CN201219108Y - 发光二极管支架结构 - Google Patents

Abstract

本实用新型是一种发光二极管支架结构，包含：一胶座，其内部具备一中空功能区；以及两个金属支架，是由该中空功能区向该胶座的侧边延伸凸出且朝向该中空功能区的发光方向弯折有一第一翻折区，其中该第一翻折区朝垂直方向具有一第二翻折区朝该胶座的一焊接侧翻折，且一焊接部是连接该第二翻折区设置于该胶座的该焊接侧。其优点是由于将发光二极管支架的侧边折脚向胶座的中空功能区发光方向翻折，可使发光二极管支架的电性测试点维持于原来的位置，而无须变更测试机台的制具，其支架结构可同时采用高发光率的浅杯设计，焊接部与电路板上焊点位置不会因为错位而产生间隙导致漏光的问题。

Description

发光二极管支架结构

技术领域

本实用新型有关发光二极管封装技术，特别是有关一种发光二极管支架结构。

背景技术

如图1A所示，现有的侧光型发光二极管支架结构包括一胶座13以及两金属接脚14。金属接脚14是由一金属料带经冲压所制成，而胶座13是以塑料射出成型方式形成于金属接脚14上。其中，胶座13具有一碗状的凹部。金属接脚14是由胶座13凹部内延伸至胶座14外部。金属接脚14由胶座13的底部延伸出并具有彼此垂直的第一翻折区141与第二翻折区142。经过至少一道冲压步骤，接脚14先由第二翻折区142朝上翻折，再通过第一翻折区141朝塑料本体13侧边翻折，借以形成一焊接区域143，以成为完整的接脚14构造。

如图1B所示，发光二极管1于应用时，利用焊接区域143焊接于电路板2固定的焊点21位置上，则胶座13的开口朝向背光组件3的一侧以提供光源。在进行测试时，一般是利用测试机台于胶座13两侧的第二翻折区142处进行导电测试。

由于现有的发光二极管的胶座的反射杯较深导致出光量差，因此为了提高发光效率可将反射杯改浅，如图2所示。然而，当缩减反射杯的深度时，因为电路板2上的焊点21为固定位置，若将焊接区域143直接焊接于焊点21上，发光二极管1与背光组件3间会形成间隙而造成漏光。

请参照图3并接续上述说明，为克服此一漏光问题，一现有的发光二极管支架的金属接脚是由胶座13的侧边伸出。金属接脚的第一弯折区141向反射杯底部弯折，再将第二弯折部142向胶座的焊接侧弯折。如此，可采用缩减反射杯的深度时焊接部143可配合原有焊点21的位置，而发光二极管1与背光组件3间不会造成间隙导致漏光。

然而，上述设计会改变胶座两侧电性测试点的高度，电性测试点的高度下降。因此，测试机台必须额外修改或增加制具以因应此一变化也会造成制造商与客户端的不便。如何兼顾发光效率与现有焊点与电性测试点的位置实为一重要课题。

实用新型内容

为了解决上述问题，本实用新型目的之一是提供一种发光二极管支架结构，通过将发光二极管支架的侧边折脚向胶座的中空功能区发光方向翻折，可使发光二极管支架的电性测试点维持于原来的位置，无须变更测试机台的制具。

本实用新型的另一目的是提供一种发光二极管支架结构，其结构可同时采用高发光率的浅杯设计，焊接部与电路板上焊点位置不会因为错位而产生间隙导致漏光的问题。

为了达到上述目的，本实用新型的发光二极管支架结构，其特点是包括：一胶座，其内部具备一中空功能区；以及两个金属支架，是由中空功能区向胶座的侧边延伸凸出且朝向中空功能区的发光方向弯折有一第一翻折区，其中第一翻折区朝垂直方向具有一第二翻折区朝胶座的一焊接侧翻折，且一焊接部是连接第二翻折区设置于胶座的焊接侧。

本实用新型相较于现有技术的优点是：本实用新型由于通过将发光二极管支架的侧边折脚向胶座的中空功能区发光方向翻折，可使发光二极管支架的电性测试点维持于原来的位置，因而无须变更测试机台的制具，其支架结构可同时采用高发光率的浅杯设计，焊接部与电路板上焊点位置不会因为错位而产生间隙导致漏光的问题。

