CN202119376U - 一种轴用键槽对称度测量仪 - Google Patents

一种轴用键槽对称度测量仪 Download PDF

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吴永旭
张永泉
彭学斌
姜娟
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Abstract

一种轴用键槽对称度测量仪,由V型块和压盖组成,所述V型块具有放置待测轴的槽体,压盖固定于V型块上部,压盖中部设有通孔,通孔中设有测量销,测量销通过该通孔从压盖外侧伸入内侧,所述测量销的端部设有测头,测头伸入轴的键槽中。在测量时,将键槽宽度尺寸合格的轴放在V型块上,转动轴,如果测量销的测头能完全进入轴的键槽,则说明轴的键槽对称度合格,如果测头不能完全进入键槽,则说明轴的键槽对称度不合格,更换不同的测量销就可测量不同宽度的键槽,提高了轴上的键槽对称度的测量精度和测量速度,结构简单,使用方便。

Description

一种轴用键槽对称度测量仪
技术领域
本实用新型涉及一种轴的键槽对称度测量仪。
背景技术
在轴的键槽对称度误差测量中,国家标准给出了测量方法,如图1所示。检测需用平板110、V型块120、定位块130和带指示器的测量架140。测量时将轴200放入V型块的卡槽中,定位块130插入键槽,调整被测件使定位块沿径向与平板平行,测量定位块至平板的距离;再将被测轴旋转180°后重复上述测量,得到上下两对应点的读数差a(此值为键槽偏心距e的2倍),则对称度误差为:
f=a·h/d-h
其中,d为轴的直径,h为槽深。
在实际应用中,由于键槽的尺寸有误差,需要配置多种尺寸的定位块,否则测量误差太大,因此这种方法难以推广使用。因此各个厂家根据自己的产品精度要求结构,或设计结构形式复杂的检具,或干脆检验员目测判定,要么检测成本太高,要么检测精度太低。在实际生产中,有些场合下只需要检测键槽的对称度是否合格,而不需要检测其对称度的误差数值,有必要设计一种可快速判定键槽对称度的检测器具,以满足生产现场需求。
实用新型内容
为了解决上述问题,本实用新型提供一种轴用键槽对称度测量仪。
本实用新型为解决其技术问题所采用的技术方案是,
一种轴用键槽对称度测量仪,由V型块和压盖组成,所述V型块具有放置待测轴的槽体,压盖固定于V型块上部,压盖中部设有通孔,通孔中设有测量销,测量销通过该通孔从压盖外侧伸入内侧,所述测量销的端部设有测头,测头伸入轴的键槽中。
所述压盖的边缘设有凸边,所述V型块的槽体边缘设有卡口,凸边卡在卡口中,凸边与卡口之间为小过盈配合。
所述压盖和V型块的边缘分别设有定位孔,由螺钉穿过定位孔将压盖和V型块连接。
所述V型块的槽体开口角度为90°。
所述测量销与压盖的通孔为小间隙配合,测量销在通孔中轴向滑动。
所述测头与测量销同轴,测头的长度比被测轴键槽的深度大3mm。
本实用新型的有益效果是,这种测量仪在测量时,将键槽宽度尺寸合格的轴放在V型块上,转动轴,如果测量销的测头能完全进入轴的键槽,则说明轴的键槽对称度合格,如果测头不能完全进入键槽,则说明轴的键槽对称度不合格,提高了轴上的键槽对称度的测量精度和测量速度,结构简单,使用方便。
附图说明
图1是现有轴用对称度测量仪的结构示意图;
图2是本实用新型提出的轴用键槽对称度测量仪的结构示意图;
图3是压盖的结构示意图;
图4是图3中压盖的仰视图;
图5是V型块的结构示意图;
图6是图5中V型块的俯视图。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合图示与具体实施例,进一步阐述本实用新型。
如图2所示,本实用新型提出的轴用键槽对称度测量仪由V型块310和压盖320组成,所述V型块310具有放置待测轴的槽体311,压盖320固定于V型块310上部,压盖320中部设有通孔321,通孔321中设有测量销330,测量销330通过通孔321从压盖320外侧伸入内侧,所述测量销330的端部设有测头331,测头伸入轴200的键槽中。
所述压盖的边缘设有凸边,所述V型块的槽体边缘设有卡口,凸边卡在卡口中,凸边与卡口之间为小过盈配合。所述压盖和V型块的边缘分别设有定位孔,如图3和图5所示,压盖320上设有定位孔322和323,V型块上设有定位孔312和313,由螺钉341和342穿过定位孔将压盖320和V型块310连接为一体。所述V型块310的槽体311开口角度为90°。所述测量销与压盖的通孔为小间隙配合,测量销在通孔中轴向滑动。所述测头与测量销同轴,测头的长度比被测轴键槽的深度大3mm。
测头的直径尺寸确定:
D = H - f ( d - h ) 2 h
其中D为测头直径,H为键槽最小极限尺寸,f为被测键槽的对称度要求,d为轴的直径,h为键槽深度。
在测量时,将键槽宽度尺寸合格的轴放在V型块上,转动轴,如果测量销的测头能完全进入轴的键槽,则说明轴的键槽对称度合格,如果测头不能完全进入键槽,则说明轴的键槽对称度不合格,更换不同的测量销就可测量不同宽度的键槽,提高了轴上的键槽对称度的测量精度和测量速度,结构简单,使用方便。
这种检测方法只检测键槽的对称度是否合格,不能检测出其对称度的误差数值。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。

Claims (6)

1.一种轴用键槽对称度测量仪,由V型块和压盖组成,其特征在于,所述V型块具有放置待测轴的槽体,压盖固定于V型块上部,压盖中部设有通孔,通孔中设有测量销,测量销通过该通孔从压盖外侧伸入内侧,所述测量销的端部设有测头,测头伸入轴的键槽中。
2.根据权利要求1所述的一种轴用键槽对称度测量仪,其特征在于,所述压盖的边缘设有凸边,所述V型块的槽体边缘设有卡口,凸边卡在卡口中,凸边与卡口之间为小过盈配合。
3.根据权利要求1所述的一种轴用键槽对称度测量仪,其特征在于,所述压盖和V型块的边缘分别设有定位孔,由螺钉穿过定位孔将压盖和V型块连接。
4.根据权利要求1所述的一种轴用键槽对称度测量仪,其特征在于,所述V型块的槽体开口角度为90°。
5.根据权利要求1所述的一种轴用键槽对称度测量仪,其特征在于,所述测量销与压盖的通孔为小间隙配合,测量销在通孔中轴向滑动。
6.根据权利要求1所述的一种轴用键槽对称度测量仪,其特征在于,所述测头与测量销同轴,测头的长度比被测轴键槽的深度大3mm。
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