CN1924547A - 一种测试板及测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种测试板，包括柔性电路板、刚性电路板和单列直插内存模块连接器，其中，所述刚性电路板上的连接电极和测试盘的导线，和柔性电路板和刚性电路板上的电极的电阻值总和，至少小于柔性电路板与刚性电路板通过各向异性导电胶膜连接的互连电阻值的一半；本发明还提供了采用本发明提供的测试板进行互连电阻测试和强度剥离测试的测试方法。采用本发明提供的测试板，可采用同一套测试板进行剥离强度和互连电阻的测试，以及采用本发明提供的测试板进行互连电阻测试，测试到的电阻值可直接作为互连电阻的电阻值，并且采用SIMM连接器进行测试，具有测试稳定和测试效率高的优点。
Description
技术领域
本发明涉及测试技术，具体地说，涉及一种测试板及测试方法。
背景技术
各向异性导电胶膜(ACF，Anisotropic Conductive Adhesive Film)是一种采用微小金属导电粒子和环氧树脂胶均匀混合制成的薄膜，如图1所示，把ACF4放在柔性电路板2(FPC，Flex printed circuit)和刚性电路板1(PWB，Printed Wiring Boards)之间并施加一段时间的温度和压力，导电粒子5嵌入到FPC2和PWB1的电极3之间，在两个电极之间形成电气通路，实现电气互连，与此同时，环氧树脂胶在高温下固化，与上下电极粘接，从而实现机械互连。
ACF可应用于柔性电路板FPC和PWB的互连，具有占用设计空间小，工艺简单，可实现高密互连的优势，是手机及便携产品朝微型化发展的一个方向。目前可实现的最小互连间距可以达到150um。采用ACF进行FPC和PWB的互连，判断互连可靠性最重要的指标是互连电阻和剥离强度。互连电阻是指ACF热压后电极之间的连接电阻值，即FPC和PWB采用ACF互连时电极与电极连接处的电阻，互连电阻越小，信号衰减越少，电性能越好，可靠性越高；剥离强度(限定为90度剥离强度)是反应热压后FPC与PWB之间的粘接强度的一种，剥离强度越大，越可靠。通常在产品上使用ACF，或开发材料，都要求对材料的互连电阻和剥离强度性能进行测试，以确认材料性能是否可以满足标准要求或满足客户产品要求，而测试需要采用特定的测试板。
现有技术分别提供了一种剥离强度测试板和一种互连电阻测试板，剥离强度测试板和互连电阻测试板采用不同的测试套板，其中测试套板分别包括FPC和PWB。
现有技术提供的剥离强度测试板如图2所示，FPC2和PWB1采用ACF4相连，其中FPC2和PWB1上排列有导线6，且FPC2和PWB1呈90度直角，构成剥离强度测试板，即FPC直接被夹持到剥离强度测试仪的夹具上进行90度剥离测试。
现有技术提供的互连电阻测试板如图3所示，FPC2和PWB1采用ACF4相连构成互连电阻测试板，进行互连电阻测试时，采用四端法微电阻测试仪，通过测试测试盘7间的电压和电流值得到电阻值。但是，由于互连电阻测试板往往测试线路较长，包括FPC板上的铜线、PWB上的铜线、连接测试盘与热压电极的导线8，就导致直接测试到的电阻值中除了包括ACF互连电阻的电阻值外，还包括FPC导线的电阻值、PWB导线的电阻值，以及连接测试盘与热压电极的导线8的电阻值，当ACF互连线路间距较小时，FPC导线的电阻值、PWB导线的电阻值，以及连接测试盘与热压电极的导线8的电阻值相对ACF互连电阻的电阻值就非常大，直接测试得到的电阻值不能直接作为ACF互连电阻值，这时需要去除FPC导线的电阻值、PWB导线的电阻值，以及连接测试盘与热压电极的导线8的电阻值，得到的才是真实的ACF互连电阻值，但这样需要进行大量的数据处理，比较繁琐，且容易出错。
针对现有的这种互连电阻测试方法的缺点，现有技术提供了另外一种互连电阻测试方法，采用现有的这种互连电阻测试板直接精确获得ACF互连电阻值，测试时将四端法微电阻测试仪的测试电压探针头精确定位到测试板上互连处的两端，但是这种测试方法在线路间距很小时，例如当线路间距小于0.3mm时，定位就非常困难，需要在放大镜下进行，测试探针头要很小，否则容易扎到其他线路上，且测试时需要人工按住，接触不稳定，导致重复精度低，测试效率低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种测试板及测试方法，以解决现有技术中互连电阻测试不能直接采用测量得到的电阻值作为ACF互连电阻值和测试不稳定、效率低的缺点。
