CN202149926U - 一种老化设备 - Google Patents

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刘文斌
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Abstract

一种老化设备,包括机柜(1),所述机柜(1)内包括带控制面板(2)的控制中心,及通过控制电路分别与控制中心相连的元件/模块老化区、机芯老化区;该元件/模块老化区包括恒温腔(3)和温控部件(4),该机芯老化区分为模拟区(5)、机芯老化腔(6)和水循环部件(7)。本实用新型是针对厨房设备设计的一种集元件老化、模块老化、机芯老化为一体的综合性测试设备。通过PID模糊控制温度技术,使元件及模块保持在一个恒温的环境内老化,通过相关的硬件及软体配合,模拟出厨电灶在正常工作情况下的抛锅、干烧、烹调等状态,以完成机芯老化效果。

Description

一种老化设备
技术领域
本实用新型涉及一种电子元器件的老化设备,尤其涉及一种用于电磁炉/灶的老化设备。
背景技术
随着电子技术的迅速发展,电子设备已经广泛应用于科学技术的各个领域,对电子产品的可靠性也日益重视。因此对电子元器件的可靠性提出了更高的要求。在电子元器件(包括电阻、电容、二极管、晶体管、集成电路等)的出厂前以及用户使用前都要将这些元器件进行老化筛选,用以剔除早期失效和稳定性差的那部分元件,从而保证其使用的可靠性。同理电磁炉/灶的生产线也需要对元器件在各种环境下的工作状态进行测试。目前市面上有一些针对电磁炉/灶等厨具的老化设备,但是这些设备并不能真正模拟出电磁炉/灶在正常工作情况下的抛锅、干烧、烹调等状态,以达到理想的老化效果。
实用新型内容
为克服现有技术的不足及存在的问题,本实用新型提供一种结构简单、合理,集元件老化、模块老化、机芯老化为一体的老化设备。
本实用新型是通过以下技术方案实现的:一种老化设备,包括机柜,所述机柜内包括带控制面板的控制中心,及通过控制电路分别与控制中心相连的元件/模块老化区、机芯老化区;该元件/模块老化区包括恒温腔和温控部件,该机芯老化区分为模拟区、机芯老化腔和水循环部件。
所述控制中心包括基于PID模糊控制温度技术的温度控制器、超温保护装置及主控制装置。
所述元件/模块老化区的恒温腔内设有传感器,恒温腔外壁上设有发热源;所述温控部件包括排气扇、可变风道及鼓风机。所述恒温腔的温度可变范围为25℃~80℃。
所述机芯老化腔内设有传感器、与机芯的接线端口相配合的端口。所述恒温腔、机芯老化腔设有外拉门或采用抽屉式设计。所述模拟区包括可变线盘、可变水路,热交热器;所述水循环部件包括水泵、水箱。
所述控制面板上设有显示屏和控制按钮。
进一步地,所述老化设备与产线配备的节能系统相连,并通过数据线与生产系统连接。
本实用新型与现有技术比较,是针对厨房设备设计的一种集元件老化、模块老化、机芯老化为一体的综合性测试设备。通过PID模糊控制温度技术,使元件及模块保持在一个恒温的环境内老化,机芯老化是通过相关的硬件及软体配合,模拟出厨电灶在正常工作情况下的抛锅、干烧、烹调等状态,以完成老化效果,其中模拟状态的时长可通过控制面板控制:这是与一般老化(将厨电灶直接通电工作老化)的差别。该设备外部还能与产线配备的节能系统相连,因此设备在工作时产生的热水、热量等资源将会被回收再利用。该设备还能与产线上的生产系统交换数据。 
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是本实用新型的元件/模块老化区的工作原理图;
图2是本实用新型的元件/模块老化区的多点式温度时间曲线模型;
图4是本实用新型的机芯老化区的工作原理图。
图中:1-机柜,2-控制面板,3-恒温腔,4-温控部件,5-模拟区,6-机芯老化腔,7-水循环部件。
具体实施方式
为了便于本领域技术人员的理解,以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步详细描述。应当指出,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
如附图1所示,一种老化设备,包括机柜1,其特征在于:所述机柜1内包括带控制面板2的控制中心,及通过控制电路分别与控制中心相连的元件/模块老化区、机芯老化区;该元件/模块老化区包括恒温腔3和温控部件4,该机芯老化区分为模拟区5、机芯老化腔6和水循环部件7。
所述控制中心包括基于PID模糊控制温度技术的温度控制器、超温保护装置及主控制装置。通过PID模糊控制温度技术,使元件及模块保持在一个恒温的环境内老化,所述恒温腔的温度可变范围为25℃(即常温)~80℃。