附图说明

图1A所示为现有的侧光型发光二极管支架结构示意图。

图1B所示为现有的侧光型发光二极管实施示意图。

图2所示为现有的侧光型发光二极管实施示意图。

图3所示为现有的侧光型发光二极管支架结构示意图。

图4A所示为本实用新型发光二极管支架在各制程中半成品的平面示意图。

图4B、图4C与图4D所示为本实用新型一实施例的发光二极管支架在各制程中的侧面示意图。

具体实施方式

图4A、图4B、图4C与图4D所示为本实用新型一实施例的发光二极管支架在各制程中的结构示意图。于本实施例中，发光二极管支架结构的成型方法包括下列步骤。首先，请参照图4A，使用加压加工程序于一金属料带11上冲制成型两个相互对应且相对应端不相连的承载部12。

接着，如图4B所示，进行一注塑加工程序形成一胶座13包覆承载部12。其中，胶座13的内部具备一中空功能区并暴露出部分承载部12。同时，将承载部12自胶座13侧边延伸出的区段冲制形成一第一翻折区141、一第二翻折区142与一焊接部143。

接续上述说明，此区段为既定形状的接脚区域。于本实施例中，第一翻折区141是自胶座13向外延伸、第二翻折区142是与第一翻折区141垂直设置以及焊接部143是与第二翻折区142垂直设置。利用至少一道冲压动作将此接脚区域朝向对应于胶座13的既定位置弯折，便可完成完整接脚结构。之后，可于承载部12设置发光芯片，并于胶座13内填入封装材料完成发光二极管封装结构。

于一实施例中，此接脚区域弯折动作的顺序可先将第二翻折区142朝功能区的发光方向垂直翻折，如图4C所示。接着，再将第一翻折区141朝功能区的发光方向垂直翻折使焊接部143翻折至胶座13的一焊接侧，如图4D所示。

另于一实施例中，此接脚区域弯折动作的顺序亦可先朝向胶座13中空功能区的发光方向垂直弯折第一翻折区141(图上未示)。接着，再将第二翻折区142朝胶座13的一焊接侧垂直翻折使焊接部143翻折至胶座13的焊接侧，如图4D所示。于一实施例中，还可于第二翻折区142处设置一翻折线(图上未标)以辅助弯折。

请参照图4D，本实用新型发光二极管支架结构包括一胶座13与两个金属支架(图上未标)。胶座13内部具备一中空功能区。金属支架由中空功能区向胶座13的侧边延伸凸出且朝向中空功能区的发光方向弯折有一第一翻折区141，其中第一翻折区141朝垂直方向具有一第二翻折区142朝胶座13的一焊接侧翻折，且一焊接部143是连接第二翻折区142设置于胶座13的焊接侧。其中，第一翻折区141是垂直朝向中空功能区的发光方向弯折。金属支架的焊接部是与第二翻折区142垂直设置且自第二翻折区142向胶座13的焊接侧方向延伸。

综合上述，本实用新型通过将发光二极管支架的侧边折脚向胶座的中空功能区发光方向翻折，可使发光二极管支架的电性测试点维持于原来的位置，无须变更测试机台的制具。其支架结构可同时采用高发光率的浅杯设计，焊接部与电路板上焊点位置不会因为错位而产生间隙导致漏光的问题。

以上所述的实施例仅是为说明本实用新型的技术思想及特点，其目的在使熟悉此项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，当不能以其限定本实用新型的专利范围，即凡根据本实用新型所揭示的精神所作的等同的改变或替换，仍应涵盖在本实用新型的专利范围内。

Claims (4)

1.一种发光二极管支架结构，其特征是包含：

一胶座，其内部具备一中空功能区；以及

两个金属支架，是由该中空功能区向该胶座的侧边延伸凸出且朝向该中空功能区的发光方向弯折有一第一翻折区，其中该第一翻折区朝垂直方向具有一第二翻折区朝该胶座的一焊接侧翻折，且一焊接部是连接该第二翻折区设置于该胶座的该焊接侧。

2.根据权利要求1所述的发光二极管支架结构，其特征是该第一翻折区是垂直朝向该中空功能区的发光方向弯折。

3.根据权利要求1所述的发光二极管支架结构，其特征是该些金属支架的该焊接部是与该第二翻折区垂直设置。

4.根据权利要求3所述的发光二极管支架结构，其特征是该些金属支架的该焊接部是自该第二翻折区向该胶座的该焊接侧方向延伸。

Images