CN202256191U - 镀膜玻璃内部缺陷断层显示装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种镀膜玻璃内部缺陷断层显示装置，包括测试部、用于将测试部移动到预定检测位置的伺服控制部，其中，测试部包括显微测试单元和图像传感器，显微测试单元的透镜组合受控通过焦距调整，将距待测玻璃表面下不同深度的材料实物的影像分层成像在图像传感器上。本实用新型镀膜玻璃内部缺陷断层显示装置，利用自动化检测技术，能够适应现有生产的特点，具有快速自动化的特性，同时又便于质量管理和利于产品可追溯性的顺利执行。

Description

镀膜玻璃内部缺陷断层显示装置
技术领域
本实用新型涉及一种玻璃内部缺陷断层显示装置，尤其是一种镀膜玻璃内部缺陷断层显示装置。
背景技术
作为新能源行业的重要组成部分的太阳能发电产业，聚光热发电是具有很大潜力和经济技术竞争优势的项目，未来的发展前途广阔。其装置的聚光反射镜组件在建设发电站所需设备中使用量是最大的，在大规模的反射镜组件生产过程中，如何使在线检测的速度与生产成品的速度相匹配，即在不影响生产产量的同时有效提高整个系统的合格品分拣率，成为了问题的关键。由于反射镜组件制造工艺的复杂性和外形庞大，一般的测量方法难以满足巨大的生产量的要求，需要一套自动控制的检测系统配合生产线设备同步进行检测。 
同时，根据现代化生产质量管理的要求，检测设备还需要具备对生产设备的精密度进行鉴定的最基本的功能，为了配合质量管理体系的潜在性失效分析，必须对所生产的产品有可能造成功能失效的因素予以监测，以便于有效预估和处理。此处，玻璃反射镜材料内部的制造缺陷是一个重要监测对象；诸如玻璃内部存在的气泡、杂质、色斑等，多对玻璃反射镜的正常使用及寿命有着巨大影响。
实用新型内容
针对现有技术存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种能够简单、有效的检测镀膜玻璃内部缺陷断层显示装置。
为实现上述目的，本实用新型镀膜玻璃内部缺陷断层显示装置，包括测试部、用于将测试部移动到预定检测位置的伺服控制部，其中，测试部包括显微测试单元和图像传感器，显微测试单元的透镜组合受控通过焦距调整，将距待测玻璃表面下不同深度的材料实物的影像分层成像在图像传感器上。
进一步，所述测试部还包括检测箱和为所述显微测试单元工作提供光照的光源，所述显微测试单元、图像传感器和光源均设置在检测箱内。
进一步，所述伺服控制部包括第一转动结构、伸缩支架、第二转动结构、支架和底座，支架竖直固定安装在底座上，第一转动结构可转动设置在支架上，第一转动结构上水平固定设置有能够伸缩的伸缩支架，伸缩支架端部设置有第二转动结构，第二转动结构上连接有所述检测箱。
进一步，所述显微测试单元为全息照相机或显微镜，其成像通过光纤传出外部；其中，显微镜焦距可调，显微镜通过调节焦距来间接调节物距，使不同深度的玻璃内部影像依次被放大显示。
进一步，所述光源为相干光源，其上设置有亮度调节结构、发光角度调节结构。
进一步，所述检测箱为长方体或圆柱体外形，内部为暗箱结构，其内壁上设置有吸光材料。
进一步，所述第一转动结构、第二转动结构为轴套法兰的转动定位结构，能够受控转动和定位。
进一步，所述伸缩支架为单筒望远镜套筒运动结构，能够受控伸缩运动、定位调节其总长度。
进一步，所述图像传感器位于所述显微镜结构的成像面并具有图像输出接口。
进一步，所述显示装置还包括用于控制所述测试部和伺服控制部动作的控制系统。
本实用新型镀膜玻璃内部缺陷断层显示装置，利用自动化检测技术，能够适应现有生产的特点，具有快速自动化的特性，同时又便于质量管理和利于产品可追溯性的顺利执行。
附图说明
图1为本实用新型结构主视示意图；
图2为本实用新型结构俯视示意图；
图3为本实用新型的检测箱内部结构示意图。
具体实施方式
下面，参考附图，对本实用新型进行更全面的说明，附图中示出了本实用新型的示例性实施例。然而，本实用新型可以体现为多种不同形式，并不应理解为局限于这里叙述的示例性实施例。而是，提供这些实施例，从而使本实用新型全面和完整，并将本实用新型的范围完全地传达给本领域的普通技术人员。
为了易于说明，在这里可以使用诸如“上”、“下”“左”“右”等空间相对术语，用于说明图中示出的一个元件或特征相对于另一个元件或特征的关系。应该理解的是，除了图中示出的方位之外，空间术语意在于包括装置在使用或操作中的不同方位。例如，如果图中的装置被倒置，被叙述为位于其他元件或特征“下”的元件将定位在其他元件或特征“上”。因此，示例性术语“下”可以包含上和下方位两者。装置可以以其他方式定位（旋转90度或位于其他方位），这里所用的空间相对说明可相应地解释。
如图1、图2、图3所示，本实用新型镀膜玻璃内部缺陷断层显示装置，包括测试部和伺服控制部，伺服控制部中各部件受控协调联合运动通过其相关部件的伸缩、转动进行三坐标定位，并最终将检测箱移动到预定检测位置进行检测。
其中，测试部包括检测箱3、光源12、显微测试单元13和图像传感器（图中未示），光源12、显微测试单元13和图像传感器均设置在检测箱3内。检测箱3为长方体或圆柱体外形，内部为暗箱结构，其内壁上设置有吸光材料。光源12为显微测试单元13的工作提供光照，光源12可以为相干光源，其上设置有亮度调节结构、发光角度调节结构。显微测试单元13可以为全息照相机或显微镜，其成像通过光纤传出外部，其中，采用显微镜时，显微镜的焦距可调，显微镜通过调节焦距来间接调节物距，使不同深度的玻璃内部影像依次被放大显示。图像传感器位于显微测试单元13的成像面并具有图像输出接口。显微镜的透镜组合受控通过焦距调整，将距待测玻璃表面下不同深度的材料实物的影像分层成像在图像传感器上。
伺服控制部包括第一转动结构5、伸缩支架4、第二转动结构8、支架6和底座7，支架6竖直固定安装在底座7上，第一转动结构5可转动设置在支架6上，支架6活动连接第一转动结构5的轴心，第一转动结构5上水平固定设置有能够伸缩的伸缩支架4，第一转动结构5通过法兰固定连接伸缩支架4的一端，伸缩支架4端部设置有第二转动结构8，伸缩支架4的另一端与第二转动结构8的轴心活动连接，第二转动结构8上连接有所述检测箱3，第二转动结构8通过法兰与检测箱3固定连接。
本实施例中，第一转动结构5、第二转动结构8为轴套法兰的转动定位结构，能够受控转动和定位。伸缩支架4为单筒望远镜套筒运动结构，能够受控伸缩运动、定位调节其总长度。
本实用新型镀膜玻璃内部缺陷断层显示装置，根据透镜成像原理，图像传感器设置固定，像距不变，通过调节焦距间接调节物距，可使不同深度的玻璃内部影像依次被放大显示。由于玻璃为二氧化硅组成颗粒微小、透光，当其中混入杂质、气泡等其他异物时，一旦受到光的照射，这些物质或不规则反射或不透明或光学性质各向异性，会引起光线的不规则的漫反射，反射光线一旦被透镜接收和聚焦，将形成这些异物的成像图形，它们或明或暗与周围的形成鲜明对比并被呈现在图像传感器上。由此达到检测杂质的目的。
使用时，第一步：由控制系统（图中未示）控制第一转动结构5、伸缩支架4、第二转动结构8协调联合运动，通过其相应部件的伸缩、转动进行三坐标定位并最终将检测箱3移动到预定测量位置。第二步：检测箱3内部的光源12受控打开照亮待测玻璃1的待测区域，显微测试单元13受控调节焦距，使玻璃层中不同深度11的内部图像呈现在图像传感器上（图中未示）并通过其图像输出接口由此传出。第三部：控制系统（图中未示）控制选择不同位置重复以上测量程序并发送结果。
本实用新型镀膜玻璃内部缺陷断层显示装置，结构简单、检测方式简便、检测效率高，适应高效快捷的自动化生产需求，便于质量管理和利于产品可追溯性的顺利执行。