所述恒温腔内设有传感器,恒温腔外壁上设有发热源;所述温控部件4包括排气扇、可变风道及鼓风机。
机芯老化是通过模拟区5中相关的硬件及软体配合,模拟出厨电灶在正常工作情况下的抛锅、干烧、烹调等状态,以使机芯老化腔6内的机芯完成老化效果,其中模拟状态的时长可通过控制面板2控制。这也是与一般老化(将厨电灶直接通电工作老化)的差别。所述机芯老化腔6内设有传感器、与机芯的接线端口相配合的端口。所述模拟区5包括可变线盘、可变水路,热交热器;所述水循环部件7包括水泵、水箱。
所述控制面板2上设有显示屏和控制按钮,以对各项参数进行设置。本老化设备是针对厨电灶设计的一种集元件老化、模块老化、机芯老化为一体的综合性测试设备,通过数据线与产线上拥有的生产系统连接,能与生产系统交换数据。该设备外部还能与产线配备的节能系统相连,因此设备在工作时产生的热水、热量等资源将会被回收再利用。
所述恒温腔3、机芯老化腔6设有外拉门或采用抽屉式设计。
如附图2所示,利用本设备对元件或模块进行老化测试时,用户首先将元件或模块放入恒温腔3内,然后在控制面板2上设定好元件或模块的老化状态。这时,控制电路会将恒温腔3内的传感器所反馈的数据传送至控制中心,控制中心依PID模糊控制温度技术算出用户想要得到的结果,然后由控制电路根据结果改变发热源、鼓风机及可变风道的工作状态,以达到用户设定的老化效果。当恒温腔3内需要降温时,控制中心会通过计算,改变排风扇、发热源、鼓风机及可变风道的工作状态,以达到所需效果。附图3为元件/模块老化区的多点式温度时间曲线模型。该模型通过截取多个时间点反映了元件/模块老化区在d1~d5这五个时间区域内温度变化的轻重急缓。从该图中可发现,t1时间段内的温度由常温25℃急剧上升,t2时间段内的温度变化渐趋平缓,达到80℃后保持恒温,尔后轻微下降,t3时间段内元件/模块的老化基本完成,温度急剧下降。
如附图4所示,利用本设备对机芯进行老化测试的工作过程如下:用户将机芯放入机芯老化腔6内,将机芯上相应的接线端口与老化腔6内的相应端口对接,然后在控制面板2上设定好机芯的老化状态。这时,控制中心会根据设定的状态数据,及依据传感器所反馈的数据,改变可变线盘、可变水路、水泵的工作状态,模拟出厨电灶在正常工作情况下的抛锅、干烧、烹调等状态,以达到用户设定的老化效果。本设备还可以通过对热交换器、水箱温度的控制,模拟出高温环境,以测试厨电灶在不良环境下的工作状态。
上述实施例中提到的内容并非是对本实用新型的限定,在不脱离本实用新型的发明构思的前提下,任何显而易见的替换均在本实用新型的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种老化设备,包括机柜(1),其特征在于:所述机柜(1)内包括带控制面板(2)的控制中心,及通过控制电路分别与控制中心相连的元件/模块老化区、机芯老化区;该元件/模块老化区包括恒温腔(3)和温控部件(4),该机芯老化区分为模拟区(5)、机芯老化腔(6)和水循环部件(7)。
2.根据权利要求1所述的老化设备,其特征在于:所述控制中心包括基于PID模糊控制温度技术的温度控制器、超温保护装置及主控制装置。
3.根据权利要求2所述的老化设备,其特征在于:所述恒温腔内设有传感器,恒温腔外壁上设有发热源;所述温控部件(4)包括排气扇、可变风道及鼓风机。
4.根据权利要求3所述的老化设备,其特征在于:所述恒温腔的温度可变范围为25℃~80℃。
5.根据权利要求4所述的老化设备,其特征在于:所述机芯老化腔(6)内设有传感器、与机芯的接线端口相配合的端口。
6.根据权利要求5所述的老化设备,其特征在于:所述模拟区(5)包括可变线盘、可变水路,热交热器;所述水循环部件(7)包括水泵、水箱。
7.根据权利要求6所述的老化设备,其特征在于:所述控制面板(2)上设有显示屏和控制按钮。
8.根据权利要求7所述的老化设备,其特征在于:所述老化设备通过数据线与生产系统连接,并与产线配备的节能系统相连。
9.根据权利要求1-8中任一项所述的老化设备,其特征在于:所述恒温腔(3)、机芯老化腔(6)设有外拉门或采用抽屉式设计。
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CN114609511A (zh) * 2022-05-10 2022-06-10 上海菲莱测试技术有限公司 一种硅基液晶老化检测设备

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