本发明是通过以下技术方案具体实现的：一种测试板，包括柔性电路板、刚性电路板和单列直插内存模块连接器；
所述柔性电路板的一端平行设置有若干个第一电极，所述第一电极之间电连接；
所述刚性电路板的两端分别设置有若干个第二电极和若干个测试盘，所述第二电极平行设置，所述测试盘与第二电极通过导线对应连接；
所述单列直插内存模块连接器通过插槽与刚性电路板上的测试盘相连接；
其中，所述导线和电极的电阻值总和小于柔性电路板与刚性电路板通过各向异性导电胶膜连接的互连电阻值的一半。
所述电极长度在4毫米至8毫米之间。
所述刚性电路板上连接测试盘和电极的导线的长度小于等于10毫米，宽度大于等于0.1毫米。
所述柔性电路板平面与电极长度方向平行的边长大于等于15毫米。
所述测试盘为金手指测试盘。
所述柔性电路板上的第一电极间的间距相等，所述刚性电路板上的第二电极间的间距相等，且所述第一电极间的间距与所述第二电极间的间距相等。
所述柔性电路板上的电极数量与所述刚性电路板上的电极数量相等。
一种互连电阻测试方法，包括步骤：
将刚性电路板与单列直插内存模块连接器连接，柔性电路板与刚性电路板通过各向异性导电胶膜连接，测试仪与单列直插内存模块连接器连接；
打开测试仪的开关，测试电流流经单列直插内存模块连接器、刚性电路板，以及柔性电路板；
根据测试电流和测试电压，计算单列直插内存模块连接器、刚性电路板的测试板，以及柔性电路板形成的电流通路上的电阻；
得到的阻值为各向异性导电胶膜互连电阻的电阻值。
所述电极长度在4毫米至8毫米之间。
所述刚性电路板上连接测试盘和电极的导线的长度小于等于10毫米，宽度大于等于0.1毫米。
一种采用同一套测试套板进行剥离强度和互连电阻测试的方法，包括：
在进行剥离强度测试时，柔性电路板和刚性电路板采用各向异性导电胶膜连接，且柔性电路板和刚性电路板呈90度直角；使柔性电路板与刚性电路板分离；测量使柔性电路板与刚性电路板分离的力；得到的分离力的值为剥离强度值；
在进行互连电路测试时，将刚性电路板与单列直插内存模块连接器连接，柔性电路板与刚性电路板通过各向异性导电胶膜连接，测试仪与单列直插内存模块连接器连接；打开测试仪的开关，测试电流流经单列直插内存模块连接器、刚性电路板，以及柔性电路板；根据测试电流和测试电压，计算单列直插内存模块连接器、刚性电路板的测试板，以及柔性电路板形成的电流通路上的电阻；得到的阻值为各向异性导电胶膜互连电阻的电阻值。
所述电极长度在4毫米至8毫米之间。
所述刚性电路板上连接测试盘和电极的导线的长度小于等于10毫米，宽度大于等于0.1毫米。
所述柔性电路板平面与电极长度方向平行的边长大于等于15毫米。
本发明通过控制PWB上的测试板的形状尺寸和测试板间的间距，使其与SIMM连接器的插槽尺寸吻合，在进行互连电阻测试时采用SIMM连接器，达到测试稳定和测试效率高的效果；并且通过控制电极和测试线路长度，从而控制测试线路的电阻，使测试得到的电阻值能够直接作为ACF互连电阻的电阻值；以及通过控制测试套板的器件尺寸，使剥离强度测试和互连电阻测试能够采用同一套测试套板进行测试。
附图说明
图1为现有技术的FPC和PWB通过ACF形成互连的示意图；
图2为现有技术中剥离强度测试采用的测试套板示意图；
图3为现有技术中互连电阻测试采用的测试套板示意图；
图4为本发明的一个实施例的结构示意图；
图5为本发明的互联电阻测试方法的一个实施例的示意图。
具体实施方式
本发明的核心思想是：通过控制PWB上的测试板的形状尺寸和测试板间的间距，使其与SIMM连接器的插槽尺寸吻合，在测试时采用SIMM连接器，达到测试稳定和测试效率高的效果；并且通过控制电极和测试线路长度，从而控制测试线路的电阻，使测试得到的电阻值能够直接作为ACF互连电阻的电阻值；以及通过控制测试套板的器件尺寸，使剥离强度测试和互连电阻测试能够采用同一套测试套板进行测试。
为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面结合附图通过实施例来具体说明本发明的技术方案。
本发明提供的一种测试板，是一套测试套板，如图4所示，为本发明的一个实施例，包括FPC2和PWB1。
