CN201122165Y - 一种测试设备的器件物料架 - Google Patents

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CN201122165Y CNU2007200608968U CN200720060896U CN201122165Y CN 201122165 Y CN201122165 Y CN 201122165Y CN U2007200608968 U CNU2007200608968 U CN U2007200608968U CN 200720060896 U CN200720060896 U CN 200720060896U CN 201122165 Y CN201122165 Y CN 201122165Y
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谭国良
赵伟明
刘龙春
杨明生
刘惠森
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Dongguan Color Display Organic Lighting Tech Co Ltd
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Abstract

本实用新型涉及电子显示器件的测试设备,特指一种用于OLED测试设备的器件物料架。该物料架放置在设备上,所述的物料架包括:一个由底座、挡板和挡杆构成的器件放置空间以及用于推动器件的伸缩杆,其中伸缩杆穿过底座将放置在底座上的器件推动。本实用新型为一款专用的器件物料架,使用时可将器件叠加放置在物料架的器件放置空间内,通过伸缩杆将器件向上顶出,以令器件被机械手逐一抓取,从而实现自动化作业,提高生产效率。同时,由于采用了本实用新型,消除了人工作业中存在的由于操作人员主观所导致的操作失误,减少了对器件造成损害的可能性,大大提高了产品的品质。

Description

一种测试设备的器件物料架
技术领域:
本实用新型涉及电子显示器件的测试设备,特指一种用于OLED(有机电致发光显示器件)测试设备的器件物料架。
背景技术:
有机电致发光显示器件(OLED)是一种低电压、低功耗、高亮度、高光效、宽视角、全固化、全彩显、重量轻、价格低的电致发光器件。OLED已成为当今显示器件研究的热门中的热点。
通常的OLD器件在进行封装之后需要经过一系列的测试过程,其中一项测试就是老化测试,目前的OLED在进行老化测试时采用单独测试的方式,即将单独的一块OLED单体屏幕点亮,对其进行器件老化测试。所采用的测试设备中,多采用手工作业方式,例如测试时需要将OLED器件放置在测试夹具上,目前的操作方式是通过人工将单片的OLED器件一个个的放置在夹具上,并将其对位准确。这种人工作业的方法存在以下不足:
1、一般情况下,目前操作方式需要操作人员一个一个将器件放置在夹具上,这样工作效率太慢,并且容易出现器件对位不准确的问题。
2、操作人员在进行器件测试时,由于采用人工作业,并没有设置专用的器件物料架,而是将多个器件同时放置在手中,然后在逐一将其放置在夹具上,这样器件在操作过程中容易引起磕碰,损伤器件。
因此,现在的人工作业方式越来越成为OLED大规模生产的瓶颈。
实用新型内容:
针对上述问题,本实用新型所要解决的技术问题就是提供一种OLED测试设备的器件物料架,以配合测试作业实现自动化。在测试设备中设置该物料架,可以实现OLED器件的自动上料,容易实现自动化控制,从而提高器件老化测试的效率。
为了解决上述技术问题,本实用新型采用了如下的技术方案:该物料架放置在设备上,所述的物料架包括:一个由底座、挡板和挡杆构成的器件放置空间以及用于推动器件的伸缩杆,其中伸缩杆穿过底座将放置在底座上的器件推动。
所述的挡板固定在底座上,其包括后挡板以及位于后挡板两侧的侧挡板;挡杆固定于底座上,并位于后挡板与左右侧挡板所围成的开放式围拦的开口侧。
所述的伸缩杆安装于设备上,且伸缩杆穿过底座上所开设的通孔进入器件放置空间。
所述的伸缩杆端头设置有一胶头。
所述的物料架的底座上开设有一个定位缺口,与设备上对应该定位缺口的位置设置有一个锁扣。
于物料架旁侧设置有一个同轴光纤传感器。
所述的同轴光纤传感器包括:固定在设备上的固定支架以及固定在固定架上的同轴光纤探头。
本实用新型为一款专用的显示器器件物料架,使用时可将器件叠加放置在物料架的器件放置空间内,通过伸缩杆将器件向上顶出,以令器件被机械手逐一抓取,从而实现自动化作业,提高生产效率。同时,由于采用了本实用新型,消除了人工作业中存在的由于操作人员主观因素所导致的操作失误,减少了对器件造成损伤的可能性,大大提高了产品的成品率。
附图说明:
下面结合附图对本实用新型作进一步的说明:
图1是器件老化设备的结构示意图;
图2是本实用新型的立体图;
图3是本实用新型的主视图。
具体实施方式:
见图1,这是本实用新型用于器件5测试用设备1,所述的物料架2就位于设备1的起始端和结束端,位于起始端物料架2上的器件5经过一系列的测试、检测流程后,最终被放置在位于结束端的物料架2上。
结合图2、3,该物料架2安装在设备1上所开设的型槽内。该物料架2包括:一个由底座21、挡板22和挡杆23构成的器件5放置空间以及用于推动器件5的伸缩杆3。挡板22固定在条形底座21上,其包括后挡板221以及位于后挡板221两侧的侧挡板222;两根挡杆23固定于底座21上,并位于后挡板221与左右侧挡板222所围成的开放式围拦的开口侧。这样挡板22与挡杆23就形成一个围栏,器件5放置在底座21上,并通过挡板22、挡杆23形成的围栏加以限制。
伸缩杆3安装于设备1上,且伸缩杆3穿过底座21上所开设的通孔进入器件5放置空间。即伸缩杆3穿过底座21将放置在底座21上的器件5推动。为了减少伸缩杆3对器件5产生的冲击力,防止器件5受损,伸缩杆3端头设置有一胶头31,伸缩杆3在工作时通过胶头31与器件5接触,以减少对器件5的损伤。
使用本实用新型时,首先将器件5同向叠加放置在物料架2上的器件5放置空间内,然后将整个物料架2放置在设备1上对应的型槽内。在物料架2的底座21上开设有一个定位缺口24,与设备1上对应该定位缺口24的位置设置有一个锁扣4。物料架2通过定位缺口24与锁扣4的配合定位安装在设备1上。
当物料架2安装完成后,启动测试设备1,设备1的机械手臂会移动到物料架2中器件5的上方,此时伸缩杆3开始向上升起,将放置在底座1上的器件5顶起,以令机械手可以取走位于最上面的器件5,然后伸缩杆3下降,带动整个器件5复位等待下一次的取件。
为了可以监控器件5的数量,以便于及时添放器件5,本实用新型采用了同轴光纤传感器6,即在物料架2旁侧设置有一个同轴光纤传感器6。该传感器6包括:固定在设备1上的固定架61以及固定在固定架61上的同轴光纤探头62。该光纤探头62所位于的高度与最顶面器件5上升的高度相当,这样当所有的器件5被取走后,就可以通过光纤探头62监测,以便于操作人员及时添放器件5。于物料架2旁侧设置有一个同轴光纤传感器6。
所述的同轴光纤传感器6包括:固定在设备1上的固定支架61以及固定在固定架61上的同轴光纤探头62。
本实用新型为一款专用的器件物料架,使用时可将器件5叠加放置在物料架2的器件放置空间内,通过伸缩杆3将器件5向上顶出,以令器件5被机械手逐一抓取,从而实现自动化作业,提高生产效率。同时,由于采用了本实用新型,消除了人工作业中存在的由于操作人员主观所导致的操作失误,减少了对器件5造成损害的可能性,大大提高了产品的成品率。
当然,以上所述仅仅为本实用新型的实例而已,并非来限制本实用新型的实施范围,故,凡依本实用新型申请专利范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰,均应包括于本实用新型申请专利范围内。

