CN201335927Y - 一种用于液晶显示的装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种用于液晶显示的装置，形成于基板上的行电极；形成于基板上与行电极垂直的列电极，其中行列电极共同组成LCD的显示区；行电极同集成电路的连接线，列电极同集成电路的连接线，其中行、列电极同集成电路的连接线部分形成一全显测试区；位于集成电路封装区下的辅助测试电极，包括行、列辅助测试电极；形成于基板上的集成电路输入电极。
Description
技术领域
本实用新型涉及液晶显示技术领域，特别是一种用于液晶显示的装置。
背景技术
液晶显示器(LCD)包括两个用于液晶显示的装置、两用于液晶显示的装置之间的介电各向异性的液晶层和两用于液晶显示的装置外的偏光层。
当前应用较多的用于液晶显示的装置一般分为主动型用于液晶显示的装置和被动型用于液晶显示的装置。主动型用于液晶显示的装置主要指薄膜晶体管型液晶显示器，其显示单元通过独立的晶体管控制灰阶显示。被动型显示面板主要通过形成于基板上的相互绝缘的用于选择液晶点的行电极和用于使液晶发生偏转的列电极控制液晶显示单元实现灰阶显示。
被动型用于液晶显示的装置分别在两用于液晶显示的装置上形成行电极和列电极，并将行、列电极分别向集成电路(IC)封装区延伸(形成行、列电极与集成电路的连接极)，集成电路封装区一边形成有集成电路输入电极以接通信号。工作时集成电路通过连接电极给行、列电极驱动信号以得到特定的显示图案。
对于高集成度的用于液晶显示的装置，行、列电极与集成电路封装区的连接电路非常密集，电极间距很小，一般为10～80微米，在产品制造过程中，不可避免会形成少量的电极间短路或断路产品。
比较常用的测试这类用于液晶显示的装置电性能缺陷的方法是通过垂直导电胶条给集成电路封装区或其他行、列电极连接电极驱动电压，通过选择性的驱动电压测试出产品的电性缺陷。因垂直导电胶条靠胶条内的导电物质导电，其导电物质之间不要保证一定的间隙，一般都在50微米以上，因而对于电极间距在50微米以下的产品不能有效测试出所有的不良。近年有开发出导电物质间隙更小的垂直导电条，但因其成本太高，测试可信度不够且不耐用，难以用于液晶显示器的规模生产。
也有使用探针扫描测试这类用于液晶显示的装置电性能缺陷的仪器，但因其依靠金属探针接触式扫描，容易造成电极的划伤，同时探针的消耗较快，成本较高、测试速度慢，一般只用于抽样测试，难以实现产品的规模化测试以保证产品出货的零缺陷。
另有使用图像对比法测试液晶显示装置的电极缺陷的仪器，这种方法一般适用于单片液晶显示装置的测试，对于成盒后的液晶显示装置，无法测试出电极间短路和集成电路封装区电极的缺陷。
发明内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的缺点，提供一种用于液晶显示的装置。
本实用新型提供一种用于液晶显示的装置，包括
形成于基板上的行电极
形成于基板上与行电极垂直的列电极，其中行列电极共同组成LCD的显示区
行电极同集成电路的连接线，列电极同集成电路的连接线，其中行、列电极同集成电路的连接线部分形成一全选测试区
位于集成电路封装区下的辅助测试电极，包括行辅助测试电极，列辅助测试电极
形成于基板上的集成电路输入电极。
所述用于液晶显示的装置，由集成电路输入电极输入信号，集成电路分配驱动信号给各行电极和列电极，形成预定的显示图案。
所述行电极与集成电路的连接线路从其任意一端引出，并按较经济的布局延伸至集成电路封装区；列电极与集成电路的连接线路从距离集成电路较近的一侧引出，直接延伸至集成电路封装区。
所述行、列电极与集成电路的连接电路在集成电路封装区下的宽度及间隙按相应集成电路要求的参数布局。
所述行、列电极与集成电路的连接线路在集成电路封装区交替延长，形成辅助测试电路。
所述与集成电路的连接线路在集成电路封装区交替延长为奇数行、列电极延长或偶数行、列电极延长。
有益效果
本实用新型的用于液晶显示的装置，有利于液晶测试时，外界驱动信号与面板电极的导通只需一般垂直导电胶条或全导通胶条连接即可，测试速度快，可靠性高，成本低廉，特别适合规模生产时产品的批量测试。
附图说明
图1是本实用新型实施例的LCD面板结构图。
具体实施方式
结合附图，对于本领域的技术人员，本发明的上述及其他特征将从后续示例性实施例的描述中更加清晰，其中
图1的LCD面板结构，包括
形成于基板上的行电极101