如图5所示，所述FPC2平面为矩形，其平面上一侧等间距的平行排列有若干个电极3，电极3的长度方向与FPC2平面该侧的边垂直，并且所述若干个电极3在靠近FPC2平面另一侧的末端短接。电极3形状为长条形，电极3的横截面可以为任意符合产品要求的形状，例如圆形、方形、三角形以及其它不规则形状等。电极3的间距在符合产品要求和FPC2宽度的条件下为任意间距。作为本发明的优选实施例，电极3长度在4毫米至8毫米之间，FPC2平面与电极长度方向平行的边长大于等于15毫米，使采用本发明的这种测试套板能够进行剥离强度测试。
如图6所示，所述PWB1平面为矩形，其平面上一侧等间距的平行排列有若干个电极3，数量与FPC上的电极数量相等，电极3的长度方向与PWB1平面该侧的边垂直，电极3形状为长条形，电极3的横截面可以为任意符合产品要求的形状，例如圆形、方形、三角形以及其它不规则形状等。电极3的间距与FPC上的电极3的间距相等。作为本发明的优选实施例，电极3长度在4毫米至8毫米之间。
所述PWB1平面上的另一侧还平行排列有同电极数量相同的测试盘7，测试盘7形状为长条形，测试盘7的横截面可以为任意形状，测试盘7的长度方向与PWB1平面上的电极3的长度方向平行，作为本发明的优选实施例，测试盘可以为金手指测试盘。
PWB1平面上的电极3与测试盘7通过导线9一一对应连接，本发明的优选实施例，导线9可以选用铜线，长度小于等于10毫米，宽度大于等于0.1毫米。
所述FPC2和PWB1通过ACF连接。
本发明提供的电极尺寸和导线尺寸只是优选的实施例，本发明的技术方案不限于这些实施例，本发明的技术方案是通过控制测试板的总测试导线长度，从而控制测试导线的电阻，使测试导线的电阻相对于ACF互连电阻很小，就达到测试得到的电阻值可直接作为ACF互联电阻的电阻值的目的，所述导线和电极的电阻值总和远小于柔性电路板与刚性电路板通过各向异性导电胶膜连接的互连电阻值。符合这个条件的实施例都在本发明的保护范围之内。
为了达到互连电阻测试稳定和测试效率高的效果，本发明提供的测试板还可以包括SIMM连接器，所述SIMM连接器的插槽的横截面与PWB上的测试盘的横截面形状相同，大小能够匹配，所述SIMM连接器的插槽间的间距与PWB上的测试盘间的间距也相匹配，如图5所示，使所述测试盘正好插入所述SIMM连接器的插槽中。所述SIMM连接器通过插槽与PWB上的测试盘相连接。
本发明相应地提供了一种采用上述测试套板进行互连电阻测试的方法。
本发明提供的一个实施例中，如图7所示，在进行互连电阻测试时，首先，将PWB1的测试盘7插入SIMM连接器10的插槽中，FPC2上的电极与PWB1上的电极通过ACF4连接；将微电阻测试仪11的测试探头12连接SIMM连接器10的测试针；打开微电阻测试仪11的开关，测试电流流经SIMM连接器10、PWB1，以及FPC2；根据测试电流和测试电压，计算SIMM连接器10、PWB1的测试板，以及FPC2形成的电流通路上的电阻；得到的阻值为ACF4互连电阻的电阻值。其中，所述导线和电极的电阻值总和至少小于柔性电路板与刚性电路板通过各向异性导电胶膜连接的互连电阻值的一半。作为本发明的优选实施例，电极长度在4毫米至8毫米之间，导线9可以选用铜线，长度小于等于10毫米，宽度大于等于0.1毫米。
本发明提供的一个实施例中，在进行剥离强度测试时，FPC2和PWB1采用ACF4相连，且FPC2和PWB1呈90度直角；将FPC2夹持到剥离强度测试仪的上夹具上，将PWB1夹持到剥离强度测试仪的下夹具上；打开剥离强度测试仪的开关，使夹持FPC2的上夹具以恒定的剥离速度在水平方向移动，所述恒定的剥离速度可以预设；根据FPC2与PWB1在分离过程中的受力曲线上的峰值，计算所述峰值的平均值；得到的平均值为剥离强度值。作为本发明的优选实施例，FPC电极3长度在4毫米至8毫米之间，FPC2平面与电极长度方向平行的边长大于等于15毫米。
本发明通过控制PWB上的测试板的形状尺寸和测试板间的间距，使其与SIMM连接器的插槽尺寸吻合，在进行互连电阻测试时采用SIMM连接器，达到测试稳定和测试效率高的效果；并且通过控制电极和测试线路长度，从而控制测试线路的电阻，使测试得到的电阻值能够直接作为ACF互连电阻的电阻值；以及通过控制测试套板的器件尺寸，使剥离强度测试和互连电阻测试能够采用同一套测试套板进行测试。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
