CN202630932U - 光洁度测量仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于一种仪器,具体是一种光洁度测量仪。光洁度测量仪包括半导体激光器、测量透镜、试件放置台、反射镜、多单元光电转换器、信号处理单元、显示器,其中,半导体激光器与测量透镜之间连接有准直光纤,反射镜连接有柱面镜,且反射镜与柱面镜的连接角度是45度。本实用新型可以方便、自动、精确地实现对陶瓷制品、玻璃制品光洁度的测量。克服了以往技术中光洁度测量仪精度低、性能不稳定的缺点。本实用新型有广阔的应用前景,可以使我国的陶瓷制品、玻璃制品光洁度的测量精度提高一个新的台阶。另外,本实用新型的生产成本不高,结构简单,适合在相关技术领域中推广使用。
Description
技术领域
本实用新型属于一种仪器,具体是一种光洁度测量仪。
背景技术
由于我国是一个陶瓷制品大国,特别是高档的陶瓷制品对光洁度的要求更高,传统的陶瓷光洁度检测仪器由于精度低、性能不稳定等缺点,难以达到精确检测陶瓷制品光洁度的要求。因此,需要技术上的进步,以解决陶瓷光洁度检测仪器的精度低、性能不稳定的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中的不足,提供一种检测精度高、性能稳定的光洁度检测仪器。
光洁度测量仪包括半导体激光器、测量透镜、试件放置台、反射镜、多单元光电转换器、信号处理单元、显示器,其中,半导体激光器与测量透镜之间连接有准直光纤,反射镜连接有柱面镜,且反射镜与柱面镜的连接角度是45度。柱面镜与多单元光电转换器连接。
本实用新型的信号处理单元包括信号放大器、数字处理器、微处理器。
其中,信号放大器与多单元光电转换器连接,微处理器与显示器连接。
本实用新型的半导体激光器呈矩形;测量透镜呈椭圆形。
本实用新型可以实现方便、自动、精确地对陶瓷制品、玻璃制品光洁度的测量。克服了以往技术中光洁度测量仪精度低、性能不稳定的缺点。本实用新型有广阔的应用前景,可以使我国的陶瓷制品、玻璃制品光洁度的测量精度提高一个新的台阶。另外,本实用新型的生产成本不高,结构简单,方便生产制造,适合在相关技术领域中推广使用。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图;
图中:1、半导体激光器;2、测量透镜;3、试件放置台;4、反射镜;5、多单元光电转换器;6、准直光纤;7、柱面镜;8、信号处理单元;9、显示器。
具体实施方式
为使本实用新型的技术方案和特点更加清楚,下面结合实施例和附图,对本实用新型做进一步的详细说明。在此,以下实施例用于说明本实用新型,但不用来限制本实用新型的范围。
如图1所示,光洁度测量仪包括半导体激光器1、测量透镜2、试件放置台3、反射镜4、多单元光电转换器5、信号处理单元8、显示器9,其中,半导体激光器1与测量透镜2之间连接有准直光纤6,反射镜4连接有柱面镜7,且反射镜4与柱面镜7的连接角度是45度。
本实用新型的柱面镜7与多单元光电转换器5连接。
本实用新型的信号处理单元8包括信号放大器、数字处理器、微处理器。
信号放大器与多单元光电转换器5连接,微处理器与显示器9连接。
本实用新型的半导体激光器1呈矩形;测量透镜2呈椭圆形。
本实用新型的技术方案是这样实现的,半导体激光器1发出激光经准直光纤6,由测量透镜2会聚到试件放置台3上的测量件表面形成一定直径的光斑,被粗糙表面调制的激光束所形成的散射带,包括反射中心光斑和一侧的散射光带、半散射光带返回测量透镜2成为近似的平行光带,经平面反射镜4反射,由柱面镜7会聚到光电二极管阵列光敏面上。然后,再由多单元光电转换器5将信号传输到信号处理单元8,最后信号处理单元8将处理后的信息显示在显示器9上,操作者可以通过显示器9得出光洁度的相应数值。
显然,本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例,而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无法对所有的实施方式予以穷举。凡是属于本实用新型的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之列。
Claims (6)
1.光洁度测量仪,包括半导体激光器、测量透镜、试件放置台、反射镜、多单元光电转换器、信号处理单元、显示器,其中,半导体激光器与测量透镜之间连接有准直光纤,其特征在于反射镜连接有柱面镜,且柱面镜与多单元光电转换器连接。
2.根据权利要求1所述的光洁度测量仪,其特征在于信号处理单元包括信号放大器、数字处理器、微处理器。
3.根据权利要求2所述的光洁度测量仪,其特征在于信号放大器与多单元光电转换器连接,微处理器与显示器连接。
4.根据权利要求1所述的光洁度测量仪,其特征在于反射镜与柱面镜的连接角度是45度。
5.根据权利要求1所述的光洁度测量仪,其特征在于半导体激光器呈矩形。
6.根据权利要求1所述的光洁度测量仪,其特征在于测量透镜呈椭圆形。
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CN105300325A (zh) * | 2015-11-11 | 2016-02-03 | 海信集团有限公司 | 一种激光光源中荧光轮的平整度检测方法和装置 |
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GR01 | Patent grant | ||
C17 | Cessation of patent right | ||
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Granted publication date: 20121226 Termination date: 20130629 |