形成于基板上与行电极垂直的列电极102，其中行列电极共同组成LCD的显示区100
行电极同集成电路的连接线201，列电极同集成电路的连接线202，其中行、列电极同集成电路的连接线部分形成一全显测试区203
位于集成电路封装区300下的辅助测试电极，包括行辅助测试电极301，列辅助测试电极302
形成于基板上的集成电路输入电极401。
液晶显示的装置，由集成电路输入电极输入信号，集成电路分配驱动信号给各行电极和列电极，形成预定的显示图案。
行电极101与集成电路的连接线路从其任意一端引出，并按较经济的布局延伸至集成电路封装区；列电极102与集成电路的连接线路从距离集成电路较近的一侧引出，直接延伸至集成电路封装区。
行、列电极101、102与集成电路的连接电路在集成电路封装区下的宽度及间隙按相应集成电路要求的参数布局。
行、列电极101、102与集成电路的连接线路在集成电路封装区交替延长，形成辅助测试电路。
与集成电路的连接线路在集成电路封装区交替延长为奇数行、列电极延长或偶数行、列电极延长。
Claims (6)
1、一种用于液晶显示的装置，其特征在于，包括
形成于基板上的行电极(101)
形成于基板上与行电极垂直的列电极(102)，其中行列电极共同组成LCD的显示区(100)
行电极同集成电路的连接线(201)，列电极同集成电路的连接线(202)，其中行、列电极同集成电路的连接线部分形成一全显测试区(203)
位于集成电路封装区(300)下的辅助测试电极，包括行辅助测试电极(301)，列辅助测试电极(302)
形成于基板上的集成电路输入电极(401)。
2、根据权利要求1所述的用于液晶显示的装置，其特征在于，所述液晶显示的装置，由集成电路输入电极输入信号，集成电路分配驱动信号给各行电极和列电极，形成预定的显示图案。
3、根据权利要求1所述的用于液晶显示的装置，其特征在于，所述行电极(101)与集成电路的连接线路从其任意一端引出，并按较经济的布局延伸至集成电路封装区；列电极(102)与集成电路的连接线路从距离集成电路较近的一侧引出，直接延伸至集成电路封装区。
4、根据权利要求1所述的用于液晶显示的装置，其特征在于，所述行、列电极(101、102)与集成电路的连接电路在集成电路封装区下的宽度及间隙按相应集成电路要求的参数布局。
5、根据权利要求1所述的用于液晶显示的装置，其特征在于，所述行、列电极(101、102)与集成电路的连接线路在集成电路封装区交替延长，形成辅助测试电路。
6、根据权利要求1所述的用于液晶显示的装置，其特征在于，所述与集成电路的连接线路在集成电路封装区交替延长为奇数行、列电极延长或偶数行、列电极延长。
Priority Applications (1)
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| CNU2009200007753U CN201335927Y (zh) | 2009-01-12 | 2009-01-12 | 一种用于液晶显示的装置 |
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| CN201335927Y true CN201335927Y (zh) | 2009-10-28 |
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| CNU2009200007753U Expired - Fee Related CN201335927Y (zh) | 2009-01-12 | 2009-01-12 | 一种用于液晶显示的装置 |
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| CN (1) | CN201335927Y (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101464575B (zh) * | 2009-01-12 | 2011-09-14 | 深圳市宇顺电子股份有限公司 | 一种液晶显示面板测试方法 |
-
2009
- 2009-01-12 CN CNU2009200007753U patent/CN201335927Y/zh not_active Expired - Fee Related
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