Claims (10)

1.镀膜玻璃内部缺陷断层显示装置，其特征在于，该显示装置包括测试部、用于将测试部移动到预定检测位置的伺服控制部，其中，测试部包括显微测试单元和图像传感器，显微测试单元的透镜组合受控通过焦距调整，将距待测玻璃表面下不同深度的材料实物的影像分层成像在图像传感器上。
2.  如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述测试部还包括检测箱和为所述显微测试单元工作提供光照的光源，所述显微测试单元、图像传感器和光源均设置在检测箱内。
3.  如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述伺服控制部包括第一转动结构、伸缩支架、第二转动结构、支架和底座，支架竖直固定安装在底座上，第一转动结构可转动设置在支架上，第一转动结构上水平固定设置有能够伸缩的伸缩支架，伸缩支架端部设置有第二转动结构，第二转动结构上连接有所述检测箱。
4.  如权利要求2所述的显示装置，其特征在于，所述显微测试单元为全息照相机或显微镜，其成像通过光纤传出外部；其中，显微镜焦距可调，显微镜通过调节焦距来间接调节物距，使不同深度的玻璃内部影像依次被放大显示。
5.  如权利要求4所述的显示装置，其特征在于，所述光源为相干光源，其上设置有亮度调节结构、发光角度调节结构。
6.  如权利要求5所述的显示装置，其特征在于，所述检测箱为长方体或圆柱体外形，内部为暗箱结构，其内壁上设置有吸光材料。
7.  如权利要求3所述的显示装置，其特征在于，所述第一转动结构、第二转动结构为轴套法兰的转动定位结构，能够受控转动和定位。
8.  如权利要求7所述的显示装置，其特征在于，所述伸缩支架为单筒望远镜套筒运动结构，能够受控伸缩运动、定位调节其总长度。
9.  如权利要求6所述的显示装置，其特征在于，所述图像传感器位于所述显微镜结构的成像面并具有图像输出接口。
10.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述显示装置还包括用于控制所述测试部和伺服控制部动作的控制系统。
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