Claims (7)

1、一种测试设备的器件物料架,该物料架(2)放置在设备(1)上,其特征在于:所述的物料架(2)包括:一个由底座(21)、挡板(22)和挡杆(23)构成的器件放置空间,以及用于推动器件(5)的伸缩杆(3),其中伸缩杆(3)穿过底座(21)将放置在底座(21)上的器件(5)推动。
2、根据权利要求1所述的一种测试设备的器件物料架,其特征在于:所述的挡板(22)固定在底座(21)上,其包括后挡板(221)以及位于后挡板(221)两侧的侧挡板(222);挡杆(23)固定于底座(21)上,并位于后挡板(221)与左右侧挡板(222)所围成的开放式围拦的开口侧。
3、根据权利要求1所述的一种测试设备的器件物料架,其特征在于:所述的伸缩杆(3)安装于设备(1)上,且伸缩杆(3)穿过底座(21)上所开设的通孔进入器件(5)放置空间。
4、根据权利要求3所述的一种测试设备的器件物料架,其特征在于:所述的伸缩杆(3)端头设置有一胶头(31)。
5、根据权利要求1-4中任意一条所述的一种测试设备的器件物料架,其特征在于:所述的物料架(2)的底座(21)上开设有一个定位缺口(24),与设备(1)上对应该定位缺口(24)的位置设置有一个锁扣(4)。
6、根据权利要求5所述的一种测试设备的器件物料架,其特征在于:于物料架(2)旁侧设置有一个铜轴光纤传感器(6)。
7、根据权利要求6所述的一种测试设备的器件物料架,其特征在于:所述的同轴光纤传感器(6)包括:固定在设备(1)上的固定支架(61)以及固定在固定架(61)上的同轴光纤探头(62)。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102672748A (zh) * 2012-05-15 2012-09-19 无锡红光微电子有限公司 Qfn工艺的塑封成型产品的放料架
CN103134955A (zh) * 2011-11-24 2013-06-05 鸿富锦精密工业(武汉)有限公司 扩充卡测试夹具

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