CN204807448U - 表面等离子体共振装置光学系统 - Google Patents
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Abstract
一种表面等离子体共振装置光学系统，它包括光源(1)，其特征在于：所述光源(1)的光线穿过半圆柱棱镜(2)照向待测样品(3)，待测样品(3)紧贴半圆柱棱镜(2)平面处，光线经过待测样品(3)反射，反射光穿过半圆柱棱镜(2)照射到二象限硅光电池(4)，二象限硅光电池(4)与检测控制电路(5)连接。本实用新型提高了对共振角的感应精度量级，从而提高了仪器的检测精度。
Description
技术领域
本实用新型涉及物质表面特性分析仪器领域，具体讲就是涉及一种表面等离子体共振装置光学系统，能够提高等离子体共振装置角度检测精度。
背景技术
表面等离子体共振装置是物理学、化学和生物学研究的重要工具。其通过表面等离子体共振现象检测金属绝缘体界面传播的电子密度波动，实现金属表面的分析物的免标记、实时、无损检测，并可以对反应进行动力学参数分析。因此，表面等离子体共振装置在生物分子相互作用、医学分析、生物技术、药品制造、食品加工等领域有广泛应用。表面等离子体共振是指当光线由光密媒质照射到光疏媒质时，在入射角大于某个特定角度时，会发生全反射现象。如果在两种媒质的界面之间，存在一层合适厚度的金属膜，在发生全反射的条件下，入射光线的消逝波的P偏振分量将穿透导电金属层，并与金属层中的自由电子相互作用，激发出沿金属导体表而传播的表面等离子体波，适当的改变入射光角度或者波长，消逝波与表面等离子体波发生谐振，入射光的大部分能量被吸收，反射光能量急剧下降，发生衰减全反射。当光疏媒质折射率发生极细微的变化时，将会相应的改变谐振吸收峰的位置。由上述现象可知，表面等离子体对附着在金属薄膜表面的介质折射率非常敏感,当表面介质的属性改变或者附着量改变时，共振角将不同。因此，利用表面等离子体共振现象制作的表面等离子体共振仪器能够检测金属绝缘体界面传播的电子密度波动，但是目前传统的表面等离子体共振仪器常采用机械方式进行共振角检测，无法实现精确的角度测量，从而也无法得到量级较高的测量精度。
实用新型内容
本实用新型的目的就是针对现有的表面等离子体共振仪器采用机械方式进行共振角检测能够检测到的精度量级较小的技术缺陷，设计一种表面等离子体共振装置光学系统，提高了对共振角的感应精度量级，从而提高了仪器的检测精度。
技术方案
为了实现上述目的，本实用新型设计一种表面等离子体共振装置光学系统，它包括光源，其特征在于：所述光源的光线穿过半圆柱棱镜照向待测样品，待测样品紧贴半圆柱棱镜平面处，光线经过待测样品反射，反射光穿过半圆柱棱镜照射到二象限硅光电池，二象限硅光电池与检测控制电路连接。
进一步，所述待测样品与半圆柱棱镜中心重合。
有益效果
本实用新型设计的一种表面等离子体共振装置光学系统，提高了对共振角的感应精度量级，从而提高了仪器的检测精度。
附图说明
附图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本实用新型做进一步说明。
实施例
如附图1所示，一种表面等离子体共振装置光学系统，它包括光源1，其特征在于：所述光源1的光线穿过半圆柱棱镜2照向待测样品3，待测样品3紧贴半圆柱棱镜2平面处，光线经过待测样品3反射，反射光穿过半圆柱棱镜2照射到二象限硅光电池4，二象限硅光电池4与检测控制电路5连接。
所述待测样品3与半圆柱棱镜2中心重合。
当样品无变化时，光斑在二象限硅光电池4的两象限上平均分布，检测控制电路5将响应置零位。当样品发生变化时，反射光角度发生变化，光斑移动引起二象限硅光电池4两象限上的响应产生差异，该差异值同角度存在固定换算关系。通过检测控制电路5将检测差异转换成光角度变化，可获得优于十万分之一的角度检测精度，实现小角度的精确检测。结合检测电路和软件，在表面等离子体共振光谱仪器上解决了原本单纯应用机构扫描方法带来的定位精度误差和重复性误差对检测结果的影响，整个结构简单紧凑，不存在磨损问题，结果精度高。
Claims (2)
1.一种表面等离子体共振装置光学系统，它包括光源(1)，其特征在于：所述光源(1)的光线穿过半圆柱棱镜(2)照向待测样品(3)，待测样品(3)紧贴半圆柱棱镜(2)平面处，光线经过待测样品(3)反射，反射光穿过半圆柱棱镜(2)照射到二象限硅光电池(4)，二象限硅光电池(4)与检测控制电路(5)连接。
2.如权利要求1所述的一种表面等离子体共振装置光学系统，其特征在于：所述待测样品(3)与半圆柱棱镜(2)中心重合。
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| CN106918854A (zh) * | 2017-05-05 | 2017-07-04 | 北京航空航天大学 | 一种高数值孔径的油浸表面等离子体超透镜 |
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