CN201210042Y - 螺母光孔轴线垂直度检具 - Google Patents

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郭好礼
姜海峰
谢仔新
陈生观
张纪明
谢伟东
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Zhejiang University of Technology ZJUT
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Abstract

一种螺母光孔轴线垂直度检具，包括芯棒和滑套，所述滑套套装在芯棒上，所述芯棒包括至少三个不同直径的阶梯轴，所述芯棒一端为锥形轴，所述锥形轴的直径最大处与芯棒的中轴一端连接，所述芯棒的中轴的另一端与圆柱连接，芯棒的中轴的直径比锥形轴的直径最大处大，且同时比圆柱的直径小，所述芯片的中轴与滑套内孔滑动配合，所述滑套的外径比所述圆柱的外径小。本实用新型提供一种能够检测所冲的孔与螺母端面垂直度是否合格的螺母光孔轴线垂直度检具。

Description

螺母光孔轴线垂直度检具
技术领域
本实用新型涉及一种螺母冲孔成型后检验其轴线与螺母端面垂直度的检具。
背景技术
螺母冲孔成型时，发生所冲的孔与螺母端面垂直度不合格问题，现有技术中并没有相应的检具。
发明内容
为了克服已有技术中螺母冲孔成型后无法检测所冲的孔与螺母端面垂直度是否合格的不足，本实用新型提供一种能够检测所冲的孔与螺母端面垂直度是否合格的螺母光孔轴线垂直度检具。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：
一种螺母光孔轴线垂直度检具，包括芯棒和滑套，所述滑套套装在芯棒上，所述芯棒包括至少三个不同直径的阶梯轴，所述芯棒一端为锥形轴，所述锥形轴的直径最大处与芯棒的中轴一端连接，所述芯棒的中轴的另一端与圆柱连接，芯棒的中轴的直径比锥形轴的直径最大处大，且同时比圆柱的直径小，所述芯片的中轴与滑套内孔滑动配合，所述滑套的外径比所述圆柱的外径小。
本实用新型的有益效果主要表现在：能够检测所冲的孔与螺母端面垂直度是否合格，能够快速判断是否合格。
附图说明
图1是本实用新型的螺母光孔轴线垂直度检具的结构图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步描述。
参照图1，一种螺母光孔轴线垂直度检具，包括芯棒1和滑套2，所述滑套2套装在芯棒1上，所述芯棒1包括至少三个不同直径的阶梯轴，所述芯棒一端为锥形轴，所述锥形轴的直径最大处与芯棒的中轴一端连接，所述芯棒的中轴的另一端与圆柱连接，芯棒的中轴的直径比锥形轴的直径最大处大，且同时比圆柱4的直径小，所述芯片的中轴与滑套内孔滑动配合，所述滑套2的外径比所述圆柱4的外径小。
将滑套2套装在芯棒1上，圆柱4阻挡滑套2的滑动，然后将成型制品3(例如螺母)套在芯棒的锥形轴上，对照成型制品3与滑套的连接面，即可检测所冲的孔与螺母端面垂直度是否合格，如两个平面无间隙，则合格；反之则不合格。

Claims (1)

1、一种螺母光孔轴线垂直度检具，其特征在于：包括芯棒和滑套，所述滑套套装在芯棒上，所述芯棒包括至少三个不同直径的阶梯轴，所述芯棒一端为锥形轴，所述锥形轴的直径最大处与芯棒的中轴一端连接，所述芯棒的中轴的另一端与圆柱连接，芯棒的中轴的直径比锥形轴的直径最大处大，且同时比圆柱的直径小，所述芯片的中轴与滑套内孔滑动配合，所述滑套的外径比所述圆柱的外径小。
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