CN201940382U - 晶片检测分选机 - Google Patents

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Abstract

一种晶片检测分选机，它包括工作台和检测装置，检测装置放置在工作台面上，其特征在于贯穿于工作台有个落料管，工作台下有伺服电机带动的转盘，不同参数范围的落料罐呈环状有序分布在转盘上，落料管的出口在落料罐上方。本实用新型的晶片检测分选机，检测装置只要把检测到的晶片的数据输送到单片机，单片机输出相对应的伺服电机转动的角度控制信号，转盘上相应的落料罐转到落料管的出口下方候料。因此，本实用新型具有结构简单、使用方便的特点。

Description

晶片检测分选机
技术领域
本实用新型涉及晶片检测设备，具体的说是一种晶片检测分选机。
背景技术
晶片加工完成后，需要对其参数进行检测，然后按其不同的参数值的范围进行分选，更好的满足不同用户的需要，根据检测的结果采用人工进行分选工作量很大。
实用新型内容
本实用新型的目的是针对上述问题，提出一种结构简单、使用方便的晶片检测分选机。
本实用新型的目的是这样实现的：本实用新型的一种晶片检测分选机，它包括工作台和检测装置，检测装置放置在工作台面上，其特征在于贯穿于工作台有个落料管，工作台下有伺服电机带动的转盘，不同参数范围的落料罐呈环状有序分布在转盘上，落料管的出口在落料罐上方。
本实用新型的晶片检测分选机，检测装置只要把检测到的晶片的数据输送到单片机，单片机输出相对应的伺服电机转动的角度控制信号，转盘上相应的落料罐转到落料管的出口下方候料。因此，本实用新型具有结构简单、使用方便的特点。
附图说明
图1为本实用新型的晶片检测分选机的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图通过实施例对本实用新型作进一步说明：
如图1所示，本实用新型的一种晶片检测分选机，它包括工作台1和检测装置2，检测装置2放置在工作台面上，其特征在于贯穿于工作台1有个落料管3，工作台2下有伺服电机4带动的转盘5，不同参数范围的落料罐6呈环状有序分布在转盘5上，落料管3的出口在落料罐6上方。

Claims (1)

1.一种晶片检测分选机，它包括工作台(1)和检测装置(2)，检测装置(2)放置在工作台面上，其特征在于贯穿于工作台(1)有个落料管(3)，工作台(2)下有伺服电机(4)带动的转盘(5)，不同参数范围的落料罐(6)呈环状有序分布在转盘(5)上，落料管(3)的出口在落料罐(6)上方。
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