CN201697877U - 反射率测定仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了反射率测定仪，其包括用于检测用的探头、用于信号处理的主机、用于校对的标准板以及用于放置试样的工作陶瓷板，该探头与主机相接。本实用新型结构简单，测量精度高，能够统一解决现有技术的问题。
Description
技术领域：
本实用新型涉及一种光波测量装置，具体涉及一种发射率测定仪。
背景技术：
投射到物体上面被反射的辐射能与投射到物体上的总辐射能之比，称为该物体的反射率。这是针对所有波长而言，应称为全反射率，通常简称为反射率。
实际物体的发射率与物体的表面状态(包括物体表面温度、表面粗糙度以及表面氧化层、表面杂质或涂层的存在)有关。
金属的发射率随表面温度的上升而增大，而非金属的发射率一般是随表面温度的上升而减小。金属的发射率比非金属的小得多。
物体表面所能反射的光量和它所接受的光量之比。常用百分率和小数表示。
不透明介质如镜面的反射率为100％，非镜面则与颜色、温度、光的属性等诸方面因素有关。透明介质的反射率的大小与光的入射角有关，入射角越大，反射率越大，例如，光从光密介质进入光疏介质时，当入射角达到临界角时，发生全反现象，小于临界角时，则是部分反射。
一个普适的反射率计算公式是：ρ＝(n1平方-n2)平方/(n1平方+n2)平方；其中n1，n2分别是两种介质的真实折射率(即相对于真空的折射率)。折射率是指光线进入不同介质时角度发生改变的现象，用sinθ1/sinθ2来表征。θ1，θ2分别为入射角和折射角，即光线与法线的夹角。
通常来说，光线在临界面上的反射率仅与介质的物理性能，光线的波长，以及入射角相关。
在介质折射率连续变化的情况下(例如光线连续穿过两种不同折射率的玻璃时)，由于在不同界面的反射光线产生干涉效应，其反射率还与介质厚度有关。从而可以通过设计特定厚度和特定折射率的涂层，来得到想要的较大或是较小反射率的复合材料。
针对上述特性，人们设计出专用于涂料、颜料、油墨等化工行业的反射率测定装置，但是这类测定装置存在结构复杂，成本高，而成测量精度不高等问题，严重影响了反射率测定装置实际应用能力。
实用新型内容：
本实用新型针对上述现有反射率测定装置所存在的结构复杂，成本高，测量精度不高等问题，而提供一种新型的反射率测定仪。该反射率测定仪能够有效的统一解决上述问题。
为了达到上述目的，本实用新型采用如下的技术方案：
反射率测定仪，包括用于检测的探头、用于信号处理的主机、用于校对的标准板以及用于放置试样的工作陶瓷板，所述探头与主机相接。
所述标准板为两块。
所述工作陶瓷板为两块。
根据上述技术方案得到的本实用新型具有以下特点：
(1)可用于涂料、颜料、油墨等化工行业，并符合相应的国际标准和国家标准；
(2)可用于漆膜遮盖力的测定和发射率的测量；
(3)结构简单，便于操作，测量精度高。
附图说明：
以下结合附图和具体实施方式来进一步说明本实用新型。
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为本实用新型中的光路原理图。
具体实施方式：
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本实用新型。
参见图1，本实用新型提供的反射率测定仪由探头100、主机200、标准板300以及工作陶瓷板400。
探头100用于直接检测试样的发射光，该探头采用0°照射，45°接收的原理。参见图2，直流稳压器101给灯泡102提供电源，其发光产生光源，光线依次通过透镜103、滤色片104后垂直照射到试样106上，光线通过试样106以45°反射至硒光电池105表面，硒光电池105表面将产生电讯号并输入至直流放大器107进行放大。
主机200接收探头100的电信号，根据该值计算得到相应发射率值，并进行实时的显示。
标准板300用于测定仪的校对，其包括一块白色标准板301和一块黑色标准板302。利用标准板300进行校对时，先进行校零：将探头100放在黑色标准板302上，调整主机200的校正旋钮，使主机数字显示为00.0(允许变动±0.1)；接着校正标准值：把探头100放在白色标准板301上，调整主机200的校正旋钮，使主机显示的数值与白色标准板301的标定值一致。
工作陶瓷板400用于测量时放置试样，其包括一块白色工作陶瓷板401和一块黑色工作陶瓷板402。具体使用时，先测量试样的Rb值：把探头100移至放有试样的黑色工作陶瓷板402上，主机200所显示的数值为Rb值；测量Rw值：把探头100移至放有试样的白色工作陶瓷板401上，主机200所显示的数值为Rw值。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (3)
1.反射率测定仪，其特征在于，所述发射率测定仪包括用于检测的探头、用于信号处理的主机、用于校对的标准板以及用于放置试样的工作陶瓷板，所述探头与主机相接。
2.根据权利要求1所述的反射率测定仪，其特征在于，所述标准板为两块。
3.根据权利要求1所述的反射率测定仪，其特征在于，所述工作陶瓷板为两块。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN 201020219982 CN201697877U (zh) | 2010-06-08 | 2010-06-08 | 反射率测定仪 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| CN 201020219982 CN201697877U (zh) | 2010-06-08 | 2010-06-08 | 反射率测定仪 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN201697877U true CN201697877U (zh) | 2011-01-05 |
Family
ID=43399124
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN 201020219982 Expired - Lifetime CN201697877U (zh) | 2010-06-08 | 2010-06-08 | 反射率测定仪 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104297214A (zh) * | 2014-11-03 | 2015-01-21 | 苏州精创光学仪器有限公司 | 玻璃表面反射率测试装置 |
| CN105004697A (zh) * | 2015-07-21 | 2015-10-28 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种用于半导体器件材料反射率的光学测量方法 |
| CN107037007A (zh) * | 2017-05-18 | 2017-08-11 | 北京奥博泰科技有限公司 | 一种带自动校准功能的玻璃反射比测量装置及方法 |
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2010
- 2010-06-08 CN CN 201020219982 patent/CN201697877U/zh not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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