，所述凹槽内设置一可转动的挡片，所述挡片转动时可停留在两个极限位置，第一极限位置为卡在该侧板上设置的所述定位块的凹弧面的另一边与所述上斜面最低处的边相交处；第二极限位置为完全进入该侧板的所述凹槽内。

6.根据权利要求5所述的双行程机构，其特征是，所述挡片与一穿过所述固定座的转动轴一端连接，由所述转动轴的转动带动所述挡片转动。

7.根据权利要求6所述的双行程机构，其特征是，所述轴动轴另一端与一手柄连接，所述手柄设置在所述固定座的与所述侧板相异的另一面。

8.根据权利要求7所述的双行程机构，其特征是，在设置所述手柄的所述固定座的面上还设置有两个限位块，所述限位块用于限制所述手柄的转动范围。

9.根据权利要求1所述的双行程机构，其特征是，所述弹簧为压缩弹簧。

10.根据权利要求1所述的双行程机构，其特征是，所述滚轴的长度不大于所述两个侧板间的距离，可容纳于所述夹持空间中，且所述滚轴的长度不小于所述两个定位块间的距离。