Claims (14)
1、一种测试板，其特征在于，包括柔性电路板、刚性电路板和单列直插内存模块连接器；
所述柔性电路板的一端平行设置有若干个第一电极，所述第一电极之间电连接；
所述刚性电路板的两端分别设置有若干个第二电极和若干个测试盘，所述第二电极平行设置，所述测试盘与第二电极通过导线对应连接；
所述单列直插内存模块连接器通过插槽与刚性电路板上的测试盘相连接；
其中，所述导线和电极的电阻值总和小于柔性电路板与刚性电路板通过各向异性导电胶膜连接的互连电阻值的一半。
2、根据权利要求1所述的测试板，其特征在于，所述电极长度在4毫米至8毫米之间。
3、根据权利要求2所述的测试板，其特征在于，所述刚性电路板上连接测试盘和电极的导线的长度小于等于10毫米，宽度大于等于0.1毫米。
4、根据权利要求1所述的测试板，其特征在于，所述柔性电路板平面与电极长度方向平行的边长大于等于15毫米。
5、根据权利要求1所述的测试板，其特征在于，所述测试盘为金手指测试盘。
6、根据权利要求1所述的测试板，其特征在于，所述柔性电路板上的第一电极间的间距相等，所述刚性电路板上的第二电极间的间距相等，且所述第一电极间的间距与所述第二电极间的间距相等。
7、根据权利要求1所述的测试板，其特征在于，所述柔性电路板上的电极数量与所述刚性电路板上的电极数量相等。
8、一种互连电阻测试方法，其特征在于，包括步骤：
将刚性电路板与单列直插内存模块连接器连接，柔性电路板与刚性电路板通过各向异性导电胶膜连接，测试仪与单列直插内存模块连接器连接；
打开测试仪的开关，测试电流流经单列直插内存模块连接器、刚性电路板，以及柔性电路板；
根据测试电流和测试电压，计算单列直插内存模块连接器、刚性电路板的测试板，以及柔性电路板形成的电流通路上的电阻；
得到的阻值为各向异性导电胶膜互连电阻的电阻值。
9、根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述电极长度在4毫米至8毫米之间。
10、根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述刚性电路板上连接测试盘和电极的导线的长度小于等于10毫米，宽度大于等于0.1毫米。
11、一种采用同一套测试套板进行剥离强度和互连电阻测试的方法，其特征在于，包括：
在进行剥离强度测试时，柔性电路板和刚性电路板采用各向异性导电胶膜连接，且柔性电路板和刚性电路板呈90度直角；使柔性电路板与刚性电路板分离；测量使柔性电路板与刚性电路板分离的力；得到的分离力的值为剥离强度值；
在进行互连电路测试时，将刚性电路板与单列直插内存模块连接器连接，柔性电路板与刚性电路板通过各向异性导电胶膜连接，测试仪与单列直插内存模块连接器连接；打开测试仪的开关，测试电流流经单列直插内存模块连接器、刚性电路板，以及柔性电路板；根据测试电流和测试电压，计算单列直插内存模块连接器、刚性电路板的测试板，以及柔性电路板形成的电流通路上的电阻；得到的阻值为各向异性导电胶膜互连电阻的电阻值。
12、根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述电极长度在4毫米至8毫米之间。
13、根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述刚性电路板上连接测试盘和电极的导线的长度小于等于10毫米，宽度大于等于0.1毫米。
14、根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述柔性电路板平面与电极长度方向平行的边长大于等于15毫米。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Family Applications (1)
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| PB01 | Publication | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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